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創(chuang)意(yi)的光(guang)伏(fu)太(tai)陽(yang)能(neng)休閑椅(yi)
日(ri)期(qi)：2012-07-22瀏覽(lan)：3848次(ci)
創(chuang)意(yi)的光(guang)伏(fu)太(tai)陽(yang)能(neng)休閑椅(yi)
伏(fu)椅(yi).jpg)
創(chuang)意(yi)的光(guang)伏(fu)太(tai)陽(yang)能(neng)休閑椅(yi)
這個(ge)叫SOFT Rockers的東(dong)東由MIT的Killian Court發(fa)明，在古(gu)典(dian)的軟椅(yi)上面(mian)加了(le)壹(yi)個(ge)太(tai)陽(yang)能(neng)電池板(ban)。這樣(yang)妳便可以(yi)在大(da)太(tai)陽(yang)天(tian)，壹(yi)邊(bian)乘(cheng)涼(liang)，壹(yi)邊(bian)玩(wan)電子產品了(le)。
更(geng)神(shen)奇(qi)的是(shi)，這(zhe)個(ge)東東(dong)旋轉(zhuan)底座(zuo)，它可(ke)以(yi)根(gen)據(ju)太(tai)陽(yang)光(guang)強烈(lie)的角(jiao)度，自動選擇(ze)調整(zheng)，讓椅(yi)子上(shang)的太(tai)陽(yang)板(ban)，盡(jin)可能(neng)多的吸收更多(duo)的陽(yang)光(guang)。所有(you)的電(dian)，都可(ke)以(yi)通過(guo)USB給(gei)妳(ni)的機(ji)器(qi)充電(dian)。
上壹(yi)篇(pian)：2012深(shen)圳(zhen)LED展(zhan)覽會(hui)（2012 SZ International LED Expo）
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產品分(fen)類(lei)
- 氫檢儀氣密(mi)性檢漏檢測儀
- 國(guo)產源表，替(ti)代(dai)keithley
- 體積電阻率/表面(mian)電阻測試(shi)
- 穩科(ke)Wayne Kerr/MICROTEST
- 半導(dao)體I-V/C-V/I-R測試(shi)
- 介電(dian)常數(shu)/電(dian)導(dao)率測試(shi)方案(an)
- 大眾(zhong)VW80000/通用(yong)GMW3172/ISO16750標(biao)準測試(shi)
- 電(dian)化(hua)學(xue)工作(zuo)站/恒電(dian)位(wei)儀
- IBGT/MOSFET/SiC/GaN測試(shi)
- 電池(chi)/光(guang)伏(fu)/汽(qi)車(che)充(chong)電(dian)樁(zhuang)測(ce)試(shi)
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- 體積電阻，電(dian)阻計，記錄(lu)儀
- 吉時(shi)利KEITHLEY/泰(tai)克Tektronix
- 安捷倫(lun)Agilent/是(shi)德KEYSIGHT
- 愛斯佩(pei)克ESPEC環境(jing)試(shi)驗箱(xiang)
- 普源RIGOL/致(zhi)遠(yuan)ZLG/鼎(ding)陽SIGLENT
- Chroma致(zhi)茂(mao)/EEC華儀(yi)EXTECH
- 邏輯(ji)分析(xi)儀/總(zong)線(xian)協(xie)議(yi)測試(shi)
- EMI/EMC/EMS電(dian)磁幹(gan)擾兼(jian)容(rong)
- 愛色麗(li)X-Rite/電色NIPPON
- 梅特勒METTLER
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- 博勒飛Brookfield
- 賓德BINDER試(shi)驗箱(xiang)
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- 紅外(wai)熱像(xiang)儀(yi)
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