基礎(chu)信(xin)息Product information

產(chan)品(pin)名稱(cheng)：日(ri)本(ben)菊水(shui)KIKUSUI TOS7210S絕(jue)緣電阻測(ce)試儀(yi)

產(chan)品(pin)型號：太陽(yang)能(neng)PID

更新時間：2025-06-08

產(chan)品(pin)簡介：

堅(jian)融實(shi)業(ye)——壹(yi)家致(zhi)力於為(wei)祖(zu)國(guo)用戶提供日(ri)本(ben)菊水(shui)KIKUSUI TOS7210S絕(jue)緣電阻測(ce)試儀(yi)為(wei)準(zhun)確有效(xiao)地(di)對(dui)太陽(yang)能(neng)電池模(mo)塊的(de)PID（Potential Induced Degradation）現(xian)象進(jin)行評估儀器(qi)設(she)備、測(ce)試(shi)方(fang)案、技術(shu)培訓(xun)、維(wei)修計(ji)量(liang)全(quan)面服務的儀器設(she)備綜(zong)合(he)服務商。

產(chan)品(pin)特性Product characteristics

專(zhuan)業(ye)儀(yi)器(qi)設(she)備與(yu)測(ce)試(shi)方(fang)案供應商——上(shang)海(hai)堅融(rong)實(shi)業(ye)有(you)限(xian)公(gong)司(si)JETYOO INDUSTRIAL & 堅(jian)友（上海(hai)）測量(liang)儀(yi)器有限公(gong)司(si)JETYOO INSTRUMENTS，為原(yuan)安(an)捷(jie)倫Agilent【現是德KEYSIGHT】品(pin)牌技術(shu)經(jing)理-堅JET與(yu)吉(ji)時利KEITHLEY【現泰(tai)克(ke)Tektronix】品(pin)牌產(chan)品(pin)經(jing)理-融YOO於(yu)2011年(nian)共同(tong)創辦，專(zhuan)註工業(ye)測(ce)試(shi)領(ling)域十(shi)六(liu)年(nian)，誌在破舊(jiu)立(li)新(xin)！*進口儀(yi)器設(she)備大(da)多(duo)數廠(chang)家僅(jin)在國內(nei)設(she)銷(xiao)售(shou)點(dian)，但技(ji)術(shu)支(zhi)持(chi)薄(bo)弱(ruo)甚至(zhi)沒(mei)有，而代(dai)理經(jing)銷(xiao)商(shang)也(ye)只(zhi)做商務，不(bu)做售(shou)前(qian)技(ji)術(shu)支(zhi)持(chi)/測試(shi)方(fang)案和售(shou)後(hou)使(shi)用培訓(xun)/維(wei)修校(xiao)準(zhun)的(de)空(kong)白(bai)。我(wo)們的(de)技術(shu)型銷(xiao)售(shou)均為(wei)本(ben)科(ke)以上(shang)學(xue)歷，且均(jun)有(you)10年(nian)以上(shang)測(ce)試行業(ye)經(jing)驗(yan)，以我(wo)們*進(jin)*的經(jing)營(ying)理念，與客戶互(hu)惠(hui)互(hu)利合作(zuo)雙贏，重(zhong)在協助(zhu)用戶采購(gou)與(yu)技術(shu)工程(cheng)師(shi)的(de)工作(zuo)，提(ti)供較(jiao)有競爭力的(de)供應鏈(lian)管(guan)理與售(shou)前(qian)售(shou)後(hou)技(ji)術(shu)支(zhi)持(chi)。堅融(rong)實(shi)業(ye)——壹(yi)家致(zhi)力於為(wei)祖(zu)國(guo)用戶提供儀器設(she)備、測(ce)試(shi)方(fang)案、技術(shu)培訓(xun)、維(wei)修計(ji)量(liang)全(quan)面服務的儀器設(she)備綜(zong)合(he)服務商。

日(ri)本(ben)菊水(shui)KIKUSUI TOS7210S絕(jue)緣電阻測(ce)試儀(yi) 太(tai)陽(yang)能(neng)電池模(mo)塊PID絕(jue)緣(yuan)電阻測(ce)試概(gai)要(yao)
PID絕(jue)緣(yuan)測試(shi)儀（TOS7210S）是為準(zhun)確有效(xiao)地(di)對(dui)太陽(yang)能(neng)電池模(mo)塊的(de)PID(Potential Induced Degradation)現(xian)象進(jin)行評估，以絕(jue)緣電阻測(ce)試儀(yi)（TOS7200）為(wei)基礎(chu)設(she)計(ji)而成(cheng)的(de)測(ce)試(shi)儀。
附(fu)有(you)極(ji)性切換功能(neng)，輸(shu)出(chu)電壓可(ke)達(da)2000V,同(tong)時裝(zhuang)載(zai)了(le)n*分(fen)辨率(lv)的電流表(biao)，因(yin)此不(bu)僅(jin)可(ke)以進行PID評估，還(hai)可(ke)以(yi)用於要(yao)求(qiu)進行高敏(min)感度(du)測試(shi)的(de)絕(jue)緣體(ti)評估測試(shi)。標準(zhun)安裝(zhuang)了(le)可(ke)從(cong)外(wai)部調(tiao)用的面板(ban)存儲器及(ji)RS232C接口，因(yin)此也(ye)可(ke)以(yi)靈(ling)活(huo)對應自動(dong)化(hua)系統(tong)。

什(shen)麽是PID現象？
PID現(xian)象是(shi)指(zhi)太(tai)陽(yang)能(neng)電池與(yu)邊(bian)框長期(qi)被(bei)施(shi)以(yi)高電壓，電池發(fa)電量(liang)顯(xian)著降(jiang)低(di)的現(xian)象。目(mu)前(qian)認(ren)為(wei)所(suo)施(shi)加的(de)電壓越(yue)高，越(yue)是(shi)在高溫(wen)、高濕(shi)的環境(jing)下(xia)劣化(hua)現象越(yue)嚴(yan)重(zhong)。如晶(jing)體矽(gui)太陽(yang)能(neng)電池模(mo)塊的(de)輸(shu)出(chu)電壓即使(shi)只有數十(shi)V，壹(yi)旦(dan)直接連接的片(pian)數增加，串(chuan)內(nei)的(de)電位差(cha)將變得(de)非(fei)常高。壹(yi)方(fang)面，PCS（Power Conditioning System）作為交(jiao)流電源與(yu)系統(tong)相(xiang)連(lian),使(shi)接地(di)形(xing)態發(fa)生變化(hua)。輸(shu)入端采用浮接（壹(yi)側(ce)電極(ji)不(bu)能(neng)接地(di)線(xian)）的(de)無變壓器(qi)方(fang)式(shi)近年(nian)有所(suo)增加。這(zhe)種情況(kuang)下電池和(he)地(di)線(xian)間(jian)將(jiang)發(fa)生高電位差(cha)。現在可明(ming)確的是(shi)，晶(jing)體矽(gui)太陽(yang)能(neng)電池模(mo)塊中(zhong)，相對於邊(bian)框（接地(di)線(xian)）負(fu)極(ji)電位高的(de)電池容(rong)易發(fa)生PID現(xian)象。（請(qing)參照(zhao)圖(tu)1）目(mu)前(qian)，日(ri)本(ben)國內(nei)以(yi)zui大(da)600V、歐(ou)洲(zhou)以(yi)zui大(da)1000V的(de)系統(tong)電壓運(yun)行太(tai)陽(yang)能(neng)電池模(mo)塊，但是(shi)目(mu)前(qian)出(chu)現了(le)提高zui大(da)系統(tong)電壓以(yi)削減企業(ye)用大規(gui)模(mo)太陽(yang)能(neng)發(fa)電系統(tong)的串(chuan)數、PCS總數，提高發(fa)電效(xiao)率(lv)的趨勢(shi)。

圖2模(mo)擬了晶(jing)體矽(gui)太陽(yang)能(neng)電池模(mo)塊的(de)處(chu)於(yu)高電位差(cha)的狀(zhuang)況(kuang)。邊(bian)框為正(zheng)極(ji)電位、模(mo)塊電路(lu)處(chu)於(yu)負*電位的(de)狀況(kuang)。目(mu)前(qian)認(ren)為(wei)是(shi)由於超白(bai)鋼化(hua)玻(bo)璃(li)內的鈉離(li)子向(xiang)電池側(ce)遷(qian)移(yi)而(er)引起劣化(hua)。（薄(bo)膜太(tai)陽(yang)能(neng)電池模(mo)塊也(ye)被(bei)確認(ren)出(chu)現PID現(xian)象，但是(shi)發(fa)生劣化(hua)的機(ji)制與晶(jing)體矽(gui)太陽(yang)能(neng)電池模(mo)塊不(bu)同(tong)。）現在，各(ge)種研究機(ji)構正(zheng)在通過研究、試(shi)驗查找PID現(xian)象的(de)原(yuan)因(yin)。

日(ri)本(ben)菊水(shui)KIKUSUI TOS7210S絕(jue)緣電阻測(ce)試儀(yi)太(tai)陽(yang)能(neng)電池模(mo)塊PID絕(jue)緣(yuan)電阻測(ce)試特(te)長(chang)
可(ke)任(ren)意設(she)定(ding)輸(shu)出(chu)電壓
可(ke)將對被(bei)檢(jian)品施加的(de)測(ce)試(shi)電壓設(she)定(ding)在50Vdc-2000Vdc（分辨率(lv)1V）範圍(wei)內。假設(she)太(tai)陽(yang)能(neng)發(fa)電系統(tong)的電壓在1000V以上(shang)，可(ke)對其進(jin)行評估。此外(wai)，在電氣(qi)/電子部(bu)件、電氣(qi)/電子設(she)備的(de)絕(jue)緣(yuan)電阻測(ce)試中(zhong)，也(ye)可(ke)對(dui)應JIS C 1302: 1994所規(gui)定的(de)電壓範(fan)圍以外(wai)的測(ce)試。在50V-1000V範圍(wei)內(nei)，輸(shu)出(chu)特性以JIS C 1302: 1994為(wei)基準(zhun)。
極(ji)性切換功能(neng)
可通過主機(ji)面板(ban)的(de)開(kai)關輕(qing)松(song)切換輸(shu)出(chu)極(ji)性。PID現象是(shi)壹(yi)種(zhong)可逆現(xian)象，施(shi)加負(fu)偏壓電壓可(ke)能(neng)會恢(hui)復(fu)。極(ji)性切換是(shi)壹(yi)項不(bu)需(xu)要(yao)對(dui)被(bei)檢(jian)品實(shi)施配(pei)線(xian)變更的便(bian)利功能(neng)。此外(wai)，通過RS232C接口可(ke)實(shi)施由外(wai)部控(kong)制的(de)切換。
建(jian)立(li)輸(shu)出(chu)端的浮地(di)
輸(shu)出(chu)端子與接地(di)電位間(jian)為浮(fu)地(di)狀(zhuang)態(*1)。此外(wai)，使用屏蔽(bi)電纜作為(wei)輸(shu)出(chu)電纜 (TL51-TOS)。這(zhe)樣就不(bu)會測量(liang)被(bei)檢(jian)品與大(da)地(di)間(jian)的電流，只(zhi)測量(liang)測(ce)試點(dian)間的(de)電流，可(ke)確保評估測試(shi)的高敏(min)感度(du)和精(jing)確性。
*1：設(she)定(ding)為(wei)正(zheng)極(ji)的(de)端子的對(dui)地(di)電壓（±1000Vdc）設(she)定(ding)為(wei)負極(ji)的(de)端子的對(dui)地(di)電壓（+1000Vdc及(ji)-3000Vdc）
模擬輸(shu)出(chu)端子
在電阻顯(xian)示模(mo)式(shi)中(zhong)，基於(yu)對數壓縮(suo)將對(dui)應電阻測(ce)量(liang)值的(de)電壓輸(shu)出(chu)限制(zhi)在0V-4V之間(jian)。在電流顯(xian)示模(mo)式(shi)中(zhong)，對應電流測(ce)量(liang)值及(ji)測(ce)量(liang)量(liang)程(cheng)（4個量(liang)程(cheng)）按(an)線(xian)性標度(du)輸(shu)出(chu)。使用數據記錄器(qi)等(deng)外(wai)部記錄設(she)備可(ke)對(dui)被(bei)檢(jian)品的變化(hua)、劣化(hua)狀況(kuang)進行解(jie)析(xi)。

日(ri)本(ben)菊水(shui)KIKUSUI安(an)規測(ce)試(shi)儀器(qi)系(xi)列(lie)
TOS9200耐壓/絕(jue)緣電阻測(ce)試壹(yi)款(kuan)搭(da)載(zai)有(you)AC耐(nai)壓、絕(jue)緣電阻試(shi)驗這(zhe)2大功能(neng)的耐壓/絕(jue)緣電阻測(ce)試儀(yi)。
TOS9213AS PV（太(tai)陽(yang)光(guang)電池）模(mo)塊耐(nai)壓/絕(jue)緣電阻測(ce)試儀(yi)壹(yi)種(zhong)用於評價PV模塊、電纜、連接器、接線(xian)盒的(de)試(shi)驗(yan)儀(yi)器(qi)，可應對高電...
TOS5300耐壓/絕(jue)緣電阻測(ce)試儀(yi)對(dui)電器產(chan)品(pin)必須進行安(an)全(quan)確保4項測(ce)試(shi)中(zhong)的耐電壓測(ce)試，絕緣阻(zu)抗測(ce)
TOS5200耐(nai)壓測(ce)試儀對電器產(chan)品(pin)必須進行安(an)全(quan)確保4 項測(ce)試(shi)中(zhong)的耐電壓測(ce)
TOS8040耐壓測(ce)試儀是壹(yi)款(kuan)可按照(zhao)IEC標準(zhun)等(deng)各(ge)類標準(zhun)執行電子設(she)備和(he)電子元(yuan)件耐壓試(shi)驗的試驗(yan)
TOS8030耐(nai)壓測(ce)試儀壹(yi)款(kuan)3kV／10mA的耐壓測(ce)試儀。主機(ji)體(ti)積(ji)小，質(zhi)量(liang)輕(qing)
TOS5101耐(nai)壓測(ce)試儀是在各(ge)類安全(quan)標準(zhun)下進(jin)行耐(nai)壓試(shi)驗的測試(shi)儀(yi)。
耐(nai)壓測(ce)試儀TOS5051A/TOS5050A TOS5051A是壹(yi)款(kuan)可實(shi)施符(fu)合各(ge)種安(an)全(quan)標準(zhun)要求(qiu)的電子設(she)備儀(yi)器(qi)和(he)電子元(yuan)件等(deng)耐電壓試(shi)驗
PID絕緣測(ce)試(shi)儀(yi) TOS7210S (SPEC80776) 是(shi)為準(zhun)確有效(xiao)地(di)對(dui)太陽(yang)能(neng)電池模(mo)塊的(de)PID
TOS7200絕(jue)緣(yuan)電阻計(ji)是可(ke)在從各(ge)類電氣(qi)、電子部(bu)件到(dao)電氣(qi)、電子設(she)備的(de)不(bu)同(tong)範圍內(nei)使用的絕(jue)緣(yuan)電阻測(ce)
TOS6210地(di)線(xian)導通測試儀壹(yi)款(kuan)不(bu)僅(jin)能(neng)符合IEC、EN、VDE、BS、UL、JIS等(deng)安全(quan)標準(zhun)的
TOS6200地(di)線(xian)導通測試儀是(shi)為進行電氣(qi)產(chan)品(pin)安全(quan)法(fa)、IEC、EN、VDE、BS、UL、JIS等(deng)安全(quan)
TOS3200泄(xie)漏(lou)電流測(ce)試儀(yi)可(ke)適(shi)用於實(shi)施除(chu)醫(yi)用電氣(qi)設(she)備儀(yi)器(qi)以(yi)外(wai)的常(chang)規電氣(qi)設(she)備