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基(ji)礎信(xin)息(xi)Product information
產品名稱：美(mei)國(guo)Met One Instruments激光(guang)粒子(zi)計數(shu)器
產品型(xing)號(hao)：GT-321
更新(xin)時間：2025-06-07
產品簡介：
GT-321美(mei)國(guo)Met One Instruments激光(guang)粒子(zi)計數(shu)器中(zhong)國(guo)電(dian)子行(xing)業(ye)儀(yi)器優質供(gong)應商——堅(jian)融(rong)實(shi)業JETYOO INDUSTRIAL，Support、銷(xiao)售Sale、服務(wu)Service，3S公(gong)司，提(ti)供(gong)解(jie)決方(fang)案(an)、測(ce)試(shi)測(ce)量(liang)技術改(gai)進、技(ji)術培(pei)訓(xun)、采(cai)購(gou)管(guan)理(li)、售(shou)後維修(xiu)服務(wu)。
產品特性(xing)Product characteristics
中(zhong)國(guo)電(dian)子行(xing)業(ye)儀(yi)器優質供(gong)應商——堅(jian)融(rong)實(shi)業JETYOO INDUSTRIAL，Support、銷(xiao)售Sale、服務(wu)Service，3S公(gong)司，提(ti)供(gong)解(jie)決方(fang)案(an)、測(ce)試(shi)測(ce)量(liang)技術改(gai)進、技(ji)術培(pei)訓(xun)、采(cai)購(gou)管(guan)理(li)、售(shou)後維修(xiu)服務(wu)。
美(mei)國(guo)DESCO靜(jing)電(dian)危害(hai)解(jie)決方(fang)案(an)、靜(jing)電(dian)測(ce)試(shi)儀(yi)器及(ji)控(kong)制(zhi)設備(bei)、相關靜(jing)電(dian)防護(hu)產品應用於(yu)：
高(gao)科(ke)技(ji): 半(ban)導(dao)體、微(wei)電(dian)子、磁(ci)盤驅動(dong)器、液晶顯示(shi)器、激光(guang)/光學(xue)、航空航(hang)天
工業(ye): 石(shi)油化(hua)工、礦(kuang)業(ye)、交(jiao)通運(yun)輸(shu)、電(dian)站(zhan)、塗(tu)裝(zhuang)、印刷
醫(yi)院(yuan)/醫療(liao): 手術室、病(bing)房、隔離室
制(zhi)藥(yao)/醫療(liao)設備(bei)
商業/民(min)用室內(nei)空(kong)氣(qi)質量(liang)控(kong)制(zhi)
科研教(jiao)育: 材(cai)料分析實(shi)驗室(shi)、微生物(wu)實(shi)驗室(shi)、化(hua)學實(shi)驗室(shi)、生命科學(xue)實(shi)驗室(shi)、藥(yao)品測(ce)試(shi)
GT-321美(mei)國(guo)Met One Instruments激光(guang)粒子(zi)計數(shu)器
GT-321 Particle Counter
產品特點(dian): 經(jing)濟(ji)型(xing)激光(guang)粒子(zi)計數(shu)器
取樣(yang)流量(liang) 0.1cfm （2.83l/min）
量(liang)程 0-3,000,000個(ge)粒子/立(li)方(fang)英(ying)尺(chi)
zui小測(ce)試(shi)粒(li)徑 0.3微米
測(ce)試(shi)粒(li)徑 0.3, 0.5, 1.0, 2.0, 5.0微米
測(ce)試(shi)及(ji)顯示(shi)通(tong)道 單通道, 任選以上5種粒(li)徑
測(ce)試(shi) （取樣(yang)） 時間 每6秒(miao)取樣(yang)壹(yi)次(ci), 總(zong)計(ji)1分鐘(zhong)
操(cao)作(zuo)按鍵(jian) 2個(ge)
讀數(shu)顯示(shi) 12位單行(xing)LCD
控(kong)制(zhi)軟件(jian) 配套(tao)軟件(jian)可以遠端(duan)控(kong)制(zhi), 數(shu)據(ju)輸(shu)出(chu), 打(da)印/保存(cun)數(shu)據(ju)
工作(zuo)環境(jing) 0-50度
電(dian)源 100-240VAC轉(zhuan)9VDC通(tong)用適配(pei)器 （內(nei)置可充(chong)電(dian)池）
儀器尺(chi)寸(cun) 152.4mm x 88.9mm x 63.5mm （L x W x D）
儀器重(zhong)量(liang) 740克
訂(ding)購編號 描述
GT-321 包含以下(xia)物(wu)品
精確取樣(yang)頭(tou)
清潔過(guo)濾(lv)器
電(dian)源適(shi)配器 （充(chong)電(dian)器）
RS-232數(shu)據(ju)線(xian) （連(lian)接(jie)電(dian)腦運(yun)行(xing)超(chao)級(ji)終端(duan)）
校正書
操(cao)作(zuo)說(shuo)明書
手提箱(xiang)
美國(guo)Met One Instruments空氣(qi)顆粒物(wu)檢測(ce)器系(xi)列(lie)產品
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產品分類
- 氫(qing)檢(jian)儀(yi)氣密(mi)性(xing)檢漏(lou)檢(jian)測(ce)儀(yi)
- 國(guo)產源表，替代(dai)keithley
- > 替代(dai)進(jin)口功(gong)率(lv)分析儀
- > 替代(dai)進(jin)口電(dian)源
- > 替代(dai)進(jin)口環(huan)境試驗(yan)箱(xiang)
- > 國(guo)產替代(dai)進(jin)口射(she)頻(pin)儀(yi)器
- > 替代(dai)進(jin)口高(gao)阻(zu)表
- > 電(dian)池測(ce)試(shi)儀(yi)器
- > 電(dian)池絕(jue)緣電(dian)阻(zu)替代(dai)HIOKI
- > SMU源(yuan)表替代(dai)KEITHLEY2400
- > 萬(wan)用表/信(xin)號(hao)源(yuan)替代(dai)是(shi)德
- 體積(ji)電(dian)阻(zu)率(lv)/表面(mian)電(dian)阻(zu)測(ce)試(shi)
- 穩(wen)科(ke)Wayne Kerr/MICROTEST
- 半(ban)導(dao)體I-V/C-V/I-R測(ce)試(shi)
- 介(jie)電(dian)常(chang)數(shu)/電(dian)導率(lv)測(ce)試(shi)方(fang)案(an)
- 大眾(zhong)VW80000/通用GMW3172/ISO16750標準(zhun)測(ce)試(shi)
- 電(dian)化(hua)學工作(zuo)站(zhan)/恒(heng)電(dian)位儀
- IBGT/MOSFET/SiC/GaN測(ce)試(shi)
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- > 重錘(chui)表面(mian)靜(jing)電(dian)電(dian)阻(zu)/電(dian)阻(zu)率(lv)
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- > 手(shou)腕(wan)帶(dai)防靜(jing)電(dian)工鞋(xie)人(ren)體綜(zong)合(he)測(ce)試(shi)儀(yi)
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- > 安規綜(zong)合(he)校準盒
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- 梅特勒METTLER
- 物(wu)料輪廓(kuo)顏(yan)色缺(que)料(liao)視覺篩選
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- 金(jin)相切(qie)割/鑲嵌/研磨拋光
- 紅(hong)外熱(re)像儀(yi)
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- COSMOS氣體/鐵(tie)粉濃度計
- ITECH艾德克(ke)斯(si)/NGI恩智(zhi)
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- > 直流電(dian)子負(fu)載
- > 回饋式電(dian)網模擬器交(jiao)流電(dian)源
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- > 新(xin)能(neng)源(yuan)汽(qi)車/電(dian)池/充電(dian)樁測(ce)試(shi)系(xi)統(tong)
- > 可(ke)編程直流電(dian)源
- > 小功率(lv)電(dian)子負(fu)載
- > 大功(gong)率(lv)直流電(dian)源和電(dian)子負(fu)載壹(yi)體的(de)機器
- > 大功(gong)率(lv)電(dian)子負(fu)載
- > 能量(liang)回饋式直流電(dian)子負(fu)載
- > AC交(jiao)流電(dian)子負(fu)載
- > 大功(gong)率(lv)直流電(dian)源
- > 新(xin)能(neng)源(yuan)汽(qi)車/電(dian)池/充電(dian)樁
- > 雙(shuang)極性(xing)電(dian)源
- > AC交(jiao)流電(dian)源
- > 直流電(dian)源
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- 同(tong)惠/長盛(sheng)/安柏(bai)
- > 半(ban)導(dao)體參(can)數(shu)分析儀
- > 揚聲(sheng)器喇叭電(dian)機馬(ma)達測(ce)試(shi)
- > 功(gong)率(lv)分析儀/電(dian)參數(shu)測(ce)試(shi)儀(yi)
- > 皮安表/高阻(zu)計/靜(jing)電(dian)計
- > 直流低電(dian)阻(zu)，微歐(ou)姆(mu)計(ji)
- > 交(jiao)流低電(dian)阻(zu)，電(dian)池測(ce)試(shi)儀(yi)
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- > 脈(mai)沖(chong)線圈測(ce)試(shi)儀(yi)
- > 電(dian)感測(ce)試(shi)儀(yi)
- > 電(dian)容測(ce)試(shi)儀(yi)
- > 溫(wen)度采(cai)集(ji)記(ji)錄(lu)儀
- > LCR電(dian)橋阻(zu)抗(kang)分析儀
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- 標(biao)準(zhun)源(yuan)/計量(liang)校準檢定設備
- 晶圓、芯片(pian)、屏(ping)幕Particle
- 日置HIOKI/國(guo)產替代(dai)
- 鎖(suo)相放(fang)大器
- 噪聲(sheng)/振動(dong)/聲(sheng)學(xue)測(ce)試(shi)方(fang)案(an)
- 日本KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
- 電(dian)聲器件(jian)測(ce)試(shi)設(she)備(bei)
- 長盛(sheng)耐壓絕(jue)緣電(dian)阻(zu)安規測(ce)試(shi)
- 永(yong)磁(ci)軟磁(ci)磁(ci)通量(liang)測(ce)試(shi)
- 汽(qi)車電(dian)子標(biao)準波(bo)形(xing)可(ke)編程電(dian)源
- SHIMAZU島津
- 德(de)維創DEWETRON
- ARC電(dian)池絕(jue)熱(re)量(liang)熱(re)儀/熱(re)安全性(xing)能
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