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中(zhong)國(guo)臺(tai)灣泰仕發(fa)布(bu)新(xin)品(pin)TES-132太陽能功(gong)率表(biao)（記錄(lu)型）
日期：2012-08-02瀏(liu)覽(lan)：2896次(ci)
中(zhong)國(guo)臺(tai)灣泰仕發(fa)布(bu)新(xin)品(pin)TES-132太陽能功(gong)率表(biao)（記錄(lu)型）
TES-132太陽能功(gong)率表(biao)特性(xing)
•4位(wei)數顯示(shi)
•光(guang)譜範圍(wei)寬(kuan)
•長期穩(wen)定(ding)
•余(yu)弦(xian)修正
•自(zi)動(dong)材(cai)料(liao)穿透率測(ce)量
•可(ke)選(xuan)擇太陽能功(gong)率測(ce)量或穿透率測(ce)量
•太陽能能量測(ce)量
•現在(zai)時間(jian)設(she)定(ding)功(gong)能
•使用者校(xiao)正參(can)數設(she)定(ding)功(gong)能
•傳(chuan)感(gan)器(qi)位於表(biao)頂端
•W/m2或Btu/（ft2*h）單(dan)位選(xuan)擇
•讀(du)值(zhi)鎖定(ding)、zui大、zui小、平均(jun)值(zhi)模(mo)式(shi)功(gong)能
•手動(dong)數(shu)據記憶及讀(du)取(qu)功(gong)能（99組(zu)）
•自(zi)動(dong)數(shu)據記錄(lu)功(gong)能（microSD CARD 2GB）
•自動(dong)關(guan)機(ji)功(gong)能，以(yi)節省(sheng)無謂電(dian)池能量消(xiao)耗(hao)
•USB界(jie)面(mian)
TES-132太陽能功(gong)率表(biao)應用(yong)領(ling)域(yu)
•氣象(xiang)
•農(nong)業
•太陽能輻(fu)射(she)測(ce)量
•證(zheng)明窗(chuang)戶玻璃之(zhi)高性(xing)能
•太陽能研究(jiu)
•物(wu)理及光(guang)學(xue)實(shi)驗室
•太陽穿透率測(ce)量
產品(pin)分類
- 氫檢(jian)儀(yi)氣密(mi)性(xing)檢(jian)漏檢(jian)測(ce)儀
- 國(guo)產源(yuan)表(biao)，替(ti)代keithley
- 體(ti)積電(dian)阻率(lv)/表面(mian)電(dian)阻測(ce)試
- 穩科Wayne Kerr/MICROTEST
- 半(ban)導(dao)體(ti)I-V/C-V/I-R測(ce)試
- 介(jie)電(dian)常(chang)數(shu)/電(dian)導(dao)率(lv)測(ce)試方(fang)案(an)
- 大眾(zhong)VW80000/通用(yong)GMW3172/ISO16750標準(zhun)測(ce)試
- 電(dian)化(hua)學(xue)工(gong)作站/恒電(dian)位(wei)儀(yi)
- IBGT/MOSFET/SiC/GaN測(ce)試
- 電(dian)池/光(guang)伏/汽車(che)充電(dian)樁測(ce)試
- DESCO/KLEINWACHTER靜電(dian)測(ce)試
- 體(ti)積電(dian)阻，電(dian)阻計(ji)，記錄(lu)儀
- 吉(ji)時(shi)利(li)KEITHLEY/泰克Tektronix
- 安(an)捷倫Agilent/是(shi)德(de)KEYSIGHT
- 愛(ai)斯佩克(ke)ESPEC環(huan)境試驗箱
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- 梅特(te)勒METTLER
- 物(wu)料(liao)輪(lun)廓(kuo)顏(yan)色缺料視覺(jiao)篩(shai)選(xuan)
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