美(mei)國(guo)福祿克FLUKE PM6306電橋|LCR測試(shi)儀庫(ku)存現貨

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  • > 大功(gong)率電子負載
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  • > 皮(pi)安(an)表(biao)/高(gao)阻計(ji)/靜(jing)電計(ji)
  • > 直(zhi)流(liu)低(di)電阻，微歐姆(mu)計(ji)
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  • > 電容測試(shi)儀
  • > 溫(wen)度(du)采(cai)集(ji)記(ji)錄(lu)儀
  • > LCR電橋阻抗分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 高(gao)阻測試(shi)
  • > 安(an)規(gui)接(jie)地電阻/漏(lou)電流(liu)
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• 標準(zhun)源/計(ji)量(liang)校準(zhun)檢定(ding)設(she)備
• 晶(jing)圓(yuan)、芯(xin)片(pian)、屏幕Particle
• 日置HIOKI/國(guo)產替(ti)代
• 鎖(suo)相放(fang)大器(qi)
• 噪聲/振動/聲(sheng)學(xue)測試(shi)方案
• 日(ri)本(ben)KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
• 電聲器件(jian)測試(shi)設備
• 長盛(sheng)耐壓(ya)絕(jue)緣(yuan)電阻安(an)規(gui)測試(shi)
  • > 200mA大電流(liu)耐(nai)壓儀
• 永磁軟磁磁通量測試(shi)
• 汽(qi)車(che)電子標準(zhun)波(bo)形(xing)可編程(cheng)電源
• SHIMAZU島(dao)津
• 德(de)維(wei)創(chuang)DEWETRON
  • > 功(gong)率分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 數(shu)據(ju)采(cai)集(ji)儀(yi)記(ji)錄(lu)儀
• ARC電池絕熱量(liang)熱(re)儀(yi)/熱安(an)全(quan)性(xing)能