堅融實(shi)業(ye)儀(yi)器儀(yi)表維(wei)修(xiu)服(fu)務說(shuo)明

產(chan)品(pin)分(fen)類(lei)

• 氫檢(jian)儀(yi)氣密(mi)性檢(jian)漏(lou)檢(jian)測(ce)儀(yi)
• 國(guo)產(chan)源表(biao)，替代keithley
  • > 替代進(jin)口(kou)功率分(fen)析儀(yi)
  • > 替代進(jin)口(kou)電源(yuan)
  • > 替代進(jin)口(kou)環境(jing)試驗箱
  • > 國(guo)產替代進(jin)口(kou)射(she)頻儀(yi)器
  • > 替代進(jin)口(kou)高阻(zu)表(biao)
  • > 電池(chi)測(ce)試儀(yi)器
  • > 電(dian)池(chi)絕緣(yuan)電(dian)阻(zu)替代HIOKI
  • > SMU源(yuan)表(biao)替代KEITHLEY2400
  • > 萬用表/信號(hao)源(yuan)替代是(shi)德(de)
• 體(ti)積(ji)電阻(zu)率(lv)/表面電阻(zu)測(ce)試
• 穩科Wayne Kerr/MICROTEST
  • > 阻(zu)抗(kang)分(fen)析儀(yi)
  • > 電橋(qiao)LCR
• 半導(dao)體(ti)I-V/C-V/I-R測(ce)試
• 介(jie)電(dian)常數/電導(dao)率測試方(fang)案
• 大眾VW80000/通(tong)用GMW3172/ISO16750標準(zhun)測(ce)試
  • > 微(wei)中(zhong)斷(duan)
• 電化(hua)學工作站/恒(heng)電(dian)位儀(yi)
• IBGT/MOSFET/SiC/GaN測試
• 電池(chi)/光(guang)伏/汽(qi)車(che)充(chong)電(dian)樁(zhuang)測(ce)試
• DESCO/KLEINWACHTER靜電(dian)測(ce)試
  • > 靜電(dian)CDM/HBM/MM
  • > 重(zhong)錘表面靜電(dian)電(dian)阻(zu)/電(dian)阻(zu)率(lv)
  • > 靜電(dian)場(chang)/靜電(dian)消(xiao)散/離子(zi)平衡(heng)
  • > 離子(zi)風機(ji)/無風型(xing)靜電(dian)消(xiao)除器(qi)
  • > 手(shou)腕(wan)帶(dai)防(fang)靜電(dian)工鞋(xie)人體(ti)綜(zong)合測試儀(yi)
  • > MENDA防(fang)靜電(dian)吹吸(xi)塵(chen)器(qi)/抽(chou)煙(yan)機(ji)
  • > EMIT工位接(jie)地(di)電(dian)阻(zu)監測儀(yi)
  • > 平板測試儀(yi)/離子(zi)風機(ji)測(ce)試儀(yi)/靜電(dian)監測器
  • > 靜電(dian)電(dian)荷(he)庫倫(lun)電(dian)量(liang)/衰(shuai)減
• 體(ti)積(ji)電阻(zu)，電(dian)阻(zu)計(ji)，記錄(lu)儀(yi)
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• 愛斯佩克(ke)ESPEC環境(jing)試驗箱
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  • > 烘(hong)箱/幹(gan)燥箱/高(gao)溫(wen)試驗箱
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  • > 快(kuai)速除(chu)濕(shi)設備(bei)/除濕(shi)櫃/惰(duo)性氮氣(qi)防(fang)潮(chao)櫃(gui)
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• 邏(luo)輯(ji)分(fen)析儀(yi)/總線(xian)協議(yi)測(ce)試
  • > RGMII，RMII，SGMII
  • > USB3.0/USB2.0協議(yi)分(fen)析
  • > DP AUX，Soundwire音(yin)頻總線(xian)協議(yi)
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  • > I²C、I²S、SPI總(zong)線(xian)協議(yi)
  • > CAN、LIN、Flexray、MVB/WTB
  • > SD3.0、eMMC5.1總(zong)線(xian)測試
  • > 其他(ta)虛(xu)擬示(shi)波(bo)器/協議(yi)解碼
• EMI/EMC/EMS電(dian)磁(ci)幹擾兼(jian)容
  • > 汽(qi)車(che)設備(bei)電(dian)源(yuan)故障模(mo)擬器(qi)
  • > 拋負載(zai)
  • > 電(dian)纜(lan)束註(zhu)入敏感(gan)度(du)測試系統
  • > 寬(kuan)帶(dai)功率放(fang)大(da)器
  • > 汽(qi)車(che)電子(zi)電磁(ci)兼容(rong)EMC/波(bo)形(xing)
  • > 耦合(he)去耦合(he)
  • > 諧波和閃爍
  • > 射(she)頻傳導(dao)抗(kang)擾度(du)測試系統
  • > 阻(zu)尼(ni)振(zhen)蕩(dang)磁(ci)場測(ce)試系統
  • > 振(zhen)鈴(ling)波發(fa)生器(qi)
  • > 電(dian)壓(ya)跌落(luo)模(mo)擬器(qi)
  • > 電快速(su)瞬(shun)變(bian)脈沖(chong)群(qun)發(fa)生器(qi)
  • > 耐(nai)壓(ya)絕緣(yuan)電(dian)阻(zu)測(ce)試儀(yi)
  • > 絕緣(yuan)電(dian)阻(zu)測(ce)試儀(yi)
  • > 安規(gui)綜(zong)合(he)測試儀(yi)
  • > AC/DC交(jiao)直流(liu)耐(nai)壓(ya)測(ce)試儀(yi)
  • > 泄漏(lou)電流(liu)測(ce)試儀(yi)
  • > 雷擊(ji)浪湧(yong)/EMC電磁(ci)兼容(rong)測(ce)試
  • > 接(jie)地(di)導(dao)通(tong)電(dian)阻(zu)測(ce)試儀(yi)
  • > ESD靜電(dian)放(fang)電(dian)發(fa)生器(qi)
  • > 安規(gui)綜(zong)合(he)校(xiao)準(zhun)盒(he)
• 愛色麗X-Rite/電色NIPPON
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• 梅(mei)特(te)勒METTLER
  • > 熱(re)機械(xie)分(fen)析儀(yi)
  • > 分(fen)析天(tian)平
• 物料輪(lun)廓(kuo)顏色缺料視覺篩選(xuan)
• 博勒飛(fei)Brookfield
  • > 流(liu)變(bian)儀(yi)
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  • > 水(shui)分(fen)、固(gu)含(han)量(liang)、灰分(fen)測(ce)定(ding)儀(yi)
• 賓(bin)德BINDER試驗箱
  • > 二(er)氧(yang)化碳(tan)CO₂培(pei)養箱(xiang)
  • > 高低(di)溫(wen)交(jiao)變(bian)氣(qi)候箱
  • > 微(wei)生物培(pei)養箱(xiang)
  • > 真空幹燥(zao)箱(xiang)
  • > 安全幹(gan)燥箱(xiang)
  • > 幹燥箱(xiang)和烘箱(xiang)
  • > 生物生長(chang)箱
  • > 恒(heng)溫(wen)恒(heng)濕(shi)箱
  • > 超(chao)低(di)溫(wen)冰(bing)箱(xiang)
• 金相切割(ge)/鑲(xiang)嵌(qian)/研(yan)磨拋光(guang)
  • > 冷/熱(re)鑲(xiang)嵌(qian)機(ji)
  • > 磨拋機(ji)/研磨機
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  • > 電(dian)子(zi)天(tian)平/顯(xian)微(wei)鏡(jing)
• 紅(hong)外(wai)熱(re)像儀(yi)
• 美(mei)國BK PRECISION
  • > 信號(hao)源(yuan)等(deng)儀(yi)器
  • > 電(dian)子(zi)負載(zai)
  • > 示(shi)波(bo)器
  • > LCR電(dian)橋(qiao)
  • > 萬用表
  • > 電源(yuan)
• ADCMT愛德萬ADVANTEST
  • > 臺(tai)式數字(zi)萬用表
  • > I-V曲線(xian)測試系統
  • > 直流(liu)電(dian)源(yuan)/恒(heng)流(liu)電(dian)流(liu)源(yuan)
  • > 高(gao)阻(zu)表(biao)/體(ti)積(ji)電阻(zu)率(lv)測試儀(yi)
  • > 光(guang)功率計(ji)/光(guang)波長(chang)計
• COSMOS氣(qi)體(ti)/鐵(tie)粉濃度(du)計
• ITECH艾德(de)克(ke)斯/NGI恩(en)智
  • > LED測試專用電子(zi)負載(zai)
  • > 直流(liu)電(dian)子(zi)負載(zai)
  • > 回饋式電(dian)網(wang)模(mo)擬器(qi)交(jiao)流(liu)電(dian)源(yuan)
  • > 可(ke)編程三路直流(liu)電(dian)源(yuan)
  • > 雙(shuang)向(xiang)電(dian)源(yuan)和回饋式負(fu)載(zai)
  • > 新(xin)能源汽(qi)車(che)/電池(chi)/充(chong)電(dian)樁(zhuang)測(ce)試系統
  • > 可(ke)編程直流(liu)電(dian)源(yuan)
  • > 小(xiao)功率電(dian)子(zi)負載(zai)
  • > 大(da)功率直流(liu)電(dian)源(yuan)和電子(zi)負載(zai)壹(yi)體(ti)的機器
  • > 大功率電(dian)子(zi)負載(zai)
  • > 能量回饋式直流(liu)電(dian)子(zi)負載(zai)
  • > AC交(jiao)流(liu)電(dian)子(zi)負載(zai)
  • > 大(da)功率直流(liu)電(dian)源(yuan)
  • > 新(xin)能源汽(qi)車(che)/電池(chi)/充(chong)電(dian)樁(zhuang)
  • > 雙(shuang)極(ji)性(xing)電(dian)源
  • > AC交(jiao)流(liu)電(dian)源(yuan)
  • > 直流(liu)電(dian)源(yuan)
• 羅德與(yu)施(shi)瓦(wa)茨(ci)R&S（惠(hui)美(mei)HAMEG）
• 同(tong)惠(hui)/長(chang)盛(sheng)/安柏(bai)
  • > 半(ban)導(dao)體(ti)參數分(fen)析儀(yi)
  • > 揚(yang)聲器(qi)喇(la)叭(ba)電(dian)機(ji)馬達測試
  • > 功率分(fen)析儀(yi)/電參數測試儀(yi)
  • > 皮(pi)安表(biao)/高(gao)阻(zu)計(ji)/靜電(dian)計(ji)
  • > 直流(liu)低(di)電阻(zu)，微(wei)歐姆計
  • > 交(jiao)流(liu)低(di)電阻(zu)，電(dian)池(chi)測(ce)試儀(yi)
  • > 線(xian)材，線(xian)纜(lan)，線(xian)束測(ce)試儀(yi)
  • > 脈沖(chong)線(xian)圈測(ce)試儀(yi)
  • > 電感(gan)測試儀(yi)
  • > 電容(rong)測試儀(yi)
  • > 溫(wen)度(du)采(cai)集記錄(lu)儀(yi)
  • > LCR電橋(qiao)阻(zu)抗(kang)分(fen)析儀(yi)
  • > 高阻(zu)測(ce)試
  • > 安規(gui)接(jie)地(di)電(dian)阻(zu)/漏(lou)電流(liu)
  • > 安規(gui)耐(nai)壓(ya)絕緣(yuan)
• 標準(zhun)源(yuan)/計量校(xiao)準(zhun)檢(jian)定(ding)設(she)備
• 晶圓(yuan)、芯片(pian)、屏幕Particle
• 日(ri)置HIOKI/國(guo)產替代
• 鎖(suo)相(xiang)放大(da)器(qi)
• 噪(zao)聲/振(zhen)動(dong)/聲學(xue)測試方(fang)案
• 日本KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
• 電聲器(qi)件測試設備
• 長(chang)盛(sheng)耐(nai)壓(ya)絕緣(yuan)電(dian)阻(zu)安規(gui)測(ce)試
  • > 200mA大電流(liu)耐(nai)壓(ya)儀(yi)
• 永磁(ci)軟(ruan)磁(ci)磁(ci)通(tong)量(liang)測(ce)試
• 汽(qi)車(che)電子(zi)標準(zhun)波(bo)形(xing)可編程電源(yuan)
• SHIMAZU島(dao)津
• 德(de)維(wei)創(chuang)DEWETRON
  • > 功率分(fen)析儀(yi)
  • > 數據采(cai)集儀(yi)記錄(lu)儀(yi)
• ARC電池(chi)絕熱(re)量熱(re)儀(yi)/熱(re)安全性(xing)能