基(ji)礎(chu)信(xin)息(xi)Product information

產品(pin)名稱(cheng)：chroma19036繞線元件(jian)電氣安(an)規掃描(miao)分析(xi)儀

產品型號：

更新時間(jian)：2025-06-09

產(chan)品簡(jian)介(jie)：

中(zhong)國(guo)電子行(xing)業儀(yi)器優(you)質(zhi)供(gong)應(ying)商——上海(hai)堅(jian)融(rong)實(shi)業有限公(gong)司(si)JETYOO INDUSTRIAL & 堅(jian)友（上(shang)海(hai)）測量(liang)儀(yi)器(qi)有限公(gong)司(si)JETYOO INSTRUMENTS，專(zhuan)業為(wei)中(zhong)國(guo)區用(yong)戶提供(gong)chroma19036繞線元件(jian)電氣安(an)規掃描(miao)分析(xi)儀儀器設備、測試方(fang)案(an)、技術培(pei)訓(xun)和(he)維修服務(wu)

產(chan)品特(te)性(xing)Product characteristics

     中(zhong)國電子(zi)行業儀(yi)器優(you)質(zhi)供(gong)應(ying)商——上海(hai)堅(jian)融(rong)實(shi)業有限公(gong)司(si)JETYOO INDUSTRIAL & 堅(jian)友（上(shang)海(hai)）測量(liang)儀(yi)器(qi)有限公(gong)司(si)JETYOO INSTRUMENTS，我(wo)們(men)的技術和(he)銷(xiao)售(shou)人(ren)員均(jun)為(wei)本(ben)科以上(shang)學(xue)歷，且(qie)均(jun)有10年以上(shang)儀器(qi)行業工(gong)作(zuo)經(jing)驗(yan)，專業為(wei)中(zhong)國(guo)區用(yong)戶提供(gong)儀(yi)器(qi)設備、測試方(fang)案(an)、技術培(pei)訓(xun)和(he)維修服務(wu)，為(wei)上(shang)海(hai)華東地區壹(yi)家以(yi)技術為(wei)導(dao)向(xiang)的儀(yi)器(qi)代(dai)理(li)經銷(xiao)商。

chroma19036繞線元件(jian)電氣安(an)規掃描(miao)分析(xi)儀Model 19036 + A190359主要(yao)特(te)色：
五(wu)合壹(yi)安(an)規掃描(miao)分析(xi)儀 
(交流耐壓、直(zhi)流耐壓、絕(jue)緣電(dian)阻(zu)、層間(jian)短(duan)路、 直(zhi)流電(dian)阻(zu))
耐(nai)壓測試(Hi-pot) 
- 5kVac / 6kVdc 
- HSCC 高(gao)速接觸(chu)檢(jian)查(zha)
絕(jue)緣電(dian)阻(zu)測試(IR) 
- zui大(da) 5kV
繞線元件(jian)脈沖(chong)測試 (IWT) 
-脈沖(chong)測試高(gao)取樣率(lv)(200MHz)
直(zhi)流(liu)電(dian)阻(zu)測試 
- 10通道(dao)四線(xian)直流電阻(zu)測試 
-Δ型/Y型馬(ma)達(da)繞線電(dian)阻(zu)計(ji)算(suan)
支援(yuan)zui大(da)40通道(dao)掃描(miao)測試
繁中(zhong) / 簡中(zhong) / 英(ying)文操(cao)作(zuo)介(jie)面
USB波(bo)形(xing)儲(chu)存& 畫(hua)面擷(xie)取功能
圖形化(hua)彩(cai)色顯示(shi)
標準LAN, USB, RS232介(jie)面
GFI人(ren)體保護(hu)電(dian)路

chroma19036繞線元件(jian)電氣安(an)規掃描(miao)分析(xi)儀介紹
Chroma 19036為(wei)業界*結合脈沖(chong)測試，耐壓、絕(jue)緣電(dian)阻(zu)與(yu)直流電(dian)阻量(liang)測於單(dan)機的繞線元件(jian)電氣安(an)規掃描(miao)分析(xi)儀，擁有5kVac/6kVdc高(gao)壓輸(shu)出、5kV絕(jue)緣電(dian)阻(zu)、6kV層間(jian)短(duan)路脈沖(chong)電(dian)壓與(yu)四線式直(zhi)流電阻量(liang)測。符合繞線元件(jian)測試需求(qiu)且(qie)提(ti)供(gong)多(duo)通道(dao)掃描(miao)測試，單機10通道(dao)輸出(chu)可(ke)達(da)成(cheng)壹(yi)次(ci)多(duo)顆(ke)掃描(miao)測試，節省(sheng)測試時間(jian)及人(ren)力成(cheng)本(ben)。

繞線元件(jian)的測試項目(mu)包(bao)含AC/DC耐壓測試、IR絕(jue)緣電(dian)阻(zu)測試、繞線元件(jian)脈沖(chong)測試(IWT)及直(zhi)流(liu)電阻(zu)(DCR)。將以上各項(xiang)測試整(zheng)合於(yu)19036繞線元件(jian)電氣安(an)規掃描(miao)分析(xi)儀，可(ke)針(zhen)對馬(ma)達(da)、變(bian)壓器(qi)、電熱(re)絲(si)、電(dian)磁(ci)閥等相(xiang)關(guan)繞線產(chan)品(pin)進行安(an)規測試，讓繞線元件(jian)生(sheng)產(chan)廠(chang)商及使(shi)用(yong)者(zhe)在(zai)品(pin)質(zhi)驗(yan)證時，不(bu)但(dan)擁有可(ke)靠的測試品質(zhi)，能更有效率(lv)為(wei)產(chan)品(pin)品(pin)質(zhi)把關(guan)。

線(xian)圈(quan)自(zi)體絕(jue)緣不(bu)良(liang)通常(chang)是造成(cheng)線(xian)圈(quan)於使用(yong)環境中發生(sheng)層間(jian)短(duan)路、跨(kua)線短(duan)路、出(chu)腳短(duan)路之(zhi)根(gen)源(yuan)。其(qi)形成(cheng)原(yuan)因可(ke)能源(yuan)於初(chu)始設計(ji)不(bu)良(liang)、加(jia)工(gong)制程不(bu)良(liang)，或(huo)絕(jue)緣材(cai)料之劣(lie)化(hua)等所引起，故在(zai)電(dian)氣(qi)安(an)規測試制程(cheng)中加(jia)入線(xian)圈(quan)層間(jian)短(duan)路測試，即可(ke)多(duo)組(zu)繞組壹(yi)次(ci)掃描(miao)測試完(wan)成(cheng)，進(jin)壹(yi)步(bu)的提(ti)升(sheng)繞線元件(jian)品質(zhi)。

19036結合層間(jian)短(duan)路測試功能，具備6kV脈沖(chong)電(dian)壓，擁有波(bo)形(xing)面積比較(jiao)、波(bo)形(xing)差(cha)面積比較(jiao)、波(bo)形(xing)顫(chan)動偵(zhen)測(Flutter)及波(bo)形(xing)二(er)階微分偵(zhen)測(Laplacian)等判(pan)定(ding)，提供線圈(quan)自(zi)體絕(jue)緣不(bu)良(liang)以(yi)及電(dian)感量(liang)確(que)認(ren)之有效的檢(jian)測方(fang)法。

19036設(she)計(ji)四(si)線(xian)直(zhi)流電阻量(liang)測接口(kou)，包(bao)含Drive 與(yu) Sense並符合耐(nai)壓規(gui)格，可(ke)提(ti)供(gong)10通道(dao)的四(si)線(xian)直流(liu)電阻量(liang)測與溫(wen)度補(bu)償功能。另可(ke)同時搭配16通道(dao)掃描(miao)盒zui多(duo)可(ke)達(da)到40通道(dao)掃描(miao)測試 。

19036提供(gong)高(gao)速接觸(chu)檢(jian)查(zha)(HSCC)功能，利用(yong)直接繞線電(dian)阻(zu)檢查(zha)快(kuai)速(su)掃描(miao)確(que)認(ren)多個繞組連(lian)接是否(fou)正(zheng)常(chang)，解(jie)決(jue)繞線元件(jian)接觸(chu)不(bu)良(liang)而導致(zhi)測試失敗(bai)的問題(ti)。

馬(ma)達(da)測試標準如UL 1004-1，需求高(gao)功率(lv)的安(an)規綜(zong)合測試儀。Chroma 19036其(qi)具有輸出(chu)及量(liang)測AC100mA/DC 20mA的能力。對於漏電流較大(da)或(huo)大(da)型設(she)備電氣安(an)規測試的使(shi)用(yong)者(zhe)，高(gao)功率(lv)的耐(nai)壓測試與其(qi)他安(an)規測試整(zheng)合於(yu)壹(yi)臺(tai)綜(zong)合測試儀，將為(wei)產(chan)線(xian)及品(pin)保驗(yan)證帶來zui大(da)的效(xiao)益，500VA的設(she)計(ji)也(ye)符(fu)合IEC/UL對輸出(chu)功率(lv)的要(yao)求(qiu)。

量(liang)測技術
耐(nai)壓測試 ‑ FLASHOVER DETECTION 電氣(qi)閃絡(luo)偵(zhen)測 ARC 
19036 與Chroma 其(qi)他安(an)規測試系列(lie)儀器(qi)同樣具(ju)有 Flashover偵(zhen)測功能。Flashover是絕(jue)緣材(cai)料內(nei)部或(huo)表(biao)面因 高(gao)電界產生(sheng)電(dian)氣(qi)放電，待測物(wu)失(shi)去原(yuan)有之絕(jue)緣特(te)性(xing)，形(xing) 成(cheng)暫(zan)態或(huo)非連續(xu)性(xing)放電，導(dao)致(zhi)碳化(hua)導(dao)電(dian)通路產(chan)生(sheng)或(huo)產(chan)品 傷害(hai)。若只以漏電流判(pan)定(ding)則(ze)無(wu)法檢出不(bu)良(liang)，須以測試電 壓或(huo)漏電流之變(bian)化(hua)率(lv)判(pan)定(ding)檢出不(bu)良(liang)。因此Flashover偵(zhen)測 為(wei)高(gao)壓測試*的檢(jian)視(shi)項目(mu)之(zhi)壹(yi)。

脈沖(chong)測試 
所謂(wei)的『繞線元件(jian)脈沖(chong)測試』基(ji)本(ben)上(shang)是以(yi)壹(yi)『非破壞性(xing)』、高(gao)速、低(di)能量(liang)之(zhi)電(dian)壓脈沖(chong)施加(jia)在(zai)待測物(wu)上(shang)，再(zai)藉由分(fen)析／比對待測物(wu)良(liang)品(pin)與(yu)不(bu)良(liang)品(pin)之(zhi) 等效(xiao)波(bo)形(xing)以(yi)達到判(pan)定(ding)良否(fou)之目(mu)的。繞線元件(jian)脈沖(chong)測試主要(yao)功能乃(nai)在早期發現繞線元件(jian)中各種(zhong)潛(qian)在(zai)之缺陷(xian)，例如：層間(jian)短(duan)路、電(dian)暈(yun)電弧(hu)或(huo)甚(shen)至是不(bu) 易(yi)發覺(jiao)之(zhi)部(bu)分(fen)放電等。 四(si)種(zhong)判(pan)定(ding)模式 
1.波(bo)形(xing)面積比較(jiao) (AREA SIZE) 
2.波(bo)形(xing)差(cha)面積比較(jiao) (DIFFERENTIAL AREA) 
3.波(bo)形(xing)顫(chan)動偵(zhen)測 (FLUTTER DETECTION) 
4.波(bo)形(xing)二(er)階微分偵(zhen)測 (LAPLACIAN DETECTION), 以二(er)階微分演算(suan)，有效偵(zhen)測出因電(dian)氣放電造成(cheng)之(zhi)波(bo)形(xing)不(bu)連(lian)續(xu)現象(xiang)。

DCR 直(zhi)流電(dian)阻量(liang)測功能
DCR量(liang)測(兩線(xian)/四線(xian)) 
Chroma 19036可(ke)選擇(ze)四(si)線(xian)或(huo)兩(liang)線式直(zhi)流(liu)電(dian)阻量(liang)測，新型式(shi)設(she)計(ji)接口(kou)提(ti)供10通道(dao)四線(xian)直流電阻(zu)測量(liang)，對於馬(ma)達(da)及變(bian)壓器(qi)等多(duo)繞組樣(yang)品(pin)提供高(gao)準 確(que)度量(liang)測，其(qi)量(liang)測範圍(wei)從0.1mΩ ~500kΩ。

直(zhi)流(liu)電阻(zu)平(ping)衡判(pan)定(ding) (DCR Balance) 
三(san)組(zu)繞線馬(ma)達(da)的直(zhi)流(liu)電阻(zu)不(bu)平(ping)衡時，易(yi)導(dao)致(zhi)旋轉不(bu)平(ping)衡，長(chang)期使(shi)用(yong)後會造成(cheng)品(pin)質(zhi)不(bu)良(liang)。直(zhi)流(liu)電(dian)阻平(ping)衡功能將繞組的zui大(da)zui小(xiao)值相(xiang)減，若超過(guo)設(she)定 值範(fan)圍(wei)即為(wei)不(bu)良(liang)品(pin)，是馬(ma)達(da)類(lei)產(chan)品長(chang)期可(ke)靠度測試的輔助(zhu)工(gong)具(ju)。

溫(wen)度補(bu)償功能(Temp Compensation) 
當量(liang)測較小(xiao)的直(zhi)流(liu)電阻(zu)值時，常(chang)會(hui)遇(yu)到溫差所造成(cheng)的問題(ti)。當量(liang)測時的溫(wen)度不(bu)同時，量(liang)測的阻(zu)值也(ye)會(hui)不(bu)同。因此 19036 加(jia)入了溫度補(bu)償功能 (Temp Compensation)，經由溫(wen)度系數的轉(zhuan)換，將直流電阻(zu)換算(suan)為(wei)標準溫(wen)度下量(liang)測的值，減少溫度差異造成(cheng)的影(ying)響(xiang)。

接觸(chu)檢(jian)查(zha)功能 
高(gao)速接觸(chu)檢(jian)查(zha) High Speed Contact Check (HSCC) 電氣安(an)規測試回(hui)路若(ruo)發生(sheng)開(kai)路，不(bu)良(liang)品(pin)會(hui)誤(wu)判(pan)為(wei)良(liang)品(pin)導(dao)致(zhi)測試失敗(bai) ; 若發生(sheng)短(duan)路現象(xiang)，可(ke)提(ti)早得知並篩選，減少對治(zhi)具(ju)設(she)備的傷害(hai)，高(gao)速接觸(chu)檢(jian) 查(zha)功能可(ke)快(kuai)速(su)掃描(miao)待測物(wu)線(xian)路接觸(chu)是否(fou)正(zheng)常(chang)，此新技術可(ke)以(yi)讓(rang)耐壓測試前(qian)的接觸(chu)檢(jian)查(zha)比以往(wang)更(geng)快(kuai)速(su)完(wan)成(cheng)， 19036另(ling)具(ju)有高(gao)頻接觸(chu)檢(jian)查(zha)(HFCC) 及開(kai) 短(duan)路偵(zhen)測OSC(號254135)等多(duo)項(xiang)接觸(chu)檢(jian)查(zha)功能，可(ke)偵(zhen)測繞組與(yu)鐵(tie)芯(xin)間(jian)是否(fou)有開路(接觸(chu)不(bu)良(liang))或(huo)短(duan)路(待測物(wu)短(duan)路)情形(xing)。

次測項功能 SUB‑STEP 
部分生(sheng)產(chan)廠(chang)商常(chang)以(yi)並聯進(jin)行(xing)耐壓測試以提(ti)升(sheng)生(sheng)產(chan)檢(jian)測速度，但並聯測試時，無(wu)法正(zheng)確(que)設(she)定電 流(liu)上下限(xian)值，導(dao)致(zhi)不(bu)良(liang)品(pin)流(liu)出(chu); 以及不(bu)良(liang)品(pin)需(xu)至後(hou)測站另加(jia)進(jin)行測試，增加(jia)站數及成(cheng)本(ben)。 19036系(xi)列提供(gong)次測項功能(sub-step)。當生(sheng)產(chan)需(xu)要(yao)並聯測試時，經(jing)由(you)程(cheng)序(xu)的編輯，以不(bu)良(liang) (Fail)做(zuo)為(wei)次(ci)測項啟動條件(jian)。意指(zhi)當測試於主測項(並聯)不(bu)良(liang)時，才會(hui)進(jin)行次(ci)測項測試(單顆(ke))， 即可(ke)判(pan)斷(duan)出(chu)不(bu)良(liang)品(pin)為(wei)哪(na)壹(yi)顆(ke)待測物(wu)，可(ke)達(da)到高(gao)產速與高(gao)檢測品質(zhi)之(zhi)*化(hua)。

人(ren)體保護(hu)電(dian)路 GFI 
Chroma 19036擁有GFI人(ren)體保護(hu)功能來保護(hu)測試人(ren)員。在突發人(ren)體感電(dian)的情形(xing)下，GFI 能夠立 即切斷(duan)儀(yi)器之(zhi)電(dian)壓輸(shu)出，保護(hu)操(cao)作(zuo)員(yuan)不(bu)受(shou)電(dian)氣(qi)傷害(hai)。GFI 功能以偵(zhen)測從地端(duan)(Earth GND)流回(hui) 之電流(liu)(Ioperator)與(yu)LOW端電(dian)流(Idevice)，比(bi)較後(hou)若(ruo)大(da)於(yu)0.5mA，則(ze)會(hui)在立即切斷(duan)電(dian)壓輸(shu)出。

產品應(ying)用(yong)
旋轉電(dian)機元件(jian)：△ / Y馬(ma)達(da)、風(feng)扇(shan)、轉(zhuan)子(zi)/ 定(ding)子 從電(dian)動(dong)車主馬(ma)達(da)、伺(si)服器(qi)馬(ma)達(da)、揚(yang)升(sheng)馬(ma)達(da)與(yu)風扇(shan) 等所有旋轉(zhuan)電機類(lei)產(chan)品，其(qi)制程中(zhong)會(hui)進行脈沖(chong)測 試 、耐壓測試及直(zhi)流(liu)阻抗(kang)量(liang)測等測試來確(que)保產(chan) 品(pin)品質(zhi)。並參考(kao)JB/T 7080國(guo)標機械(xie)行業標準執(zhi) 行(xing)測試。19036之直(zhi)流電(dian)阻(zu)量(liang)測上可(ke)進(jin)行(xing)四線式(shi) 量(liang)測，單端(duan)點(dian)包(bao)含(han)Drive和(he)Sense共(gong)10組(zu)獨(du)立通道(dao) 讓您(nin)可(ke)以(yi)壹(yi)次(ci)掃描(miao)測試三(san)顆(ke)待測物(wu)，提(ti)高(gao)生(sheng)產(chan)產(chan) 能。每個通道(dao)可(ke)分(fen)別(bie)設(she)定(ding)為(wei)高(gao)壓輸(shu)出/參考端(duan)/關(guan) 閉(bi)。

Y型馬(ma)達(da)測試說明，測試項目(mu)為(wei): 
- HSCC / OSC 
- DCR Test 
- Impulse Test 
- Hi-pot –Sub step test

Y型馬(ma)達(da)測試說明，測試項目(mu)
△與(yu)Y型馬(ma)達(da)繞組 
針(zhen)對△型與(yu)Y型馬(ma)達(da)繞組(無(wu)中心抽(chou)頭(tou)式(shi))無(wu)法直 接進(jin)行(xing)直流(liu)電阻量(liang)測的問題(ti)， Chroma 19036 具(ju)有馬(ma)達(da)繞線電(dian)阻(zu)計(ji)算(suan)功能， 經計(ji)算(suan)後得 到R1,R2,R3的數值。

△與(yu)Y型馬(ma)達(da)繞組
40通道(dao)掃描(miao)測試 
A190359掃描(miao)器提(ti)供16個測試通道(dao)，每個(ge)通道(dao) 都可(ke)設(she)定(ding)為(wei)H(高(gao)壓輸(shu)出)，L(參考點(dian))或(huo)是Off(不(bu) 設(she)定(ding))。19036與(yu)A190359組(zu)合可(ke)應(ying)用(yong)於多PIN或(huo) 少量(liang)多(duo)樣(yang)型之(zhi)待測物(wu) 以(yi)及cell單(dan)元式(shi)產線，單(dan) 站完(wan)成(cheng)所有測試。    40通道(dao)掃描(miao)測試 

訂貨(huo)信息(xi)
Model    Description
19036    繞線元件(jian)電氣安(an)規掃描(miao)分析(xi)儀(儀)    
A190359    16通道(dao)高(gao)壓掃描(miao)治(zhi)具(ju)    
A190360    19036 19吋(cun)機框(kuang)耳架(jia)    
A190362    16通道(dao)四線(xian)式高(gao)壓掃描(miao)治(zhi)具(ju)    
A190363    雙(shuang)十(shi)字高(gao)壓香蕉頭(tou)+測試夾    
A190364    雙(shuang)十(shi)字高(gao)壓香蕉頭(tou)+截(jie)平(ping) (1.5m)    
A190365    雙(shuang)十(shi)字高(gao)壓香蕉頭(tou)+截(jie)平(ping) (3m)