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          基礎信息Product information

          產品名稱(cheng):美國吉(ji)時(shi)利(li)keithley數字源表(biao)

          產品型號(hao):KEITHLEY2425

          更(geng)新(xin)時(shi)間(jian):2025-06-07

          產(chan)品簡(jian)介:

          美國(guo)吉(ji)時(shi)利(li)keithley2425數字源表(biao)系列(lie)特(te)別(bie)適用(yong)於(yu)需(xu)要(yao)精密(mi)電(dian)壓(ya)源(yuan)和電(dian)流(liu)源(yuan)驅動(dong),同(tong)時(shi)進(jin)行(xing)電(dian)流(liu)與電(dian)壓(ya)測量的測試應(ying)用。所(suo)有源表(biao)都提供(gong)精密(mi)的電(dian)壓(ya)和電(dian)流(liu)源(yuan)測量能(neng)力(li)。中(zhong)國(guo)電(dian)子(zi)行(xing)業儀(yi)器(qi)優質供(gong)應(ying)商(shang)——堅(jian)融(rong)實業(ye)JETYOO INDUSTRIAL,Support、銷售Sale、服(fu)務(wu)Service,3S公司,提供(gong)解(jie)決方案(an)、測試測量技術改(gai)進(jin)、技術培(pei)訓(xun)、采(cai)購管理、售後維(wei)修(xiu)服(fu)務(wu)。

          產(chan)品特(te)性(xing)Product characteristics

          中(zhong)國(guo)電(dian)子(zi)行(xing)業儀(yi)器(qi)優質供(gong)應(ying)商(shang)——堅(jian)融(rong)實業(ye)JETYOO INDUSTRIAL,Support、銷售Sale、服(fu)務(wu)Service,3S公司,提供(gong)解(jie)決方案(an)、測試測量技術改(gai)進(jin)、技術培(pei)訓(xun)、采(cai)購管理、售後維(wei)修(xiu)服(fu)務(wu)。

          吉(ji)時(shi)利(li)KEITHLEY2400系列(lie)源(yuan)表(biao)應(ying)用研究(jiu)領域(yu):
          各種(zhong)器件(jian)的I-V功能(neng)測試和特(te)征分析(xi),包(bao)括(kuo):
          • 離(li)散(san)和無(wu)源(yuan)元件 
          –兩(liang)抽頭器件——傳感器、磁(ci)盤驅動(dong)器頭、金(jin)屬氧(yang)化(hua)物(wu)可變(bian)電(dian)阻(MOV)、二極管、齊(qi)納(na)二極管、電(dian)容(rong)、熱(re)敏電(dian)阻
          –三(san)抽頭器件——小信號雙(shuang)極結型晶體管(BJT)、場(chang)效應(ying)晶體管(FET)等(deng)等(deng) 
          • 簡(jian)單IC器(qi)件(jian)——光學器件(jian)、驅動(dong)器、開(kai)關、傳感器
          • 集(ji)成(cheng)器(qi)件(jian)——小規(gui)模(mo)集(ji)成(cheng)(SSI)和大(da)規(gui)模(mo)集(ji)成(cheng)(LSI)
          –模(mo)擬IC 
          –射頻(pin)集(ji)成(cheng)電(dian)路(lu)(RFIC)
          –集(ji)成(cheng)電(dian)路(lu)(ASIC)
          –片上系統(tong)(SoC)器(qi)件
          • 光電(dian)器(qi)件(jian),例(li)如發(fa)光二極管(LED)、激光二極管、高亮度(du)LED(HBLED)、垂(chui)直(zhi)腔(qiang)面(mian)發(fa)射(she)激光器(qi)(VCSEL)、顯(xian)示(shi)器
          • 圓(yuan)片級可靠性(xing)
          - NBTI、TDDB、HCI、電(dian)遷(qian)移
          • 太(tai)陽能(neng)電(dian)池
          • 電(dian)池
          暫態抑(yi)制器件(jian)
          IC、RFIC、MMIC
          激光二極管、激光二極管模(mo)塊(kuai)、LED、光電(dian)檢(jian)測器
          電(dian)路(lu)保(bao)護器(qi)件(jian):
          TVS、MOV、熔絲
          安(an)全氣囊
          連接器、開(kai)關、繼(ji)電(dian)器(qi)
          碳納(na)米管
          半導體納(na)米線
          碳納(na)米管 FET
          納(na)米傳感器和陣(zhen)列(lie)
          單電(dian)子(zi)晶體管
          分子(zi)電(dian)子(zi)
          有機(ji)電(dian)子(zi)
          基(ji)本運放電(dian)路(lu)
          二極管和電(dian)路(lu)
          晶體管電(dian)路(lu)

          測試:
          漏(lou)流(liu)
          低(di)壓(ya)、電(dian)阻
          LIV
          IDDQ
          I-V特(te)征分析(xi)
          隔(ge)離與軌(gui)跡(ji)電(dian)阻
          溫度(du)系數
          正(zheng)向電(dian)壓(ya)、反(fan)向擊(ji)穿(chuan)、漏(lou)電(dian)流(liu)
          直(zhi)流(liu)參數測試
          直(zhi)流(liu)電(dian)源(yuan)
          HIPOT
          介(jie)質耐(nai)受(shou)性(xing)

          雙(shuang)極結型晶體管設計(ji)
          結型(xing)場(chang)效應(ying)晶體管設計(ji)
          金(jin)屬氧(yang)化(hua)物(wu)半導體場(chang)效應(ying)晶體管設計(ji)
          太陽能(neng)電(dian)池和 LED 設計(ji)
          高電(dian)子(zi)遷(qian)移率(lv)晶體管設計(ji)
          復合(he)半導(dao)體器件設計(ji)

          分析(xi)納(na)米材(cai)料和實(shi)驗器件(jian)
          碳納(na)米管的電(dian)測量標準(zhun)
          測量碳納(na)米管電(dian)氣特(te)性(xing)
          提高(gao)納(na)米電(dian)子(zi)和分(fen)子(zi)電(dian)子(zi)器(qi)件的低(di)電(dian)流(liu)測量
          在低(di)功率和低(di)壓(ya)應(ying)用中(zhong)實(shi)現(xian)準(zhun)確(que)、可靠的電(dian)阻測量
          納(na)米級(ji)器件和材(cai)料(liao)的電(dian)氣測量
          提高(gao)超高(gao)電(dian)阻和電(dian)阻率(lv)測量的可重復性(xing)
          壹(yi)種(zhong)微分(fen)電(dian)導(dao)的改(gai)進(jin)測量方(fang)法(fa)
          納(na)米技術準(zhun)確(que)電(dian)氣測量的技術
          納(na)米級(ji)材料的電(dian)氣測量
          降低(di)外(wai)部(bu)誤差(cha)源影(ying)響的儀(yi)器(qi)技術
          迎(ying)接65nm節點(dian)的測量挑(tiao)戰(zhan)
          測量半(ban)導(dao)體材料的高(gao)電(dian)阻率(lv)和霍(huo)爾電(dian)壓(ya)
          用(yong)微(wei)微微安量(liang)程(cheng)測量電(dian)流(liu)
          柵(zha)極電(dian)介(jie)質電(dian)容(rong)電(dian)壓(ya)特(te)性(xing)分(fen)析(xi)
          評估氧(yang)化(hua)層(ceng)的可靠性(xing)

          的半(ban)導(dao)體器件結構設計(ji)和試(shi)驗低電(dian)阻、低(di)功耗半導(dao)體器
          輸出極低電(dian)流(liu)和測量極低電(dian)壓(ya)分(fen)析(xi)現(xian)代材(cai)料、半導體和納(na)米電(dian)子(zi)元件的電(dian)阻
          低(di)阻測量(低(di)至(zhi)10nΩ)分析(xi)導(dao)通(tong)電(dian)阻參數、互連和低(di)功率半(ban)導(dao)體。
          用於(yu)*進(jin)CMOS技術的脈(mai)沖(chong)可靠性(xing)測試
          高(gao)K柵(zha)極電(dian)介(jie)質電(dian)荷(he)俘獲(huo)行為(wei)的脈(mai)沖(chong)特(te)性(xing)分(fen)析(xi)
          用(yong)6線歐姆測量技術進(jin)行(xing)更(geng)高(gao)準(zhun)確(que)度(du)的電(dian)阻測量
          配(pei)置(zhi)分(fen)立電(dian)阻器(qi)驗證測試系統(tong)
          電(dian)信激光二極管模(mo)塊(kuai)的高(gao)吞吐(tu)率直流(liu)生產測試
          多(duo)臺(tai)數字源表(biao)的觸(chu)發(fa)器(qi)同(tong)步
          高(gao)亮度(du)、可見光LED的生產測試
          OLED顯(xian)示(shi)器(qi)的直(zhi)流(liu)生產測試
          在運(yun)行(xing)中(zhong)第5次(ci)測量用(yong)於(yu)偏(pian)置(zhi)溫度(du)不(bu)穩(wen)定(ding)特(te)性(xing)分(fen)析(xi)
          數字源表(biao)的緩(huan)沖(chong)器以及如何用(yong)這(zhe)兩(liang)個緩沖(chong)器獲(huo)取多達(da)5000點(dian)數據
          連接器的生產測試方(fang)案(an)
          射(she)頻(pin)功率晶體管的直(zhi)流(liu)電(dian)氣特(te)性(xing)分(fen)析(xi)

          1. MOS 電(dian)容(rong)器(qi)
          C-V 曲(qu)線 (高(gao)頻(pin):100kHz):
          摻雜類(lei)型 – 氧(yang)化(hua)層(ceng)厚度(du) – 平(ping)帶電(dian)壓(ya) – 閾值(zhi)電(dian)壓(ya) – 襯(chen)底(di)摻雜 – zui大(da)耗盡(jin)層(ceng)寬度(du) – 反(fan)型(xing)層(ceng)到平(ping)衡的靈(ling)敏度(du):電(dian)壓(ya)掃描(miao)率和方(fang)向 – 光效應(ying)和溫度(du)效應(ying)。
          I-V 曲(qu)線分(fen)析(xi):
          電(dian)荷(he)建立 (測量電(dian)壓(ya) - 時(shi)間(jian)圖(tu),用(yong)低電(dian)流(liu)源(yuan)); 氧(yang)化(hua)層(ceng)電(dian)容(rong)測定; 與 C-V 曲(qu)線比(bi)較(jiao)。
          C-V 曲(qu)線 (準(zhun)靜(jing)態) 結合(he) C-V 曲(qu)線:
          表(biao)面(mian)電(dian)位 Ψs 與施(shi)加(jia)電(dian)壓(ya)的關(guan)系 – Si (100) 的表(biao)面(mian)態密度(du) Dit = f (Ψs) 與 Si (111) 的相(xiang)比(bi):方向和後(hou)處(chu)理(li)退(tui)火的影(ying)響(xiang)。
          C-V 曲(qu)線 (高(gao)頻(pin):100kHz):
          移動(dong)氧(yang)化(hua)層(ceng)電(dian)荷(he)密度(du) (偏(pian)壓(ya)溫度(du)應(ying)力(li):200°C,10 分鐘,±10V)
           
          2. 雙(shuang)極結型晶體管
               主題(ti)
             正(zheng)向共發(fa)射(she)極輸出特(te)性(xing):Ic = f (Vce>0,Ib), Iceo (f) 測量。
             正(zheng)向 CE 輸(shu)入特(te)性(xing):Ib = f (Vbe) 對(dui)於(yu)幾(ji)個 Vce 正(zheng)值(zhi)。
             正(zheng)向 Gummel 曲(qu)線: log Ic, log Ib = f(Vbe >0).
             確(que)定增益 βf = Ic/Ib 和 af。
             Βf 與 log(Ic) 的關(guan)系: 低(di)註(zhu)入和高(gao)註(zhu)入的效果(guo)。
             非(fei)理想特(te)性(xing):爾利電(dian)壓(ya)。
             反(fan)向 CE 輸(shu)出(chu)特(te)性(xing): Ic=f(Vce<0,Ib), Iceo(r).
             反(fan)向 CE 傳輸特(te)性(xing):Ib=f(Vbe) 對(dui)於(yu)幾(ji)個Vce負(fu)值(zhi)。
             反向 Gummel 曲(qu)線: logIe, logIb=f(Vbc>0).
             確(que)定增益 βr = Ie/Ib 和 ar。
             Βr 與 log(Ie) 的關(guan)系: 低(di)註(zhu)入和高(gao)註(zhu)入的效果(guo)。
             Vce(sat) = Vbe(on) – Vbc(on) 確(que)定,對於(yu)給(gei)定(ding)的 Ib 電(dian)流(liu)。
             Ebers Moll 模(mo)型(xing)構(gou)建並且(qie)與實(shi)驗做(zuo)比(bi)較。
             BE 和 CE 結(jie)的 C-V 特(te)性(xing)分(fen)析(xi)。基(ji)區(qu)摻雜濃(nong)縮(suo)。
           
          3. 亞(ya)微米集(ji)成(cheng) MOSFET
          輸(shu)出(chu)特(te)性(xing):IDS = f(VDS,VGS):
          p型(xing) MOSFET (增強或耗盡(jin)),溝道長度(du)調(tiao)制參數(λ) 在飽(bao)和區(qu)域(yu) (VDS<–3V) 有效溝道長度(du)與 VDS 的關(guan)系。
          傳輸特(te)性(xing):
          IDS = f(VGS) and Transconductance gm = f(VGS) in the linear region (VDS = –0.1V): Determination of the threshold voltage VT and of the transconductance factor k.  
          Derivation of the effective channel mobility μeff as function of VGS.
          襯(chen)底偏壓(ya)特(te)性(xing): 
          IDS = f(VGS,VBS>0), determination of the γ factor in the linear region (VDS = –0.1V). Doping concentration substrate.
          亞(ya)閾值(zhi)特(te)性(xing):
          log (IDS) = f(VGS) for several high VDS values: Drain Induced Barrier Lowering (VT shift) effect.
          襯(chen)底電(dian)流(liu)特(te)性(xing):
          log (Ibs) = f(VGS) for several high VDS values: Hot carrier injection effects. Incidence on output characteristics at high drain levels.
          使(shi)用(yong)長溝道和短(duan)溝道公式的輸(shu)出(chu)特(te)性(xing)模(mo)型(xing):比(bi)較實驗結果(guo)。

          美(mei)國吉(ji)時(shi)利(li)KEITHLEY2400數字源表(biao)進(jin)行(xing)VCSEL測試
          美(mei)國(guo)吉(ji)時(shi)利(li)KEITHLEY2400測量光伏(fu)電(dian)池的I-V特(te)性(xing)
          美(mei)國吉(ji)時(shi)利(li)KEITHLEY2400系列(lie)數字源表(biao)的SCPI應(ying)用轉(zhuan)換(huan)為(wei)2600系列(lie)源(yuan)表(biao)的腳本(ben)應(ying)用
          美(mei)國吉(ji)時(shi)利(li)KEITHLEY2400系列(lie)數字源表(biao)進(jin)行(xing)IDDQ測試和待(dai)機(ji)電(dian)流(liu)測試
          使(shi)用(yong)兩(liang)臺(tai)美(mei)國(guo)吉(ji)時(shi)利(li)KEITHLEY2400型(xing)數字源表(biao)輸出2A電(dian)流(liu)
          美(mei)國(guo)吉(ji)時(shi)利(li)KEITHLEY2400或(huo)其(qi)它非(fei)脈沖(chong)模(mo)式(shi)源(yuan)表(biao)產生電(dian)流(liu) (或(huo)電(dian)壓(ya)) 脈(mai)沖(chong)
          美國(guo)吉(ji)時(shi)利(li)KEITHLEY2400系列(lie)數字源表(biao)提升(sheng)多引腳器(qi)件(jian)的生產量(liang)
          美(mei)國吉(ji)時(shi)利(li)KEITHLEY2402數字源表(biao)創建(jian)可擴縮(suo)、多(duo)引腳、多(duo)功能(neng)IC測試系統(tong)
          美(mei)國吉(ji)時(shi)利(li)KEITHLEY2402數字源表(biao)對激光二極管模(mo)塊(kuai)和VCSEL進(jin)行(xing)高吞吐(tu)率直流(liu)生產測試
          美(mei)國(guo)吉(ji)時(shi)利(li)KEITHLEY2400系列(lie)數字源表(biao)進(jin)行(xing)二極管生產測試
          美(mei)國(guo)吉(ji)時(shi)利(li)KEITHLEY2400系列(lie)數字源表(biao)進(jin)行(xing)高亮度(du)、可見光LED的生產測試
          美(mei)國(guo)吉(ji)時(shi)利(li)KEITHLEY2400 數字源表(biao)驗證變(bian)阻器(qi)
          美國(guo)吉(ji)時(shi)利(li)KEITHLEY2400系列(lie)源(yuan)表(biao)進(jin)行(xing)電(dian)池放電(dian)/充(chong)電(dian)周期(qi)
          美(mei)國吉(ji)時(shi)利(li)KEITHLEY2400配(pei)置(zhi)電(dian)阻網(wang)絡的生產測試系統(tong)
          美(mei)國吉(ji)時(shi)利(li)KEITHLEY2430 2kW 脈(mai)沖(chong)源表(biao)進(jin)行(xing)大電(dian)流(liu)變(bian)阻器(qi)的生產測試
          美(mei)國(guo)吉(ji)時(shi)利(li)KEITHLEY2400數字源表(biao)進(jin)行(xing)熱(re)敏電(dian)阻的生產測試

          美(mei)國(guo)2425吉(ji)時(shi)利(li)keithley數字源表(biao)系列(lie)特(te)別(bie)適用(yong)於(yu)需(xu)要(yao)精密(mi)電(dian)壓(ya)源(yuan)和電(dian)流(liu)源(yuan)驅動(dong),同(tong)時(shi)進(jin)行(xing)電(dian)流(liu)與電(dian)壓(ya)測量的測試應(ying)用。所(suo)有源表(biao)都提供(gong)精密(mi)的電(dian)壓(ya)和電(dian)流(liu)源(yuan)測量能(neng)力(li)。每(mei)個源表(biao)均由壹(yi)個高穩定(ding)的直(zhi)流(liu)源(yuan)和壹(yi)個真(zhen)儀(yi)器(qi)級的5位半(ban)多功能(neng)表(biao)組成(cheng)。該電(dian)源(yuan)特(te)性(xing)包(bao)括(kuo):低(di)噪(zao)聲,高精度(du)和回讀(du)功能(neng)。萬(wan)用表(biao)功能(neng)包(bao)括(kuo)高(gao)重(zhong)復性(xing)和低(di)噪(zao)音(yin)。其(qi)結(jie)果(guo)形成(cheng)了壹(yi)個緊湊的單通(tong)道直流(liu)參數測試儀(yi)。在操(cao)作(zuo)中(zhong),這(zhe)些儀(yi)器(qi)可以作(zuo)為(wei)壹(yi)個電(dian)壓(ya)源(yuan),電(dian)流(liu)源(yuan),電(dian)壓(ya)表(biao),電(dian)流(liu)表(biao)和歐姆表(biao)。通(tong)信、半導體、計(ji)算機(ji)、汽(qi)車(che)與醫(yi)療(liao)行(xing)業(ye)的元件與模(mo)塊(kuai)制造商(shang)都將(jiang)發(fa)現(xian),數字源表(biao)對於(yu)各種(zhong)特(te)征分析(xi)與生產過(guo)程(cheng)測試都(dou)實(shi)用(yong)價(jia)值(zhi)。
           
              2410型高壓(ya)源(yuan)表(biao)功率為(wei)20W,能(neng)夠(gou)提供(gong)和測量從±5μV(源)和±1μV(測量)到(dao)±1100V的電(dian)壓(ya),及(ji)從±10pA到±1A的電(dian)流(liu)。由於(yu)具(ju)有較高的電(dian)壓(ya)源(yuan)範(fan)圍,2410非(fei)常適合(he)於(yu)電(dian)阻和電(dian)壓(ya)系數測試、變(bian)阻器(qi)、高壓(ya)二極管、開(kai)關、齊(qi)納(na)管、射頻(pin)二極管和整(zheng)流(liu)器(qi)的測試。2410在提供(gong)1100V電(dian)壓(ya)的同(tong)時(shi)能(neng)夠(gou)測量20mA的電(dian)流(liu),具(ju)有精確(que)測試所(suo)需(xu)的特(te)殊(shu)分(fen)辨率。
           
              2420型高(gao)壓(ya)源(yuan)表(biao)功率為(wei)60W,能(neng)夠(gou)提供(gong)和測量從±5µV(源)和±1µV(測量)到(dao)±60V的電(dian)壓(ya),以及從±100pA到±3A的電(dian)流(liu)。2420的生產測試應(ying)用必須在較(jiao)高(gao)電(dian)流(liu)情況(kuang)下(xia)進(jin)行(xing)測試的電(dian)阻和電(dian)阻網(wang)絡、熱(re)敏電(dian)阻、太(tai)陽能(neng)電(dian)池、普(pu)通(tong)電(dian)池。
           
              2425型100W源表(biao)將2420的電(dian)壓(ya)範(fan)圍擴展(zhan)到100V,在1A的電(dian)流(liu)範(fan)圍內(nei)具(ju)有100W的測量功率。與2420型(xing)高(gao)壓(ya)源(yuan)表(biao)壹(yi)樣(yang),2425也具(ju)有3A電(dian)流(liu)60W功率的測量能(neng)力(li)。2425是針(zhen)對(dui)中(zhong)等(deng)功率器(qi)件(jian)(例(li)如DC-DC轉(zhuan)換(huan)器(qi))、電(dian)源(yuan)和其(qi)他(ta)需(xu)要(yao)60W和100W總(zong)直流(liu)功率元件的生產測試而設計(ji)的。
           
           
          美(mei)國(guo)吉(ji)時(shi)利(li)keithley2425數字源表(biao)特(te)點(dian)

          2400系列(lie)提供(gong)寬(kuan)動態範圍:10pA至(zhi)10A,1µV至(zhi)1100V,20W至(zhi)1000W
          四(si)象限(xian)工作(zuo)
          0.012%的精確(que)度(du),51/2分(fen)辨(bian)率(lv)
          可程(cheng)控(kong)電(dian)流(liu)驅動(dong)和電(dian)壓(ya)測量鉗(qian)位的 6位線電(dian)阻測量
          在4½數位時(shi)通(tong)過GPIB達(da)1700讀數/秒
          內(nei)置(zhi)快(kuai)速(su)失敗/通(tong)過測試比(bi)較(jiao)器(qi)
          可選(xuan)接觸(chu)檢(jian)查功能(neng)(-C機(ji)型)
          數字I/O提供(gong)快(kuai)速(su)分(fen)選(xuan)與機(ji)械(xie)手(shou)連接 GPIB,RS-232,和觸(chu)發(fa)式(shi)連(lian)接面(mian)板(ban)
           
           
          美(mei)國吉(ji)時(shi)利(li)keithley2425數字源表(biao)主要(yao)指標

           型號 2400 2410 2420 2425 2440
           2400-C 2410-C 2420-C 2425-C 2440-C
           2400-LV        
           描(miao)述 通(tong)用型(xing) 高壓(ya)型(xing) 3A 高(gao)功率 5A
           電(dian)流(liu) 是(shi) 是(shi) 是(shi) 是(shi) 是
           source/sink
           電(dian)壓(ya) 是(shi) 是(shi) 是 是 是
           source/sink
           輸(shu)出(chu)功率 22W 22W 66W 110W 55W
           輸(shu)出(chu)電(dian)壓(ya) ±1µV/±21或(huo)210V ±1µV/±1100V ±1µV/±63V ±1µV/±105V ±1µV/±42V
           (min./max.)
           輸(shu)出電(dian)流(liu) ±10pA/±1.05A ±100pA/±3.15A ±100pA/±5.25A
           (min./max.)
           電(dian)阻 <0.2Ω至(zhi)>200MΩ <2.0Ω至(zhi)>200MΩ
           基本(ben)精度(du)I 0.035% 0.035% 0.035% 0.035% 0.035%
           基(ji)本(ben)精度(du)V 0.015% 0.015% 0.015% 0.015% 0.015%
           基(ji)本(ben)精度(du)Ω 0.06% 0.07% 0.06% 0.06% 0.06%
           帶接觸(chu)檢(jian)測
           2400-C型
           帶此(ci)功能(neng) 2410-C型(xing)
           帶此(ci)功能(neng) 2420-C型(xing)
           帶此(ci)功能(neng) 2425-C型(xing)
           帶此(ci)功能(neng) 2440-C型(xing)
           帶此(ci)功能(neng)
           功能(neng)(-C)
           典(dian)型應(ying)用 電(dian)阻性(xing)元件、 電(dian)壓(ya)系數、 功率電(dian)阻、 半(ban)導體功率元件、 5安培(pei)Pump激光二
           二極管、 變(bian)阻器(qi)、 電(dian)熱(re)調節(jie)器、 DC/AC轉(zhuan)換(huan)器(qi)、 極管
           光電(dian)元件、 高壓(ya)二極管及保 太陽能(neng)電(dian)池、 大功率元件、  
           IDDQ測試 護裝(zhuang)置(zhi)、安(an)全氣 電(dian)池、 IDDQ測試  
            囊(nang)充(chong)氣裝置(zhi) 二極管、    
              IDDQ測試    
           隨(sui)機(ji)附件(jian) 測試線、LabVIEW軟(ruan)件驅動(dong)(可供(gong)下(xia)載(zai))、LabTracer軟(ruan)件(可供(gong)下(xia)載(zai))

           

          標配件 
          8605型(xing)高(gao)性(xing)能(neng)模(mo)塊(kuai)化(hua)測試線,長(chang)度(du)為(wei)0.9米(3 ft),(適(shi)用於(yu)2000、2001、2002、2010、2400系列(lie))

          吉(ji)時(shi)利(li)keithley2400源(yuan)表(biao)可選(xuan)配件 
          1754型(xing)2線通(tong)用10片裝測試線套件(適用於(yu)175A、197A、2000、2001、2002、2010) 
          2499-DIGIO數字I/O擴展(zhan)器配(pei)件(jian)(2400系列(lie)) 
          4288-1型(xing)單機(ji)架安裝(zhuang)套件(適用於(yu)428、486、487、776、2700、2000系列(lie)、2182、2300 系列(lie)、2400系列(lie)、2500系列(lie)、6514、6517A、7001、6430、6485) 
          4288-2型(xing)雙(shuang)機(ji)架安裝(zhuang)套件(適用於(yu)428、486、487、776、2000系列(lie)、2182、2300 系列(lie)、2400系列(lie)、6514、6517A、7001、2700、6430、6485) 
          5804型(xing)Kelvin(4線)10件(jian)裝(zhuang)的通(tong)用測試線套件(適用於(yu)580、2400系列(lie)、數字多用表(biao)) 
          5805型Kelvin(4線)帶彈(dan)簧(huang)的探(tan)頭,長度(du)為(wei)0.9米(3 ft)(適(shi)用於(yu)580、數字多用表(biao)) 
          5806型Kelvin(4線)特(te)大(da)號(hao)鱷魚(yu)夾測試線,長(chang)度(du)為(wei)0.9米(3 ft)(適(shi)用於(yu)580、2400系列(lie)、數字多用表(biao)) 
          7007-1:雙(shuang)層(ceng)屏蔽高級(ji)GPIB接口電(dian)纜(lan),長(chang)度(du)1米(mi)(3.3ft)(用(yong)於(yu)GPIB互連) 
          7007-2:雙(shuang)層(ceng)屏蔽高級(ji)GPIB接口電(dian)纜(lan),長(chang)度(du)2米(mi)(6.6ft)(用(yong)於(yu)GPIB互連) 
          7009-5型(xing)屏蔽RS-232電(dian)纜(lan),長(chang)度(du)為(wei)1.5米(5 ft)(適(shi)用2000、2010、6517A、2400系列(lie)) 
          8501-1型(xing)DIN至(zhi)DIN觸(chu)發(fa)連(lian)接電(dian)纜(lan),長(chang)度(du)為(wei)1米(3.3 ft),(適(shi)用於(yu)6517A、2400系列(lie)、KPC-TM、觸(chu)發(fa)連(lian)接輸入) 
          8501-2型DIN至(zhi)DIN觸(chu)發(fa)連(lian)接電(dian)纜(lan),長(chang)度(du)為(wei)2米(6.6 ft),(適(shi)用於(yu)6517A、2400系列(lie)、KPC-TM、觸(chu)發(fa)連(lian)接輸入) 
          8502型觸(chu)發(fa)連(lian)接至(zhi)BNC中(zhong)斷(duan)盒(適用於(yu)7001、7002、2000系列(lie)、2400系列(lie)、KPC-TM) 
          8503型(xing)DIN至(zhi)雙(shuang)BNC觸(chu)發(fa)連(lian)接電(dian)纜(lan),長(chang)度(du)為(wei)1米(3.3 ft),(適(shi)用於(yu)2000、2010、2400系列(lie)、觸(chu)發(fa)連(lian)接輸入) 
          8505型公DIN至(zhi)2 母DIN Y型(xing)適配器電(dian)纜(lan),長(chang)度(du)為(wei)0.3米(1 ft),(適(shi)用於(yu)觸(chu)發(fa)連(lian)接) 
          8606型高性(xing)能(neng)模(mo)塊(kuai)化(hua)探(tan)頭套件(適用於(yu)2000、2001、2002、2010、2400系列(lie)) 
          8607型(xing)1kV,2根香(xiang)蕉(jiao)插頭測試電(dian)纜(lan),長(chang)度(du)為(wei)1米(3.3 ft),(適(shi)用於(yu)2410、6430、6514、6517A) 
          CA -18-1型(xing)屏蔽電(dian)纜(lan),兩(liang)端接雙(shuang)香(xiang)蕉插頭,長度(du)為(wei)1.2米(4 ft),(適(shi)於(yu)輸(shu)入端子(zi)) 
          5808型(xing)低成本單探(tan)針(zhen),Kelvin探(tan)頭 
          5809型低成本(ben)Kelvin夾測試線組 
          8620型(xing)通(tong)用4線數字多用表(biao)短(duan)路插頭 
          KPCI-488LPA,KPCI-488LPA型 IEEE-488.2 PCI Bus 插件板(ban) 
          KUSB-488A型(xing)IEEE-488.2 USB-GPIB接口適配(pei)器,適用(yong)USB接口,內置(zhi)2米(mi)(6.6ft)電(dian)纜(lan) 
          4288-4型(xing)固(gu)定(ding)機(ji)架安裝(zhuang)套件(適用於(yu)195A、196、220、224、230、230-1、263、428、486、487、595、617、740、775A、776、2000系列(lie)、2182、2300系列(lie)、2400系列(lie)、6512、6514、6517A、7001) 
          4288-5型(xing)固(gu)定(ding)機(ji)架安裝(zhuang)套件(適用於(yu)428、486、487、2000系列(lie)、2182、2300 系列(lie)、2400系列(lie)、6514、6517A、7001) 
          4288-9 支架固(gu)定(ding)件套件
           
          keithley2400美國吉(ji)時(shi)利(li)源(yuan)表(biao)配套產品 
          7001,7001型80通(tong)道程(cheng)控(kong)開(kai)關控(kong)制器 
          7002,7002型(xing)400通(tong)道程(cheng)控(kong)開(kai)關控(kong)制器 
          7011-C型(xing)四(si)1×10多路(lu)選(xuan)通(tong)器,帶集(ji)中(zhong)端接器(適用(yong)於(yu)7001和7002) 
          7011-S型(xing)四(si)1×10多路(lu)選(xuan)通(tong)器,帶螺(luo)釘(ding)端子(zi)(適(shi)用於(yu)7001和7002) 
          7012-C型(xing)4×10矩陣卡,帶集(ji)中(zhong)端接器(適用(yong)於(yu)7001和7002) 
          7012-S型(xing)4×10矩陣卡,帶螺(luo)釘(ding)端子(zi)(適(shi)用於(yu)7001和7002) 
          7019-C型(xing)6線歐姆矩陣卡,帶96針(zhen)集(ji)中(zhong)端接器(適用(yong)於(yu)7001和7002) 
          2182A型(xing)納(na)伏(fu)表(biao) 
          7053高電(dian)流(liu),10通(tong)道掃描(miao)卡,具(ju)有5A接觸(chu)(適(shi)用(yong)於(yu)7001和7002)

          keithley2400美(mei)國(guo)吉(ji)時(shi)利(li)源(yuan)表(biao)系列(lie)產(chan)品 
          KEITHLEY2400-C型帶接觸(chu)檢(jian)測的通(tong)用數字源表(biao),能(neng)測量高(gao)達(da)200V的電(dian)壓(ya)和1A的電(dian)流(liu),輸(shu)出(chu)功率20W 
          KEITHLEY2410型(xing)高(gao)壓(ya)源(yuan)表(biao)能(neng)夠(gou)測量高(gao)達(da)1100V的電(dian)壓(ya)和1A的電(dian)流(liu),輸(shu)出(chu)功率20W功率。 
          KEITHLEY2410-C型(xing)帶接觸(chu)檢(jian)測的高(gao)壓(ya)數字源表(biao),能(neng)測量高(gao)達(da)1100V的電(dian)壓(ya)和1A的電(dian)流(liu),輸(shu)出(chu)功率20W 
          KEITHLEY2420型(xing)高(gao)壓(ya)源(yuan)表(biao)能(neng)夠(gou)測量高(gao)達(da)60V的電(dian)壓(ya)和3A的電(dian)流(liu),輸(shu)出(chu)功率60W功率 
          KEITHLEY2420-C型(xing)帶接觸(chu)檢(jian)測的大(da)電(dian)流(liu)數字源表(biao),能(neng)測量高(gao)達(da)60V的電(dian)壓(ya)和3A的電(dian)流(liu),輸(shu)出(chu)功率60W 
          KEITHLEY2425型(xing)100W源(yuan)表(biao)能(neng)夠(gou)測量100V的電(dian)壓(ya)和3A的電(dian)流(liu) 
          KEITHLEY2425-C型(xing)帶接觸(chu)檢(jian)測的100W數字源表(biao),能(neng)測量高(gao)達(da)100V的電(dian)壓(ya)和3A的電(dian)流(liu) 
          KEITHLEY2430型(xing)1kW脈(mai)沖(chong)模(mo)式(shi)源(yuan)表(biao)能(neng)夠(gou)測量100V電(dian)壓(ya)和10A電(dian)流(liu) 
          KEITHLEY2430-C型(xing)帶接觸(chu)檢(jian)測的1kW脈(mai)沖(chong)模(mo)式(shi)數字源表(biao),能(neng)測量高(gao)達(da)100V的電(dian)壓(ya)和10A的電(dian)流(liu) 
          KEITHLEY2440型(xing)5A源(yuan)表(biao)能(neng)夠(gou)測量高(gao)達(da)40V的電(dian)壓(ya)和5A的電(dian)流(liu),輸(shu)出(chu)功率50W 
          KEITHLEY2440-C型(xing)帶接觸(chu)檢(jian)測的5A數字源表(biao),能(neng)測量高(gao)達(da)40V的電(dian)壓(ya)和5A的電(dian)流(liu),輸(shu)出(chu)功率50W 
          KEITHLEY6430亞(ya)fA程(cheng)控(kong)源表(biao) 
          KEITHLEY2400-LV型數字源表(biao),能(neng)測量高(gao)達(da)200V的電(dian)壓(ya)和1A的電(dian)流(liu),輸(shu)出(chu)功率20W 
          KEITHLEY2601型(xing)單通(tong)道系統(tong)源(yuan)表(biao)儀(yi) 
          KEITHLEY2602型(xing)雙(shuang)通(tong)道系統(tong)源(yuan)表(biao)儀(yi) 
          KEITHLEY2611型(xing)單通(tong)道系統(tong)源(yuan)表(biao)儀(yi)(200V) 
          KEITHLEY2612型(xing)雙(shuang)通(tong)道系統(tong)源(yuan)表(biao)儀(yi)(200V) 
          KEITHLEY2635單通(tong)道系統(tong)數字源表(biao)(低電(dian)流(liu)) 
          KEITHLEY2636雙(shuang)通(tong)道系統(tong)數字源表(biao)(低電(dian)流(liu))

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