產品中心(xin)您當前(qian)的(de)位(wei)置(zhi)：首(shou)頁 > 產品中心(xin) > > > ST-105壹級CLASS 1泰(tai)瑪(ma)斯(si)音(yin)頻(pin)分(fen)析儀(yi)TENMARS噪音(yin)計
基(ji)礎(chu)信(xin)息Product information
產品名稱(cheng)：壹級CLASS 1泰(tai)瑪(ma)斯(si)音(yin)頻(pin)分(fen)析儀(yi)TENMARS噪音(yin)計
產(chan)品型號(hao)：ST-105
更(geng)新時(shi)間(jian)：2025-06-07
產(chan)品簡(jian)介：
壹(yi)級CLASS 1泰(tai)瑪(ma)斯(si)音(yin)頻(pin)分(fen)析儀(yi)TENMARS噪音(yin)計符合(he)IEC 61672 - 2002 CLASS 1/CNS 7129 1級(級)IEC 61260 - 1995 CLASS 1寬廣的(de)動態範圍 : 90dB寬廣的(de)頻率範圍 : 10Hz ~ 20KHz寬廣的(de)測量範圍 : 25dB ~ 140dB
產(chan)品特性(xing)Product characteristics
中國電子行業儀(yi)器(qi)優質(zhi)供(gong)應(ying)商(shang)——堅(jian)融實(shi)業(ye)JETYOO INDUSTRIAL & 堅(jian)友(上(shang)海)測(ce)量儀(yi)器(qi)JETYOO INSTRUMENTS，專業(ye)為(wei)中國區用戶(hu)提(ti)供的儀(yi)器(qi)設備、技術培訓(xun)與售(shou)後維修(xiu)服務(wu)，Support、銷(xiao)售(shou)Sale、服務(wu)Service，3S公司，為(wei)上(shang)海華(hua)東地區*壹(yi)家(jia)以技術為(wei)導向的儀(yi)器(qi)綜合(he)服務(wu)商(shang)，是您(nin)值得(de)信賴(lai)的(de)電(dian)子行業儀(yi)器(qi)專家(jia)。
壹(yi)級(ji)CLASS 1泰(tai)瑪(ma)斯(si)音(yin)頻(pin)分(fen)析儀(yi)TENMARS噪音(yin)計ST-105D,ST-105,ST-105S,ST-105L中(zhong)國臺灣泰(tai)瑪(ma)斯(si)TENMARS積(ji)分(fen)式(shi)音(yin)頻(pin)分(fen)析儀(yi)詳細說(shuo)明
符合(he)環(huan)保局(ju)要(yao)求(qiu)規範(fan)壹(yi)級型(xing)低頻(pin)噪音(yin)20～200HZ測量(liang)
數(shu)位(wei)積(ji)分(fen)及脈(mai)沖(chong)測量
即時1/1及(ji)1/3八度(du)音(yin)信號(hao)分(fen)析
IEC61672-2002 CLASS 1
IEC61260-1995 CLASS 1
寬(kuan)廣(guang)的(de)動(dong)態範(fan)圍:90Db
寬(kuan)廣(guang)的(de)頻(pin)率範圍：10HZ～20KHZ
寬(kuan)廣(guang)的(de)測(ce)量(liang)範(fan)圍：25dB～140dB
高(gao)靈敏度(du)1/2"預(yu)極化電容(rong)式(shi)麥(mai)克風內含(han)前(qian)置(zhi)麥(mai)克(ke)風(feng)
萬年(nian)歷功能
測量(liang)功能：Lxyp、（Lxyi）、Lxeq,1s、Lexq,t、LAE、E、Cpeak+、Cpeak、LAFmin、LAFeqT、LASeqt、LAleqt、Laeq。
背光顯示LCD模組
資料(liao)儲存(cun)可(ke)以轉(zhuan)存(cun)到(dao)電腦(nao)
A/C/Z頻(pin)率加(jia)權(quan)測(ce)量(liang)
快速(su)（FAST），慢速(su)（SLOW），脈沖(chong)音(yin)（IMPULSE），峰值（PEAK）時(shi)間加(jia)權(quan)測(ce)量(liang)
ST-105D,ST-105,ST-105S,ST-105L壹(yi)級CLASS 1泰(tai)瑪(ma)斯(si)音(yin)頻(pin)分(fen)析儀(yi)TENMARS噪音(yin)計應(ying)用(yong)：
ST-105積(ji)分(fen)式(shi)即時噪音(yin)分(fen)析儀(yi)是壹(yi)種(zhong)采(cai)用數(shu)字(zi)信(xin)號(hao)處(chu)理(li)技術的(de)手(shou)持(chi)式(shi)即時分(fen)析儀(yi)，它(ta)可(ke)以對(dui)噪音(yin)或(huo)其(qi)它(ta)電(dian)信(xin)號(hao)進行積(ji)分(fen)測量(liang)及(ji)統計分(fen)析，對(dui)噪音(yin)進行頻(pin)譜及幅值分(fen)析。可(ke)廣(guang)泛的用在(zai)環(huan)境(jing)保護、功工(gong)衛(wei)生(sheng)、科(ke)學(xue)研究、工(gong)業(ye)企業、計量(liang)檢(jian)測等(deng)領域(yu)，完(wan)成(cheng)環(huan)境(jing)噪聲(sheng)測量(liang)、聲(sheng)功率測量、機器(qi)設備的噪聲(sheng)分(fen)析以及(ji)建築(zhu)聲(sheng)學(xue)
ST-105D,ST-105,ST-105S,ST-105L技術參(can)數(shu)
規(gui)格 | ST-105D | ST-105 | ST-105S | ST-105L |
測試功能 | LAFeq,LAFmax,LAF5,LAF10,LAF50,LAF90,LAF95,LAFmin, SD,LAeq1s,LAeqT,LAE,LAfeqT,LD,LN,Ldn. 1秒內(nei)zui大(da)計(ji)權(quan)聲(sheng)壓級（Lxyp）、瞬時計權(quan)聲(sheng)壓級（Lxyi）、1秒等(deng)效(xiao)計(ji)權(quan)聲(sheng)壓級（Lxeq,1s）、等效(xiao)連(lian)續(xu)計(ji)權(quan)聲(sheng)壓級（Lxeq,T）、LAE、E、Cpeak+、Cpeak-、LAFmax、LAFeqT、LASeqT、LAleqT、LAeq（低頻(pin)噪音(yin)） | 經濟(ji)型(xing) 低頻(pin) 20HZ～200HZ 1/3 8度(du)音(yin)頻(pin)分(fen)析 | ||
Lfmeq1s,LFeqT,LXyp,Lxyi,Lxeq1s,LxeqT, LAE,E,Cpeak | Lfmeq1s,LFeqT,LXyp, Lxyi,Lxeq1s,LxeqT, LAE,E,Cpeak | |||
應(ying)用(yong)場合 | 環(huan)境(jing)噪音(yin)測量(liang) 機器(qi)噪音(yin)及音(yin)頻(pin)分(fen)析測(ce)量(liang) | 環(huan)境(jing)噪音(yin)測量(liang) | 機器(qi)噪音(yin)及 音(yin)頻(pin)分(fen)析測(ce)量(liang) | |
統計分(fen)析 | √ | √ | √ | |
24小(xiao)時(shi)測(ce)量(liang) | √ | √ | √ | |
積(ji)分(fen)測量(liang) | √ | √ | √ | √ |
1/1音(yin)頻(pin)分(fen)析 | √ | √ | ||
低頻(pin)測(ce)量(liang)20HZ～200HZ | √ | √ | √ | |
1/3音(yin)頻(pin)分(fen)析 | √ | √ | √ | |
128條存儲記錄 | √ | √ | √ | |
12288條存儲記錄 | √ | √ | ||
自動(dong)存儲記錄 | √ | |||
定(ding)時開(kai)機/自(zi)動(dong)測量(liang)/定(ding)時關(guan)機 | √ | |||
IEC 61672-1-2002 CLASS 1 IEC 60651:1979類(lei)型1 IEC 60804：2000型(xing)1 |
√ |
√ |
√ |
√ |
符合(he)IEC 61260-1995 1級(ji) | √ | √ | √ | |
顯示(shi)更(geng)新 | 數(shu)字(zi)1次(ci)/秒，類(lei)比條碼(ma)10次/秒 | |||
麥(mai)克(ke)風(feng) | 高靈敏(min)度1/2"預極化電容(rong)式(shi)麥(mai)克風內含(han)前(qian)置(zhi)麥(mai)克(ke)風(feng)：50mv/Pa,頻(pin)率範圍：10HZ～20KHZ，熱(re)噪音(yin)：，16dB（A） | |||
測量(liang)範(fan)圍 | 25dB至140dB（A） 30dB至140dB（C） 35dB至140dB（Z） | |||
動(dong)態範(fan)圍 | >90dB | |||
zui大(da)峰值C加(jia)權(quan)測(ce)量(liang)範(fan)圍 | 50～143 dB | |||
時(shi)間加(jia)權(quan) | 同(tong)時(shi)Fast,Slow,lmpulse,PeakC+,PeakC-量(liang)測及顯示 | |||
頻(pin)率加(jia)權(quan) | A/C/Z | |||
積(ji)分(fen)時間(jian)設定(ding) | 1秒到(dao)24小(xiao)時(shi)，及(ji)任意時間設定(ding) | |||
頻(pin)率範圍 | 10HZ～20KHZ | |||
增(zeng)益(yi)範(fan)圍 | -10 dB,0 dB,10 dB,20 dB,30 dB,40 dB | |||
檔(dang)位(wei)誤差 | ≤0.1 dB | |||
測(ce)量(liang)電(dian)壓範圍 | 15μV～10Vrms | |||
取樣時(shi)間(jian) | 20.8μS（48KHZ） | |||
儲存(cun)時(shi)間 | 256kB快取記憶體(ti)/125筆(bi)校正(zheng)資料(liao)儲存(cun) | |||
儲存(cun) | AC | |||
類(lei)比輸(shu)出(chu) | <10 Second | |||
界(jie)面(mian)/儲存(cun) | USB界(jie)面(mian)，mini B type.符合(he)USB 1.1與USB2.0，透過(guo)這(zhe)個(ge)介面(mian)可(ke)以將(jiang)儲存(cun)的(de)資料(liao)轉存(cun)到(dao)PC，及轉(zhuan)存到(dao)隨身(shen)碟zui大容量8G | |||
電(dian)源(yuan) | 8 hours （LR6:4 Alkaline batteries） | |||
AC轉(zhuan)DC變(bian)壓器(qi) | 100V～240V | |||
尺寸(cun) | 285（L）×90（W）×39（H）mm | |||
重量 | 500g（including Batteries） | |||
ST-105D,ST-105,ST-105S,ST-105L中(zhong)國臺灣泰(tai)瑪(ma)斯(si)TENMARS積(ji)分(fen)式(shi)音(yin)頻(pin)分(fen)析儀(yi)相(xiang)關產品
ST-105 積(ji)分(fen)式(shi)音(yin)頻(pin)分(fen)析儀(yi) ST-105S 積(ji)分(fen)式(shi)噪音(yin)計
TM-100音(yin)位校(xiao)正(zheng)器(qi) TM-102數(shu)字(zi)噪音(yin)計
TM-101數(shu)字(zi)噪音(yin)計 TM-103 記憶式(shi)噪音(yin)計
ST-106 Class1積(ji)分(fen)式(shi)噪音(yin)計 ST-107 CLASS2 積(ji)分(fen)式(shi)噪音(yin)計
TM-710迷(mi)妳型噪音(yin)計 ST-107S 積(ji)分(fen)式(shi)噪音(yin)計Class2
ST-109 Class 1積(ji)分(fen)式(shi)噪音(yin)計 ST-105D/ST-105/ST-105S/ST-105L積(ji)分(fen)式(shi)音(yin)頻(pin)分(fen)析儀(yi)
產品分(fen)類(lei)
- 氫(qing)檢(jian)儀(yi)氣密(mi)性(xing)檢(jian)漏(lou)檢(jian)測儀(yi)
- 國產源(yuan)表(biao)，替代(dai)keithley
- 體(ti)積(ji)電(dian)阻率/表(biao)面(mian)電阻測試(shi)
- 穩科Wayne Kerr/MICROTEST
- 半(ban)導體(ti)I-V/C-V/I-R測試
- 介(jie)電(dian)常數(shu)/電(dian)導(dao)率測試方(fang)案
- 大(da)眾VW80000/通用GMW3172/ISO16750標(biao)準(zhun)測試(shi)
- 電化(hua)學(xue)工(gong)作(zuo)站(zhan)/恒(heng)電(dian)位儀(yi)
- IBGT/MOSFET/SiC/GaN測(ce)試
- 電池/光(guang)伏/汽(qi)車(che)充(chong)電(dian)樁(zhuang)測(ce)試
- DESCO/KLEINWACHTER靜電測試(shi)
- > 靜(jing)電CDM/HBM/MM
- > 重錘表(biao)面(mian)靜電(dian)電阻/電阻率
- > 靜電場(chang)/靜(jing)電(dian)消(xiao)散/離子平(ping)衡
- > 離(li)子(zi)風機/無(wu)風型(xing)靜電消除(chu)器(qi)
- > 手腕帶防(fang)靜(jing)電工(gong)鞋(xie)人體(ti)綜合測(ce)試(shi)儀(yi)
- > MENDA防(fang)靜電吹吸(xi)塵器(qi)/抽(chou)煙(yan)機
- > EMIT工(gong)位(wei)接(jie)地電阻監測(ce)儀(yi)
- > 平(ping)板測(ce)試(shi)儀(yi)/離(li)子風機測(ce)試儀(yi)/靜(jing)電監測器(qi)
- > 靜電(dian)電(dian)荷(he)庫倫(lun)電(dian)量(liang)/衰(shuai)減(jian)
- 體(ti)積(ji)電(dian)阻，電阻計，記錄儀(yi)
- 吉時(shi)利(li)KEITHLEY/泰(tai)克Tektronix
- 安捷(jie)倫(lun)Agilent/是德(de)KEYSIGHT
- > 移(yi)動(dong)通信專用電(dian)源(yuan)，帶(dai)電(dian)池(chi)仿真
- > 射頻(pin)RF/脈(mai)沖(chong)碼(ma)型發(fa)生(sheng)器(qi)
- > 直(zhi)流電源(yuan)/交(jiao)流(liu)電(dian)源(yuan)
- > 萬(wan)用(yong)表(biao)
- > 示波器(qi)
- > 手持(chi)式(shi)示(shi)波表(biao)/手持(chi)式(shi)小(xiao)表(biao)
- > 函數(shu)信(xin)號(hao)發(fa)生(sheng)器(qi)
- > LCR電橋(qiao)
- > 數(shu)據(ju)采(cai)集儀(yi)
- > 源(yuan)表(biao)/高阻表(biao)/皮安表(biao)微安計
- > 頻(pin)率計/頻(pin)譜儀(yi)/網絡分(fen)析儀(yi)
- 愛(ai)斯(si)佩(pei)克ESPEC環(huan)境(jing)試驗箱
- > 穩定(ding)性試(shi)驗箱
- > 小(xiao)型(xing)恒(heng)溫(wen)恒(heng)濕試驗箱
- > 快速(su)溫(wen)度變(bian)化濕熱試(shi)驗箱
- > 溫(wen)度/結露循(xun)環(huan)試(shi)驗箱
- > 冷(leng)熱(re)沖擊(ji)試驗箱
- > 烘(hong)箱(xiang)/幹(gan)燥(zao)箱(xiang)/高(gao)溫(wen)試驗箱
- > 高(gao)低溫(wen)濕熱試(shi)驗箱
- > 恒(heng)溫(wen)恒(heng)濕試驗箱
- > 鹽(yan)霧腐蝕試驗箱
- > 步(bu)進式(shi)恒(heng)溫(wen)老化試驗室
- > 高(gao)低溫(wen)濕振動(dong)復合(he)試(shi)驗箱
- > 高(gao)壓加(jia)速老化試驗箱
- > IP砂(sha)塵防水淋(lin)雨(yu)試驗箱
- > 快速(su)除濕設備/除濕櫃/惰(duo)性氮(dan)氣防潮櫃
- 普源(yuan)RIGOL/致(zhi)遠ZLG/鼎陽SIGLENT
- Chroma致(zhi)茂(mao)/EEC華(hua)儀(yi)EXTECH
- 邏(luo)輯(ji)分(fen)析儀(yi)/總線(xian)協議測試
- EMI/EMC/EMS電磁(ci)幹(gan)擾(rao)兼容
- > 汽車(che)設備電源(yuan)故(gu)障(zhang)模擬(ni)器(qi)
- > 拋負(fu)載(zai)
- > 電(dian)纜(lan)束註入敏感(gan)度測(ce)試(shi)系(xi)統
- > 寬(kuan)帶功率放(fang)大(da)器(qi)
- > 汽車(che)電子(zi)電磁(ci)兼容EMC/波形
- > 耦(ou)合去(qu)耦合(he)
- > 諧波和(he)閃爍
- > 射(she)頻(pin)傳導(dao)抗擾(rao)度(du)測(ce)試系(xi)統
- > 阻尼振(zhen)蕩(dang)磁(ci)場測(ce)試系(xi)統
- > 振鈴波發(fa)生(sheng)器(qi)
- > 電壓跌(die)落模擬(ni)器(qi)
- > 電快速(su)瞬變(bian)脈沖(chong)群發(fa)生(sheng)器(qi)
- > 耐(nai)壓絕緣(yuan)電(dian)阻測試(shi)儀(yi)
- > 絕緣(yuan)電(dian)阻測試(shi)儀(yi)
- > 安規綜合(he)測(ce)試儀(yi)
- > AC/DC交(jiao)直(zhi)流耐(nai)壓測試儀(yi)
- > 泄(xie)漏(lou)電(dian)流(liu)測試儀(yi)
- > 雷(lei)擊(ji)浪湧/EMC電(dian)磁(ci)兼容測試
- > 接(jie)地導通電阻測試(shi)儀(yi)
- > ESD靜(jing)電放(fang)電(dian)發(fa)生(sheng)器(qi)
- > 安規綜合(he)校(xiao)準盒(he)
- 愛(ai)色(se)麗(li)X-Rite/電色(se)NIPPON
- 梅特(te)勒(le)METTLER
- 物料(liao)輪(lun)廓顏(yan)色(se)缺料(liao)視覺(jiao)篩(shai)選(xuan)
- 博(bo)勒(le)飛Brookfield
- 賓(bin)德(de)BINDER試(shi)驗箱
- 金相切割(ge)/鑲嵌/研磨拋(pao)光
- 紅(hong)外(wai)熱(re)像(xiang)儀(yi)
- 美國BK PRECISION
- ADCMT愛(ai)德(de)萬(wan)ADVANTEST
- COSMOS氣體(ti)/鐵粉(fen)濃度計(ji)
- ITECH艾(ai)德(de)克(ke)斯(si)/NGI恩(en)智(zhi)
- > LED測試(shi)專(zhuan)用(yong)電(dian)子負載(zai)
- > 直(zhi)流電子(zi)負載
- > 回饋式(shi)電(dian)網模擬器(qi)交(jiao)流(liu)電(dian)源(yuan)
- > 可(ke)編程三路(lu)直(zhi)流電源(yuan)
- > 雙(shuang)向電源(yuan)和(he)回饋式(shi)負(fu)載
- > 新能(neng)源(yuan)汽(qi)車(che)/電池(chi)/充(chong)電(dian)樁(zhuang)測(ce)試系統
- > 可(ke)編程直(zhi)流電源(yuan)
- > 小(xiao)功率電子負(fu)載(zai)
- > 大(da)功率直(zhi)流電源(yuan)和(he)電子負(fu)載(zai)壹(yi)體(ti)的機器(qi)
- > 大功率電子負(fu)載(zai)
- > 能(neng)量(liang)回饋式(shi)直(zhi)流電子(zi)負載
- > AC交(jiao)流(liu)電(dian)子(zi)負(fu)載
- > 大功率直(zhi)流電源(yuan)
- > 新能(neng)源(yuan)汽(qi)車(che)/電池(chi)/充(chong)電(dian)樁(zhuang)
- > 雙(shuang)極性電源(yuan)
- > AC交(jiao)流(liu)電(dian)源(yuan)
- > 直(zhi)流電源(yuan)
- 羅(luo)德(de)與施瓦(wa)茨R&S（惠美HAMEG）
- 同(tong)惠(hui)/長盛(sheng)/安柏(bai)
- > 半(ban)導體(ti)參(can)數(shu)分(fen)析儀(yi)
- > 揚聲(sheng)器(qi)喇叭(ba)電機馬(ma)達測(ce)試
- > 功率分(fen)析儀(yi)/電(dian)參(can)數(shu)測(ce)試(shi)儀(yi)
- > 皮(pi)安表(biao)/高阻計/靜(jing)電計(ji)
- > 直(zhi)流低電(dian)阻，微歐(ou)姆(mu)計
- > 交(jiao)流(liu)低電(dian)阻，電池(chi)測試(shi)儀(yi)
- > 線(xian)材，線(xian)纜(lan)，線(xian)束測(ce)試(shi)儀(yi)
- > 脈(mai)沖線(xian)圈測(ce)試(shi)儀(yi)
- > 電(dian)感(gan)測試(shi)儀(yi)
- > 電(dian)容測試儀(yi)
- > 溫(wen)度采集記錄儀(yi)
- > LCR電(dian)橋阻抗分(fen)析儀(yi)
- > 高(gao)阻測試(shi)
- > 安規接(jie)地電阻/漏(lou)電(dian)流(liu)
- > 安規耐(nai)壓絕緣(yuan)
- 標(biao)準(zhun)源(yuan)/計(ji)量(liang)校(xiao)準檢(jian)定(ding)設備
- 晶圓、芯片、屏(ping)幕Particle
- 日置HIOKI/國產替代(dai)
- 鎖(suo)相放(fang)大(da)器(qi)
- 噪聲(sheng)/振動(dong)/聲(sheng)學(xue)測試(shi)方(fang)案
- 日(ri)本KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
- 電聲(sheng)器(qi)件測試設備
- 長盛(sheng)耐(nai)壓絕緣(yuan)電(dian)阻安規測試(shi)
- 永(yong)磁(ci)軟磁(ci)磁(ci)通量測試
- 汽(qi)車(che)電子(zi)標(biao)準(zhun)波形可(ke)編程電源(yuan)
- SHIMAZU島(dao)津(jin)
- 德(de)維創(chuang)DEWETRON
- ARC電(dian)池絕熱(re)量(liang)熱(re)儀(yi)/熱(re)安全性能(neng)
- 查(zha)看更(geng)多(duo)
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