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基礎(chu)信(xin)息Product information
產品(pin)名(ming)稱(cheng)：BT-620粒子(zi)計數(shu)器
產品(pin)型(xing)號(hao)：Met One
更(geng)新時間(jian)：2025-06-08
產品(pin)簡介：
BT-620粒子(zi)計數(shu)器英文(wen)名(ming)稱(cheng)：Bench-Top Particle Counter產(chan)品(pin)描(miao)述(shu)：潔凈度測(ce)試(shi)，測(ce)試(shi)微粒子(zi)個數(shu)，同時測(ce)試(shi)6種(zhong)粒徑，大(da)流量
產品(pin)特(te)性Product characteristics
BT-620粒子(zi)計數(shu)器概述(shu)
英文(wen)名(ming)稱(cheng)：Bench-Top Particle Counter
產(chan)品(pin)描(miao)述(shu)：潔凈度測(ce)試(shi)，測(ce)試(shi)微粒子(zi)個數(shu)，同時測(ce)試(shi)6種(zhong)粒徑，大(da)流量
產品(pin)品(pin)牌(pai)：Met One
產品(pin)產(chan)地(di)：美(mei)國
訂(ding)購貨號(hao)：BT620
BT-620粒子(zi)計數(shu)器性能指標(biao)
大(da)流量臺(tai)式(shi)粒子(zi)計數(shu)器
取(qu)樣流(liu)量：1cfm（28.3l/min）
測(ce)試(shi)量程(cheng)：0-3,000,000個粒子(zi)/立方英尺(chi)
測(ce)試(shi)粒徑：0.3-2.0微米（按(an)0.1遞增(zeng)設置），2.0-10微米（按(an)0.5遞增(zeng)設置）
顯(xian)示通道(dao)：6通道(dao)，任(ren)選(xuan)以上6種(zhong)粒徑
取(qu)樣時間(jian)：1-999秒可調(tiao)
讀(du)數(shu)顯示：20位(wei)x4行(xing)LCD（可上下滾(gun)動查(zha)看(kan)）
儀器內存(cun)：8,000個(ge)測(ce)試(shi)記錄(lu)
控制(zhi)軟件：配(pei)套(tao)軟件可遠(yuan)端(duan)控制(zhi)儀(yi)器，數(shu)據輸出
配套(tao)探頭：選配(pei)G3120溫/濕(shi)度探測(ce)頭，即插即用(yong)
內置(zhi)打印：內(nei)置(zhi)熱敏打印機(ji)
儀(yi)器尺寸(cun)：260mm x 230mm x 241mm（L x W x D）
儀(yi)器重量：6.3公(gong)斤(jin)
訂(ding)貨信(xin)息
BT620：臺(tai)式(shi)粒子(zi)計數(shu)器，包含(han)以下物(wu)品(pin)
測(ce)試(shi)儀
熱敏(min)打印機(ji)（內(nei)置）
精(jing)確(que)取(qu)樣頭(tou)
清潔過濾(lv)器
電源(yuan)適(shi)配器/電池(chi)充(chong)電(dian)器
USB數(shu)據線
配套(tao)軟件
打印紙2卷(juan)
選配(pei)
G3120：溫/濕(shi)度探測(ce)頭（即插即用(yong)）
上壹(yi)篇:Met One804粒子(zi)計
下(xia)壹(yi)篇：Met One GT-526S粒子(zi)計數(shu)器
產(chan)品(pin)分類(lei)
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- 國(guo)產源(yuan)表，替(ti)代keithley
- 體積電阻率(lv)/表面電(dian)阻測(ce)試(shi)
- 穩(wen)科(ke)Wayne Kerr/MICROTEST
- 半導(dao)體(ti)I-V/C-V/I-R測(ce)試(shi)
- 介電常(chang)數(shu)/電導(dao)率(lv)測(ce)試(shi)方案
- 大(da)眾VW80000/通用(yong)GMW3172/ISO16750標(biao)準(zhun)測(ce)試(shi)
- 電(dian)化(hua)學(xue)工(gong)作站(zhan)/恒(heng)電位(wei)儀
- IBGT/MOSFET/SiC/GaN測(ce)試(shi)
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- 鎖(suo)相放(fang)大(da)器
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- 日本KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
- 電聲器件測(ce)試(shi)設備
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