基礎信息Product information

產品名(ming)稱：美(mei)國(guo)DESCO子(zi)品(pin)牌SCS EM EYE靜(jing)電(dian)事(shi)件探測儀(yi)

產品型(xing)號(hao)：

更新時(shi)間(jian)：2025-06-08

產品簡(jian)介：

堅融實(shi)業(ye)——壹(yi)家(jia)致(zhi)力(li)於為(wei)祖(zu)國(guo)用(yong)戶提(ti)供(gong)美(mei)國(guo)DESCO子(zi)品(pin)牌SCS EM EYE靜(jing)電(dian)事(shi)件探測儀(yi)儀(yi)器設(she)備、測試方案、技術(shu)培(pei)訓(xun)、維(wei)修(xiu)計量(liang)全面(mian)服(fu)務的(de)儀(yi)器(qi)設(she)備綜合(he)服(fu)務商。

產品特(te)性(xing)Product characteristics

專業(ye)儀(yi)器(qi)設(she)備與測試方(fang)案供(gong)應(ying)商——上(shang)海(hai)堅融實(shi)業(ye)有(you)限(xian)公司(si)JETYOO INDUSTRIAL & 堅友(you)（上(shang)海(hai)）測(ce)量(liang)儀(yi)器有限(xian)公司(si)JETYOO INSTRUMENTS，為(wei)原安捷倫(lun)Agilent【現是德(de)KEYSIGHT】品牌(pai)技術(shu)經理-堅JET與吉時利(li)KEITHLEY【現泰(tai)克(ke)Tektronix】品(pin)牌(pai)產品經理-融YOO於2011年共同(tong)創辦，專註(zhu)工(gong)業(ye)測(ce)試(shi)領(ling)域(yu)十(shi)六年，誌在(zai)破(po)舊立新！*進口儀(yi)器(qi)設(she)備大多(duo)數廠(chang)家(jia)僅在國(guo)內(nei)設(she)銷(xiao)售點(dian)，但技術(shu)支(zhi)持薄(bo)弱(ruo)甚(shen)至(zhi)沒有(you)，而(er)代理經銷(xiao)商也只(zhi)做商務(wu)，不(bu)做售前技術(shu)支(zhi)持/測(ce)試方(fang)案和(he)售(shou)後使用(yong)培(pei)訓(xun)/維(wei)修(xiu)校準(zhun)的(de)空(kong)白。我(wo)們(men)的技術(shu)型(xing)銷(xiao)售均(jun)為(wei)本科(ke)以(yi)上學(xue)歷(li)，且(qie)均有10年以(yi)上測(ce)試(shi)行(xing)業(ye)經驗，以(yi)我(wo)們(men)*進*的經營(ying)理(li)念(nian)，與(yu)客(ke)戶互(hu)惠(hui)互(hu)利(li)合(he)作雙贏，重在(zai)協助(zhu)用(yong)戶采購與(yu)技術(shu)工(gong)程(cheng)師的(de)工(gong)作，提(ti)供(gong)較(jiao)有競(jing)爭力(li)的(de)供(gong)應(ying)鏈(lian)管(guan)理(li)與(yu)售(shou)前售後技術(shu)支(zhi)持。堅融實(shi)業(ye)——壹(yi)家(jia)致(zhi)力(li)於為(wei)祖(zu)國(guo)用(yong)戶提(ti)供(gong)美(mei)國(guo)DESCO子(zi)品(pin)牌SCS EM EYE靜(jing)電(dian)事(shi)件探測儀(yi)儀(yi)器設(she)備、測試方案、技術(shu)培(pei)訓(xun)、維(wei)修(xiu)計量(liang)全面(mian)服(fu)務的(de)儀(yi)器(qi)設(she)備綜合(he)服(fu)務商。

美(mei)國(guo)DESCO子(zi)品(pin)牌SCS EM EYE靜(jing)電(dian)事(shi)件探測儀(yi)EM EYE METER 操(cao)作手冊 Operation Manual

1. 產品描(miao)述(shu)

是(shi)壹(yi)款靜(jing)電(dian)事(shi)件探測儀(yi)，可(ke)以(yi)測試(shi)靜(jing)電(dian)放(fang)電的(de)次(ci)數和(he)放(fang)電電(dian)壓。儀器具有分辨(bian)信號(hao)的能力(li)，區(qu)分(fen) EMI 和(he) ESD 信號(hao)，剔除非(fei) ESD 相關事(shi)件。用(yong)戶可(ke)以(yi)選擇測試(shi) CDM、HBM、MM 放(fang)電模型，儀(yi)器(qi)根(gen)據

放(fang)電模型、探(tan)測(ce)距離和(he)信號(hao)強度(du)計算(suan)出大致(zhi)的放(fang)電電(dian)壓。

1 主(zhu)機(ji)身

2 SD 內(nei)存卡（已(yi)插(cha)入(ru)主(zhu)機(ji)身）

3 CTC021 探(tan)測(ce)模塊（含(han) CTS001 天(tian)線(xian)）

4 CTC113-6FT 遠(yuan)端(duan)全向(xiang)天(tian)線(xian)，1.8 米長(chang)纜(lan)線(xian)

5 電(dian)源(yuan)適配器

6 CTC115-6FT 遠(yuan)端(duan)全向(xiang)天(tian)線(xian)，抗高(gao)溫，1.8 米長(chang)纜(lan)線(xian)

標(biao)配：1 +2 +3 +4 +5

選(xuan)配：6

2. 部(bu)件(jian)功能及安裝(zhuang)

備註(zhu)：

 CTS001 為(wei)定(ding)向(xiang)天(tian)線(xian)，只(zhi)可(ke)以(yi)探測(ce)到正前方的信號(hao)

 CTC113 為(wei)全向(xiang)天(tian)線(xian)，可(ke)以(yi)探測(ce)到 360 度任何(he)方(fang)向(xiang)的(de)信號(hao)

 如(ru)果需要探(tan)測高(gao)溫區(qu)域(yu)的靜(jing)電(dian)放(fang)電事(shi)件，選(xuan)購 CTC115 高(gao)溫天(tian)線(xian)

 如(ru)果新機沖不(bu)了電，把(ba)電源(yuan)適(shi)配器插(cha)上，然(ran)後頂 1 下重置(zhi)鍵激(ji)活電(dian)池

CTC113 遠(yuan)端(duan)天(tian)線(xian)（全向(xiang)天(tian)線(xian)），如(ru)果需要探(tan)測狹(xia)窄(zhai)空(kong)間(jian)，可(ke)采用(yong)該(gai)天(tian)線(xian)

3. 觸(chu)控(kong)屏(ping)操(cao)作(zuo)

 開(kai)機(ji)：手指按住(zhu)顯(xian)示屏(ping)任意(yi)位(wei)置(zhi) 3 秒(miao)

 關(guan)機(ji)：手指按住(zhu) Power/C 鍵(jian) 4 秒(miao)

1 弧形(xing)圓點(dian)，示意(yi) 10 個(ge)級別(bie)的放(fang)電強(qiang)度，點(dian)擊可(ke)設(she)置(zhi)報警(jing)閾值(zhi)

2 閃(shan)電(dian)/三角(jiao)符號(hao)：點擊可(ke)切換符號(hao)

閃(shan)電(dian)符號(hao)，只(zhi)顯(xian)示靜(jing)電(dian)相關放(fang)電事(shi)件（ESD）

三角(jiao)符號(hao)，顯(xian)示所(suo)有放(fang)電事(shi)件（包(bao)含(han) ESD 和(he) EMI）

3 探(tan)測(ce)距離：天(tian)線(xian)到被測試物(wu)/測(ce)試(shi)點的(de)距離，點(dian)擊可(ke)設(she)置(zhi)距離

4 聲(sheng)音(yin)符號(hao)：點擊該(gai)符號(hao)可(ke)選(xuan)擇報警(jing)聲(sheng)類(lei)型(xing)及音量(liang)。鈴鐺(cheng)符號(hao)為“叮(ding)鈴"聲(sheng)，只(zhi)有(you)壹(yi)個(ge)音量(liang)，不(bu)能調節(jie)。

點(dian)擊切換成(cheng)喇(la)叭符號(hao)，這時(shi)的儀(yi)器(qi)發出類(lei)似(si)收音機(ji)調頻(pin)聲(sheng)，聲(sheng)音(yin)根(gen)據信號(hao)強度(du)的大小變(bian)化。繼(ji)續(xu)點擊可(ke)以(yi)調節(jie)音(yin)量(liang)大小，在(zai)喇叭上(shang)出現叉，表示靜(jing)音(yin)。

5 Power/C 按鍵：單擊該(gai)鍵屏(ping)幕清零(ling)；按住(zhu)該(gai)鍵 4 秒(miao)關機(ji)

6 Menu/F 按鍵：點(dian)擊進(jin)入(ru)儀(yi)器(qi)基本設(she)置(zhi)界面(mian)

7 Hold 按鍵：點(dian)擊 1 次(ci)鎖(suo)定當(dang)前值(zhi)；再點(dian)擊 1 次(ci)標(biao)識(shi)該(gai)值(zhi)為最(zui)大值(zhi)；再點(dian)擊 1 次(ci)取(qu)消鎖(suo)定

8 時(shi)間(jian)：顯(xian)示當(dang)前時間(jian)

9 電(dian)量(liang)符號(hao)：示意(yi)剩余(yu)電量(liang)；點(dian)擊該(gai)符號(hao)設(she)置(zhi)日期和(he)時(shi)間(jian)

10 內(nei)存卡符號(hao)：點擊該(gai)符號(hao)，進入(ru)查(zha)看(kan)界面(mian)，可(ke)以(yi)查看(kan)測(ce)試(shi)記錄

11 放(fang)電模型：點(dian)擊進(jin)入(ru)設(she)置(zhi)界面(mian)，可(ke)以(yi)選擇 CDM、MM、HBM 放(fang)電模型或 Raw Input（信號(hao)電平(ping)）

12 靜(jing)電(dian)放(fang)電電(dian)壓值(zhi)

3.1. 開(kai)機(ji)界面(mian)

按住(zhu)屏(ping)幕任意(yi)位(wei)置(zhi)大概(gai) 3 秒(miao)後儀器開機(ji)。開(kai)機(ji)後先(xian)顯(xian)示儀(yi)器(qi)固(gu)件(jian)號(hao)，如下(xia)所(suo)示：

稍(shao)後，進入(ru)待(dai)機(ji)界面(mian)。如果未(wei)插(cha)入(ru) SD 卡(ka)或不(bu)能識(shi)別(bie) SD 卡，出現以(yi)下提(ti)示：

無(wu) SD 卡也可(ke)以(yi)正常使(shi)用(yong)該(gai)儀器(qi)，但測(ce)試數據不(bu)會(hui)被保(bao)存。點擊黃色區域關閉(bi)提(ti)示窗(chuang)口(kou)並(bing)進(jin)入(ru)待(dai)機(ji)界面(mian)。

註(zhu)意(yi)！拔(ba)插(cha) SD 卡時(shi)，儀器(qi)處(chu)於關(guan)機狀態(tai)。

3.2. 儀(yi)器(qi)基本設(she)置(zhi)

點(dian)擊 Menu/F 鍵(jian)進(jin)入(ru)基本設(she)置(zhi)界面(mian)，顯(xian)示如(ru)下(xia)：

 第壹(yi)行(xing)顯(xian)示儀(yi)器(qi)主(zhu)板編號(hao)

 第二(er)行(xing)為(wei)屏(ping)幕亮度(du)，點擊圓盤(pan)的◄/►增(zeng)加(jia)或降(jiang)低亮(liang)度(du)，默認 50%

 點(dian)擊▲/▼滾(gun)動(dong)到第三行(xing)“Off time"項，設(she)置(zhi)自動(dong)關(guan)機時(shi)間(jian)（默(mo)認 5 分鐘(zhong)），點(dian)擊◄/►改變時(shi)間(jian)，壹(yi)直(zhi)點(dian)擊◄到 0，表示不(bu)啟(qi)用(yong)自動(dong)關(guan)機功能

 點(dian)擊▲/▼滾(gun)動(dong)到第四(si)行(xing)“Local antenna"項，點(dian)擊◄/►切換 Local antenna/Remote antenna

 Local antenna：采用(yong) CTS001 定向(xiang)天(tian)線(xian)時(shi)選(xuan)擇該(gai)項

 Remote antenna：采用(yong) CTC113 或 CTC115 遠(yuan)端(duan)全向(xiang)天(tian)線(xian)時(shi)選(xuan)擇該(gai)項設(she)置(zhi)完成(cheng)後，點擊圓盤(pan)中間(jian)的(de)8 返回(hui)待(dai)機(ji)界面(mian)

3.3. 設(she)置(zhi)日期和(he)時(shi)間(jian)

點(dian)擊電(dian)池符號(hao)進入(ru)日期和(he)時(shi)間(jian)設(she)置(zhi)界面(mian)，顯(xian)示如(ru)下(xia)：

 第壹(yi)行(xing)設(she)置(zhi)時間(jian)，點(dian)擊圓盤(pan)▲/▼改變數值(zhi)，點擊◄/►移動(dong)光(guang)標向(xiang)前或向(xiang)後

 第二(er)行(xing)設(she)置(zhi)日期，格(ge)式為(wei)：月/日/年（08/15/16 表示 2016 年 8 月 15 日）

 第三行(xing)選(xuan)擇 12/24 小時(shi)制(zhi)，點擊▲/▼選(xuan)擇 12H 或 24H

 設(she)置(zhi)完成(cheng)後，點擊圓盤(pan)中間(jian)的(de)8 返回(hui)待(dai)機(ji)界面(mian)

4. 測(ce)試(shi)靜(jing)電(dian)放(fang)電（ESD）事(shi)件

4.1. 設(she)置(zhi)探測(ce)距離和(he)放(fang)電模型

儀(yi)器(qi)采用(yong)專li的算(suan)法，根(gen)據探測距離、獲(huo)得(de)信號(hao)強度(du)和(he)放(fang)電模型計(ji)算(suan)出大致(zhi)的放(fang)電電(dian)壓。用(yong)戶需要設(she)置(zhi)探測(ce)距離和(he)放(fang)電模型。

探(tan)測(ce)距離：

天(tian)線(xian)距(ju)離被(bei)測試(shi)物/測試(shi)點的(de)距離，設(she)置(zhi)範(fan)圍(wei) 0.5~15.0 英寸（1.3~38.1cm）

註(zhu)意(yi)：實(shi)際測試時，天(tian)線(xian)距(ju)離被(bei)測試(shi)物/測試(shi)點應(ying)該(gai)為所(suo)設(she)置(zhi)的距(ju)離。

放(fang)電模型：

CDM：器(qi)件(jian)本身帶有靜(jing)電(dian)，當(dang)接(jie)觸到接(jie)地導體或其(qi)他(ta)電位(wei)導體時(shi)發生靜(jing)電(dian)放(fang)電

MM：帶靜(jing)電(dian)的(de)設(she)備或工(gong)具接(jie)觸到接(jie)地的器件，發生靜(jing)電(dian)放(fang)電

HBM：帶靜(jing)電(dian)的(de)人(ren)體接(jie)觸到接(jie)地的器件，發生靜(jing)電(dian)放(fang)電

Raw Input：天(tian)線(xian)所(suo)獲(huo)得(de)的(de)實(shi)際信號(hao)強度(du)（電平(ping)信號(hao)），該(gai)讀數用(yong)於儀(yi)器校準(zhun)

點(dian)擊屏(ping)幕的距(ju)離或放(fang)電模型方(fang)框(kuang)，進入(ru)設(she)置(zhi)界面(mian)，屏(ping)幕顯(xian)示如(ru)下(xia)：

 點(dian)擊圓盤(pan)▲/▼設(she)置(zhi)探測(ce)距離，選(xuan)擇範(fan)圍(wei) 0.5~15.0 英寸（1.3cm~38.1cm），0.5 英寸以(yi)下，每(mei)點(dian)擊 1 次(ci)遞(di)增(zeng) 0.5 英寸；10 英寸以(yi)上，每(mei)點(dian)擊 1 次(ci)遞(di)增(zeng) 1 英寸。

 點(dian)擊圓盤(pan)◄/►設(she)置(zhi)放(fang)電模型，可(ke)以(yi)選擇 CDM、MM、HBM、Raw Input

 設(she)置(zhi)完成(cheng)後，點擊圓盤(pan)中間(jian)的(de)8 返回(hui)待(dai)機(ji)界面(mian)

4.2. 報(bao)警(jing)閾值(zhi)設(she)置(zhi)

點(dian)擊弧形(xing)圓點(dian)，進入(ru)設(she)置(zhi)界面(mian)。（備註(zhu)：儀(yi)器(qi)內(nei)存只(zhi)記錄超(chao)過閾值(zhi)的靜(jing)電(dian)放(fang)電事(shi)件）

 點(dian)擊圓盤(pan)◄/►設(she)置(zhi)報警(jing)閾值(zhi)，範(fan)圍(wei) 000~990V：

 0~10V 按 1V 增(zeng)幅(fu)設(she)置(zhi)

 10~990V 按 10V 增(zeng)幅(fu)設(she)置(zhi)

 如(ru)果選擇了“Raw Input"測試模式，可(ke)以(yi)選擇 1~1500mV

 設(she)置(zhi)完成(cheng)後，點擊圓盤(pan)中間(jian)的(de)8 返回(hui)待(dai)機(ji)界面(mian)

按以(yi)上設(she)置(zhi)完成(cheng)後，即可(ke)開(kai)始(shi)測試。測(ce)試(shi)時屏(ping)幕出現閃電(dian)符號(hao)，表示開(kai)啟(qi)了信號(hao)屏(ping)蔽功能，儀(yi)器(qi)剔除了非ESD 放(fang)電信號(hao)，只(zhi)顯(xian)示靜(jing)電(dian)放(fang)電事(shi)件。點(dian)擊該(gai)符號(hao)切換到全信號(hao)模式，這(zhe)時(shi)出現三角(jiao)形(xing)符號(hao)，表示儀(yi)器(qi)顯(xian)

示所(suo)有探(tan)測(ce)到的信號(hao)，包(bao)括(kuo) EMI 背(bei)景噪音和(he) ESD 放(fang)電信號(hao)。

測(ce)試(shi)時，屏(ping)幕顯(xian)示的(de)電(dian)壓值(zhi)為估算(suan)的放(fang)電電(dian)壓，數字為(wei)超(chao)過閾值(zhi)的放(fang)電次(ci)數。最高(gao)可(ke)以(yi)記錄 32767 次(ci)放(fang)電次(ci)數。點擊 Power/C 鍵(jian)可(ke)以(yi)清零(ling)放(fang)電次(ci)數，重新(xin)累(lei)計。

4.3. 按照(zhao) ANSI/ESD SP17.1 規(gui)範(fan)進(jin)行(xing)靜(jing)電(dian)放(fang)電事(shi)件風險(xian)評(ping)估流程

備註(zhu)：

 首先(xian)確(que)定(ding)靜(jing)電(dian)敏(min)感器件是(shi)否(fou)有導體部(bu)位(wei)接(jie)觸或非(fei)常接(jie)近導電(dian)的物(wu)體，例(li)如(ru)金屬-金(jin)屬接(jie)觸，如(ru)果沒有(you)，通(tong)常不(bu)會(hui)有靜(jing)電(dian)放(fang)電風險(xian)，無(wu)需進壹(yi)步進(jin)行(xing)風險(xian)評(ping)估。

 空(kong)載測試：在(zai)制(zhi)程中不要放(fang)入(ru)靜(jing)電(dian)敏(min)感器件，記錄下(xia)測到的靜(jing)電(dian)放(fang)電現象(xiang)

 放(fang)入(ru)靜(jing)電(dian)敏(min)感器件後，如果沒有(you)探(tan)測到更多的(de)放(fang)電現象(xiang)，表示探(tan)測(ce)到的是幹(gan)擾(rao)信號(hao)/背(bei)景噪音，而(er)非放(fang)入(ru)靜(jing)電(dian)敏(min)感器件後造(zao)成(cheng)的(de)靜(jing)電(dian)放(fang)電，評(ping)估結束(shu)-低風險(xian)

 如(ru)果探測到更多的(de)放(fang)電現象(xiang)，根(gen)據測到的放(fang)電電(dian)壓值(zhi)和(he)器(qi)件的靜(jing)電(dian)敏(min)感閥值(zhi)來評(ping)估風險(xian)，如(ru)果放(fang)電電(dian)壓值(zhi)超過(guo)器件所(suo)列(lie)明的閥值(zhi)，采取(qu)措(cuo)施消(xiao)除危(wei)險(xian)，例(li)如(ru)采取(qu)接(jie)地、離子(zi)中和(he)等方(fang)式采取(qu)消除風險(xian)的(de)措(cuo)施後，再次(ci)進(jin)行(xing)評(ping)估

1 是(shi)否(fou)和(he)靜(jing)電(dian)敏(min)感器件直(zhi)接(jie)

接(jie)觸或距(ju)離非(fei)常近(jin)

評(ping)估結束(shu)-低風險(xian)

2 進(jin)行(xing)空(kong)載測試

3 把(ba)靜(jing)電(dian)敏(min)感器件放(fang)入(ru)後測試，對(dui)比測(ce)試結(jie)果

4 是(shi)否(fou)測到更多的(de)靜(jing)電(dian)放(fang)電事(shi)件？

5 評(ping)估結束(shu)-低風險(xian)

否(fou)

否(fou)

6 評(ping)估風險(xian)程(cheng)度(du)

消(xiao)除風險(xian)

按 2~5 步驟(zhou)再(zai)次(ci)評(ping)估

5. 數據查(zha)看(kan)和(he)處(chu)理(li)

5.1. 安(an)裝(zhuang) SD 卡

1）把(ba) SD 卡插(cha)入(ru)儀(yi)器(qi)，註(zhu)意(yi)方(fang)向(xiang)，有(you)字(zi)的面(mian)朝上，有(you)金(jin)屬觸(chu)腳的在(zai)裏(li)面(mian)。註(zhu)意(yi)！壹(yi)定要在(zai)儀(yi)器關(guan)機的(de)情況下拔(ba)插(cha) SD 卡。

2）插(cha)好(hao)卡後，儀器開機(ji)，儀(yi)器(qi)會對(dui)新(xin)卡(ka)或空(kong)卡進行(xing)初(chu)始化。然(ran)後進入(ru)待(dai)機(ji)界面(mian)，在屏(ping)幕右中可(ke)以(yi)看見 SD卡(ka)圖(tu)標，表示成(cheng)功。如果不顯(xian)示 SD 卡(ka)圖(tu)標(biao)或有(you)紅(hong)叉，表示該(gai)卡不(bu)兼(jian)容。

3）所(suo)有測(ce)試(shi)記錄會(hui)保(bao)存在 SD 卡(ka)上(shang)。註(zhu)：只(zhi)有(you)超(chao)過(guo)報警閾值(zhi)的值(zhi)才(cai)會被(bei)記錄下(xia)來。

在(zai)待(dai)機界面(mian)，點擊 SD 卡(ka)符號(hao)，進入(ru)查(zha)看(kan)界面(mian)。點擊圓盤(pan)的▲/▼和(he)◄/►可(ke)以(yi)上/下(xia)和(he)左(zuo)/右滾動(dong)查(zha)看。

5.2. 數據處(chu)理(li)

向(xiang)供(gong)應(ying)商獲(huo)取(qu) EMEYE_Converter.zip 軟(ruan)件(jian)，解壓後雙擊 setup.exe 安(an)裝(zhuang)，按指示進(jin)行(xing)安(an)裝(zhuang)，最(zui)後點擊 Close完成(cheng)。

把(ba) SD 卡從(cong)儀(yi)器(qi)中取(qu)出，放(fang)入(ru)配套的卡托(tuo)，插(cha)到電腦的卡槽上(shang)

1) 打(da)開(kai)安裝(zhuang)的 Em Eye File Converter Rev.5 軟(ruan)件(jian)（在(zai)桌面(mian)有快捷圖標(biao)）

2) 點(dian)擊 File > Open Ctrl+O，選(xuan)擇 SD 卡上(shang)的 ESD3M0003.esd 文(wen)件

3) 打(da)開(kai)後可(ke)以(yi)看見所(suo)有的(de)測(ce)試(shi)記錄，每(mei)條(tiao)表示壹(yi)個(ge)時(shi)間(jian)點(dian)的測試記錄。例(li)如(ru)下圖第壹(yi)行(xing)，表示 2016 年 8月 29 日 22 點 39 分(fen) 17 秒(miao)的測(ce)試(shi)記錄，共(gong)有 7 個 ESD 事(shi)件(jian)發生（報(bao)警閾值(zhi)為 370V）

4) 點(dian)擊任壹(yi)條(tiao)測試(shi)記錄，然(ran)後點擊 File > Save 保(bao)存。例(li)如(ru)下圖，保(bao)存在 C 盤(pan)下的(de)“ESD 測試"文(wen)件夾

5) 用(yong) EXCEL 打開該(gai)所(suo)保(bao)存的文(wen)件可(ke)以(yi)顯(xian)示詳(xiang)細(xi)的測試數據

例(li)如(ru)上圖，打開(kai)所(suo)保(bao)存的 2016 年 8 月 29 日 22 點 39 分(fen) 17 秒(miao)的測(ce)試(shi)記錄，

可(ke)以(yi)看見詳(xiang)細(xi)的 7 個 ESD 事件(jian)。

備註(zhu)：當(dang) SD 卡(ka)滿後，把(ba) SD 卡插(cha)入(ru)電(dian)腦，然後清空(kong)該(gai)卡即(ji)可(ke)。

重(zhong)新(xin)把(ba)空(kong)卡插(cha)入(ru)儀(yi)器(qi)後，儀器會自動(dong)初(chu)始化。

6. 故(gu)障(zhang)信息

屏(ping)幕提(ti)示 解決方(fang)法

ERROR: Sensor is disconnected. Click here to turn device off.

未(wei)裝(zhuang)上(shang)探(tan)測模塊就開機(ji)。先(xian)關(guan)機(ji)，裝(zhuang)上探測模塊後再開機使(shi)用(yong)。

ERROR:Card was removed. Data may be lost and card could be damaged.

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在(zai)開(kai)機狀(zhuang)態下，拔(ba)出了 SD 卡，可(ke)能會(hui)導致(zhi)數據丟(diu)失(shi)和(he)SD 卡(ka)損壞(huai)。點擊關(guan)閉(bi)該(gai)提(ti)示，關(guan)機(ji)後插(cha)回(hui) SD 卡(ka)。

WARNING:No memory card. You can add it at any time.

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儀(yi)器(qi)未(wei)插(cha)入(ru) SD 卡(ka)，可(ke)以(yi)在任何(he)時(shi)候(hou)插(cha)入(ru) SD 卡(ka)。點(dian)擊關(guan)閉(bi)該(gai)提(ti)示。

PREPARING CARD FOR RECORDING!!!

DO NOT REMOVE!!! PLEASE WAIT. 正在初(chu)始化 SD 卡(ka)，不要(yao)拔(ba)出 SD 卡(ka)。

ERROR: Invalid memory card. Format or replace it.

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SD 卡(ka)格(ge)式不(bu)兼(jian)容，先(xian)在(zai)電(dian)腦上格式化成(cheng) FAT32 格(ge)式再(zai)使(shi)用(yong)。

ERROR!!! STACK OVERFLOWED.

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出現嚴(yan)重故障(zhang)。需要重(zhong)置(zhi)儀器(qi)，如果問題(ti)未(wei)解決，必(bi)需返回(hui)原廠(chang)維(wei)修(xiu)。

備註(zhu)：當(dang)儀(yi)器(qi)出現死(si)屏(ping)或嚴(yan)重故障(zhang)時(shi)，用(yong)回(hui)形(xing)針(zhen)頂(ding)壹下(xia)儀(yi)器底(di)部的(de)重置(zhi)孔，儀(yi)器(qi)恢(hui)復到出廠(chang)狀(zhuang)態，通常能解決故(gu)障(zhang)。

備註(zhu)：儀(yi)器(qi)長(chang)期閑(xian)置(zhi)，電池可(ke)能耗(hao)盡電量(liang)。這(zhe)時插(cha)上電(dian)源適(shi)配器，用(yong)回(hui)形(xing)針(zhen)頂(ding)壹下(xia)儀(yi)器底(di)部的(de)重置(zhi)孔，電(dian)池重(zhong)新(xin)被激(ji)活，儀(yi)器(qi)開始充(chong)電。

7. 儀(yi)器(qi)校準(zhun)

測(ce)試(shi)靜(jing)電(dian)放(fang)電電(dian)壓，測試方法是獲(huo)取(qu)放(fang)電信號(hao)的強(qiang)度然(ran)後采用(yong)專有算(suan)法計算(suan)出放(fang)電電(dian)壓值(zhi)。

原廠(chang)校準(zhun)書僅顯(xian)示儀(yi)器(qi)能否(fou)正確接(jie)收到放(fang)電信號(hao)，校準(zhun)方(fang)法是采用(yong)脈沖電(dian)源(yuan)輸出 100mV、150mV、1.0V、1.5V 信號(hao)，然後驗證儀器(qi)接(jie)收到的信號(hao)強度(du)（dBμV）是否(fou)準(zhun)確。

疑問壹：如何(he)在(zai)第三方(fang)進行(xing)校準(zhun)？

答(da)：不(bu)能在(zai)第三方(fang)機構進(jin)行(xing)校準(zhun)，因(yin)為原廠(chang)對(dui)儀(yi)器(qi)的(de)天(tian)線(xian)數據（電(dian)容、阻(zu)抗）等均(jun)無(wu)公開。第三方(fang)無(wu)法對(dui)儀(yi)器(qi)能否(fou)接(jie)收正確放(fang)電信號(hao)進行(xing)驗(yan)證(zheng)。即(ji)使第三方(fang)可(ke)以(yi)驗證(zheng)儀(yi)器(qi)是否準(zhun)確獲(huo)取(qu)放(fang)電信號(hao)，後續(xu)也無(wu)法根(gen)據

信號(hao)強度(du)計算(suan)出放(fang)電電(dian)壓值(zhi)，該(gai)算(suan)法為原廠(chang)專有算(suan)法，無(wu)公開。

所(suo)以(yi)儀器(qi)必(bi)需返回(hui)原廠(chang)進(jin)行(xing)校準(zhun)，亞(ya)洲用(yong)戶可(ke)以(yi)返回(hui) DESCO 日本公司(si)進行(xing)校準(zhun)。

疑問二(er)：該(gai)儀器(qi)測試(shi)放(fang)電電(dian)壓，但為什麽沒有(you)測(ce)試精(jing)度(du)參數？

答(da)：靜(jing)電(dian)放(fang)電電(dian)壓和(he)實(shi)際物體的(de)電(dian)容有(you)關(guan)，儀器(qi)無(wu)法事先(xian)知(zhi)道被測物體的(de)電(dian)容，只(zhi)能采取(qu)壹個(ge)經驗值(zhi)（根(gen)據實(shi)驗取(qu)壹個(ge)能兼(jian)顧(gu)大多(duo)數器件(jian)的(de)經驗值(zhi)）來計(ji)算(suan)放(fang)電電(dian)壓。所(suo)以(yi)儀器(qi)的(de)讀數是接(jie)近實(shi)際放(fang)電電(dian)壓值(zhi)，而(er)

沒有(you)壹(yi)個定(ding)量(liang)的(de)測試精(jing)度(du)。

疑問三：如(ru)何直(zhi)觀(guan)地驗證儀器的(de)測試(shi)準(zhun)確(que)度(du)？

答(da)：下(xia)圖顯(xian)示了靜(jing)電(dian)模擬(ni)器(qi)的(de)放(fang)電過(guo)程，儀(yi)器實(shi)測讀數接(jie)近放(fang)電電(dian)壓。用(yong)戶可(ke)以(yi)用(yong)靜(jing)電(dian)放(fang)電槍(qiang)做這類(lei)驗(yan)證。