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第四(si)屆質量(liang)檢測分析技(ji)術及測(ce)量(liang)測(ce)試(shi)儀(yi)器表展
日期：2013-08-06瀏(liu)覽：2602次(ci)
2013第(di)四(si)屆質量(liang)檢測分析技(ji)術及測(ce)量(liang)測(ce)試(shi)儀(yi)器表展覽會
展會時間：2013-08-20展會地(di)點(dian)：[上(shang)海(hai)] 上海(hai)新博覽中心
展會說(shuo)明：
2013質量(liang)安全(quan)監控系(xi)統設(she)備(bei)及儀(yi)器儀表展覽會是德國(guo)質量(liang)安全(quan)監控系(xi)統設(she)備(bei)及儀(yi)器儀表展覽會（Control）的(de)子(zi)展。Control成立(li)於(yu)1987年,已經(jing)成功舉辦(ban)了26屆,是*質量(liang)監控方面的(de)行業展會,每(mei)年(nian)有(you)來自(zi)*70多個(ge)國(guo)家(jia)的(de)25000名以(yi)上(shang)的(de)觀(guan)眾,900多位(wei)參展商。Control在(zai)意(yi)大利,法國(guo)和(he)印度(du)已經(jing)都(dou)有(you)子(zi)展。通過(guo)我(wo)們的(de)革新會(hui)議,展商將(jiang)有(you)機(ji)會借助(zhu)這個平(ping)臺向(xiang)其(qi)買(mai)家(jia)進(jin)行面對面的(de)培訓,也是的(de)面對面了解產品運行的(de)機(ji)會。本(ben)次(ci)Control移師中國滿(man)足(zu)其(qi)參展商的(de)需求(qiu),展商在(zai)中國找到和(he)德國(guo)Control壹樣(yang)的(de)能夠覆(fu)蓋(gai)質量(liang)安全(quan)監控系(xi)統的(de)整個行業的(de)展會。2013質量(liang)安全(quan)監控系(xi)統設(she)備(bei)及儀(yi)器儀表展覽會 - *的(de)質量(liang)安全(quan)監控展 我(wo)們的(de)參展商是*該行(xing)業的(de)有(you)著技術和(he)系統的(de)國內外(wai)企(qi)業。我(wo)們希(xi)望我(wo)們的(de)專業技術會(hui)議可以(yi)給(gei)您關於“質量(liang)”的(de)基本(ben)的(de)知識,如何(he)選(xuan)購控制(zhi)質量(liang)的(de)機(ji)械,如何(he)成為該行(xing)業的(de)的(de)供應商以(yi)及該(gai)行業的(de)技術和(he)產品。
展品範(fan)圍
材(cai)料(liao)測(ce)試、測量(liang)、測(ce)量(liang)機(ji)、測量(liang)設(she)備(bei)、測量(liang)系(xi)統、測(ce)量(liang)儀(yi)、測(ce)量(liang)儀(yi)器、測試設備(bei)、測試(shi)儀(yi)、測(ce)試儀器、程(cheng)序(xu)控制(zhi)、電子(zi)產品、電阻(zu)、分析儀(yi)、分析儀(yi)器、感(gan)應器、管(guan)理系(xi)統、光(guang)電、光(guang)電子(zi)、光纖(xian)、環境(jing)、環境(jing)管(guan)理、機(ji)器、機(ji)器人、機(ji)械、檢測儀(yi)、檢測儀(yi)器、鑒定(ding)、空(kong)氣(qi)、控制(zhi)系(xi)統、零(ling)部(bu)件(jian)、氣(qi)體(ti)、數(shu)據處理、數(shu)控、圖像(xiang)、彎(wan)曲、物理、壓(ya)力、儀表、質量(liang)管(guan)理、質量(liang)控制(zhi)、智(zhi)能(neng)化
產品分類
- 氫(qing)檢儀氣(qi)密(mi)性(xing)檢漏檢測儀(yi)
- 國(guo)產源表，替(ti)代keithley
- 體積(ji)電阻(zu)率/表(biao)面電阻(zu)測試
- 穩科Wayne Kerr/MICROTEST
- 半(ban)導體I-V/C-V/I-R測(ce)試
- 介電常(chang)數(shu)/電導率測(ce)試(shi)方案
- 大眾VW80000/通用(yong)GMW3172/ISO16750標準(zhun)測試(shi)
- 電化(hua)學(xue)工作站(zhan)/恒(heng)電位(wei)儀(yi)
- IBGT/MOSFET/SiC/GaN測試(shi)
- 電池/光(guang)伏(fu)/汽車充電樁(zhuang)測(ce)試
- DESCO/KLEINWACHTER靜(jing)電測(ce)試(shi)
- 體積(ji)電阻(zu)，電阻(zu)計，記(ji)錄(lu)儀(yi)
- 吉(ji)時利KEITHLEY/泰克(ke)Tektronix
- 安捷倫Agilent/是德KEYSIGHT
- 愛(ai)斯(si)佩克(ke)ESPEC環境(jing)試(shi)驗(yan)箱(xiang)
- 普源RIGOL/致遠(yuan)ZLG/鼎陽SIGLENT
- Chroma致茂/EEC華(hua)儀EXTECH
- 邏(luo)輯分析儀(yi)/總線(xian)協(xie)議測(ce)試
- EMI/EMC/EMS電磁(ci)幹擾(rao)兼(jian)容(rong)
- 愛(ai)色(se)麗(li)X-Rite/電色(se)NIPPON
- 梅特(te)勒METTLER
- 物料輪(lun)廓(kuo)顏色(se)缺料(liao)視覺篩(shai)選(xuan)
- 博勒飛(fei)Brookfield
- 賓(bin)德(de)BINDER試(shi)驗(yan)箱(xiang)
- 金相(xiang)切(qie)割/鑲(xiang)嵌(qian)/研(yan)磨(mo)拋(pao)光(guang)
- 紅(hong)外熱像儀
- 美(mei)國(guo)BK PRECISION
- ADCMT愛(ai)德(de)萬(wan)ADVANTEST
- COSMOS氣(qi)體(ti)/鐵(tie)粉濃度(du)計
- ITECH艾(ai)德(de)克(ke)斯(si)/NGI恩(en)智(zhi)
- 羅德(de)與(yu)施(shi)瓦茨(ci)R&S（惠美(mei)HAMEG）
- 同惠(hui)/長(chang)盛/安柏(bai)
- 標準(zhun)源/計量(liang)校(xiao)準(zhun)檢定(ding)設(she)備(bei)
- 晶圓(yuan)、芯(xin)片、屏(ping)幕Particle
- 日置(zhi)HIOKI/國(guo)產替代(dai)
- 鎖相(xiang)放(fang)大器
- 噪(zao)聲/振(zhen)動(dong)/聲學(xue)測(ce)試(shi)方案
- 日本KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
- 電聲器件測試設(she)備(bei)
- 長(chang)盛耐壓(ya)絕(jue)緣(yuan)電阻(zu)安規(gui)測試(shi)
- 永磁(ci)軟磁(ci)磁(ci)通量(liang)測(ce)試(shi)
- 汽車(che)電子(zi)標準(zhun)波形(xing)可編程(cheng)電源
- SHIMAZU島津(jin)
- 德(de)維(wei)創DEWETRON
- ARC電池絕(jue)熱(re)量(liang)熱(re)儀(yi)/熱(re)安全(quan)性(xing)能
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