基礎信息(xi)Product information

產品名稱(cheng)：繞(rao)線元(yuan)件(jian)脈(mai)沖(chong)測試(shi)器(qi)chroma19301A

產品型號：

更(geng)新(xin)時(shi)間：2025-06-09

產品簡(jian)介(jie)：

繞線元(yuan)件(jian)脈(mai)沖(chong)測試(shi)器(qi)chroma19301A主要(yao)特(te)色(se)：
高(gao)低(di)感(gan)量(liang)測試(shi)應用（0.1uH~100uH）
10V~1000V脈(mai)沖(chong)測試(shi)電(dian)壓,0.25V測量(liang)解(jie)析度(du)
高(gao)速(su)測量(liang) 120mS（Pulse 1.0,標(biao)準充(chong)電(dian)時間）
具備電(dian)感(gan)測量(liang)接(jie)觸檢(jian)查功能(neng)
具備電(dian)感(gan)差(cha)異(yi)電(dian)壓補(bu)償功能(neng)
脈(mai)沖(chong)測試(shi)高(gao)取樣(yang)率(lv)（200MHz）,10bits

產品特性(xing)Product characteristics

    中國電(dian)子(zi)行業儀器(qi)優質供應商(shang)——上海堅(jian)融實(shi)業有限(xian)公(gong)司JETYOO INDUSTRIAL & 堅友（上海）測量(liang)儀(yi)器有限(xian)公(gong)司JETYOO INSTRUMENTS，我們的(de)技術和(he)銷(xiao)售人(ren)員均(jun)為(wei)本(ben)科(ke)以上學歷(li)，且(qie)均(jun)有10年(nian)以(yi)上儀器(qi)行業工作(zuo)經(jing)驗(yan)，專業為(wei)中(zhong)國區(qu)用戶提供儀(yi)器設(she)備、測試(shi)方案、技術培(pei)訓和維(wei)修(xiu)服務，為(wei)上海華(hua)東(dong)地(di)區(qu)壹(yi)家以(yi)技術為(wei)導向的(de)儀器(qi)代(dai)理(li)經(jing)銷(xiao)商(shang)。

繞線元(yuan)件(jian)脈(mai)沖(chong)測試(shi)器(qi)chroma19301A主要(yao)特(te)色(se)：
高(gao)低(di)感(gan)量(liang)測試(shi)應用(0.1uH~100uH)
10V~1000V脈(mai)沖(chong)測試(shi)電(dian)壓,0.25V測量(liang)解(jie)析度(du)
高(gao)速(su)測量(liang) 120mS(Pulse 1.0,標(biao)準充(chong)電(dian)時間)
具備電(dian)感(gan)測量(liang)接(jie)觸檢(jian)查功能(neng)
具備電(dian)感(gan)差(cha)異(yi)電(dian)壓補(bu)償功能(neng)
脈(mai)沖(chong)測試(shi)高(gao)取樣(yang)率(lv)(200MHz),10bits
崩潰電(dian)壓分析功能(neng)
低(di)電(dian)壓量(liang)測檔(dang)位,提高(gao)波(bo)形(xing)分析靈(ling)敏度(du)(32V/64V/128V/256V/512V/1024V)
繁(fan)中(zhong)/ 簡(jian)中(zhong) / 英文操作(zuo)介(jie)面(mian)
USB波形(xing)儲(chu)存(cun)與(yu)畫面(mian)擷取(qu)功能(neng)
圖形(xing)化彩(cai)色顯示(shi)
標(biao)準LAN,USB,RS232介(jie)面(mian)

繞線元(yuan)件(jian)脈(mai)沖(chong)測試(shi)器(qi)chroma19301A產品應用
高(gao)速(su)自動化測試(shi)應用 
低(di)感(gan)量(liang)電(dian)感(gan)應用於(yu)智(zhi)慧型手機或平(ping)板電(dian)腦等(deng)3C產品，產品外觀尺(chi)寸趨(qu)向輕薄短小設(she)計，電(dian)感(gan)於(yu)生(sheng)產上也(ye)采用(yong)全自(zi)動化 測包機進行生產，其自動(dong)化機臺產速相(xiang)當(dang)高(gao)，因此產品生產應用需(xu)搭(da)配(pei)高(gao)速測量(liang)設(she)備才(cai)能(neng)滿足(zu)生產條(tiao)件。為(wei)了(le)滿足(zu)高 速(su)自動(dong)化測試(shi)應用，Chroma 19301具有超(chao)高(gao)速測量(liang)功能(neng)及(ji)雙(shuang)同(tong)軸線四線測量(liang)方式(shi)降(jiang)低配線長(chang)度(du)之(zhi)影響(xiang)，可直接(jie)搭(da)配層(ceng) 測自(zi)動(dong)化機上應用，為(wei)客戶自動(dong)化生(sheng)產帶來(lai)更(geng)大(da)效(xiao)益。

SMD POWER CHOKE 測試(shi)治(zhi)具 
低(di)感(gan)量(liang)Power Choke產品體積(ji)小(xiao)，為(wei)了(le)使層(ceng)間短路測試(shi)操作(zuo)上能(neng)更(geng)加便(bian)利，Chroma 開發(fa)之(zhi)SMD Power Choke四端 測試(shi)治(zhi)具() ，可(ke)搭(da)配(pei)19301之(zhi)電(dian)感(gan)差(cha)異(yi)自動(dong)電(dian)壓補(bu)償功能(neng)特(te)點(dian)應用，為(wei)產品開發(fa)或(huo)品保人(ren)員帶(dai)來更(geng)為(wei)方便(bian)進行測試(shi) 提高(gao)測試(shi)效(xiao)率。

結(jie)合(he)了 高(gao)低感(gan)量(liang)測技術應用，擁有1000Vdc脈(mai)沖(chong)電(dian)壓與(yu) 200MHz高速取(qu)樣(yang)率(lv)，可(ke)提供0.1uH~100uH 大(da)範圍 感(gan)量(liang)產品測試(shi)滿足(zu)絕(jue)大(da)部(bu)份功率(lv)電(dian)感(gan)測試(shi)需(xu)求(qiu)， 擁有波(bo)形(xing)面(mian)積比較、波形(xing)面(mian)積差(cha)比較、波形(xing)顫動(dong) 偵測(FLUTTER)及(ji)波(bo)形(xing)二階微分偵測(LAPLACIAN) 等(deng)判(pan)定方法，可(ke)有效(xiao)檢(jian)測線圈自體(ti)絕(jue)緣(yuan)不良(liang)。

繞線元(yuan)件(jian)於(yu)生(sheng)產檢測包含電(dian)氣特(te)性(xing)、電(dian)氣安(an)規(gui) 耐壓進行測試(shi)，而線圈之(zhi)自體(ti)絕(jue)緣(yuan)不良(liang)通常是 造(zao)成(cheng)線圈於使用(yong)環境中發(fa)生(sheng)層(ceng)間短路、出(chu)腳短路 之(zhi)根源(yuan)。其形(xing)成(cheng)原(yuan)因可能(neng)源(yuan)於(yu)初始(shi)設(she)計不(bu)良、 molding加工制(zhi)程(cheng)不良(liang)，或(huo)絕(jue)緣(yuan)材(cai)料之(zhi)劣化等(deng)所(suo) 引(yin)起，故(gu)加入(ru)線圈層(ceng)間短路測試(shi)有其必(bi)要(yao)性(xing)。

Chroma 19301為(wei)針(zhen)對(dui)繞線元(yuan)件(jian)測試(shi)需(xu)求(qiu)所(suo)設(she)計(ji)， 利(li)用壹(yi)高壓(ya)充電(dian)之(zhi)微小電(dian)容(rong)(測試(shi)能(neng)量(liang)低(di))與(yu)待(dai)測 線圈形(xing)成(cheng)RLC並(bing)聯諧振(zhen)，由振(zhen)蕩之(zhi)衰(shuai)減(jian)波(bo)形(xing)，透 過(guo)高速(su)且(qie)精(jing)密(mi)的(de)取(qu)樣(yang)處理分析技術，可(ke)檢(jian)驗(yan)出線 圈自體(ti)之(zhi)絕(jue)緣(yuan)不良(liang)，提供功率(lv)電(dian)感(gan)元(yuan)件(jian)進行繞線 品質及(ji)磁芯之(zhi)耐壓(ya)測試(shi)，讓(rang)元件(jian)生產廠(chang)商(shang)及使用(yong) 者能(neng)更(geng)有效(xiao)的(de)為(wei)產品品質把(ba)關(guan)。

Chroma 19301應用於(yu)低(di)感(gan)量(liang)繞(rao)線元(yuan)件(jian)測試(shi)，zui小(xiao) 感(gan)量(liang)可(ke)達0.1uH，針(zhen)對(dui)低感(gan)量(liang)測試(shi)特(te)性(xing)提供四線 式(shi)測量(liang)、接(jie)觸檢(jian)查功能(neng)、電(dian)感(gan)檢(jian)查與(yu)電(dian)壓補(bu)償功 能(neng)，可(ke)避(bi)免因待(dai)測物感(gan)量(liang)變(bian)化大(da)或(huo)配線等(deng)效(xiao)電(dian)感(gan) 而造(zao)成(cheng)測試(shi)電(dian)壓誤(wu)差(cha)大(da)，為(wei)低(di)感(gan)量(liang)繞(rao)線元(yuan)件(jian)脈(mai)沖(chong) 測試(shi)*利(li)器。

Chroma 19301於(yu)自動化生(sheng)產上應用，擁有超(chao)高(gao)速 測量(liang)速(su)度(du)有效(xiao)縮(suo)短測試(shi)時(shi)間提升生產效率(lv)，且(qie)電(dian) 壓補(bu)償功能(neng)改善了(le)自動(dong)化機臺配(pei)線等(deng)效(xiao)電(dian)感(gan)之(zhi)影 響(xiang)。

全新(xin)的人機操作(zuo)介(jie)面(mian)，整合(he)圖形(xing)化彩(cai)色顯示(shi)並(bing)提 供畫(hua)面(mian)擷取(qu)功能(neng)，透過(guo)前面(mian)板USB儲(chu)存(cun)波(bo)形(xing)，不(bu) 僅適用(yong)於(yu)生產現(xian)場(chang)，更(geng)可(ke)應用於(yu)研(yan)發(fa)、品保單(dan)位 使用(yong)進行樣(yang)品分析比對(dui)，大(da)幅提升操作(zuo)便(bian)利性(xing)。

量測技術
脈(mai)沖(chong)測試(shi)概論與(yu)原理
所(suo)謂(wei)的(de)『繞(rao)線元(yuan)件(jian)脈(mai)沖(chong)測試(shi)』基本上是以(yi)壹(yi)『非破壞性(xing)』、高速(su)、低能(neng)量(liang)之(zhi)電(dian)壓脈(mai)沖(chong)施(shi)加在待(dai)測物上，以壹(yi)脈沖(chong)電(dian)壓加於並(bing)聯線圈的振(zhen)蕩電(dian)容(rong)(Cs)上，使 並(bing)聯電(dian)容(rong)與(yu)線圈產生LCR振(zhen)蕩，觀察振(zhen)蕩衰(shuai)減(jian)情(qing)況來(lai)了(le)解線圈內部狀態，包含線圈自體(ti)之(zhi)絕(jue)緣(yuan)、線圈感(gan)量(liang)及(ji)並(bing)聯電(dian)容(rong)量(Cw)等(deng)狀態(如圖1: 測試(shi)等(deng)效(xiao)電(dian)路圖 ) ，再藉由分析／比對(dui)待(dai)測物良品與(yu)不良品之(zhi)等(deng)效(xiao)波形(xing)以(yi)達到(dao)判(pan)定良否之(zhi)目(mu)的(de)。繞線元(yuan)件(jian)脈(mai)沖(chong)測試(shi)主要(yao)功能(neng)乃在早期(qi)發(fa)現(xian)繞線元(yuan)件(jian)中(zhong)各(ge)種(zhong)潛(qian)在之(zhi)缺陷，例(li) 如：繞線層(ceng)間短路、電(dian)極焊(han)接不(bu)良、內部線圈或磁芯絕(jue)緣(yuan)不良(liang)等(deng)。

Chroma Model 19301繞(rao)線元(yuan)件(jian)脈(mai)沖(chong)測試(shi)器(qi)-測試(shi)等(deng)效(xiao)電(dian)路圖

波形(xing)判(pan)定模式(shi) 
波(bo)形(xing)面(mian)積比較 (AREA SIZE) 
將(jiang)樣(yang)本(ben)和(he)待(dai)測物彼(bi)此之(zhi)面(mian)積大(da)小(xiao)進行比對(dui)，面(mian) 積大(da)小(xiao)與(yu)待(dai)測物線圈絕(jue)緣(yuan)有關(guan)，線圈絕(jue)緣(yuan)不良(liang) 造(zao)成(cheng)波(bo)形(xing)快(kuai)速(su)衰(shuai)減(jian)。

波(bo)形(xing)面(mian)積差(cha)比較 (DIFFERENTIAL AREA) 
對(dui)任(ren)意之(zhi)區(qu)域求出樣(yang)本(ben)和(he)待(dai)測物差異(yi)部分 之(zhi)面(mian)積與(yu)判定條(tiao)件進(jin)行比對(dui)，與(yu)待(dai)測物感(gan)量(liang)變(bian) 化有關(guan)聯，感(gan)量(liang)差(cha)異(yi)造(zao)成(cheng)後(hou)段線圈自體(ti)震蕩(dang)頻 率改變(bian)使波(bo)形(xing)面(mian)積差(cha)異(yi)。

波形(xing)顫動(dong)偵測 (FLUTTER DETECTION) 
以(yi)微分演算(suan)求出(chu)波(bo)形(xing)上產生之(zhi)總(zong)放(fang)電(dian)量在與(yu)樣(yang)本(ben)之(zhi)波形(xing)總(zong)放(fang)電(dian)量做(zuo)比對(dui)。 
放(fang)電(dian)量二次(ci)微分偵測 (LAPLACIAN VALUE) 
以(yi)二階微分演算(suan)後，與(yu)樣(yang)本(ben)之(zhi)讀(du)值(zhi)做(zuo)比對(dui)，可 有效(xiao)檢(jian)測出(chu)因電(dian)氣放(fang)電(dian)或電(dian)極焊(han)接不(bu)良引(yin)起波(bo) 形(xing)快(kuai)速(su)變(bian)化現(xian)象(xiang)。

Chroma Model 19301繞(rao)線元(yuan)件(jian)脈(mai)沖(chong)測試(shi)器(qi)-波形(xing)判(pan)定模式(shi)

低(di)感(gan)量(liang)脈(mai)沖(chong)測試(shi)技術
Chroma 19301 為(wei)針(zhen)對(dui)低感(gan)量(liang)繞(rao)線元(yuan)件(jian)待(dai)測物而開發(fa)，zui小(xiao)感(gan)量(liang)可(ke)從(cong)0.1uH~100uH產品進行層(ceng)間短路測試(shi)，低(di)感(gan)量(liang)待(dai)測物有別(bie)於(yu)壹(yi)般感(gan)量(liang)產品測試(shi)應用， 因待(dai)測物感(gan)量(liang)較(jiao)低相(xiang)對(dui)於容(rong)易受到(dao)測試(shi)回(hui)路(lu)上配線等(deng)效(xiao)電(dian)感(gan)之(zhi)影響(xiang)，使得測試(shi)電(dian)壓產生分壓於(yu)配(pei)線上使待(dai)測物端電(dian)壓會遠低於(yu)量(liang)測時(shi)的(de)設定電(dian)壓，另外如 低感(gan)量(liang)Power choke其工作(zuo)電(dian)壓應用於(yu)較(jiao)低電(dian)壓，因此其脈沖(chong)測試(shi)電(dian)壓通常會低於壹(yi)般感(gan)量(liang)產品。

低電(dian)壓檔(dang)位 
低感(gan)量(liang)產品如智慧型手機中的(de)Power choke，其工作(zuo)電(dian)壓較(jiao)低且(qie)體(ti)積(ji)較(jiao)小，可(ke)測試(shi)電(dian)壓相(xiang)對(dui)較低(di)，因此用(yong)於(yu)量測低(di)感(gan)量(liang)之(zhi)脈沖(chong)測試(shi)設(she)備需(xu)具備較低(di)電(dian)壓檔(dang) 位來進(jin)行波形(xing)分析，Chroma 19301具有六(liu)個(ge)電(dian)壓檔(dang)位分別為(wei)32V,64V,128V,256V,512V及(ji)1024V與(yu)zui低0.25V電(dian)壓辨識(shi)度(du)，zui小(xiao)測試(shi)電(dian)壓可(ke)從(cong)10V開始(shi)進行測 試(shi)，可(ke)有效(xiao)提高(gao)波(bo)形(xing)判(pan)定辨識(shi)能(neng)力(li)。

Chroma Model 19301繞(rao)線元(yuan)件(jian)脈(mai)沖(chong)測試(shi)器(qi)-低感(gan)量(liang)脈(mai)沖(chong)測試(shi)技術

四端測量(liang) 
壹(yi)般兩線式(shi)層(ceng)間短路測試(shi)設(she)備因電(dian)壓偵測在電(dian)流回(hui)圈內部，在 低感(gan)量(liang)待(dai)測物，測得電(dian)壓與(yu)實(shi)際待(dai)測物上有很(hen)大(da)差(cha)距，Chroma 19301采用雙同(tong)軸線四線偵測方式(shi)，大(da)幅提高(gao)電(dian)壓精(jing)度(du)，達到(dao)正(zheng)確 測試(shi)效(xiao)果。

崩潰電(dian)壓分析 Breakdown Voltage ( B.D.V) 
Chroma 19301 具有崩潰電(dian)壓測試(shi)功能(neng)，設(she)定起始電(dian)壓與(yu)結束電(dian)壓 及(ji)電(dian)壓爬(pa)升率，利(li)用(yong)電(dian)壓爬(pa)升過程(cheng)偵測波(bo)形(xing)面(mian)積比(Area)與(yu)二階微 分偵測(Laplacian)判(pan)定是否(fou)超(chao)過設定值(zhi)，測試(shi)出(chu)線圈可承(cheng)受電(dian)壓強(qiang) 度(du)，藉(ji)由(you)這(zhe)些功能(neng)，研(yan)究(jiu)人員可(ke)以對(dui)產品進行分析與(yu)研(yan)究(jiu)，針(zhen)對(dui) 線圈較弱(ruo)的地(di)方做(zuo)改善。

接(jie)觸檢(jian)查功能(neng) ( ) 
Chroma 19301 於(yu)測試(shi)前(qian)會進行接觸檢(jian)查，避(bi)免因為(wei)接(jie)觸不(bu)良或開 路(lu)使得內部以zui大(da)電(dian)壓輸出造(zao)成(cheng)治(zhi)具端(duan)探針(zhen)接線因高壓(ya)而跳火(huo)， 導致待(dai)測物受到(dao)損(sun)壞。並(bing)可延(yan)長(chang)探針(zhen)使用(yong)壽命(ming)。

Chroma Model 19301繞(rao)線元(yuan)件(jian)脈(mai)沖(chong)測試(shi)器(qi)

電(dian)壓補(bu)償功能(neng) ( ) 
壹(yi)般如變(bian)壓(ya)器(qi)等(deng)感(gan)量(liang)較(jiao)大(da)的(de)線圈進行測試(shi)時(shi) ，配線等(deng)效(xiao)感(gan)量(liang)相(xiang)對(dui)較小(xiao)， 但(dan)在低感(gan)量(liang)測試(shi)時(shi)(如0.2uH)， 配線等(deng)效(xiao)感(gan)量(liang)大(da)小(xiao)會影響待(dai)測物上之(zhi)實(shi)際電(dian)壓，尤(you) 其在自動(dong)化測試(shi)應用時(shi)， 降(jiang)低配線影(ying)響(xiang)是壹(yi)重(zhong)要(yao)設(she)計(ji)考(kao)量。過高(gao)的(de)配線阻(zu)抗(kang)會使低(di)感(gan)量(liang)測試(shi)時(shi)電(dian)壓分壓在測線上， 導致待(dai)測物上的電(dian)壓低(di)於設(she)定值(zhi)而無 法(fa)有效(xiao)檢(jian)出不(bu)良品。且(qie)電(dian)感(gan)產品感(gan)量(liang)規(gui)格(ge)zui高可達正負(fu)30%，因此於(yu)低(di)感(gan)量(liang)測試(shi)應用時(shi)，會因待(dai)測物感(gan)量(liang)變(bian)化而造(zao)成(cheng)實(shi)際端點(dian)上電(dian)壓差(cha)異(yi)更(geng)加明顯(xian)，導致 波(bo)形(xing)面(mian)積判(pan)定失效或測試(shi)電(dian)壓未(wei)達要(yao)求(qiu)之(zhi)電(dian)壓。Chroma 19301 具備電(dian)感(gan)差(cha)異(yi)電(dian)壓補(bu)償功能(neng)，改善上述問題(ti)及降(jiang)低因感(gan)量(liang)差(cha)異(yi)造(zao)成(cheng)於(yu)端(duan)點(dian)上實(shi)際電(dian)壓的(de)差 異(yi)，進而降低(di)誤(wu)判(pan)的可(ke)能(neng)性(xing)。

Chroma Model 19301繞線元(yuan)件(jian)脈(mai)沖(chong)測試(shi)器(qi)-電(dian)壓補(bu)償功能(neng)()

高(gao)低(di)感(gan)量(liang)產品測試(shi) 
Chroma 19301 除(chu)了低感(gan)量(liang)產品測試(shi)技術外(wai)，也(ye)同(tong)時涵(han)蓋到(dao)較(jiao)高(gao)感(gan)量(liang)產品測試(shi)應用，可(ke)從(cong)0.1uH ~ 100uH 。於測試(shi)初始(shi)進(jin)行樣(yang)品取樣(yang)時(shi)，透過(guo)內部電(dian)感(gan)量(liang)偵 測功能(neng)得知待(dai)測物感(gan)量(liang)大(da)小(xiao)，自動切換到(dao)合(he)適檔(dang)位進行測試(shi)(切(qie)換點(dian)可(ke)設定)，使待(dai)測物在適當(dang)波(bo)形(xing)下進(jin)行比對(dui)測量(liang)，對(dui)使用(yong)者操作(zuo)來說是相(xiang)當(dang)便(bian)利的(de)壹(yi)項 功能(neng)。單(dan)壹(yi)臺層(ceng)間短路測試(shi)器(qi)即結(jie)合(he)了高(gao)低感(gan)量(liang)產品測試(shi)應用，客戶於生(sheng)產線上進行產品更(geng)換時(shi)可(ke)省(sheng)略設備更(geng)換時(shi)間，不僅縮(suo)短了產品換線工時(shi)同(tong)時也(ye)降 低(di)工廠(chang)設備負(fu)擔(dan)，有助(zhu)於(yu)工廠(chang)端生(sheng)產管理(li)也(ye)替客戶節(jie)省(sheng)設(she)備資(zi)本(ben)支出之(zhi)成(cheng)本(ben)。

訂貨信息(xi)
Model    Description
19301A    繞(rao)線元(yuan)件(jian)脈(mai)沖(chong)測試(shi)器(qi)    
A193001    SMD Choke 測試(shi)治(zhi)具    
A193002    1m測試(shi)線+測試(shi)夾(jia)    
A193003    1m測試(shi)線+截平(ping)頭(tou)    
A193004    1m測試(shi)線 BNC to BNC(含BNC公頭(tou)*2)