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上(shang)海(hai)堅融實業(ye)納(na)米新(xin)材料研(yan)究測試(shi)方案(an)

日(ri)期(qi)：2014-06-13瀏覽(lan)：2058次

納(na)米技(ji)術日(ri)益成(cheng)為科學技(ji)術向(xiang)前發(fa)展(zhan)趨(qu)勢的主(zhu)導(dao)技(ji)術。納(na)米級(ji)科學和(he)工程(cheng)將基礎(chu)研(yan)究和(he)教育的進(jin)步，電子(zi)和(he)光電器(qi)件(jian)的進(jin)步以及(ji)半(ban)導(dao)體(ti)制(zhi)造(zao)、生(sheng)物技(ji)術、替代能源(yuan)和(he)工業(ye)制造(zao)的顯(xian)著變化。上(shang)海(hai)堅融實業(ye)有(you)限公(gong)司致力(li)於(yu)納(na)米新(xin)材料研(yan)究測試(shi)方案(an)，使用吉(ji)時(shi)利6430型(xing)亞(ya)fA程(cheng)控(kong)源表Measures currents with 400aA (400x10-18A是(shi)負(fu)18次(ci)方安(an)培，也(ye)就(jiu)是(shi)亞(ya)安(an)) Sensitivity ，采用(yong)4 線(xian)連(lian)接至碳納(na)米管(guan)進(jin)行測量(liang)。

測量(liang)這(zhe)些材料的壹種(zhong)zui常用(yong)的測量(liang)技(ji)術是(shi)使(shi)用(yong) 4 線(xian)或(huo) “Kelvin” 測量(liang)。采用(yong) Kelvin 測量(liang)技(ji)術時(shi)，需要(yao)第(di)二組(zu)探頭用於(yu)感(gan)測。因為這些(xie)探頭中的電流可(ke)忽略(lve)不計，所以(yi)只(zhi)用(yong)測量(liang) DUT 兩(liang)端的壓降。因此，電阻測量(liang)或(huo) I-V 曲線(xian)發(fa)生就(jiu)更準(zhun)確(que)了。

在(zai)器(qi)件(jian)開發(fa)過程(cheng)中(zhong)，類似納(na)米線(xian)、碳納(na)米管(guan)和(he)納(na)米晶(jing)體(ti)的結構常常(chang)表(biao)現(xian)出(chu)與(yu)眾不(bu)同(tong)的特(te)點。分(fen)析(xi)這些特(te)點而(er)不(bu)損(sun)壞*的結構需要(yao)能(neng)對(dui)源進(jin)行嚴(yan)格控(kong)制的系統(tong)，以(yi)防(fang)止(zhi)器(qi)件(jian)自發(fa)熱。吉(ji)時(shi)利測量(liang)儀(yi)器(qi)將這種(zhong)嚴(yan)格控(kong)制與(yu)超(chao)快(kuai)測量(liang)速(su)度(du)和(he)靈(ling)敏(min)度結合(he)在(zai)靈(ling)活、模(mo)塊化的結構中從(cong)而(er)很(hen)容(rong)易(yi)適應不(bu)斷(duan)變化的測試(shi)要求。

吉(ji)時(shi)利4200-SCS型(xing)半(ban)導(dao)體(ti)特(te)性分(fen)析(xi)系統(tong)中(zhong)的吉(ji)時(shi)利交互(hu)式測試(shi)環(huan)境 (KITE) 允(yun)許任(ren)何(he)納(na)米科(ke)學領域的研(yan)究人(ren)員(yuan)培養(yang)輕(qing)松、快(kuai)捷(jie)地(di)配置測量(liang)測試(shi)的能(neng)力(li)。KITE 是(shi)壹款用於(yu)納(na)米材料和(he)器(qi)件(jian)以及(ji)半(ban)導(dao)體(ti)器(qi)件(jian)特(te)性分(fen)析(xi)的應用(yong)程(cheng)序(xu)。測試(shi)中的源(yuan)和(he)測量(liang)功能由(you)源測量(liang)單元(yuan)(輸出(chu)並測量(liang)直(zhi)流電壓和(he)電流的電子(zi)儀(yi)器(qi)) 提(ti)供。測試(shi)能力(li)的擴(kuo)展(zhan)可(ke)以通(tong)過(guo)各種(zhong)外部組(zu)件(jian)的支(zhi)持實現(xian)。這是(shi)碳納(na)米管(guan) I-V 測試(shi)的設(she)置範例以及(ji)單壁碳納(na)米管(guan)的 I-V 掃(sao)描結果。

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