基(ji)礎(chu)信息(xi)Product information

產(chan)品(pin)名稱(cheng)：Kleinwachter EFM235吹風機(ji)離(li)子(zi)遷(qian)移測(ce)試(shi)

產(chan)品(pin)型(xing)號(hao)：EFM-255

更(geng)新(xin)時間(jian)：2025-06-09

產(chan)品(pin)簡(jian)介(jie)：

Kleinwachter EFM235吹風機(ji)離(li)子(zi)遷(qian)移測(ce)試(shi)Fieldmeter
EFM-235量(liang)程：靜(jing)電(dian)場強(qiang)2kV/m, 10kV/m, 40kV/m, 200KV/m，靜(jing)電(dian)壓-Z大(da)量(liang)程60kV（300mm測(ce)試(shi)距離(li)）
EFM-255量(liang)程：靜(jing)電(dian)場強(qiang)200V/m, 1kV/m, 4kV/m, 20KV/m，靜(jing)電(dian)壓-Z大(da)量(liang)程6kV（300mm測(ce)試(shi)距離(li)）

產(chan)品(pin)特(te)性Product characteristics

  我們(men)公(gong)司(si)十年(nian)潛心研(yan)究(jiu)Kleinwachter EFM235吹風機(ji)離(li)子(zi)遷(qian)移測(ce)試(shi)E-Fieldmeter，靜(jing)電(dian)消散，靜(jing)電(dian)衰(shuai)減，離(li)子(zi)平(ping)衡(heng)測(ce)試(shi)，熟(shu)悉(xi)各(ge)標(biao)準規(gui)範(fan)，並結(jie)合(he)大(da)量(liang)的(de)用(yong)戶(hu)實際(ji)使(shi)用(yong)經驗，解(jie)決用戶(hu)壹(yi)切測(ce)試(shi)疑(yi)難，提(ti)供(gong)儀(yi)器(qi)設(she)備，測(ce)試(shi)方案，技(ji)術培訓，和(he)售後(hou)計量(liang)校準(zhun)維修服(fu)務(wu)。

   適(shi)用於(yu)：吹風機(ji)，離(li)子(zi)風(feng)扇(shan)，生物(wu)材料(liao)、載玻(bo)片(pian)、絕緣(yuan)材料(liao)、薄(bo)膜、電(dian)化(hua)學材料(liao)、納(na)米(mi)材料(liao)、聚(ju)合(he)物(wu)、半導(dao)體(ti)、電(dian)子(zi)元(yuan)器件(jian)、集成電(dian)路、塗(tu)層(ceng)塗(tu)料(liao)、藥(yao)粉(fen)，藥(yao)液(ye)，藥(yao)品(pin)、無(wu)紡布(bu)紡(fang)織布(bu)紙(zhi)、食(shi)品醫藥(yao)用(yong)樹脂(zhi)、防靜(jing)電(dian)消散包裝(zhuang)材料(liao)等(deng)靜(jing)電(dian)測(ce)試(shi)。

  符(fu)合(he)以(yi)下(xia)各(ge)標(biao)準規(gui)範(fan)：

根(gen)據(ju) IEC 61340-4-5 和 EOS/ESD S.3.1 規(gui)範(fan)要(yao)求(qiu)對(dui)人(ren)體(ti)行(xing)走(zou)所(suo)產(chan)生的(de)靜(jing)電(dian)位(wei)測(ce)試(shi)，用(yong)於(yu)檢(jian)測(ce)防靜(jing)電(dian)鞋(xie)/防靜(jing)電(dian)地板(ban)系統(tong)靜(jing)電(dian)釋放(fang)能(neng)力。

符(fu)合(he) IEC 61340-5-1 規(gui)範(fan)測(ce)量(liang)靜(jing)電(dian)消除(chu)器(qi)散電(dian)時間(jian)和離(li)子(zi)平(ping)衡(heng)度，還符(fu)合(he) IEC 61340-2-1 規(gui)範(fan)(方式二)和(he) SAE J1645 規(gui)範(fan)用(yong)於(yu)測(ce)量(liang)材料(liao)靜(jing)電(dian)衰(shuai)減期(qi)。

符(fu)合(he) IEC 61340-2-1 規(gui)範(fan)測(ce)試(shi)靜(jing)電(dian)消散臺墊，手腕帶(dai)，指(zhi)套(tao)、手套(tao)，鑷(nie)子(zi)、毛(mao)刷，包(bao)裝(zhuang)材料(liao)，座(zuo)椅(yi)，工衣(yi)工帽(mao)等物品的(de)靜(jing)電(dian)衰(shuai)減時間(jian)

ANSI/ESD S20.20：靜(jing)電(dian)放(fang)電(dian)控制大(da)綱(gang)-2007年(nian)英(ying)文(wen)版(ban)

IEC 61340-5-1：靜(jing)電(dian)放(fang)電(dian)控制大(da)綱(gang)-2007年(nian)英(ying)文(wen)版(ban)

IEC 61340-2-1：靜(jing)電(dian)衰(shuai)減測(ce)試(shi)規(gui)範(fan)-方法(fa)1：EFM-022-CPS測(ce)試(shi)儀(yi)；方法(fa)2：CPM374測(ce)試(shi)儀(yi)

IEC61000-4-2：模擬(ni)靜(jing)電(dian)放(fang)電(dian)測(ce)試(shi)

ANSI/ESD STM3.1：靜(jing)電(dian)消除(chu)器(qi)規(gui)範(fan)

ANSI/ESD SP3.3：定(ding)期(qi)檢(jian)測(ce)靜(jing)電(dian)消除(chu)器(qi)規(gui)範(fan)

ESD TR53-01-06：防靜(jing)電(dian)設備和用(yong)品(pin)符(fu)合(he)性檢(jian)測(ce)規(gui)範(fan)

EIA-541：防靜(jing)電(dian)包裝(zhuang)材料(liao)規(gui)範(fan)

DIN IEC 1149-3：靜(jing)電(dian)防服(fu)靜(jing)電(dian)衰(shuai)減測(ce)試(shi)規(gui)範(fan)

GB/T 12703.1：紡(fang)織品(pin)靜(jing)電(dian)壓半衰(shuai)期(qi)測(ce)試(shi)規(gui)範(fan)

GB/T 12703.2：紡(fang)織品(pin)靜(jing)電(dian)荷面(mian)密(mi)度測(ce)試(shi)規(gui)範(fan)

GB/T 12703.3：紡(fang)織品(pin)靜(jing)電(dian)荷量(liang)測(ce)試(shi)規(gui)範(fan)

GB/T 12703.5：紡(fang)織品(pin)摩(mo)擦起電(dian)測(ce)試(shi)規(gui)範(fan)

GB 19082：醫用壹次(ci)性防服(fu)技(ji)術要(yao)求(qiu)

IST 40.2（01）：無(wu)紡布(bu)靜(jing)電(dian)衰(shuai)減期(qi)測(ce)試(shi)規(gui)範(fan)-ESD測(ce)試(shi)儀(yi)

GB 3095：環境空(kong)氣(qi)質(zhi)量(liang)標(biao)準

Kleinwachter EFM235吹風機(ji)離(li)子(zi)遷(qian)移測(ce)試(shi)E-Fieldmeter，EFM-235 靜(jing)電(dian)場測(ce)試(shi)儀(yi)
Electrostatic Field Meter EFM-235
☆靜(jing)電(dian)場強(qiang)測(ce)試(shi) ☆靜(jing)電(dian)位(wei)測(ce)試(shi) ☆人(ren)體(ti)行走靜(jing)電(dian)測(ce)試(shi)
品(pin)牌(pai): 科納(na)沃茨(ci)特(te)（Kleinwächter）
產(chan)地: 德國

1. 儀(yi)器(qi)描述(shu)
EFM-235 采用(yong)旋(xuan)轉葉(ye)片式探(tan)頭(tou)測(ce)量(liang)靜(jing)電(dian)場場強(qiang)，然後(hou)根據(ju)所(suo)設置的(de)測(ce)試(shi)距離(li)自動把場強(qiang)換(huan)算(suan)為(wei)被(bei)測(ce)物(wu)體(ti)表(biao)面(mian)靜(jing)電(dian)位(wei)。旋(xuan)轉葉(ye)片式設(she)計(ji)比(bi)振動式靈(ling)敏度高(gao)，適(shi)合(he)連(lian)續(xu)性長時間(jian)測(ce)量(liang)。圓柱(zhu)形監(jian)測(ce)器(qi)外(wai)殼為不(bu)銹鋼，可(ke)
有效(xiao)屏(ping)蔽幹(gan)擾信號(hao)。測(ce)試(shi)儀(yi)直(zhi)接內(nei)置可充電(dian)池供(gong)電(dian)，配套(tao)三腳架(jia)可以固(gu)定(ding)在合(he)適(shi)的(de)位(wei)置連續(xu)地監(jian)測(ce)場強(qiang)或電(dian)位(wei)。選(xuan)配(pei) MK-1 轉換(huan)探(tan)頭(tou)、HE-120 握(wo)柄(bing)及(ji) ML-120 連(lian)接線可(ke)以(yi)測(ce)試(shi)人(ren)體(ti)行走靜(jing)電(dian)位(wei)。
儀(yi)器(qi)尺(chi)寸(cun) 170mm x 77mm x 73.5mm（不含手柄(bing)）
儀(yi)器(qi)重(zhong)量(liang) 550 克
場強(qiang)量(liang)程 2kV/m，10kV/m，40kV/m，200kV/m
電(dian)位(wei)量(liang)程 根(gen)據距離(li)自動生成，大(da)量(liang)程 60kV（設(she)置距離(li) 300mm）
測(ce)試(shi)精(jing)度 +/-2%
內(nei)置電(dian)池 4 節 NiMH 可(ke)充(chong)電(dian)池，續(xu)航(hang)時間(jian) 4 小時
電(dian)源適(shi)配器(qi) 230VAC~9VDC/300mA
數(shu)據串(chuan)口 Mini USB2.0
接地線長度 彈性繞線，伸(shen)展(zhan)長度 2m，4mm 香(xiang)蕉插(cha)頭(tou)
EFM-115 可(ke)用於(yu)測(ce)量(liang)探(tan)頭(tou)位(wei)置的(de)靜(jing)電(dian)場場強(qiang)，也可(ke)以設置距離(li)來測(ce)試(shi)物(wu)體(ti)表面(mian)靜(jing)電(dian)位(wei)。選(xuan)購轉(zhuan)換(huan)探(tan)頭(tou)、金屬握(wo)柄(bing)和(he)測(ce)試(shi)接線符(fu)合(he) IEC 61340-4-5 和(he) EOS/ESD S.3.1 規(gui)範(fan)要(yao)求(qiu)測(ce)試(shi)人(ren)體(ti)行走靜(jing)電(dian)位(wei)，用(yong)於(yu)評估(gu)防靜(jing)電(dian)
鞋(xie)/地板(ban)的(de)綜(zong)合(he)靜(jing)電(dian)消散能(neng)力。訂購編(bian)號及(ji)配(pei)置如(ru)下(xia)：
訂購編(bian)號：EFM-235（含以下(xia)物品）
1 儀(yi)器(qi)及手柄(bing)： 1 個(ge)
2 量(liang)程倍(bei)增(zeng)環： 1 個(ge)
3 PTFE 測(ce)試(shi)線： 1 條
4 USB 數(shu)據線： 1 條
5 三腳支(zhi)撐(cheng)架(jia)： 1 個(ge)
6 接地線： 1 條
7 軟件光(guang)盤： 1 份
8 鋁(lv)合(he)金手提(ti)箱(xiang)： 1 個(ge)

選(xuan)購件(jian)編(bian)號：
1 MK-1 轉(zhuan)換(huan)探(tan)頭(tou)： 1 個(ge)
2 HMK-40 轉(zhuan)換(huan)探(tan)頭(tou)： 1 個(ge)
3 HE-120 金屬握(wo)柄(bing)： 1 個(ge)
4 ML-120 測(ce)試(shi)線： 1 條

2. 儀(yi)器(qi)結(jie)構
儀器(qi)手柄(bing)可(ke)拆(chai)卸(xie)，采用配(pei)套(tao)的(de)三腳架(jia)可用於固(gu)定(ding)測(ce)量(liang)。
更換(huan)手柄(bing)時不(bu)需(xu)要(yao)拆(chai)卸(xie)螺(luo)絲，只(zhi)需(xu)要(yao)轉(zhuan)動黑(hei)色(se)的(de)轉(zhuan)輪即(ji)可(ke)，向(xiang)左松(song)開，向(xiang)右擰緊。
註意(yi)：采用配套(tao)接地線把儀(yi)器(qi)接地，以(yi)保證(zheng)測(ce)量(liang)準確(que)度
儀器(qi)面(mian)板(ban)及(ji)操作(zuo)按(an)鍵(jian)
充電(dian)指(zhi)示(shi)燈(deng)：儀(yi)器(qi)充電(dian)時，綠(lv)燈(deng)表(biao)示(shi)電(dian)量(liang)已滿(man)，充電(dian)時間(jian) 12-14 小時（避(bi)免(mian)過沖(chong)）
ON 鍵(jian)：按(an) 1 次(ci)開(kai)機，在儀(yi)器(qi)設(she)置時，該(gai)鍵(jian)用作(zuo)選擇鍵(jian)
ENTER 鍵(jian)：確認(ren)鍵(jian)
USB 串口：連接儀(yi)器(qi)和(he)電(dian)腦
旋(xuan)轉葉(ye)片
探(tan)測(ce)頭(tou)
操作(zuo)及顯示
面(mian)板(ban)
手柄(bing)
轉(zhuan)輪
接地線
插(cha)孔(kong)
電(dian)源適(shi)配
器(qi)插(cha)孔
充電(dian)指(zhi)
示(shi)燈(deng)
ON 鍵(jian)
USB
串口 ENTER

3. 單機(ji)操作(zuo)
EFM-235 可以(yi)不(bu)連(lian)接電(dian)腦，單(dan)機使(shi)用(yong)。
註：在單(dan)機(ji)測(ce)量(liang)靜(jing)電(dian)位(wei)時，不(bu)能(neng)任意(yi)選擇探(tan)測(ce)距離(li)，只(zhi)能(neng)選擇 10mm（V-Meter MK1 模式）和(he) 200mm（HV-Met.MK40 模式）
按(an)鍵(jian)功能(neng)：
ON 鍵(jian)：用於(yu)移動光(guang)標(biao)來選(xuan)擇項(xiang)目(mu)，黑(hei)體(ti)字表(biao)示(shi)光(guang)標(biao)位(wei)於(yu)該(gai)項(xiang)
ENTER 鍵(jian)：用於(yu)確認(ren)
按(an) 1 次(ci)“ON 鍵(jian)"開機(ji)，屏(ping)幕(mu)顯示菜(cai)單(dan)界(jie)面(mian)：
E-Feld AUTO
START
○ ○
ON / ←→ ENTER
壹(yi)行(xing)背(bei)景(jing)色(se)為(wei)黑(hei)色(se)，表(biao)示當(dang)前測(ce)試(shi)模式。有(you)以(yi)下(xia)測(ce)試(shi)模式可(ke)選(xuan)：
E-Feld AUTO：場強(qiang)模式，測(ce)試(shi)探(tan)頭(tou)所(suo)在位(wei)置的(de)靜(jing)電(dian)場強(qiang)，單位(wei) kV/m
V-Meter MK1：采(cai)用(yong) MK-1 轉換(huan)頭(tou)，或距離(li) 10mm 測(ce)試(shi)表(biao)面(mian)靜(jing)電(dian)位(wei)，單(dan)位(wei) V/kV
HV-Met. MK40：采(cai)用(yong) HMK-40 轉換(huan)頭(tou)，或距離(li) 200mm 測(ce)試(shi)表(biao)面(mian)靜(jing)電(dian)位(wei)，單(dan)位(wei) V/kV
註：每次(ci)開(kai)機默認(ren)采用(yong)上(shang)壹(yi)次(ci)關(guan)機(ji)時的(de)測(ce)試(shi)模式。
第(di)二行(xing)：
START：黑(hei)體(ti)字，表(biao)示(shi)按(an)當(dang)前模式開(kai)始(shi)測(ce)試(shi)
MODE：空(kong)心(xin)字，選(xuan)擇其(qi)他(ta)測(ce)試(shi)模式及(ji)量(liang)程設(she)置
第(di)三行：
ZERO：空(kong)心字，零(ling)位(wei)校正
OFF：空心字，關(guan)機(ji)
每按(an) 1 次(ci)“ON 鍵(jian)"可以(yi)選擇各(ge)項(xiang)，選(xuan)中(zhong)的(de)項(xiang)目(mu)變為(wei)黑(hei)體(ti)字，然後(hou)再按(an)“ENTER"鍵(jian)即可(ke)執行該(gai)項(xiang)命(ming)令。
關(guan)機(ji)：按(an)“ON 鍵(jian)"移動到 OFF，然後(hou)按(an)“ENTER 鍵(jian)"關(guan)機(ji)。

3.1. 測(ce)試(shi)靜(jing)電(dian)場強(qiang)
開機(ji)後(hou)，菜(cai)單(dan)界(jie)面(mian)壹(yi)行(xing)顯示 E-Feld AUTO，表示當(dang)前測(ce)試(shi)模式為(wei)場強(qiang)模式，量(liang)程為(wei)自動量(liang)程。第(di)二行(xing) START 為黑(hei)體(ti)字，這(zhe)時直(zhi)接按(an)“ENTER 鍵(jian)"開始(shi)測(ce)試(shi)。
進(jin)入(ru)測(ce)試(shi)界(jie)面(mian)，示(shi)例(li)如(ru)下(xia)：
（AUTO） 2kV/m
V= -0.03 kV/m
BACK
○ ○
ON / ←→ ENTER
壹行：表(biao)示(shi)當(dang)前量(liang)程，共(gong)有(you) 4 擋量(liang)程：2kV/m、10kV/m、40kV/m、200kV/m，AUTO 表(biao)示自動量(liang)程，根(gen)據測(ce)試(shi)值(zhi)儀(yi)器自動切換(huan)量(liang)程
第(di)二行(xing)：當(dang)前讀(du)數(shu)
第(di)三行：BACK 表(biao)示停(ting)止(zhi)測(ce)試(shi)並返回菜(cai)單(dan)界(jie)面(mian)，按(an)“ENTER 鍵(jian)"返回(hui)菜(cai)單(dan)界(jie)面(mian)
如(ru)果(guo)要(yao)采(cai)用(yong)手動量(liang)程，在菜(cai)單(dan)界(jie)面(mian)按(an)“ON 鍵(jian)"，當(dang) MODE 為黑(hei)體(ti)字時，按(an)“ENTER 鍵(jian)"進入(ru)設置界(jie)面(mian)：
E-Feld
○ ○
ON / ←→ ENTER
壹(yi)行(xing)：E-Feld 為(wei)黑(hei)體(ti)字，表(biao)示(shi)采用(yong)場強(qiang)測(ce)試(shi)模式，按(an)“ENTER 鍵(jian)"確認(ren)該(gai)模式，第(di)二行(xing)的(de) AUTO變(bian)為(wei)黑(hei)體(ti)字
第(di)二行(xing)：AUTO 表示(shi)采用(yong)自動量(liang)程，按(an)“ON 鍵(jian)"可以(yi)切換(huan)為(wei) MANUAL 手動量(liang)程，然後(hou)按(an)“ENTER鍵(jian)"確認(ren)，第(di)三行的(de) BACK 變(bian)為(wei)黑(hei)體(ti)
第(di)三行：按(an)“ENTER 鍵(jian)"返回(hui)菜(cai)單(dan)界(jie)面(mian)
按(an)以上(shang)設(she)置為 MANUAL 手動量(liang)程後(hou)，在菜(cai)單(dan)界(jie)面(mian)按(an)“ENTER 鍵(jian)"開始(shi)測(ce)試(shi)，示(shi)例(li)如(ru)下(xia)：
（MANUAL） 200kV/m
V= 1 kV/m
BACK
○ ○
ON / ←→ ENTER
壹行：（MANUAL）200kV/m，采(cai)用(yong)手動量(liang)程，默認(ren)采用(yong)大(da)的(de) 200kV/m 量(liang)程
第(di)二行(xing)：當(dang)前讀(du)數(shu)
第(di)三行：可(ke)以切換(huan)到其(qi)他(ta)量(liang)程。按(an)“ON 鍵(jian)"後(hou)，200kV/m 變為(wei)黑(hei)體(ti)字，然後(hou)每按(an) 1 次(ci)“ON 鍵(jian)"選擇其(qi)他(ta)量(liang)程，選(xuan)定(ding)後(hou)按(an)“ENTER 鍵(jian)"確認(ren)。
在 BACK 為(wei)黑(hei)體(ti)字時，按(an)“ENTER 鍵(jian)"停(ting)止(zhi)測(ce)試(shi)並返回菜(cai)單(dan)界(jie)面(mian)。

3.2. 測(ce)試(shi)表(biao)面(mian)靜(jing)電(dian)位(wei)
測(ce)試(shi)表(biao)面(mian)靜(jing)電(dian)位(wei)示(shi)意(yi)圖
測(ce)試(shi)表(biao)面(mian)靜(jing)電(dian)位(wei)方式：
儀(yi)器(qi)選擇 E-Feld 場強(qiang)模式，手動換(huan)算(suan)表(biao)面(mian)靜(jing)電(dian)位(wei)。表(biao)面(mian)靜(jing)電(dian)位(wei)=場強(qiang) x 探(tan)測(ce)距離(li)，采用(yong)該(gai)方式可(ke)以(yi)距離(li)被測(ce)物(wu)體(ti)任(ren)意(yi)距離(li)
儀器(qi)選(xuan)擇 V-Meter MK1 或 HV-Met. MK40 模式，儀(yi)器(qi)自動換(huan)算(suan)出靜(jing)電(dian)位(wei)
n V-Meter MK1：選(xuan)擇該(gai)模式，探(tan)測(ce)距離(li)必需(xu)為(wei) 10mm，大(da)量(liang)程 2kV
n HV-Met. MK40：選(xuan)擇該(gai)模式，探(tan)測(ce)距離(li)必需(xu)為(wei) 200mm，大(da)量(liang)程 40kV
靜(jing)電(dian)源
+
+
+
+
探(tan)測(ce)距離(li)
接地EFM 235 操作(zuo)手冊/APS-18 6
以 V-Meter MK1 模式為(wei)例(li)測(ce)試(shi)表(biao)面(mian)靜(jing)電(dian)位(wei)，按(an)“ON 鍵(jian)"開機(ji)，在菜(cai)單(dan)界(jie)面(mian)壹(yi)行(xing)如(ru)果(guo)不(bu)是(shi) V-Meter MK1
模式，按(an)“ON 鍵(jian)"到 MODE，按(an)“ENTER 鍵(jian)"進入(ru)設置界(jie)面(mian)：
E-Feld
○ ○
ON / ←→ ENTER
壹(yi)行(xing)：按(an)“ON 鍵(jian)"切換(huan)為(wei) V-Meter MK1 模式，然後(hou)按(an)“ENTER 鍵(jian)"確認(ren)
第(di)二行(xing)：AUTO 表示(shi)采用(yong)自動量(liang)程，按(an)“ENTER 鍵(jian)"確認(ren)
第(di)三行：按(an)“ENTER 鍵(jian)"返回(hui)菜(cai)單(dan)界(jie)面(mian)
在菜(cai)單(dan)界(jie)面(mian)，按(an)“ENTER 鍵(jian)"進入(ru)測(ce)試(shi)界(jie)面(mian)：
（AUTO） 20V
V= 0.8 V
BACK
○ ○
ON / ←→ ENTER
壹(yi)行(xing)：表(biao)示當(dang)前量(liang)程，共(gong)有(you) 4 擋量(liang)程：20V、100V、400V、2kV，根(gen)據測(ce)試(shi)值(zhi)儀(yi)器自動切換(huan)量(liang)程
第(di)二行(xing)：當(dang)前讀(du)數(shu)
第(di)三行：BACK 表(biao)示停(ting)止(zhi)測(ce)試(shi)並返回菜(cai)單(dan)界(jie)面(mian)，按(an)“ENTER 鍵(jian)"返回(hui)菜(cai)單(dan)界(jie)面(mian)
註 1：當(dang)讀數(shu)小於等(deng)於(yu) 999V 時，單(dan)位(wei)為(wei) V（伏(fu)）；當(dang)讀數(shu)大(da)於(yu) 999V 時，單(dan)位(wei)自動切換(huan)為(wei) kV（千伏(fu)）
註 2：如(ru)果(guo)要(yao)采(cai)用(yong)手動量(liang)程，進(jin)入 MODE 設(she)置界(jie)面(mian)選(xuan)擇 MANUAL 手動量(liang)程

3.3. 測(ce)試(shi)人(ren)體(ti)行走靜(jing)電(dian)位(wei)
測(ce)試(shi)人(ren)體(ti)靜(jing)電(dian)位(wei)示(shi)意(yi)圖
測(ce)試(shi)安(an)裝：
1） 測(ce)試(shi)人(ren)體(ti)行走靜(jing)電(dian)位(wei)時，可(ke)采用三腳支(zhi)撐(cheng)架(jia)以便(bian)固(gu)定(ding)儀器(qi)
2） 把 MK-1 轉(zhuan)換(huan)探(tan)頭(tou)裝(zhuang)到儀器前端，擰緊固(gu)定(ding)螺(luo)桿
3） 把 ML-120 測(ce)試(shi)線壹(yi)端插(cha)入 MK-1 轉換(huan)頭(tou)中(zhong)間紅(hong)色(se)的(de)插(cha)孔(kong)，另(ling)壹端插(cha)入 HE-120 手柄(bing)
4） 可(ke)以(yi)通(tong)過儀(yi)器(qi)接地，也可(ke)以通(tong)過 MK-1 轉(zhuan)換(huan)頭(tou)的(de)黑(hei)色(se)插(cha)孔接地
5） 儀(yi)器(qi)開機(ji)並選擇 V-Meter MK1 模式
6） 測(ce)試(shi)人(ren)員(yuan)手持 HE-120 握柄(bing)並勻(yun)速(su)行(xing)走(zou)
註 1：MK-1 轉換(huan)探(tan)頭(tou)輸入阻(zu)抗(kang)大(da)於(yu) 1016Ω，輸入電(dian)容(rong)小於 5pF
註 2：不能(neng)由(you)同壹(yi)人員壹(yi)手握持儀(yi)器，另(ling)壹只(zhi)手握持手柄(bing)

3.4. 接觸(chu)式測(ce)試(shi)靜(jing)電(dian)源或直(zhi)流高(gao)壓
接觸(chu)式測(ce)試(shi)示(shi)意(yi)圖
測(ce)試(shi)安(an)裝：
1）可(ke)采(cai)用(yong)三腳支(zhi)撐(cheng)架(jia)以便(bian)固(gu)定(ding)儀器(qi)
2）把 HMK-40 轉(zhuan)換(huan)探(tan)頭(tou)裝(zhuang)到儀器前端，擰緊固(gu)定(ding)螺(luo)絲
3）可以(yi)通(tong)過儀(yi)器(qi)接地，也可(ke)以通(tong)過 HMK-40 轉(zhuan)換(huan)頭(tou)支(zhi)桿上(shang)的(de)插(cha)孔(kong)接地
4）儀(yi)器(qi)開機(ji)並選擇 HV-Met. MK40 模式
5）用(yong)探(tan)針觸(chu)碰(peng)被測(ce)試(shi)物(wu)，測(ce)試(shi)時保持(chi)穩(wen)定(ding)
註 1：MK-1 轉換(huan)探(tan)頭(tou)輸入阻(zu)抗(kang)大(da)於(yu) 1016Ω，輸入電(dian)容(rong)小於 5pF
註 2：測(ce)試(shi)高(gao)電(dian)壓時，按(an)高(gao)壓測(ce)試(shi)規(gui)範(fan)做(zuo)好安(an)全保護措(cuo)施
ML-120
測(ce)試(shi)線
HE-120
金屬握(wo)柄(bing)
MK-1
轉(zhuan)換(huan)探(tan)頭(tou)
接地
三腳
支(zhi)撐(cheng)架(jia)
HMK-40
轉換(huan)探(tan)頭(tou)
接地
三腳
支(zhi)撐(cheng)架(jia)
探(tan)針

4. 聯(lian)機(ji)操作(zuo)
EFM-235 儀器(qi)可(ke)以(yi)通(tong)過 USB 數(shu)據線連(lian)接電(dian)腦，所(suo)有設(she)置及操作(zuo)（開/關(guan)機(ji)除(chu)外(wai)）都(dou)可以(yi)在軟件界(jie)面(mian)操作(zuo)。
註：通(tong)過軟件界(jie)面(mian)操作(zuo)儀器(qi)時，在軟件界(jie)面(mian)會(hui)有壹(yi)個(ge)額(e)外(wai)的(de)測(ce)試(shi)模式（Voltmeter distance），該(gai)模式用(yong)於(yu)測(ce)試(shi)表(biao)面(mian)靜(jing)電(dian)位(wei)，可(ke)以(yi)設置 5~300mm 的(de)探(tan)測(ce)距離(li)。當(dang)軟件界(jie)面(mian)選(xuan)擇該(gai)模式時，軟件界(jie)面(mian)和(he)儀(yi)器(qi)界(jie)面(mian)
的(de)讀(du)數(shu)不同，以(yi)軟件界(jie)面(mian)的(de)讀(du)數(shu)為準(zhun)。

4.1. 安(an)裝程(cheng)序
打開(kai)隨(sui)機(ji)光(guang)盤，雙擊 EFMXX5_setup.exe 安(an)裝程(cheng)序，按(an)下(xia)面(mian)步(bu)驟完(wan)成安(an)裝：
勾(gou)選(xuan)“Creat a desktop shortcut"生成桌(zhuo)面(mian)圖(tu)標(biao)，然後(hou)點擊(ji)“Next"到下(xia)壹步(bu)
點擊(ji)“Install"安(an)裝
儀(yi)器(qi)驅(qu)動程序位(wei)於(yu) C:\drivers 目(mu)錄(lu)，點(dian)擊(ji)“Next"到下(xia)壹步(bu)
點擊(ji)“Finish"完(wan)成
用配套(tao)的(de) USB 數(shu)據線連(lian)接 EFM-235 儀(yi)器(qi)和(he)電(dian)腦，儀(yi)器開機。在“設(she)備管(guan)理器(qi)"裏(li)面(mian)查看“libusb-win32
devices">“EFM0016"，無(wu)警告(gao)符(fu)號表示(shi)驅(qu)動已經自動安(an)裝，可(ke)以(yi)正常使(shi)用(yong)。
如(ru)果(guo)在這(zhe)壹(yi)步(bu)已經安(an)裝成功，跳過下(xia)面(mian)的(de)步(bu)驟，直(zhi)接到第(di) 4.3 章節“軟件操作(zuo)"
驅動安(an)裝正確

4.2. 安(an)裝驅(qu)動程序
如(ru)果(guo)驅(qu)動程序安(an)裝不(bu)正確（警告(gao)符(fu)號），鼠(shu)標(biao)右鍵(jian)點擊(ji)“EFM0016">“更新(xin)驅(qu)動程序"
選(xuan)擇“瀏覽(lan)我的(de)計(ji)算(suan)機(ji)以(yi)查找驅動程序軟件(R)"
選(xuan)擇 C:\drivers 目(mu)錄(lu)，然後(hou)點擊(ji)“下(xia)壹步(bu)"
安(an)裝完(wan)成後(hou)，返回(hui)“設備管(guan)理器(qi)"，“EFM0016"無(wu)警告(gao)符(fu)號表示(shi)驅(qu)動正常
如(ru)果(guo)“EFM0016"仍(reng)然顯示警告(gao)符(fu)號，或在壹(yi)次(ci)安(an)裝時就(jiu)出現以下(xia)警告(gao)，按(an)下(xia)面(mian)步(bu)驟操作(zuo)：
退出所(suo)有程(cheng)序，重(zhong)啟(qi)電(dian)腦，在開(kai)機(ji)引導界(jie)面(mian)進(jin)入(ru) BIOS 設(she)置。光(guang)標(biao)移到“Security">“Secure Boot"
進入“Secure Boot"後(hou)，把“Secure Boot"的(de)值(zhi)設(she)置為 Disabled，保存(cun)並退出即可。
按(an)以上(shang)設(she)置後(hou)，電(dian)腦重(zhong)啟，在“設(she)備管(guan)理器(qi)"內(nei)可(ke)以(yi)看(kan)到“EFM0016"顯示正常狀態。
選(xuan)擇該(gai)項(xiang)
設(she)置為Disabled

4.3. 軟件操作(zuo)
雙擊桌(zhuo)面(mian)的(de) FMXX5_ReadOut 圖(tu)標(biao)，運行(xing)該(gai)程(cheng)序。
點(dian)擊(ji)“Device info"顯示儀器信息(xi)，點(dian)擊
Serial number：儀(yi)器的(de)機(ji)身(shen)號(hao)
Software version：儀(yi)器(qi)固(gu)件版(ban)本(ben)號(hao)
Device type：儀(yi)器型號
Batterie status：電(dian)量(liang)狀況(kuang)
主菜(cai)單(dan)界(jie)面(mian)“Continue"繼(ji)續(xu)
點擊(ji)“Continue"後(hou)所(suo)有按(an)鍵(jian)激活：
Start measurement display：數(shu)字顯示界(jie)面(mian)
Start measurement chart：數(shu)字+曲(qu)線顯示界(jie)面(mian)
Start zero adjustment：零(ling)位(wei)調(tiao)節

4.4. 數(shu)字測(ce)試(shi)界(jie)面(mian)-Start measurement display
Measure mode：選(xuan)擇測(ce)試(shi)模式
E-Fieldmeter：測(ce)試(shi)探(tan)頭(tou)位(wei)置的(de)靜(jing)電(dian)場強(qiang)
Voltmeter MK 1：距離(li)被測(ce)物(wu) 10mm 測(ce)試(shi)表(biao)面(mian)靜(jing)電(dian)位(wei)或采用(yong) MK-1 探(tan)頭(tou)測(ce)試(shi)人(ren)體(ti)行走電(dian)壓
Voltmeter HMK 40：距離(li)被測(ce)物(wu) 200mm 測(ce)試(shi)表(biao)面(mian)靜(jing)電(dian)位(wei)或采用(yong) HMK-40 探(tan)頭(tou)接觸(chu)式測(ce)試(shi)高(gao)電(dian)壓
Voltmeter distance (5...300mm)：選(xuan)擇 5~300mm 探(tan)測(ce)距離(li)測(ce)試(shi)物(wu)體(ti)表面(mian)靜(jing)電(dian)位(wei)（采(cai)用(yong)該(gai)模式時，儀(yi)器和軟件界(jie)面(mian)讀(du)數(shu)不壹(yi)樣，壹軟件界(jie)面(mian)為(wei)準(zhun)）
Range：每種(zhong)測(ce)試(shi)模式下(xia)的(de)量(liang)程，Autorange 表(biao)示采(cai)用自動量(liang)程
操作(zuo)鍵(jian)：
Start：開始(shi)測(ce)試(shi)
Break：停(ting)止(zhi)測(ce)試(shi)
Reset：峰值(zhi)讀(du)數(shu)清零(ling)
Save Data：保存(cun)數(shu)據
Back：返(fan)回菜(cai)單(dan)界(jie)面(mian)
讀(du)數(shu)顯示：
上(shang)部(bu)數(shu)據：實時讀(du)數(shu)
neg.maximum：負峰值(zhi)
pos.maximum：正峰值(zhi)
E-Fieldmeter 模式
Voltmeter MK 1 模式
Voltmeter HMK 40 模式
Voltmeter distance (5...300mm) 模式
測(ce)試(shi)結(jie)束(shu)後(hou)，點擊(ji)“Save Data"保存(cun)該(gai)次(ci)測(ce)試(shi)的(de)數(shu)據，出現下(xia)面(mian)彈窗，可輸入該(gai)次(ci)測(ce)試(shi)的(de)標(biao)簽(qian)，然後(hou)點擊(ji)“OK"後(hou)可以(yi)保存(cun)位(wei) CSV、TXT 等(deng)格(ge)式的(de)文(wen)件(jian)：

4.5. 數(shu)字+曲(qu)線測(ce)試(shi)界(jie)面(mian)-Start measurement chart
Measured value：實時讀(du)數(shu)
neg. maximum：負峰值(zhi)
pos. Maximum：正峰值(zhi)
操作(zuo)鍵(jian)：
Start：開始(shi)測(ce)試(shi)
Break：停(ting)止(zhi)測(ce)試(shi)
Reset：峰值(zhi)讀(du)數(shu)清零(ling)
Back：返回菜(cai)單(dan)界(jie)面(mian)
Measure mode：選(xuan)擇測(ce)試(shi)模式
E-Fieldmeter：測(ce)試(shi)探(tan)頭(tou)位(wei)置的(de)靜(jing)電(dian)場強(qiang)
Voltmeter MK 1：距離(li)被測(ce)物(wu) 10mm 測(ce)試(shi)表(biao)面(mian)靜(jing)電(dian)位(wei)或采用(yong) MK-1 探(tan)頭(tou)測(ce)試(shi)人(ren)體(ti)行走電(dian)壓
Voltmeter HMK 40：距離(li)被測(ce)物(wu) 200mm 測(ce)試(shi)表(biao)面(mian)靜(jing)電(dian)位(wei)或采用(yong) HMK-40 探(tan)頭(tou)接觸(chu)式測(ce)試(shi)高(gao)電(dian)壓
Voltmeter distance (5...300mm)：選(xuan)擇 5~300mm 探(tan)測(ce)距離(li)測(ce)試(shi)物(wu)體(ti)表面(mian)靜(jing)電(dian)位(wei)（采(cai)用(yong)該(gai)模式時，儀(yi)器和軟件界(jie)面(mian)讀(du)數(shu)不壹(yi)樣，壹軟件界(jie)面(mian)為(wei)準(zhun)）
Measuring distance：探(tan)測(ce)距離(li)
只(zhi)有(you) Voltmeter distance (5...300mm)模式可(ke)以(yi)選擇探(tan)測(ce)距離(li)，其(qi)他(ta)模式不(bu)能(neng)選擇探(tan)測(ce)距離(li)，其(qi)他(ta)模式在停(ting)止(zhi)測(ce)試(shi)後(hou)，忽略(lve)“Measuring distance=5mm"
Range：各(ge)模式下(xia)的(de)量(liang)程，在數(shu)字+曲(qu)線測(ce)試(shi)界(jie)面(mian)無(wu)自動量(liang)程。當(dang)測(ce)試(shi)值(zhi)超(chao)出量(liang)程後(hou)，停(ting)止(zhi)測(ce)試(shi)，需(xu)要(yao)切換(huan)到更大(da)擋(dang)位(wei)，然後(hou)點擊(ji)“Start"開始(shi)測(ce)試(shi)。
Set sample time 200...6000mSek：取樣(yang)率，可(ke)以(yi)選擇 200~6000 毫(hao)秒(miao)的(de)取樣(yang)率
曲(qu)線：顯示動態曲(qu)線圖(tu)。曲(qu)線圖(tu)橫軸為時間(jian)（單位(wei)毫(hao)秒(miao) ms），縱(zong)軸為(wei)讀數(shu)（單位(wei)根(gen)據(ju)測(ce)試(shi)模式和(he)量(liang)程顯示為 kV/m、V、kV）
E-Fieldmeter 模式
Voltmeter MK 1 模式
Voltmeter HMK 40 模式
Voltmeter distance (5...300mm) 模式
頂(ding)部(bu)工具欄：移動、放(fang)大(da)圖(tu)形(xing)，打印(yin)、保存(cun)數(shu)據等(deng)功能(neng)
點擊該(gai)圖(tu)標(biao)，然後(hou)按(an)住鼠(shu)標(biao)左鍵(jian)，向(xiang)左畫框局部(bu)縮(suo)小曲(qu)線，向(xiang)右畫框局部(bu)放(fang)大(da)曲(qu)線；按(an)住鼠(shu)標(biao)右鍵(jian)，可以(yi)向(xiang)前/向(xiang)後(hou)拖動曲(qu)線。
點(dian)擊(ji)該(gai)圖(tu)標(biao)可以(yi)任意(yi)旋(xuan)轉整(zheng)個(ge)曲(qu)線框(kuang)
點(dian)擊該(gai)圖(tu)標(biao)可以(yi)任意(yi)拖動整個(ge)曲(qu)線框(kuang)
點(dian)擊該(gai)圖(tu)標(biao)，然後(hou)按(an)住鼠(shu)標(biao)左鍵(jian)可以(yi)任意(yi)縮(suo)放(fang)整個(ge)曲(qu)線框(kuang)
點(dian)擊該(gai)圖(tu)標(biao)，然後(hou)按(an)住鼠(shu)標(biao)左鍵(jian)向(xiang)左/右移(yi)動可以(yi)加粗(cu)/減(jian)細曲(qu)線
點(dian)擊(ji)該(gai)圖(tu)標(biao)，曲(qu)線變(bian)成立(li)體(ti)線條
點擊該(gai)圖(tu)標(biao)可以(yi)編(bian)輯曲(qu)線
點(dian)擊(ji)該(gai)圖(tu)標(biao)打印(yin)整(zheng)個(ge)曲(qu)線圖(tu)
點(dian)擊該(gai)圖(tu)標(biao)復制當(dang)前曲(qu)線，然後(hou)可以(yi)黏貼到 WORD、EXCEL 等文件
點(dian)擊(ji)該(gai)圖(tu)標(biao)保存(cun)曲(qu)線圖(tu)和(he)數(shu)據，以(yi)後(hou)用 TeeChart 程(cheng)序打開(kai)
註：在數(shu)字+曲(qu)線測(ce)試(shi)界(jie)面(mian)，點(dian)擊(ji)工具欄上(shang)的(de)保存(cun)圖標(biao)，數(shu)據和(he)曲(qu)線同時保存(cun)為 TEE 格(ge)式的(de)文(wen)件(jian)，需(xu)要(yao)安(an)裝配(pei)套(tao)光(guang)盤內(nei)的(de) Tee Chart 軟件來(lai)打開(kai)保存(cun)的(de)數(shu)據。

4.6. 零位(wei)調(tiao)節：
註意(yi)：儀器長時間(jian)使(shi)用(yong)後(hou)零位(wei)可(ke)能(neng)產(chan)生偏(pian)移，需(xu)要(yao)定(ding)期(qi)檢(jian)查並零位(wei)調(tiao)節。
把配(pei)套(tao)的(de)紅(hong)色(se)保護蓋(gai)罩(zhao)在儀(yi)器(qi)的(de)探(tan)測(ce)頭(tou)上(shang)，儀(yi)器(qi)可靠(kao)接地。點(dian)擊(ji)“Start zero adjustment"
要(yao)求(qiu)蓋(gai)上(shang)紅(hong)色(se)保護蓋(gai)，點(dian)擊(ji)確(que)定(ding)
如(ru)果(guo)出現紅色(se)的(de)讀(du)數(shu)，表示(shi)零位(wei)偏(pian)移較(jiao)大(da)。用(yong)小螺(luo)絲刀伸(shen)入儀器面(mian)板(ban)“ENTER 鍵(jian)"右側(ce)的(de)調(tiao)節孔(kong)，輕(qing)微(wei)地向(xiang)左或右旋(xuan)轉，直(zhi)到讀數(shu)為綠(lv)色(se)（不(bu)用調節到 0）即可。
讀數(shu)為綠(lv)色(se)，表(biao)示在合(he)格(ge)區(qu)域(yu)，點(dian)擊(ji)“OK"繼(ji)續(xu)
儀器(qi)開始(shi)設置零位(wei)，BUSY=0 時，設(she)置完成
零位(wei)調(tiao)節成功，點擊(ji)“確定(ding)"即可(ke)

4.7. 數(shu)據保存(cun)及處(chu)理
在數(shu)字+曲(qu)線測(ce)試(shi)界(jie)面(mian)，點(dian)擊(ji)“Break"停(ting)止(zhi)測(ce)試(shi)後(hou)，點擊(ji)工具欄上(shang)的(de)“保存(cun)"圖標(biao)，從開始(shi)到停(ting)止(zhi)測(ce)試(shi)的(de)所(suo)有數(shu)據和(he)曲(qu)線保存(cun)為 TEE 格(ge)式的(de)文(wen)件(jian)，然後(hou)在 TeeChart 程(cheng)序中(zhong)可(ke)以處(chu)理保存(cun)的(de)數(shu)據。註：請(qing)安(an)裝光(guang)盤
內(nei)配(pei)套(tao)的(de) TeeChart 軟件
例(li)如(ru)下(xia)圖所(suo)示，在 TeeChart 中(zhong)打開(kai) 1 個(ge)保存(cun)的(de)文(wen)件(jian)，可(ke)以點擊底部(bu)的(de) Chart/Data 切換(huan)顯示圖形/數(shu)據：
點(dian)擊左邊(bian)的(de)縱(zong)向(xiang)工具欄的(de)壹(yi)個(ge)圖(tu)標(biao)，在下(xia)拉(la)框(kuang)中(zhong)雙擊“Marks"，顯示曲(qu)線每個(ge)節點(dian)的(de)讀(du)數(shu)：
點擊(ji)頂部的(de)橫向(xiang)工具欄的(de)“放(fang)大(da)鏡(jing)"圖(tu)標(biao)，然後(hou)按(an)住鼠(shu)標(biao)左鍵(jian)，在曲(qu)線局(ju)部(bu)畫框，向(xiang)左縮(suo)小/向(xiang)右放(fang)大(da)。
點(dian)擊(ji)頂(ding)部工具欄的(de)“手掌(zhang)"圖標(biao)，然後(hou)按(an)住鼠(shu)標(biao)左鍵(jian)，可以(yi)上(shang)下(xia)左右任(ren)意(yi)拖動整個(ge)曲(qu)線
點(dian)擊(ji)頂部(bu)工具欄的(de)“File"，在下(xia)拉(la)框(kuang)中(zhong)選(xuan)擇“Export"可(ke)以(yi)輸出多(duo)種格(ge)式的(de)文(wen)件(jian)
顯示圖形 顯示數(shu)據
圖(tu)形可以輸出為以下(xia)格(ge)式
數(shu)據可(ke)以輸出為以下(xia)格(ge)式
註：在圖(tu)形(xing)界(jie)面(mian)，點(dian)擊(ji)頂(ding)部的(de) 圖(tu)標(biao)，可以(yi)直(zhi)接把當(dang)前窗口顯示的(de)曲(qu)線復制並黏貼到其(qi)他(ta)應(ying)用程序中(zhong)，例(li)如(ru) WORD、EXCEL 等(deng)。

5. 量(liang)程倍(bei)增(zeng)環
采用(yong)配套(tao)的(de)量(liang)程倍(bei)增(zeng)環，可以(yi)獲(huo)得更大(da)的(de)測(ce)試(shi)量(liang)程。在儀(yi)器(qi)探(tan)測(ce)頭(tou)上(shang)裝(zhuang)上(shang)倍(bei)增(zeng)環後(hou)，所(suo)有測(ce)試(shi)模式下(xia)
的(de)讀(du)數(shu) x 10 為實際(ji)值(zhi)。
輸出圖形
輸出數(shu)據