基(ji)礎(chu)信息(xi)Product information

產品(pin)名(ming)稱(cheng)：美(mei)國吉時(shi)利KEITHLEY6487皮(pi)安表(biao)

產品(pin)型(xing)號(hao)：

更(geng)新(xin)時(shi)間(jian)：2025-06-07

產品(pin)簡(jian)介：

堅融(rong)公(gong)司(si)專註(zhu)小(xiao)信號(hao)測(ce)試(shi)十(shi)年整(zheng)，可(ke)協助(zhu)用(yong)戶解(jie)決(jue)美國(guo)吉時(shi)利KEITHLEY6487皮(pi)安表(biao)測(ce)試(shi)疑難(nan)。

產品(pin)特(te)性(xing)Product characteristics

專業(ye)儀(yi)器(qi)設(she)備(bei)與測試(shi)方案(an)供(gong)應(ying)商(shang)——上(shang)海堅融(rong)實(shi)業(ye)有限公(gong)司(si)JETYOO INDUSTRIAL & 堅友(you)（上(shang)海）測(ce)量(liang)儀(yi)器(qi)有限公(gong)司(si)JETYOO INSTRUMENTS，為原(yuan)安捷倫Agilent【現(xian)是(shi)德(de)KEYSIGHT】品(pin)牌(pai)技(ji)術經理-堅JET與(yu)吉(ji)時(shi)利KEITHLEY【現(xian)泰(tai)克(ke)Tektronix】品(pin)牌(pai)產品(pin)經理-融YOO於2011年共同創(chuang)辦(ban)，專註(zhu)工(gong)業(ye)測(ce)試(shi)領(ling)域(yu)十六(liu)年，誌(zhi)在(zai)破(po)舊(jiu)立(li)新(xin)！*進(jin)口儀(yi)器(qi)設(she)備(bei)大多(duo)數廠(chang)家僅(jin)在(zai)國內(nei)設(she)銷(xiao)售點(dian)，但技(ji)術支(zhi)持(chi)薄弱甚至沒(mei)有，而(er)代(dai)理(li)經銷(xiao)商也(ye)只做商務(wu)，不做售前(qian)技(ji)術支(zhi)持(chi)/測試(shi)方案(an)和(he)售後(hou)使用(yong)培訓/維修(xiu)校準(zhun)的空(kong)白。我們(men)的技(ji)術型(xing)銷(xiao)售均為本(ben)科以(yi)上學(xue)歷(li)，且(qie)均有10年以(yi)上測(ce)試(shi)行業(ye)經驗，以(yi)我們(men)*進(jin)*的經營理念，與(yu)客(ke)戶(hu)互惠互利合作雙贏，重(zhong)在(zai)協助(zhu)用(yong)戶采購(gou)與(yu)技(ji)術工(gong)程(cheng)師(shi)的工(gong)作，提(ti)供(gong)較(jiao)有競(jing)爭力(li)的供(gong)應(ying)鏈(lian)管(guan)理與售前(qian)售後(hou)技(ji)術支(zhi)持(chi)。堅融(rong)實(shi)業(ye)——壹(yi)家(jia)致(zhi)力(li)於(yu)為祖國(guo)用戶提供(gong)儀(yi)器(qi)設(she)備(bei)、測試(shi)方案(an)、技(ji)術培訓、維修(xiu)計量(liang)全面服(fu)務(wu)的儀(yi)器(qi)設(she)備(bei)綜(zong)合服(fu)務(wu)商。

堅融(rong)公(gong)司(si)專註(zhu)小(xiao)信號(hao)測(ce)試(shi)十(shi)年整(zheng)，可(ke)協助(zhu)用(yong)戶解(jie)決(jue)測試(shi)疑難(nan)。美(mei)國(guo)吉(ji)時(shi)利KEITHLEY6487皮(pi)安表(biao)應(ying)用(yong)領(ling)域(yu)

碳納米管(guan)
半(ban)導(dao)體(ti)納米線(xian)
碳納米管(guan) FET
納米傳(chuan)感器(qi)和(he)陣列(lie)
單電(dian)子(zi)晶體(ti)管(guan)
分(fen)子電子(zi)
有機電子
基(ji)本運(yun)放電路
二極(ji)管和電路
晶體(ti)管(guan)電(dian)路
雙極(ji)結型(xing)晶體(ti)管(guan)設(she)計(ji)
結型(xing)場(chang)效(xiao)應晶體(ti)管(guan)設(she)計(ji)
金(jin)屬氧(yang)化(hua)物(wu)半(ban)導(dao)體(ti)場(chang)效(xiao)應晶體(ti)管(guan)設(she)計(ji)
太陽(yang)能電(dian)池(chi)和 LED 設(she)計(ji)
高電子(zi)遷(qian)移率晶體(ti)管(guan)設(she)計(ji)
復合半(ban)導(dao)體(ti)器(qi)件設(she)計(ji)

分(fen)析納米材(cai)料(liao)和(he)實驗器件
碳納米管(guan)的電(dian)測(ce)量(liang)標準(zhun)
測(ce)量(liang)碳納米管(guan)電氣(qi)特(te)性(xing)
提(ti)高納米電(dian)子和(he)分(fen)子電子(zi)器(qi)件的低(di)電(dian)流(liu)測量(liang)
在(zai)低功(gong)率和(he)低(di)壓應(ying)用(yong)中實現準確(que)、可(ke)靠(kao)的(de)電阻測量(liang)
納米級器(qi)件和材(cai)料(liao)的(de)電氣(qi)測(ce)量(liang)
提高超高電阻(zu)和(he)電阻率測(ce)量(liang)的可(ke)重(zhong)復(fu)性
壹(yi)種微(wei)分(fen)電導的(de)改(gai)進(jin)測量(liang)方法
納米技(ji)術準(zhun)確(que)電(dian)氣(qi)測量(liang)的技(ji)術
納米級材(cai)料(liao)的(de)電氣(qi)測(ce)量(liang)
降(jiang)低(di)外部(bu)誤(wu)差(cha)源(yuan)影響(xiang)的(de)儀(yi)器(qi)技(ji)術
迎接(jie)65nm節(jie)點(dian)的(de)測(ce)量(liang)挑戰(zhan)
測(ce)量(liang)半(ban)導(dao)體(ti)材(cai)料(liao)的(de)高電阻(zu)率和(he)霍(huo)爾電(dian)壓(ya)
用微微微安量(liang)程(cheng)測量(liang)電流(liu)
柵極(ji)電介質(zhi)電容(rong)電壓特(te)性(xing)分(fen)析
評(ping)估氧(yang)化(hua)層的可靠(kao)性(xing)
用低噪聲(sheng)美(mei)國(guo)吉(ji)時(shi)利KEITHLEY4200-SCS進(jin)行超(chao)低電(dian)流(liu)測量(liang)
4探針(zhen)電(dian)阻率和(he)霍(huo)爾電(dian)壓(ya)測量(liang)

波(bo)束(shu)監測與(yu)放(fang)射監(jian)測(ce)
絕緣體(ti)、開(kai)關(guan)、繼(ji)電器(qi)和其他(ta)元件的漏(lou)流(liu)測試(shi)
SEM波(bo)束(shu)電(dian)流(liu)測量(liang)
光(guang)電(dian)子器件測試(shi)與(yu)特(te)征(zheng)分(fen)析
光(guang)纖(xian)校準
DCLF電路中的電路測試(shi)與(yu)分(fen)析
傳感(gan)器(qi)特(te)征(zheng)分(fen)析
半(ban)導(dao)體(ti)等器件的I-V測(ce)量(liang)
納米電(dian)子器(qi)件特(te)征(zheng)分(fen)析
教學(xue)實驗

測(ce)量(liang)二極(ji)管
晶體(ti)管(guan)
運(yun)放
有源(yuan)器(qi)件
新的(de)半(ban)導(dao)體(ti)器(qi)件結構(gou)設(she)計(ji)和試(shi)驗低電(dian)阻、低(di)功(gong)耗半(ban)導(dao)體(ti)器(qi)
輸(shu)出(chu)極(ji)低電流(liu)和測(ce)量(liang)極(ji)低電壓分(fen)析現代(dai)材(cai)料(liao)、半(ban)導(dao)體(ti)和(he)納米電(dian)子元(yuan)件的電(dian)阻(zu)
低阻測(ce)量(liang)(低至10nΩ)分(fen)析導通(tong)電阻(zu)參數、互連(lian)和低(di)功(gong)率半(ban)導(dao)體(ti)。
用(yong)於(yu)*進(jin)CMOS技(ji)術的(de)脈(mai)沖可(ke)靠(kao)性(xing)測試(shi)
高K柵極(ji)電介質(zhi)電荷(he)俘獲行為的(de)脈(mai)沖特(te)性(xing)分(fen)析
用6線(xian)歐(ou)姆測量(liang)技(ji)術進(jin)行更(geng)高準確(que)度(du)的(de)電阻(zu)測量(liang)

美(mei)國(guo)吉時(shi)利KEITHLEY6487皮(pi)安表(biao)特(te)點(dian)

電(dian)流(liu)測量(liang) 20fA(包含(han)噪聲(sheng)，即-15次方A)～20mA

電(dian)阻(zu)測量(liang) 10Ω～1PΩ（即15次方Ω）

10fA 分(fen)辨(bian)率
5位半(ban)讀(du)數
輸(shu)入(ru)端壓(ya)降(jiang)<200μV
交互式電壓方法測(ce)量(liang)電阻(zu)
自(zi)動電壓掃(sao)描(miao)，用於(yu)I-V特(te)性(xing)分(fen)析
浮地測(ce)量(liang)到500V
速(su)度可(ke)達(da)1000 個(ge)讀(du)數/秒
內(nei)置486，487仿真(zhen)命令
IEEE-488 和(he) RS-232 接(jie)口(kou)
模擬輸出(chu)

KEITHLEY6487美(mei)國(guo)吉時(shi)利皮(pi)安表(biao)除包(bao)含(han)KEITHLEY6485的所(suo)有功(gong)能外增加(jia)了500V的(de)電壓(ya)源(yuan)以(yi)適用高電阻(zu)和(he)電阻率測(ce)量(liang)。它(ta)比6485有更(geng)高的精(jing)度和(he)更(geng)快(kuai)的(de)上(shang)升時(shi)間(jian)，也(ye)有阻(zu)尼功(gong)能用(yong)於(yu)電容(rong)器件的漏(lou)電(dian)測試(shi)等。這(zhe)款高性價(jia)比儀(yi)器(qi)具有八個(ge)電(dian)流(liu)測量(liang)量(liang)程(cheng)和高速(su)自(zi)動量(liang)程(cheng)，可測(ce)量(liang)的電(dian)流(liu)從(cong)20fA到20mA，按照每秒1000個(ge)讀(du)數的(de)速(su)度進(jin)行測(ce)量(liang)，電壓(ya)源從(cong) 200μV到505V。

標準(zhun)配(pei)件
7078-TRX -3型(xing)低(di)噪聲(sheng)三(san)同軸電纜(lan)，長度(du)為1米Low Noise Triax Input Cable, 1m (3 ft)
8607型(xing)1kV，2根香蕉插(cha)頭(tou)測(ce)試(shi)電(dian)纜(lan)，長度(du)為1米（3.3 ft），High Voltage Banana Cable Set for Voltage Source Output
CAP-31型(xing)保(bao)護屏蔽/罩（適用於3接(jie)線(xian)柱三同軸連(lian)接(jie)器(qi)）Protective Shield/Cap (3-lug)
CA-186-1B香蕉插(cha)頭(tou)接(jie)地(di)線(xian)Ground Connection Cable, Banana to Screw-Lug
CS-459 安全鎖(suo)插(cha)線(xian)Safety Interlock Plug

可(ke)選(xuan)配件
237-TRX-BAR型(xing)3接(jie)線(xian)柱三同軸，母(mu)至母(mu)（桶形(xing)）適配器（用於三同軸電纜(lan)互連(lian)）
8009型(xing)電(dian)阻率測(ce)試(shi)盒(he)
7007-1：雙層屏蔽高級GPIB接(jie)口(kou)電(dian)纜(lan)，長度(du)1米（3.3ft）（用(yong)於GPIB互連(lian)）
KUSB-488B型(xing)IEEE-488.2 USB-GPIB接(jie)口(kou)適配器，適用於USB接(jie)口(kou)，內(nei)置2米（6.6ft）電(dian)纜(lan)