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基礎(chu)信息(xi)Product information
產(chan)品(pin)名(ming)稱：Aerocet 531S粒(li)子計
產(chan)品(pin)型號(hao)：Met One
更新(xin)時間(jian)：2025-06-08
產(chan)品(pin)簡介(jie)：
Aerocet 531S粒子(zi)計英(ying)文名(ming)稱：Handheld Particle Mass Profiler & Counter產(chan)品(pin)描述：粒(li)子(zi)計數(shu)/PM值(zhi)檢(jian)測2合(he)1測試儀
產(chan)品(pin)特性(xing)Product characteristics
Aerocet 531S粒子(zi)計
英(ying)文名(ming)稱：Handheld Particle Mass Profiler & Counter
產(chan)品(pin)描述：粒(li)子(zi)計數(shu)/PM值(zhi)檢(jian)測2合(he)1測試儀
產(chan)品(pin)品(pin)牌：Met One
產(chan)品(pin)產(chan)地(di)：美(mei)國
訂(ding)購貨號(hao)：Aerocet531S
銷(xiao)售(shou)單(dan)位(wei)：套
Aerocet 531S粒(li)子(zi)計指(zhi)標(biao)參(can)數(shu)
粒子(zi)計數(shu)/PM值(zhi)檢(jian)測2合(he)1測試儀
取(qu)樣(yang)流(liu)量(liang)：0.1cfm（2.83l/min）
測試量(liang)程(cheng)：0-3,000,000個粒子/立(li)方(fang)英(ying)尺(chi)（粒子(zi)計數(shu)模式），0-1,000微(wei)克(ke)/立(li)方(fang)米(mi)（PM值(zhi)模式）
測試粒徑(jing)：0.5，1.0，5.0，10微(wei)米(mi)（粒(li)子(zi)計數(shu)模式），PM1，PM2.5，PM4，PM7，PM10，TSP（PM值(zhi)模式）
顯(xian)示通(tong)道：4通道（粒子(zi)計數(shu)模式），6通(tong)道（PM值(zhi)模式）
取(qu)樣(yang)時間(jian)：60秒(miao)
讀(du)數顯(xian)示：16位(wei)x4行LCD（可(ke)上(shang)下(xia)滾(gun)動(dong)查看(kan)）
儀器(qi)內存：6,267個測試記錄(lu)
控制(zhi)軟件：配(pei)套(tao)軟件可(ke)遠(yuan)端(duan)控制儀器(qi)，數(shu)據(ju)輸(shu)出(chu)
配套(tao)探頭(tou)：選(xuan)配(pei)G3120探測頭(tou)測試溫濕(shi)度(du)（即插(cha)即用(yong)）
儀器(qi)尺(chi)寸：159mm x 102mm x 54mm（L x W x D）
儀器(qi)重(zhong)量(liang)：900克(ke)
訂(ding)貨(huo)信息(xi)
Aerocet-531S：粒子計數(shu)/PM值(zhi)檢(jian)測2合(he)1測試儀，包(bao)含(han)以下(xia)物品(pin)
測試儀
精(jing)確(que)取(qu)樣(yang)頭(tou)
清(qing)潔(jie)過濾(lv)器(qi)
電源(yuan)適配器/電池(chi)充(chong)電器(qi)
USB數據(ju)線(xian)
配套(tao)軟件
手(shou)提(ti)箱
選(xuan)配
G3120：溫(wen)/濕(shi)度(du)探測頭(tou)（即(ji)插(cha)即用(yong)）
上(shang)壹(yi)篇(pian):Met One GT-526S粒(li)子(zi)計數(shu)器
下壹(yi)篇(pian)：BLOW VAC MENDA吸(xi)塵(chen)器(qi)35842
產(chan)品(pin)分(fen)類
- 氫(qing)檢(jian)儀氣(qi)密性(xing)檢(jian)漏(lou)檢(jian)測儀
- 國產(chan)源(yuan)表，替(ti)代keithley
- 體積電阻率/表面(mian)電阻測試
- 穩科(ke)Wayne Kerr/MICROTEST
- 半導(dao)體I-V/C-V/I-R測試
- 介電(dian)常(chang)數/電(dian)導(dao)率測試方案(an)
- 大(da)眾VW80000/通(tong)用(yong)GMW3172/ISO16750標準(zhun)測試
- 電化(hua)學工作(zuo)站/恒電(dian)位(wei)儀
- IBGT/MOSFET/SiC/GaN測試
- 電池(chi)/光伏(fu)/汽(qi)車充(chong)電樁(zhuang)測試
- DESCO/KLEINWACHTER靜電測試
- 體積電阻，電阻計，記錄(lu)儀
- 吉(ji)時利(li)KEITHLEY/泰(tai)克(ke)Tektronix
- 安(an)捷(jie)倫Agilent/是德KEYSIGHT
- > 移(yi)動通(tong)信(xin)專(zhuan)用(yong)電源(yuan)，帶電(dian)池(chi)仿真(zhen)
- > 射頻(pin)RF/脈(mai)沖(chong)碼(ma)型(xing)發(fa)生(sheng)器
- > 直流(liu)電源(yuan)/交流(liu)電源(yuan)
- > 萬(wan)用(yong)表
- > 示波(bo)器(qi)
- > 手持(chi)式示波(bo)表/手(shou)持式(shi)小(xiao)表
- > 函(han)數信號(hao)發(fa)生(sheng)器
- > LCR電(dian)橋
- > 數據(ju)采集(ji)儀
- > 源(yuan)表/高(gao)阻表/皮安表微(wei)安(an)計
- > 頻(pin)率(lv)計/頻(pin)譜儀/網(wang)絡分(fen)析(xi)儀
- 愛斯(si)佩克(ke)ESPEC環(huan)境(jing)試驗箱(xiang)
- > 穩定性(xing)試驗箱(xiang)
- > 小(xiao)型恒溫(wen)恒濕(shi)試驗箱(xiang)
- > 快(kuai)速(su)溫度(du)變化(hua)濕(shi)熱(re)試驗箱(xiang)
- > 溫(wen)度(du)/結(jie)露循(xun)環試驗箱(xiang)
- > 冷(leng)熱(re)沖(chong)擊試驗箱(xiang)
- > 烘箱(xiang)/幹(gan)燥(zao)箱(xiang)/高(gao)溫試驗箱(xiang)
- > 高(gao)低溫(wen)濕(shi)熱(re)試驗箱(xiang)
- > 恒溫(wen)恒濕(shi)試驗箱(xiang)
- > 鹽(yan)霧腐(fu)蝕(shi)試驗箱(xiang)
- > 步(bu)進式恒溫(wen)老化(hua)試驗室
- > 高(gao)低溫(wen)濕(shi)振動(dong)復(fu)合(he)試驗箱(xiang)
- > 高(gao)壓加速老化(hua)試驗箱(xiang)
- > IP砂(sha)塵防水(shui)淋雨(yu)試驗箱(xiang)
- > 快(kuai)速(su)除(chu)濕(shi)設(she)備(bei)/除(chu)濕(shi)櫃(gui)/惰(duo)性氮氣(qi)防潮(chao)櫃(gui)
- 普(pu)源RIGOL/致(zhi)遠(yuan)ZLG/鼎陽SIGLENT
- Chroma致(zhi)茂(mao)/EEC華儀EXTECH
- 邏(luo)輯(ji)分(fen)析(xi)儀/總(zong)線(xian)協(xie)議測試
- EMI/EMC/EMS電(dian)磁(ci)幹(gan)擾(rao)兼容
- > 汽車設(she)備(bei)電源(yuan)故(gu)障模擬器(qi)
- > 拋負(fu)載
- > 電(dian)纜(lan)束(shu)註入敏感度(du)測試系統
- > 寬(kuan)帶功(gong)率(lv)放(fang)大(da)器
- > 汽(qi)車電(dian)子(zi)電(dian)磁(ci)兼容EMC/波形(xing)
- > 耦(ou)合(he)去(qu)耦(ou)合(he)
- > 諧(xie)波(bo)和(he)閃(shan)爍
- > 射頻(pin)傳導(dao)抗(kang)擾(rao)度(du)測試系統
- > 阻尼振(zhen)蕩磁(ci)場測試系統
- > 振(zhen)鈴(ling)波發(fa)生(sheng)器
- > 電(dian)壓跌落(luo)模擬器(qi)
- > 電快(kuai)速(su)瞬變脈(mai)沖(chong)群(qun)發(fa)生(sheng)器
- > 耐(nai)壓絕(jue)緣電阻測試儀
- > 絕(jue)緣(yuan)電阻測試儀
- > 安(an)規(gui)綜(zong)合(he)測試儀
- > AC/DC交(jiao)直流(liu)耐(nai)壓測試儀
- > 泄(xie)漏(lou)電(dian)流(liu)測試儀
- > 雷(lei)擊浪湧/EMC電磁(ci)兼容測試
- > 接地(di)導(dao)通電(dian)阻測試儀
- > ESD靜電放(fang)電發(fa)生(sheng)器
- > 安(an)規(gui)綜(zong)合(he)校(xiao)準(zhun)盒(he)
- 愛色麗(li)X-Rite/電色NIPPON
- 梅特勒METTLER
- 物料輪(lun)廓(kuo)顏(yan)色缺料視覺篩選
- 博勒飛Brookfield
- 賓德BINDER試驗箱(xiang)
- 金(jin)相(xiang)切割(ge)/鑲(xiang)嵌/研磨(mo)拋(pao)光
- 紅(hong)外(wai)熱(re)像(xiang)儀
- 美(mei)國BK PRECISION
- ADCMT愛德(de)萬(wan)ADVANTEST
- COSMOS氣(qi)體/鐵粉濃度(du)計
- ITECH艾(ai)德克(ke)斯(si)/NGI恩(en)智(zhi)
- > LED測試專(zhuan)用(yong)電子(zi)負(fu)載
- > 直流(liu)電子(zi)負(fu)載
- > 回饋式電(dian)網(wang)模擬器(qi)交流(liu)電源(yuan)
- > 可編程(cheng)三(san)路(lu)直流(liu)電源(yuan)
- > 雙(shuang)向電源(yuan)和(he)回饋式負(fu)載
- > 新(xin)能源(yuan)汽(qi)車/電(dian)池(chi)/充(chong)電樁(zhuang)測試系統
- > 可(ke)編程(cheng)直流(liu)電源(yuan)
- > 小(xiao)功率電(dian)子負(fu)載
- > 大(da)功率(lv)直流(liu)電源(yuan)和電(dian)子負(fu)載壹(yi)體的(de)機器
- > 大(da)功率(lv)電子負(fu)載
- > 能量(liang)回饋式直流(liu)電子(zi)負(fu)載
- > AC交(jiao)流(liu)電子(zi)負(fu)載
- > 大(da)功率(lv)直流(liu)電源(yuan)
- > 新(xin)能源(yuan)汽(qi)車/電(dian)池(chi)/充(chong)電樁(zhuang)
- > 雙(shuang)極性電(dian)源
- > AC交(jiao)流(liu)電源(yuan)
- > 直流(liu)電源(yuan)
- 羅德(de)與施瓦茨R&S（惠(hui)美(mei)HAMEG）
- 同(tong)惠/長盛(sheng)/安(an)柏(bai)
- > 半導(dao)體參(can)數(shu)分(fen)析(xi)儀
- > 揚(yang)聲(sheng)器喇(la)叭(ba)電(dian)機馬達測試
- > 功率(lv)分(fen)析(xi)儀/電(dian)參(can)數(shu)測試儀
- > 皮安表/高(gao)阻計/靜電計
- > 直流(liu)低電(dian)阻，微(wei)歐姆(mu)計
- > 交(jiao)流(liu)低電(dian)阻，電池(chi)測試儀
- > 線(xian)材，線(xian)纜(lan)，線(xian)束測試儀
- > 脈(mai)沖(chong)線(xian)圈(quan)測試儀
- > 電(dian)感測試儀
- > 電(dian)容測試儀
- > 溫(wen)度(du)采集(ji)記錄(lu)儀
- > LCR電(dian)橋(qiao)阻抗(kang)分(fen)析(xi)儀
- > 高(gao)阻測試
- > 安規(gui)接地(di)電(dian)阻/漏電流(liu)
- > 安規(gui)耐(nai)壓絕(jue)緣
- 標準(zhun)源(yuan)/計量(liang)校(xiao)準(zhun)檢(jian)定設(she)備(bei)
- 晶圓(yuan)、芯片、屏(ping)幕(mu)Particle
- 日(ri)置HIOKI/國產(chan)替(ti)代
- 鎖(suo)相(xiang)放(fang)大(da)器
- 噪(zao)聲(sheng)/振(zhen)動(dong)/聲(sheng)學測試方案(an)
- 日(ri)本(ben)KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
- 電(dian)聲(sheng)器(qi)件測試設(she)備(bei)
- 長盛(sheng)耐(nai)壓絕(jue)緣電阻安規(gui)測試
- 永(yong)磁(ci)軟磁磁(ci)通(tong)量(liang)測試
- 汽車電(dian)子(zi)標(biao)準(zhun)波(bo)形可(ke)編程(cheng)電源
- SHIMAZU島津
- 德維(wei)創(chuang)DEWETRON
- ARC電(dian)池(chi)絕熱(re)量(liang)熱(re)儀/熱(re)安(an)全性(xing)能
- 查(zha)看(kan)更(geng)多(duo)
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