基(ji)礎(chu)信息(xi)Product information

產品名(ming)稱：美(mei)國(guo)SCS EM EYE靜(jing)電(dian)事(shi)件(jian)探(tan)測儀(yi)

產品型號：

更(geng)新(xin)時間：2025-06-08

產品簡(jian)介：

CTM048美(mei)國(guo)SCS EM EYE靜(jing)電(dian)事(shi)件(jian)探(tan)測儀(yi)多種功能(neng)，可(ke)以(yi)測(ce)試ESD（靜(jing)電(dian)放(fang)電(dian)）事件，EMF（電磁場(chang)），RF（射(she)頻）信號(hao)

產品特(te)性(xing)Product characteristics

專業儀(yi)器設(she)備與(yu)測試方案供應商——上(shang)海(hai)堅融(rong)實業有(you)限(xian)公司JETYOO INDUSTRIAL & 堅友(you)（上(shang)海(hai)）測(ce)量(liang)儀(yi)器有(you)限(xian)公司JETYOO INSTRUMENTS，為(wei)原安(an)捷(jie)倫(lun)Agilent【現(xian)是(shi)德(de)KEYSIGHT】品牌(pai)技(ji)術(shu)經(jing)理-堅JET與(yu)吉(ji)時利KEITHLEY【現(xian)泰(tai)克(ke)Tektronix】品牌(pai)產品經(jing)理-融(rong)YOO於2011年(nian)共同(tong)創辦(ban)，專註(zhu)工(gong)業測試領域(yu)十六年(nian)，誌(zhi)在破舊立(li)新(xin)！*進(jin)口(kou)儀(yi)器設(she)備大多數廠(chang)家(jia)僅在國(guo)內設(she)銷(xiao)售點，但技(ji)術(shu)支(zhi)持薄(bo)弱(ruo)甚至(zhi)沒有(you)，而代理(li)經(jing)銷商(shang)也(ye)只(zhi)做商(shang)務(wu)，不(bu)做售前(qian)技(ji)術(shu)支(zhi)持/測試方案和(he)售(shou)後使(shi)用(yong)培訓(xun)/維(wei)修(xiu)校準的空(kong)白(bai)。我們的技(ji)術(shu)型銷售均(jun)為(wei)本(ben)科(ke)以(yi)上(shang)學(xue)歷，且均(jun)有(you)10年(nian)以(yi)上(shang)測(ce)試行業經(jing)驗，以(yi)我(wo)們*進(jin)*的經(jing)營(ying)理(li)念(nian)，與客(ke)戶(hu)互(hu)惠(hui)互(hu)利合作(zuo)雙贏，重在協助(zhu)用戶(hu)采購與(yu)技(ji)術(shu)工(gong)程師(shi)的工(gong)作，提供較有(you)競爭(zheng)力的供(gong)應(ying)鏈管理與售(shou)前(qian)售(shou)後技(ji)術(shu)支(zhi)持。堅融(rong)實業——壹家(jia)致力於為祖(zu)國用(yong)戶(hu)提供美(mei)國(guo)SCS EM EYE靜(jing)電(dian)事(shi)件(jian)探(tan)測儀(yi)儀(yi)器設(she)備、測(ce)試方案、技(ji)術(shu)培訓(xun)、維(wei)修(xiu)計量(liang)全(quan)面(mian)服(fu)務(wu)的儀(yi)器設(she)備綜合服(fu)務(wu)商(shang)。

美(mei)國(guo)SCS EM EYE靜(jing)電(dian)事(shi)件(jian)探(tan)測儀(yi)EM EYE METER產品描(miao)述(shu)

是(shi)壹(yi)款(kuan)靜(jing)電(dian)事(shi)件(jian)探(tan)測儀(yi)，可(ke)以(yi)測(ce)試靜(jing)電(dian)放(fang)電(dian)的次(ci)數和(he)放(fang)電電壓(ya)。儀(yi)器具(ju)有(you)分(fen)辨(bian)信號(hao)的能(neng)力，區(qu)分(fen) EMI 和(he) ESD 信號(hao)，剔(ti)除非 ESD 相關(guan)事(shi)件(jian)。用(yong)戶(hu)可(ke)以(yi)選(xuan)擇(ze)測試 CDM、HBM、MM 放電(dian)模型，儀(yi)器根(gen)據

放電模型、探(tan)測距離和(he)信號(hao)強度(du)計算出(chu)大致的放(fang)電(dian)電壓(ya)。

1 主機(ji)身(shen)

2 SD 內存(cun)卡(ka)（已(yi)插(cha)入主機(ji)身(shen)）

3 CTC021 探(tan)測模(mo)塊（含 CTS001 天(tian)線）

4 CTC113-6FT 遠端全(quan)向(xiang)天(tian)線，1.8 米(mi)長纜(lan)線

5 電源適配(pei)器

6 CTC115-6FT 遠端全(quan)向(xiang)天(tian)線，抗(kang)高(gao)溫(wen)，1.8 米(mi)長纜(lan)線

標配(pei)：1 +2 +3 +4 +5

選(xuan)配(pei)：6

測試靜(jing)電(dian)放(fang)電(dian)（ESD）事件

4.1. 設置探(tan)測距離和(he)放(fang)電模型

儀(yi)器采(cai)用專li的算(suan)法(fa)，根據(ju)探(tan)測距離、獲(huo)得(de)信號(hao)強度(du)和(he)放(fang)電模型計算出(chu)大致的放(fang)電(dian)電壓(ya)。用(yong)戶(hu)需(xu)要設置探(tan)測距離和(he)放(fang)電模型。

探(tan)測距離：

天線距離被(bei)測試物(wu)/測(ce)試點的距離，設(she)置範(fan)圍(wei) 0.5~15.0 英(ying)寸（1.3~38.1cm）

註(zhu)意：實際(ji)測(ce)試時，天(tian)線距離被(bei)測試物(wu)/測(ce)試點應(ying)該(gai)為所(suo)設(she)置的距離。

放電模型：

CDM：器件(jian)本(ben)身(shen)帶(dai)有(you)靜(jing)電(dian)，當(dang)接(jie)觸(chu)到(dao)接(jie)地(di)導(dao)體(ti)或(huo)其他電位(wei)導(dao)體(ti)時發(fa)生靜(jing)電(dian)放(fang)電(dian)

MM：帶靜(jing)電(dian)的設(she)備(bei)或(huo)工(gong)具(ju)接(jie)觸(chu)到(dao)接(jie)地(di)的器件(jian)，發(fa)生靜(jing)電(dian)放(fang)電(dian)

HBM：帶靜(jing)電(dian)的人(ren)體(ti)接(jie)觸(chu)到(dao)接(jie)地(di)的器件(jian)，發(fa)生靜(jing)電(dian)放(fang)電(dian)

Raw Input：天線所(suo)獲(huo)得(de)的實際(ji)信號(hao)強度(du)（電(dian)平信號(hao)），該(gai)讀(du)數(shu)用(yong)於儀(yi)器校準

點擊屏(ping)幕的距離或(huo)放電模型方框，進(jin)入(ru)設(she)置界(jie)面(mian)，屏(ping)幕顯(xian)示(shi)如下：

 點擊圓盤(pan)▲/▼設(she)置探(tan)測距離，選(xuan)擇(ze)範圍(wei) 0.5~15.0 英(ying)寸（1.3cm~38.1cm），0.5 英(ying)寸以(yi)下，每(mei)點擊 1 次(ci)遞增 0.5 英(ying)寸；10 英(ying)寸以(yi)上(shang)，每(mei)點擊 1 次(ci)遞增 1 英(ying)寸。

 點擊圓盤(pan)◄/►設(she)置放(fang)電(dian)模(mo)型，可(ke)以(yi)選(xuan)擇(ze) CDM、MM、HBM、Raw Input

 設置完(wan)成後，點擊圓盤(pan)中(zhong)間的8 返(fan)回(hui)待機(ji)界面(mian)

4.2. 報警(jing)閾(yu)值(zhi)設置

點擊弧形圓點，進(jin)入(ru)設(she)置界(jie)面(mian)。（備(bei)註(zhu)：儀(yi)器內存(cun)只(zhi)記錄超(chao)過閾(yu)值(zhi)的靜(jing)電(dian)放(fang)電(dian)事件）

 點擊圓盤(pan)◄/►設(she)置報(bao)警(jing)閾(yu)值(zhi)，範圍(wei) 000~990V：

 0~10V 按 1V 增幅設置

 10~990V 按 10V 增幅設置

 如果(guo)選(xuan)擇(ze)了(le)“Raw Input"測試模式(shi)，可(ke)以(yi)選(xuan)擇(ze) 1~1500mV

 設置完(wan)成後，點擊圓盤(pan)中(zhong)間的8 返(fan)回(hui)待機(ji)界面(mian)

按以(yi)上(shang)設(she)置完(wan)成後，即可(ke)開始(shi)測試。測試時屏(ping)幕出(chu)現(xian)閃(shan)電(dian)符(fu)號，表(biao)示開啟(qi)了(le)信號(hao)屏(ping)蔽功能，儀(yi)器剔(ti)除了(le)非ESD 放(fang)電信號(hao)，只(zhi)顯示(shi)靜(jing)電(dian)放(fang)電(dian)事件。點擊該符(fu)號切換到(dao)全(quan)信號(hao)模(mo)式(shi)，這時(shi)出(chu)現(xian)三(san)角(jiao)形符(fu)號，表(biao)示儀(yi)器顯(xian)

示所(suo)有(you)探(tan)測到(dao)的信號(hao)，包括(kuo) EMI 背景(jing)噪音(yin)和(he) ESD 放(fang)電信號(hao)。

測試時，屏(ping)幕顯(xian)示(shi)的電(dian)壓(ya)值(zhi)為估算(suan)的放(fang)電(dian)電壓(ya)，數(shu)字(zi)為超(chao)過閾(yu)值(zhi)的放(fang)電(dian)次(ci)數。最高(gao)可(ke)以(yi)記(ji)錄 32767 次(ci)放電次(ci)數。點擊 Power/C 鍵可(ke)以(yi)清(qing)零放電次(ci)數，重新(xin)累(lei)計。

4.3. 按照 ANSI/ESD SP17.1 規(gui)範(fan)進(jin)行(xing)靜(jing)電(dian)放(fang)電(dian)事件風(feng)險(xian)評估流(liu)程

備註(zhu)：

 首(shou)先確定靜(jing)電(dian)敏(min)感(gan)器件(jian)是(shi)否(fou)有(you)導(dao)體(ti)部位(wei)接(jie)觸(chu)或(huo)非常接(jie)近導(dao)電(dian)的物(wu)體(ti)，例(li)如(ru)金(jin)屬-金(jin)屬接(jie)觸(chu)，如果(guo)沒有(you)，通常不會(hui)有(you)靜(jing)電(dian)放(fang)電(dian)風(feng)險(xian)，無需(xu)進(jin)壹(yi)步(bu)進(jin)行(xing)風(feng)險(xian)評估。

 空載測試：在制程中(zhong)不要(yao)放(fang)入靜(jing)電(dian)敏(min)感(gan)器件(jian)，記錄下測(ce)到(dao)的靜(jing)電(dian)放(fang)電(dian)現(xian)象

 放入靜(jing)電(dian)敏(min)感(gan)器件(jian)後，如果(guo)沒有(you)探(tan)測到(dao)更(geng)多的放(fang)電(dian)現(xian)象，表示(shi)探(tan)測到(dao)的是(shi)幹(gan)擾(rao)信號(hao)/背景(jing)噪音(yin)，而非放(fang)入靜(jing)電(dian)敏(min)感(gan)器件(jian)後造成(cheng)的靜(jing)電(dian)放(fang)電(dian)，評估結(jie)束(shu)-低風(feng)險(xian)

 如果(guo)探(tan)測到(dao)更(geng)多的放(fang)電(dian)現(xian)象，根據(ju)測到(dao)的放(fang)電(dian)電壓(ya)值(zhi)和(he)器件(jian)的靜(jing)電(dian)敏(min)感(gan)閥(fa)值(zhi)來評估風(feng)險(xian)，如果(guo)放(fang)電(dian)電(dian)壓(ya)值(zhi)超(chao)過器件(jian)所(suo)列明(ming)的閥(fa)值(zhi)，采取(qu)措(cuo)施(shi)消(xiao)除(chu)危(wei)險(xian)，例(li)如(ru)采(cai)取(qu)接(jie)地(di)、離子(zi)中(zhong)和(he)等(deng)方式(shi)采取(qu)消(xiao)除風(feng)險(xian)的措(cuo)施(shi)後，再次(ci)進(jin)行(xing)評估

1 是(shi)否(fou)和(he)靜(jing)電(dian)敏(min)感(gan)器件(jian)直(zhi)接(jie)

接(jie)觸(chu)或(huo)距離非常近

評估結(jie)束(shu)-低風(feng)險(xian)

2 進(jin)行(xing)空(kong)載(zai)測(ce)試

3 把靜(jing)電(dian)敏(min)感(gan)器件(jian)放入(ru)後測試，對比測試結(jie)果(guo)

4 是(shi)否(fou)測(ce)到(dao)更(geng)多的靜(jing)電(dian)放(fang)電(dian)事件？

5 評估結(jie)束(shu)-低風(feng)險(xian)

否(fou)

否(fou)

6 評估風(feng)險(xian)程度(du)

消除風(feng)險(xian)

按 2~5 步驟再次(ci)評估

儀(yi)器校準

測試靜(jing)電(dian)放(fang)電(dian)電壓(ya)，測(ce)試方法(fa)是(shi)獲(huo)取(qu)放(fang)電信號(hao)的強度(du)然(ran)後采用(yong)專有(you)算法(fa)計算出(chu)放(fang)電電壓(ya)值(zhi)。

原廠(chang)校準書僅顯示(shi)儀(yi)器能(neng)否(fou)正(zheng)確接(jie)收到(dao)放電信號(hao)，校準方法是(shi)采(cai)用脈沖(chong)電(dian)源(yuan)輸(shu)出(chu) 100mV、150mV、1.0V、1.5V 信號(hao)，然(ran)後驗證(zheng)儀(yi)器接(jie)收到(dao)的信號(hao)強度(du)（dBμV）是(shi)否(fou)準(zhun)確。

疑問壹(yi)：如何在第(di)三(san)方進(jin)行(xing)校準？

答：不能在第三方(fang)機(ji)構進(jin)行(xing)校準，因為(wei)原廠(chang)對(dui)儀(yi)器的天(tian)線數(shu)據(ju)（電容、阻(zu)抗(kang)）等(deng)均(jun)無公開。第三(san)方無法對(dui)儀(yi)器能(neng)否(fou)接(jie)收正(zheng)確放電信號(hao)進(jin)行(xing)驗證(zheng)。即使(shi)第(di)三(san)方(fang)可(ke)以(yi)驗證(zheng)儀(yi)器是(shi)否(fou)準(zhun)確獲(huo)取(qu)放(fang)電信號(hao)，後續(xu)也(ye)無法根(gen)據

信號(hao)強度(du)計算出(chu)放(fang)電電壓(ya)值(zhi)，該算法為(wei)原(yuan)廠(chang)專有(you)算法(fa)，無公開。

所(suo)以(yi)儀(yi)器必需(xu)返(fan)回(hui)原廠(chang)進(jin)行(xing)校準，亞洲用(yong)戶(hu)可(ke)以(yi)返(fan)回(hui) DESCO 日本(ben)公司進(jin)行(xing)校準。

疑問二：該儀(yi)器測(ce)試放電(dian)電壓(ya)，但為什(shen)麽(me)沒有(you)測試精(jing)度參數(shu)？

答：靜(jing)電(dian)放(fang)電(dian)電壓(ya)和(he)實際(ji)物(wu)體(ti)的電(dian)容有(you)關(guan)，儀(yi)器無法事(shi)先知道被測物(wu)體(ti)的電(dian)容，只能采取(qu)壹(yi)個經(jing)驗值(zhi)（根據實驗取(qu)壹(yi)個能兼顧大多數器件(jian)的經(jing)驗值(zhi)）來計算放(fang)電(dian)電壓(ya)。所(suo)以(yi)儀(yi)器的讀(du)數(shu)是(shi)接(jie)近實際(ji)放(fang)電(dian)電壓(ya)值(zhi)，而

沒有(you)壹個(ge)定(ding)量(liang)的測(ce)試精(jing)度。

疑問三(san)：如何直(zhi)觀(guan)地(di)驗證(zheng)儀(yi)器的測(ce)試準確度？

答：下圖顯示(shi)了(le)靜(jing)電(dian)模(mo)擬(ni)器的放(fang)電(dian)過程，儀(yi)器實測讀(du)數(shu)接(jie)近放(fang)電電壓(ya)。用(yong)戶(hu)可(ke)以(yi)用(yong)靜(jing)電(dian)放(fang)電(dian)槍做這類驗證(zheng)。