JESD22環境可靠(kao)性測試標(biao)準

標(biao)準編(bian)號

JESD22-A100C:2007

標(biao)準名(ming)稱

濕熱(re)循環偏(pian)壓壽(shou)命(ming)試驗

試(shi)驗目的(de)

評(ping)估(gu)非固態(tai)封裝產品在(zai)溫(wen)度(du)循環、高濕、偏(pian)壓及(ji)結(jie)露(lu)環境下。產品抗(kang)腐蝕(shi)和耐須(xu)晶(jing)生長性能(neng)。

試驗方法(fa)/條(tiao)件(jian)

ramp time 2h～4h；storage 4h～8h；30~65℃,90%～98%RH

嚴酷等(deng)級

默認除非特例

時(shi)間(jian)

1008(-24,+168)h

匹配設備(bei)

ESPEC的(de)J系(xi)列、LHU系(xi)列、SH系(xi)列、Walk-in等

設備(bei)要求

可(ke)編(bian)程(cheng)交(jiao)替溫(wen)濕度(du)變(bian)化(hua)

標(biao)準編(bian)號

JESD22-A102D:2010

標(biao)準名(ming)稱

高加速(su)蒸煮(zhu)試(shi)驗

試(shi)驗目的(de)

這個測試方法(fa)主要適(shi)用(yong)於抗(kang)濕熱(re)的(de)健(jian)壯(zhuang)性(xing)測試，通(tong)過高溫(wen)高(gao)壓飽和濕氣環境，引(yin)發分(fen)層或金屬(shu)化(hua)腐蝕(shi)等(deng)失效。主(zhu)要針對新(xin)封裝材(cai)料(liao)及(ji)結(jie)構變(bian)化(hua)的(de)考(kao)量(liang)。

試驗方法(fa)/條(tiao)件(jian)

121±2℃,100%RH,205KPa

嚴酷等(deng)級

Condition A~F

時(shi)間(jian)

24(0,+2)h；48(0,+2)h；96(0,+5)h；168(0,+5)h;240(0,+8)h;336(0,+8)h

匹配設備(bei)

EHS-211、EHS-411

設(she)備(bei)要求

高(gao)壓蒸煮設備(bei)

標(biao)準編(bian)號

JESD22-A103D:2010

標(biao)準名(ming)稱

高溫(wen)儲(chu)存壽(shou)命(ming)試驗

試(shi)驗目的(de)

高(gao)溫(wen)存儲測試通(tong)常用(yong)於確(que)定時(shi)間(jian)和
溫(wen)度(du)對(dui)產品的(de)影(ying)響(xiang)。

試驗方法(fa)/條(tiao)件(jian)

125(0,+10)℃；150(0,+10)℃；175(0,+10)℃；200(0,+10)℃；250(0,+10)℃；300(0,+10)℃；

嚴酷等(deng)級

Condition A~F

時(shi)間(jian)

Condition B  1000h or specifying in accordance with JESD47

匹配設備(bei)

ESPEC的(de)PH/V系(xi)列、J系(xi)列、MC、SH/U、Walk-in、Z2系(xi)列等

設備(bei)要求

試(shi)驗過程能(neng)穩定(ding)控(kong)溫(wen)

標(biao)準編(bian)號

JESD22-A104D:2009

標(biao)準名(ming)稱

溫(wen)度(du)循環

試(shi)驗目的(de)

本(ben)實驗用來(lai)確(que)定組件(jian)、互(hu)聯器(qi)件對交(jiao)替溫(wen)度(du)極(ji)限變(bian)化(hua)產生的(de)機(ji)械應(ying)力的(de)耐受性。

試驗方法(fa)/條(tiao)件(jian)

-55(+0,-10)/+85(+10,-0);-55(+0,-10)/+125(+15,-0); -65(+0,-10)/+150(+15,-0); -40(+0,-10)/+125(+15,-0); -55(+0,-10)/+150(+15,-0);-40(+0,-10)/+115(+15,-0); -0(+0,-10)/+100(+15,-0); -0(+0,-10)/+125(+15,-0);-55(+0,-10)/+110(+15,-0); -40(+0,-10)/+150(+15,-0);-40(+0,-10)/+85(+10,-0)       

嚴酷等(deng)級

Condition A~N

時(shi)間(jian)

500~1000h根(gen)據具體(ti)條(tiao)件(jian)

匹配設備(bei)

TCC、Global-N系(xi)列

設備(bei)要求

較(jiao)高(gao)的(de)溫(wen)變(bian)速(su)率

標(biao)準編(bian)號

JESD22-A105C:2004

標(biao)準名(ming)稱

上(shang)電和溫(wen)度(du)循環

試(shi)驗目的(de)

適(shi)用(yong)於半導(dao)體(ti)器(qi)件，在(zai)交(jiao)替的(de)高(gao)低溫(wen)極(ji)限中周(zhou)期的(de)施(shi)加卸除偏(pian)壓，用(yong)於模(mo)擬(ni)樣(yang)件(jian)所遭(zao)受的(de)zui惡(e)劣環境

試驗方法(fa)/條(tiao)件(jian)

-40(+0,-10)℃～+85(+10,-0)℃ ramp time 20min ,dwell time 10min
-40(+0,-10)℃～+125(+10,-0)℃ ramp time 30min ,dwell time 10min
power on/off 5min

嚴酷等(deng)級

Typical condition A~B 

時(shi)間(jian)

10 minutes at each extreme temperature 

匹配設備(bei)

J系(xi)列、MC、AR系(xi)列、BTZ、Global-N系(xi)列

設備(bei)要求

具有(you)可編(bian)程(cheng)控(kong)制(zhi)能(neng)達到(dao)的(de)溫(wen)度(du)變(bian)化(hua)數(shu)率(lv)

標(biao)準編(bian)號

JESD22-A106B:2004

標(biao)準名(ming)稱

熱(re)沖(chong)擊

試驗目的(de)

這個測試是為了確(que)認樣(yang)品暴(bao)露(lu)於溫(wen)度(du)變(bian)化(hua)的(de)抵(di)抗(kang)力和造成的(de)影(ying)響(xiang)。

試驗方法(fa)/條(tiao)件(jian)

85(+10/-0)℃/-40(+0/-10)℃;100(+10/-0)℃/0(+0/-10)℃;125(+10/-0)℃/-55(+0/-10)℃;150(+10/-0)℃/-65(+0/-10)℃  TT less than 20s

嚴酷等(deng)級

Condition A~D

時(shi)間(jian)

協(xie)議商(shang)定

匹配設備(bei)

TSB

設(she)備(bei)要求

液(ye)體(ti)導(dao)熱(re)媒介(jie)

標(biao)準編(bian)號

JESD22-A107B:2004

標(biao)準名(ming)稱

鹽霧(wu)實驗

試(shi)驗目的(de)

用(yong)來確定固態(tai)器(qi)件抵(di)抗(kang)鹽霧(wu)腐蝕(shi)能(neng)力

試驗方法(fa)/條(tiao)件(jian)

35(+3/-0)℃,沈降30±10克每平方米每24小(xiao)時(shi)，pH 6.0~7.5.  

嚴酷等(deng)級

Condition A~D

時(shi)間(jian)

24h;48h;96h;240h.

匹配設備(bei)

板橋理化(hua)的(de)SQ系(xi)列

設備(bei)要求

適(shi)合完成中性(xing)鹽霧(wu)條(tiao)件(jian)的(de)試(shi)驗箱

標(biao)準編(bian)號

JESD22-A108D:2010

標(biao)準名(ming)稱

高溫(wen)環境條(tiao)件(jian)下的(de)工作(zuo)壽(shou)命(ming)試驗

試(shi)驗目的(de)

這個測試用於確(que)定偏(pian)差的(de)和溫(wen)度(du)對(dui)固體器(qi)件的(de)影(ying)響(xiang)。短時(shi)間(jian)壹(yi)種(zhong)高溫(wen)偏(pian)壓的(de)壽(shou)命(ming)測試,俗(su)稱(cheng)老(lao)化(hua),可能(neng)被用來剔除早夭期(qi)相關故障(zhang)。

試驗方法(fa)/條(tiao)件(jian)

125℃/-10℃

嚴酷等(deng)級

由測試時(shi)間(jian)決(jue)定(ding)

時(shi)間(jian)

168h；336h；504h或另外(wai)商(shang)定(ding)

匹配設備(bei)

ESPEC的(de)PH/V系(xi)列、J系(xi)列、MC、SH/U、Walk-in、Z2系(xi)列等

設備(bei)要求

樣(yang)品在(zai)通(tong)電狀態(tai)下溫(wen)箱(xiang)溫(wen)差(cha)控(kong)制(zhi)在(zai)5攝氏度(du)內(nei)

標(biao)準編(bian)號

JESD22-A110D

標(biao)準名(ming)稱

高加速(su)壽(shou)命(ming)試驗

試(shi)驗目的(de)

高(gao)加速(su)溫(wen)濕度(du)應(ying)力試驗是為評估(gu)非氣密性固(gu)態器(qi)件在(zai)潮(chao)濕及(ji)電(dian)偏(pian)壓的(de)環境中的(de)可(ke)靠(kao)性。

試(shi)驗方法(fa)/條(tiao)件(jian)

130±2℃/85±5%RH/96(-0,+2)h;110±2℃/85±5%RH/264(-0,+2)h;apply DC power

嚴酷等(deng)級

由所選(xuan)溫(wen)度(du)點(dian)決定

時(shi)間(jian)

96h;264h

匹配設備(bei)

EHS-211、EHS-411

設(she)備(bei)要求

能(neng)夠達到(dao)的(de)溫(wen)濕度(du)條(tiao)件(jian)，並且具備(bei)給試樣(yang)施(shi)加電偏(pian)壓的(de)結(jie)構

標(biao)準編(bian)號

JESD22-A118A:2011

標(biao)準名(ming)稱

不上(shang)電的(de)高(gao)加速(su)濕氣滲透(tou)試驗

試(shi)驗目的(de)

高(gao)加速(su)溫(wen)濕度(du)應(ying)力試驗是為評估(gu)非氣密性固(gu)態設(she)備(bei)器(qi)件在(zai)潮(chao)濕的(de)環境中的(de)可(ke)靠(kao)性。

試(shi)驗方法(fa)/條(tiao)件(jian)

130±2℃/85±5%RH/96(-0,+2)h;110±2℃/85±5%RH/264(-0,+2)h;

嚴酷等(deng)級

由所選(xuan)溫(wen)度(du)點(dian)決定

時(shi)間(jian)

96h;264h

匹配設備(bei)

EHS-211、EHS-411

設(she)備(bei)要求

能(neng)夠達到(dao)的(de)溫(wen)濕度(du)條(tiao)件(jian)

標(biao)準編(bian)號

JESD22-B103B:2002

標(biao)準名(ming)稱

振(zhen)動(dong)和掃頻(pin)試(shi)驗

試(shi)驗目的(de)

這個測試是評(ping)估(gu)電氣設備(bei)組(zu)件。它的(de)目的(de)是(shi)確(que)定(ding)組件)承受中度(du)到(dao)重度(du)的(de)振(zhen)動(dong)運動(dong)的(de)結(jie)果　　　　運(yun)輸或野(ye)外(wai)作(zuo)業(ye)產生的(de)。

試(shi)驗方法(fa)/條(tiao)件(jian)

正弦(xian)掃頻實驗、隨(sui)機(ji)振(zhen)動(dong)試驗

嚴酷等(deng)級

正(zheng)弦(xian)掃頻實驗分8個等級；隨(sui)機(ji)振(zhen)動(dong)試驗從試(shi)驗等級A~I

時(shi)間(jian)

正弦(xian)1decade/min掃過等級的(de)規(gui)定(ding)的(de)頻(pin)率(lv)範(fan)圍，4次(ci)每個軸,3個軸；隨(sui)機(ji)每個軸30分鐘(zhong)，3個軸

匹(pi)配設備(bei)

DC-3200-36

設(she)備(bei)要求

電(dian)磁振(zhen)動(dong)臺