福祿克(ke)FLUKE LCR數字電(dian)橋(qiao)說明書手冊指南(nan)

產品(pin)分類

• 氫檢儀(yi)氣(qi)密(mi)性(xing)檢漏檢測(ce)儀(yi)
• 國產(chan)源(yuan)表，替(ti)代(dai)keithley
  • > 替(ti)代(dai)進(jin)口(kou)功率分析(xi)儀(yi)
  • > 替(ti)代(dai)進(jin)口(kou)電(dian)源(yuan)
  • > 替(ti)代(dai)進(jin)口(kou)環(huan)境試驗箱
  • > 國產(chan)替(ti)代(dai)進(jin)口(kou)射(she)頻(pin)儀(yi)器(qi)
  • > 替(ti)代(dai)進(jin)口(kou)高(gao)阻(zu)表
  • > 電(dian)池(chi)測試(shi)儀(yi)器(qi)
  • > 電(dian)池(chi)絕緣電(dian)阻(zu)替(ti)代(dai)HIOKI
  • > SMU源(yuan)表替(ti)代(dai)KEITHLEY2400
  • > 萬用表/信(xin)號(hao)源(yuan)替(ti)代(dai)是德(de)
• 體積電(dian)阻(zu)率(lv)/表面(mian)電(dian)阻(zu)測(ce)試
• 穩(wen)科(ke)Wayne Kerr/MICROTEST
  • > 阻(zu)抗(kang)分析(xi)儀(yi)
  • > 電(dian)橋(qiao)LCR
• 半導(dao)體I-V/C-V/I-R測試
• 介(jie)電(dian)常數/電(dian)導(dao)率測(ce)試(shi)方(fang)案
• 大眾VW80000/通用GMW3172/ISO16750標準(zhun)測試(shi)
  • > 微(wei)中(zhong)斷
• 電(dian)化(hua)學工(gong)作站/恒電(dian)位(wei)儀(yi)
• IBGT/MOSFET/SiC/GaN測試(shi)
• 電(dian)池(chi)/光(guang)伏(fu)/汽車充電(dian)樁(zhuang)測試(shi)
• DESCO/KLEINWACHTER靜(jing)電(dian)測(ce)試
  • > 靜(jing)電(dian)CDM/HBM/MM
  • > 重(zhong)錘表面(mian)靜電(dian)電(dian)阻(zu)/電(dian)阻(zu)率(lv)
  • > 靜電(dian)場(chang)/靜電(dian)消(xiao)散(san)/離子(zi)平(ping)衡
  • > 離(li)子(zi)風(feng)機(ji)/無(wu)風型(xing)靜(jing)電(dian)消(xiao)除(chu)器(qi)
  • > 手(shou)腕(wan)帶(dai)防(fang)靜(jing)電(dian)工(gong)鞋人(ren)體綜(zong)合測(ce)試儀(yi)
  • > MENDA防(fang)靜電(dian)吹吸(xi)塵(chen)器/抽煙機(ji)
  • > EMIT工(gong)位(wei)接(jie)地(di)電(dian)阻(zu)監(jian)測儀(yi)
  • > 平(ping)板測(ce)試(shi)儀(yi)/離(li)子風機(ji)測(ce)試儀(yi)/靜(jing)電(dian)監(jian)測器(qi)
  • > 靜電(dian)電(dian)荷(he)庫倫(lun)電(dian)量/衰減(jian)
• 體積電(dian)阻(zu)，電(dian)阻(zu)計(ji)，記錄(lu)儀(yi)
  • > 高(gao)阻(zu)表/高(gao)阻(zu)計(ji)
  • > 耐壓(ya)絕緣漏電(dian)流(liu)測試(shi)儀(yi)
  • > LCR電(dian)橋(qiao)/阻(zu)抗(kang)分析(xi)儀(yi)
  • > 功率計(ji)/功率分析(xi)儀(yi)
  • > 萬(wan)用表/多用表
  • > 電(dian)能質(zhi)量分析(xi)儀(yi)
  • > 電(dian)池(chi)測試(shi)儀(yi)
  • > 數據采集記錄(lu)儀(yi)
  • > 微(wei)電(dian)阻(zu)計(ji)/微歐(ou)姆計(ji)
• 吉(ji)時(shi)利(li)KEITHLEY/泰(tai)克(ke)Tektronix
  • > 半導(dao)體圖示儀(yi)
  • > 示波(bo)器(qi)
  • > 皮(pi)安表
  • > 數據采集/開(kai)關(guan)矩(ju)陣(zhen)
  • > 高(gao)阻(zu)表/靜電(dian)計(ji)
  • > 源(yuan)表
  • > 電(dian)源(yuan)
  • > 萬(wan)用表
  • > 函數信(xin)號(hao)發生器(qi)
• 安捷倫Agilent/是德(de)KEYSIGHT
  • > 移(yi)動通信(xin)專(zhuan)用電(dian)源(yuan)，帶(dai)電(dian)池(chi)仿真(zhen)
  • > 射(she)頻(pin)RF/脈(mai)沖(chong)碼型發生器(qi)
  • > 直(zhi)流(liu)電(dian)源(yuan)/交(jiao)流(liu)電(dian)源(yuan)
  • > 萬(wan)用表
  • > 示波(bo)器(qi)
  • > 手(shou)持(chi)式示波(bo)表/手持(chi)式小表
  • > 函數信(xin)號(hao)發生器(qi)
  • > LCR電(dian)橋(qiao)
  • > 數據采集儀(yi)
  • > 源(yuan)表/高(gao)阻(zu)表/皮(pi)安表微安計(ji)
  • > 頻(pin)率(lv)計(ji)/頻(pin)譜(pu)儀(yi)/網(wang)絡分析(xi)儀(yi)
• 愛斯佩克(ke)ESPEC環(huan)境(jing)試(shi)驗(yan)箱
  • > 穩(wen)定(ding)性(xing)試驗(yan)箱
  • > 小型恒溫恒(heng)濕(shi)試驗(yan)箱
  • > 快速溫度(du)變(bian)化(hua)濕(shi)熱試驗(yan)箱
  • > 溫度(du)/結(jie)露循(xun)環試驗(yan)箱
  • > 冷(leng)熱沖(chong)擊試驗(yan)箱
  • > 烘箱/幹燥(zao)箱/高(gao)溫試(shi)驗(yan)箱
  • > 高(gao)低溫濕(shi)熱試驗(yan)箱
  • > 恒溫恒(heng)濕(shi)試驗(yan)箱
  • > 鹽(yan)霧腐蝕試(shi)驗(yan)箱
  • > 步進(jin)式恒溫老化(hua)試驗室
  • > 高(gao)低溫濕(shi)振(zhen)動復(fu)合(he)試驗箱
  • > 高(gao)壓(ya)加速老化(hua)試驗箱
  • > IP砂塵防(fang)水(shui)淋(lin)雨(yu)試(shi)驗(yan)箱
  • > 快速除(chu)濕(shi)設(she)備(bei)/除(chu)濕(shi)櫃(gui)/惰(duo)性(xing)氮氣(qi)防潮(chao)櫃
• 普(pu)源(yuan)RIGOL/致(zhi)遠(yuan)ZLG/鼎(ding)陽(yang)SIGLENT
  • > 手(shou)持(chi)式示波(bo)表
  • > 射頻(pin)微(wei)波(bo)網(wang)絡分析(xi)儀(yi)
  • > 可(ke)編程(cheng)直(zhi)流(liu)電(dian)子(zi)負(fu)載(zai)
  • > 射頻(pin)信(xin)號(hao)源(yuan)
  • > 數據采集儀(yi)
  • > 功率計(ji)/功率分析(xi)儀(yi)
  • > 示波(bo)器(qi)
  • > 萬(wan)用表
  • > 直(zhi)流(liu)穩(wen)壓(ya)電(dian)源(yuan)
  • > 頻(pin)譜(pu)分析(xi)儀(yi)
  • > 函(han)數信(xin)號(hao)發生器(qi)
• Chroma致(zhi)茂/EEC華儀(yi)EXTECH
  • > 電(dian)源(yuan)自(zi)動測試(shi)系統
  • > 光(guang)照(zhao)度(du)/亮(liang)色度(du)測(ce)試(shi)
  • > 電(dian)參(can)數測量功率計(ji)
  • > LCR電(dian)橋(qiao)
  • > 其(qi)他測(ce)試儀(yi)器(qi)
  • > 交(jiao)流(liu)電(dian)源(yuan)
  • > 耐(nai)壓(ya)絕緣/泄(xie)漏電(dian)流(liu)/接地(di)
  • > 電(dian)子(zi)負(fu)載(zai)
  • > 直(zhi)流(liu)電(dian)源(yuan)
• 邏(luo)輯分析(xi)儀(yi)/總(zong)線協(xie)議測(ce)試(shi)
  • > RGMII，RMII，SGMII
  • > USB3.0/USB2.0協(xie)議分析(xi)
  • > DP AUX，Soundwire音頻(pin)總(zong)線協(xie)議
  • > USB、UART（RS232/485）
  • > I²C、I²S、SPI總(zong)線協(xie)議
  • > CAN、LIN、Flexray、MVB/WTB
  • > SD3.0、eMMC5.1總(zong)線測試(shi)
  • > 其(qi)他虛(xu)擬示波(bo)器(qi)/協(xie)議解碼
• EMI/EMC/EMS電(dian)磁幹擾(rao)兼(jian)容
  • > 汽車設備(bei)電(dian)源(yuan)故(gu)障(zhang)模(mo)擬器(qi)
  • > 拋(pao)負(fu)載(zai)
  • > 電(dian)纜束(shu)註入敏(min)感(gan)度(du)測(ce)試(shi)系統
  • > 寬帶功率放(fang)大器(qi)
  • > 汽車電(dian)子(zi)電(dian)磁兼(jian)容EMC/波(bo)形
  • > 耦合(he)去耦合(he)
  • > 諧(xie)波(bo)和閃(shan)爍(shuo)
  • > 射頻(pin)傳(chuan)導(dao)抗擾(rao)度(du)測(ce)試(shi)系統
  • > 阻(zu)尼(ni)振(zhen)蕩(dang)磁場(chang)測(ce)試系統
  • > 振(zhen)鈴(ling)波(bo)發生器(qi)
  • > 電(dian)壓(ya)跌(die)落(luo)模(mo)擬器(qi)
  • > 電(dian)快(kuai)速瞬(shun)變脈(mai)沖(chong)群發生器(qi)
  • > 耐(nai)壓(ya)絕緣電(dian)阻(zu)測(ce)試儀(yi)
  • > 絕緣電(dian)阻(zu)測(ce)試儀(yi)
  • > 安規(gui)綜(zong)合測(ce)試儀(yi)
  • > AC/DC交(jiao)直(zhi)流(liu)耐壓(ya)測(ce)試(shi)儀(yi)
  • > 泄(xie)漏電(dian)流(liu)測試(shi)儀(yi)
  • > 雷(lei)擊浪(lang)湧(yong)/EMC電(dian)磁兼(jian)容測(ce)試
  • > 接(jie)地(di)導(dao)通電(dian)阻(zu)測(ce)試儀(yi)
  • > ESD靜(jing)電(dian)放(fang)電(dian)發生器(qi)
  • > 安規(gui)綜(zong)合校(xiao)準(zhun)盒
• 愛色麗(li)X-Rite/電(dian)色NIPPON
  • > 標(biao)準(zhun)光(guang)源(yuan)/對(dui)色燈(deng)箱
  • > 色差儀(yi)/測(ce)色儀(yi)/分光(guang)光(guang)度(du)計(ji)
• 梅特(te)勒(le)METTLER
  • > 熱機(ji)械(xie)分析(xi)儀(yi)
  • > 分析(xi)天平(ping)
• 物(wu)料(liao)輪(lun)廓(kuo)顏(yan)色缺(que)料(liao)視(shi)覺(jiao)篩(shai)選
• 博(bo)勒(le)飛(fei)Brookfield
  • > 流(liu)變儀(yi)
  • > 粘度(du)計(ji)
  • > 質(zhi)構(gou)分析(xi)儀(yi)
  • > 粉(fen)體流動測試(shi)儀(yi)
  • > 恒(heng)溫水(shui)浴
  • > 粘度(du)標(biao)準(zhun)液/矽油標(biao)準(zhun)液
  • > 水(shui)分、固(gu)含(han)量、灰(hui)分測(ce)定(ding)儀(yi)
• 賓德(de)BINDER試驗(yan)箱
  • > 二氧化碳(tan)CO₂培養箱
  • > 高(gao)低溫交(jiao)變(bian)氣(qi)候(hou)箱
  • > 微生物(wu)培養箱
  • > 真(zhen)空幹燥(zao)箱
  • > 安全幹燥(zao)箱
  • > 幹燥(zao)箱和烘箱
  • > 生物(wu)生長(chang)箱
  • > 恒溫恒(heng)濕(shi)箱
  • > 超(chao)低(di)溫冰(bing)箱
• 金相(xiang)切(qie)割(ge)/鑲(xiang)嵌(qian)/研(yan)磨(mo)拋(pao)光(guang)
  • > 冷(leng)/熱鑲(xiang)嵌(qian)機(ji)
  • > 磨(mo)拋機(ji)/研(yan)磨(mo)機(ji)
  • > 金相(xiang)耗(hao)材(cai)
  • > 電(dian)子(zi)天平(ping)/顯微(wei)鏡(jing)
• 紅(hong)外熱像儀(yi)
• 美國BK PRECISION
  • > 信(xin)號(hao)源(yuan)等(deng)儀(yi)器(qi)
  • > 電(dian)子(zi)負(fu)載(zai)
  • > 示波(bo)器(qi)
  • > LCR電(dian)橋(qiao)
  • > 萬用表
  • > 電(dian)源(yuan)
• ADCMT愛德萬(wan)ADVANTEST
  • > 臺(tai)式數字萬(wan)用表
  • > I-V曲線測試(shi)系統
  • > 直(zhi)流(liu)電(dian)源(yuan)/恒(heng)流電(dian)流(liu)源(yuan)
  • > 高(gao)阻(zu)表/體積電(dian)阻(zu)率(lv)測試儀(yi)
  • > 光(guang)功率計(ji)/光(guang)波(bo)長(chang)計(ji)
• COSMOS氣(qi)體/鐵粉濃度(du)計(ji)
• ITECH艾(ai)德克(ke)斯/NGI恩(en)智(zhi)
  • > LED測試專(zhuan)用電(dian)子(zi)負(fu)載(zai)
  • > 直(zhi)流(liu)電(dian)子(zi)負(fu)載(zai)
  • > 回(hui)饋(kui)式電(dian)網(wang)模(mo)擬器(qi)交(jiao)流(liu)電(dian)源(yuan)
  • > 可(ke)編程(cheng)三路(lu)直(zhi)流(liu)電(dian)源(yuan)
  • > 雙(shuang)向(xiang)電(dian)源(yuan)和回(hui)饋(kui)式負(fu)載(zai)
  • > 新能源(yuan)汽車/電(dian)池(chi)/充電(dian)樁(zhuang)測試(shi)系統
  • > 可編(bian)程(cheng)直(zhi)流(liu)電(dian)源(yuan)
  • > 小(xiao)功率電(dian)子(zi)負(fu)載(zai)
  • > 大功率直(zhi)流(liu)電(dian)源(yuan)和電(dian)子(zi)負(fu)載(zai)壹體的機(ji)器(qi)
  • > 大功率電(dian)子(zi)負(fu)載(zai)
  • > 能量回(hui)饋(kui)式直(zhi)流(liu)電(dian)子(zi)負(fu)載(zai)
  • > AC交(jiao)流(liu)電(dian)子(zi)負(fu)載(zai)
  • > 大功率直(zhi)流(liu)電(dian)源(yuan)
  • > 新能源(yuan)汽車/電(dian)池(chi)/充電(dian)樁(zhuang)
  • > 雙(shuang)極(ji)性(xing)電(dian)源(yuan)
  • > AC交(jiao)流(liu)電(dian)源(yuan)
  • > 直(zhi)流(liu)電(dian)源(yuan)
• 羅(luo)德與施(shi)瓦(wa)茨R&S（惠(hui)美HAMEG）
• 同(tong)惠/長(chang)盛/安柏(bai)
  • > 半導(dao)體參數分析(xi)儀(yi)
  • > 揚(yang)聲器喇(la)叭(ba)電(dian)機(ji)馬(ma)達(da)測試(shi)
  • > 功率分析(xi)儀(yi)/電(dian)參(can)數測試(shi)儀(yi)
  • > 皮(pi)安表/高(gao)阻(zu)計(ji)/靜電(dian)計(ji)
  • > 直(zhi)流(liu)低電(dian)阻(zu)，微(wei)歐姆計(ji)
  • > 交(jiao)流(liu)低電(dian)阻(zu)，電(dian)池(chi)測試(shi)儀(yi)
  • > 線材(cai)，線纜，線束(shu)測(ce)試(shi)儀(yi)
  • > 脈(mai)沖(chong)線圈測(ce)試儀(yi)
  • > 電(dian)感(gan)測試(shi)儀(yi)
  • > 電(dian)容測(ce)試儀(yi)
  • > 溫度(du)采(cai)集記錄(lu)儀(yi)
  • > LCR電(dian)橋(qiao)阻(zu)抗(kang)分析(xi)儀(yi)
  • > 高(gao)阻(zu)測(ce)試
  • > 安規(gui)接(jie)地(di)電(dian)阻(zu)/漏電(dian)流(liu)
  • > 安規(gui)耐(nai)壓(ya)絕緣
• 標準(zhun)源(yuan)/計(ji)量校準(zhun)檢定(ding)設(she)備
• 晶圓、芯(xin)片(pian)、屏(ping)幕(mu)Particle
• 日置HIOKI/國產(chan)替(ti)代(dai)
• 鎖(suo)相(xiang)放(fang)大器(qi)
• 噪聲/振(zhen)動/聲學(xue)測試方(fang)案
• 日本(ben)KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
• 電(dian)聲(sheng)器件測(ce)試設(she)備(bei)
• 長盛(sheng)耐(nai)壓(ya)絕緣電(dian)阻(zu)安規(gui)測(ce)試
  • > 200mA大電(dian)流(liu)耐壓(ya)儀(yi)
• 永磁軟(ruan)磁磁通量測試(shi)
• 汽車電(dian)子(zi)標準(zhun)波(bo)形可(ke)編程(cheng)電(dian)源(yuan)
• SHIMAZU島津(jin)
• 德維(wei)創(chuang)DEWETRON
  • > 功率分析(xi)儀(yi)
  • > 數據采集儀(yi)記錄(lu)儀(yi)
• ARC電(dian)池(chi)絕熱量熱儀(yi)/熱安全性(xing)能