上海堅融實業專業代(dai)理DESCO、Kleinwachter靜電(dian)檢測防(fang)護產(chan)品

對於(yu)靜電(dian)的(de)檢測、消(xiao)除與(yu)防(fang)護，國(guo)外技術(shu)已經(jing)非常成熟，國(guo)內也(ye)在加(jia)大力(li)度(du)做(zuo)這方面的(de)工作，頗(po)有成(cheng)效(xiao)。上(shang)海堅融實業作(zuo)為(wei)中國(guo)電(dian)子(zi)行業儀器(qi)儀表(biao)供應商，專業代(dai)理經銷德(de)國(guo)魯(lu)道(dao)夫泰(tai)茲(zi)Rudolph Tietzsch、德國(guo)科納(na)沃(wo)茨特(te)Kleinwachter、美(mei)國(guo)德斯(si)科DESCO、HP-菲(fei)舍(she)爾 (HP. FISCHER)等(deng)品牌(pai)靜電(dian)檢測、靜電(dian)消(xiao)除、靜電(dian)防(fang)護等產(chan)品。

德(de)國(guo)科納(na)沃(wo)茨特(te)Kleinwachter CPM-374充(chong)電(dian)板(ban)衰減(jian)監(jian)測(ce)儀
CPM-374 由(you)計(ji)時器(qi)、高壓(ya)產(chan)生器(qi)、靜電(dian)場(chang)探(tan)頭、和電(dian)極(ji)板(ban)構成(cheng)，可以測(ce)量直(zhi)流(liu)電(dian)位、靜電(dian)場(chang)強(qiang)和電(dian)極(ji)板(ban)上的(de)電(dian)位衰減(jian)時間(jian)及離(li)子(zi)平衡(heng)度(du)。6.10版(ban)CPM-374有(you)3個測量模(mo)式可以選(xuan)擇：  
  充(chong)電(dian)板(ban)模(mo)式(Charge Plate Mode) 
  電(dian)壓(ya)表模(mo)式(Voltmeter Mode) 
  場(chang)強(qiang)儀模(mo)式(Electrostatic Field Meter Mode) 

HP-菲舍(she)爾 (HP. FISCHER)TO-3超(chao)高電(dian)阻(zu)微(wei)小(xiao)電(dian)流(liu)測試(shi)儀
TO-3測(ce)試(shi)儀用於測(ce)試(shi)高電(dian)阻(zu)及電(dian)阻(zu)率(lv)，儀器(qi)采(cai)用8個高精(jing)度參(can)考電(dian)阻(zu)（200?～1G ?）接(jie)入(ru)測(ce)試(shi)線路(lu)，
通(tong)過放(fang)大運(yun)算在參(can)考電(dian)阻(zu)上(shang)的(de)壓(ya)降並(bing)計算(suan)出(chu)整(zheng)個線路(lu)的(de)電(dian)流(liu)值，再根據(ju)歐(ou)姆(mu)定(ding)律(lv)計(ji)算(suan)出被測物(wu)體(ti)的(de)電(dian)阻(zu)值。 
采(cai)用配套(tao)的(de)測(ce)試(shi)電(dian)極(ji)，根(gen)據測試(shi)電(dian)極(ji)的(de)幾(ji)何尺寸(cun)，可以把測(ce)試(shi)出的(de)電(dian)阻(zu)值換算(suan)為(wei)電(dian)阻(zu)率(lv)。可(ke)以把電(dian)阻(zu)-電(dian)阻(zu)率(lv)轉換因(yin)子(zi)設(she)置(zhi)入(ru)儀器(qi)，儀器(qi)讀數直(zhi)接(jie)為(wei)電(dian)阻(zu)率(lv)。 
采(cai)用TO-3的(de)電(dian)流(liu)測試(shi)模(mo)式，可以測(ce)試(shi)通過物體(ti)的(de)微(wei)小(xiao)電(dian)流(liu)，這壹功能(neng)可(ke)用於分(fen)析(xi)不同電(dian)壓(ya)或時間(jian)下通過被測物(wu)體(ti)的(de)電(dian)流(liu)特性(xing)，儀器(qi)具有vm-step測試(shi)模(mo)式，即連(lian)續地(di)增加電(dian)壓(ya)測試(shi)同壹(yi)物(wu)體(ti)，觀(guan)察(cha)電(dian)流(liu)的(de)情(qing)況。另(ling)外(wai)，電(dian)流(liu)測試(shi)模(mo)式還(hai)可(ke)用於錯誤電(dian)流(liu)的(de)偵(zhen)測，當待(dai)測(ce)物體(ti)上(shang)並(bing)未施(shi)加電(dian)壓(ya)時，如(ru)果偵(zhen)測到電(dian)流(liu)，說明(ming)存在錯誤電(dian)流(liu)。 
TO-3測試(shi)儀器(qi)可(ke)以配(pei)套各種(zhong)電(dian)極(ji)用於測(ce)試(shi)固體(ti)、粉(fen)體(ti)及液(ye)體(ti)的(de)電(dian)阻(zu)。 

美(mei)國(guo)德斯(si)科DESCO19780表(biao)面電(dian)阻(zu)測(ce)試(shi)儀(重(zhong)錘式(shi))
按照ANSIESDS20.20的(de)6.1.3.2的(de)要(yao)求(qiu)設(she)計(ji),*符(fu)合(he)美(mei)國(guo)防(fang)靜電(dian)協(xie)會的(de)要(yao)求(qiu).
表(biao)面電(dian)阻(zu)測(ce)試(shi)儀(重(zhong)錘式(shi))用於對(dui)防(fang)靜電(dian)工作臺(tai)，防(fang)靜電(dian)臺(tai)墊，地(di)墊,防(fang)靜電(dian)地(di)面等(deng)物(wu)體(ti)的(de)表(biao)面電(dian)阻(zu)進行(xing)快速的(de)測(ce)量.
19780和50560適用於對(dui)較(jiao)小(xiao)面積(ji)的(de)表(biao)面進行(xing)測試(shi).

美國(guo)德斯(si)科DESCO20780靜電(dian)電(dian)阻(zu)測(ce)試(shi)儀  
SRT測(ce)試(shi)儀可(ke)以方(fang)便地(di)測(ce)試(shi)點(dian)到點(dian)電(dian)阻(zu)(RTT), 接(jie)地(di)電(dian)阻(zu)(RTG)和體(ti)積(ji)電(dian)阻(zu), 配(pei)套50560平板(ban)電(dian)極(ji)可(ke)測試(shi)表面電(dian)阻(zu)率(lv), 配(pei)套844兩點(dian)測試(shi)電(dian)極(ji)可(ke)測量微小(xiao)物體(ti)表(biao)面電(dian)阻(zu).  
配(pei)套20002同心(xin)圓(yuan)重(zhong)錘電(dian)極(ji)可(ke)以測(ce)量表面電(dian)阻(zu)及表(biao)面電(dian)阻(zu)率(lv).  
SRT測(ce)試(shi)儀器(qi)按照ANSI/ESD S4.1標準(zhun)規(gui)定(ding), 測(ce)試(shi)以下(xia)項目:  
1.  防(fang)靜電(dian)工作臺(tai)面電(dian)阻(zu)(ESD S4.1標準(zhun)) 
2.  防(fang)靜電(dian)地(di)板(ban)電(dian)阻(zu)(ANSI/ESD S7.1標準(zhun)) 
3.  防(fang)靜電(dian)鞋(xie)電(dian)阻(zu)(ESD S9.1標準(zhun)) 
4.  防(fang)靜電(dian)工作服電(dian)阻(zu)(ESD STM 2.1標準(zhun)) 
5.  防(fang)靜電(dian)工作椅(yi)電(dian)阻(zu)(ESD STM 2.1標準(zhun)) 
6.  人(ren)體(ti)通(tong)過防(fang)靜電(dian)鞋(xie)和地(di)板(ban)的(de)接(jie)地(di)電(dian)阻(zu)(ESD礙(ai)STM 97.1標準(zhun)) 
7.  防(fang)靜電(dian)工作臺(tai)接(jie)地(di)電(dian)阻(zu)(ESD-ADV 53.1標準(zhun)) 

美國(guo)德斯(si)科DESCO50671/50672吊(diao)頂型(xing)ZVI離子(zi)風機(ji)
根(gen)據(ju)ANSI/ESD S20.20中6.2.3.1內容規(gui)定(ding)，在靜電(dian)絕緣物(wu)體(ti)或孤(gu)立(li)的(de)半導(dao)體(ti)產(chan)生靜電(dian)時，應使用電(dian)離(li)技術(shu)產(chan)生正(zheng)負離子中和靜電(dian)。采(cai)用電(dian)離(li)中和技術(shu)對具有大電(dian)容的(de)物(wu)體(ti)無(wu)效(xiao)，例(li)如人(ren)體(ti)，但在接(jie)地(di)無(wu)法(fa)實(shi)現(xian)的(de)情(qing)況下(xia)，電(dian)離(li)中和技術(shu)應該被采(cai)用。根據(ju)IEC 61340-5-2:1 中(zhong)所規(gui)定(ding)，對(dui)導(dao)電(dian)物(wu)體(ti)和人(ren)體(ti)，電(dian)離(li)中和技術(shu)不應是(shi)*選(xuan)擇。 
ZVI吊(diao)頂型(xing)離子(zi)風機(ji)采(cai)用恒定(ding)直(zhi)流(liu)電(dian)暈(yun)方式把空(kong)氣電(dian)離(li)為(wei)大量正(zheng)負離子，由風扇(shan)輸送(song)到(dao)需(xu)除靜電(dian)物(wu)體(ti)表(biao)面以中(zhong)和靜電(dian)，同(tong)時將(jiang)表面灰塵(chen)吹除。 

德國(guo)科納(na)沃(wo)茨特(te)（Kleinwachter）EFM-022靜電(dian)場(chang)測(ce)試(shi)儀
Electrostatic Field Meter EFM-022 and Accessories  
EFM-022測(ce)試(shi)儀、EFM-022-CPS測(ce)試(shi)套件(jian)、VMS-023測(ce)試(shi)配件(jian) 
EFM-022是(shi)壹(yi)款(kuan)小(xiao)巧輕(qing)便(bian)手持(chi)式數顯靜電(dian)場(chang)測(ce)試(shi)儀，可(ke)在不同的(de)距(ju)離非接(jie)觸(chu)地(di)測(ce)量0V到+/-200kV的(de)帶(dai)電(dian)物(wu)體(ti)表(biao)面靜電(dian)位。
EFM-022采(cai)用旋轉葉片式探(tan)頭測(ce)量靜電(dian)場(chang)強(qiang)。旋轉葉片式設(she)計(ji)比(bi)振(zhen)動式(shi)靈敏度(du)高，更(geng)適合連(lian)續性(xing)長(chang)時間(jian)測量。儀器(qi)外(wai)殼(ke)為(wei)EMV塑料，可有(you)效(xiao)屏(ping)蔽幹(gan)擾(rao)信(xin)號。測量值顯示在LCD液(ye)晶屏(ping)幕上，屏(ping)幕*行顯示所(suo)選擇的(de)測(ce)試(shi)距離(li)，第(di)二(er)行顯示讀數。 

德(de)國(guo)魯(lu)道(dao)夫泰(tai)茲(zi)Rudolph Tietzsch83301防(fang)爆型接(jie)地(di)電(dian)阻(zu)測(ce)試(shi)儀 
EP 4 / EP 4Ex適用於電(dian)壓(ya)低(di)於400V的(de)電(dian)氣(qi)系統的(de)電(dian)阻(zu)測(ce)量，讀數以數字顯示。該(gai)設(she)備可(ke)以快(kuai)速可(ke)靠(kao)地(di)檢測保(bao)護性導(dao)電(dian)連(lian)接(jie)、接(jie)地(di)安(an)裝、電(dian)位均衡導(dao)線(xian)以及屏(ping)蔽(bi)和避(bi)雷等裝(zhuang)置。 
在20Ω量程(cheng)內采(cai)用200mA測試(shi)電(dian)流(liu)，設(she)備和接(jie)地(di)點(dian)之(zhi)間(jian)的(de)測(ce)試(shi)線自(zi)身(shen)電(dian)阻(zu)（不能高於(yu)3.5Ω）零平衡(heng)校正(zheng)後(hou)，在測(ce)試(shi)時做(zuo)自(zi)動補(bu)償，以保(bao)證(zheng)測(ce)量結果的(de)可(ke)靠性(xing)。 
在普(pu)通場(chang)所(suo)使用的(de)設(she)備型(xing)號為(wei)EP 4；在Ex區(qu)域內(nei)使(shi)用的(de)設(she)備型(xing)號為(wei)EX 4Ex。 
二種(zhong)型(xing)號的(de)設(she)備使(shi)用方式(shi)基本(ben)相(xiang)同(tong)。