產品(pin)名(ming)稱:愛(ai)斯(si)佩克ESPEC絕(jue)緣(yuan)電阻劣(lie)化(hua)離(li)子遷移(yi)AMI-U
產品(pin)型號(hao):
更(geng)新(xin)時間:2025-06-09
產(chan)品(pin)簡(jian)介:
中(zhong)國電(dian)子(zi)行(xing)業儀器(qi)優(you)質供(gong)應商——堅融實(shi)業JETYOO INDUSTRIAL & 堅友儀器JETYOO INSTRUMENTS,Support、銷售Sale、服(fu)務(wu)Service,3S公司(si),專(zhuan)業為中國區(qu)用戶(hu)提(ti)供(gong)愛(ai)斯(si)佩克ESPEC絕(jue)緣(yuan)電阻劣(lie)化(hua)離(li)子遷移(yi)AMI-U
堅融實(shi)業——專註(zhu)工(gong)業測試行(xing)業十(shi)六(liu)年!
十(shi)六(liu)年致力於儀器設(she)備(bei)售(shou)前(qian)演(yan)示(shi)實(shi)測、測試方案應(ying)用、技術(shu)使用培(pei)訓及(ji)售(shou)後(hou)維(wei)修服(fu)務(wu)。
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愛(ai)斯(si)佩克ESPEC絕(jue)緣(yuan)電阻劣(lie)化(hua)離(li)子遷移(yi)評估(gu)系(xi)統(tong),愛(ai)斯(si)佩克ESPEC絕(jue)緣(yuan)電阻劣(lie)化(hua)離(li)子遷移(yi)AMI-U主要應用(yong)領(ling)域
電(dian)子產品(pin)因(yin)結露(lu)吸(xi)濕等(deng)因(yin)素造(zao)成(cheng)的絕緣(yuan)不良現象(xiang)日(ri)益(yi)突(tu)出(chu),本系統搭配以(yi)高溫高濕試驗箱(xiang)聯動,高精度(du)連(lian)續(xu)監(jian)測,高效(xiao)簡便(bian)評估(gu)因(yin)離(li)子遷移(yi)現象(xiang)引起(qi)的壽命(ming)及(ji)絕(jue)緣(yuan)電阻劣(lie)化(hua)等(deng)問(wen)題(ti)。
●助(zhu)焊劑(ji)、印刷電路板(ban)、光(guang)刻(ke)膠、釬(qian)料、樹(shu)脂、導(dao)電膠(jiao)等(deng)有關印刷(shua)電路板(ban)、高密度(du)封裝(zhuang)的材料
●BGA、 CSP 等(deng)精細節距 IC 封裝(zhuang)件(jian)
●有機(ji)半(ban)導(dao)體相(xiang)關(guan)(有機(ji) EL)
●電(dian)容、連(lian)接(jie)器(qi)等(deng)其他電(dian)子(zi)元器件(jian)及(ji)材(cai)料(liao)
●各種絕緣(yuan)材料的吸(xi)濕性(xing)特性(xing)評(ping)估
愛(ai)斯(si)佩克ESPEC絕(jue)緣(yuan)電阻劣(lie)化(hua)離(li)子遷移(yi)AMI-U主要特點
•高精準(zhun)測量(liang)
自主開發連(lian)續(xu)通(tong)電掃(sao)描(miao)繼(ji)電器方(fang)式(shi),配備(bei)國(guo)際標(biao)準(zhun)的測量(liang)儀(yi)表(biao),與環境試驗箱(xiang)聯動,操作(zuo)更(geng)簡便(bian)更(geng)安(an)全(quan)。
•應(ying)力電(dian)壓範(fan)圍廣(guang)泛(fan)
標(biao)配(pei) 100V 應(ying)力電(dian)壓(應(ying)力電(dian)壓/測量(liang)電(dian)壓),更(geng)有 1000V、 2500V 高電壓可選(xuan)。
•連(lian)續(xu)通(tong)電掃(sao)描(miao)方(fang)式(shi)
掃(sao)描(miao)動(dong)作技術(shu),切換(huan)掃(sao)描(miao)時不發生無(wu)電壓狀(zhuang)態,測量(liang)電(dian)壓與偏置(zhi)電(dian)壓均(jun)使用同壹電(dian)壓源(yuan)控(kong)制(zhi),可準(zhun)確(que)控(kong)制(zhi)電(dian)壓。
•漏(lou)電流(liu)檢(jian)測功能
高速準確捕捉(zhuo)離(li)子遷移(yi)現象(xiang)發(fa)生的細微(wei)變化,離(li)子遷移(yi)實時監(jian)測。
•專(zhuan)用統計軟(ruan)件(jian)
可實(shi)時編輯預(yu)覽(lan)監(jian)測實(shi)時獲得的數據(ju)。
•專(zhuan)用連(lian)接(jie)試樣(yang)夾(jia)具(ju)
選(xuan)配可使連(lian)接(jie)試樣(yang)及(ji)線纜(lan)更(geng)方便(bian),試驗效(xiao)率更(geng)高。
面(mian)對(dui)電子(zi)產(chan)品(pin)越來(lai)越小(xiao)型輕(qing)量(liang)及(ji)高密度(du)封裝(zhuang),因(yin)結露(lu)吸(xi)濕等(deng)因(yin)素造(zao)成(cheng)的絕緣(yuan)不良現象(xiang)暨(ji)離(li)子遷移(yi)現象(xiang)日(ri)益(yi)突(tu)出(chu),絕緣(yuan)電阻劣(lie)化(hua)(離(li)子遷移(yi))評估(gu)系(xi)統(tong)配之(zhi)以(yi)高溫
高濕試驗箱(xiang)聯動,可高精度(du)連(lian)續(xu)監(jian)測,高效(xiao)簡便(bian)評估(gu)因(yin)離(li)子遷移(yi)現象(xiang)引起(qi)的壽命(ming)及(ji)絕(jue)緣(yuan)電阻劣(lie)化(hua)相(xiang)關(guan)問(wen)題(ti)。 適用(yong)標(biao)準(zhun): JPCA-ET04、 IPC-TM-650_2.6.3F 、IPC-TM-650_2.6.3.1E、 IPC-TM-650_2.6.3.4A 、 IPC-TM-650_2.6.3.6。
系(xi)統配置(zhi):
最(zui)大可接(jie)入(ru)路(lu)數(shu):512 路(128 路(lu)、256 路、384 路(lu)、512 路可選(xuan)配)。
試驗時間:0000:00:00 ~ 9999:59:59h,可任(ren)意(yi)設(she)定。
測試電壓:5~1000VDC(可外(wai)接(jie)電(dian)源(yuan)至(zhi) 3000V,其他電(dian)壓可定制(zhi))
測試電壓精度(du): 5~20VDC(±3%);21~1000VDC(±1%)
絕(jue)緣(yuan)電阻測試範圍:1╳106 - 1╳1014 Ω
電(dian)阻測量(liang)精度(du):
測試電壓為 5V 時:1╳106 - 1╳1010 Ω ≤±5%;1╳1010 - 1╳1011 Ω ≤±10%
測試電壓為 50V 時:1╳1011 - 1╳1012 Ω ≤±15%
測試電壓為 500V 時:1╳1012 - 1╳1013 Ω ≤±20%