基(ji)礎信(xin)息(xi)Product information

產(chan)品名(ming)稱：江(jiang)蘇(su)浙江(jiang)上海吉時(shi)利KEITHLEY源(yuan)表

產(chan)品型(xing)號：2425

更(geng)新時(shi)間：2025-06-09

產(chan)品簡(jian)介：

江(jiang)蘇(su)浙江(jiang)上海吉時(shi)利KEITHLEY源(yuan)表，專業(ye)為(wei)中(zhong)國區(qu)用(yong)戶提(ti)供(gong)儀(yi)器(qi)設(she)備(bei)、測試方案、技(ji)術培訓和維修服務

產(chan)品特(te)性Product characteristics

     專業(ye)儀(yi)器(qi)設(she)備(bei)和測試方案供(gong)應(ying)商(shang)——上海堅融(rong)實業(ye)有限公司JETYOO INDUSTRIAL & 堅(jian)友（上海）測量儀(yi)器(qi)有限公司JETYOO INSTRUMENTS，由(you)前安捷倫(lun)Agilent【現 是德KEYSIGHT】產(chan)品工(gong)程師(shi)——堅(jian) JET 和 吉時(shi)利KEITHLEY【現 泰克Tektronix】忠(zhong)實(shi)用(yong)戶使(shi)用(yong)工程(cheng)師(shi)——融(rong) YOO於2012年(nian)共同創(chuang)立，誌在破舊立新！*電(dian)子(zi)測量行業(ye)代理經(jing)銷(xiao)商(shang)只專業(ye)做(zuo)商(shang)務(wu)銷(xiao)售，不(bu)專(zhuan)業(ye)做(zuo)售前測試方案，不(bu)專(zhuan)業(ye)做(zuo)售後使(shi)用(yong)培訓的空白(bai)。

江蘇(su)浙江(jiang)上海吉時(shi)利KEITHLEY源(yuan)表100W源表將2420的電(dian)壓(ya)範圍(wei)擴(kuo)展到100V，在1A的電(dian)流(liu)範圍(wei)內(nei)具有100W的測量功(gong)率(lv)。與(yu)2420型(xing)高(gao)壓源(yuan)表壹(yi)樣(yang)， 2425也(ye)具有3A電(dian)流(liu)60W功(gong)率(lv)的(de)測量能力。2425是針對中等功(gong)率(lv)器(qi)件（例(li)如DC-DC轉(zhuan)換(huan)器(qi)）、電(dian)源(yuan)和其(qi)他(ta)需要(yao)60W和100W總直流功(gong)率(lv)元件的(de)生產(chan)測試而設(she)計(ji)的。

吉時(shi)利KEITHLEY源(yuan)表應(ying)用(yong)領(ling)域
各種(zhong)器(qi)件的(de)I-V功(gong)能(neng)測試和特征(zheng)分(fen)析(xi)，包(bao)括(kuo)：

• 離(li)散(san)和無源(yuan)元件

–兩抽(chou)頭(tou)器(qi)件——傳(chuan)感(gan)器(qi)、磁盤(pan)驅(qu)動(dong)器(qi)頭(tou)、金屬氧化物(wu)可(ke)變(bian)電(dian)阻（MOV）、二極(ji)管、齊(qi)納二極(ji)管、電(dian)容(rong)、熱敏(min)電(dian)阻

–三抽(chou)頭(tou)器(qi)件——小(xiao)信(xin)號雙(shuang)極(ji)結(jie)型(xing)晶體(ti)管（BJT）、場(chang)效應(ying)晶體(ti)管（FET）等(deng)等

• 簡(jian)單(dan)IC器(qi)件——光學器(qi)件、驅(qu)動(dong)器(qi)、開關(guan)、傳(chuan)感(gan)器(qi)

• 集成(cheng)器(qi)件——小(xiao)規模(mo)集成(cheng)（SSI）和大規模(mo)集成(cheng)（LSI）

–模(mo)擬IC

–射頻(pin)集(ji)成(cheng)電(dian)路(lu)（RFIC）

–集成(cheng)電(dian)路(lu)（ASIC）

–片上系統（SoC）器(qi)件

• 光電(dian)器(qi)件，例(li)如發(fa)光二極(ji)管（LED）、激(ji)光二極(ji)管、高(gao)亮度(du)LED（HBLED）、垂(chui)直腔(qiang)面(mian)發(fa)射激(ji)光器(qi)（VCSEL）、顯示器(qi)

• 圓片(pian)級可(ke)靠(kao)性

- NBTI、TDDB、HCI、電(dian)遷(qian)移

• 太(tai)陽能電(dian)池

• 電(dian)池

暫態抑(yi)制器(qi)件

IC、RFIC、MMIC

激光二極(ji)管、激(ji)光二極(ji)管模(mo)塊、LED、光電(dian)檢測器(qi)

電(dian)路(lu)保(bao)護器(qi)件:

TVS、MOV、熔(rong)絲(si)

安全氣囊(nang)

連接(jie)器(qi)、開關(guan)、繼(ji)電(dian)器(qi)

碳納米管(guan)

半(ban)導(dao)體(ti)納米線(xian)

碳納米管(guan) FET

納米傳(chuan)感(gan)器(qi)和陣列(lie)

單電(dian)子(zi)晶體(ti)管

分子(zi)電(dian)子(zi)

有機電(dian)子(zi)

基(ji)本運放電(dian)路(lu)

二極(ji)管和電(dian)路(lu)

晶體(ti)管電(dian)路(lu)

測試：

漏流(liu)

低(di)壓、電(dian)阻

LIV

IDDQ

I-V特征(zheng)分析

隔離(li)與(yu)軌(gui)跡(ji)電(dian)阻

溫(wen)度(du)系(xi)數(shu)

正向(xiang)電(dian)壓(ya)、反向(xiang)擊穿(chuan)、漏(lou)電(dian)流(liu)

直流參數(shu)測試

直流電(dian)源(yuan)

HIPOT

介質(zhi)耐受(shou)性

雙(shuang)極(ji)結(jie)型(xing)晶體(ti)管設(she)計(ji)

結(jie)型(xing)場(chang)效(xiao)應(ying)晶體(ti)管設(she)計(ji)

金屬氧化物(wu)半(ban)導(dao)體(ti)場效(xiao)應(ying)晶體(ti)管設(she)計(ji)

太(tai)陽能電(dian)池和 LED 設(she)計(ji)

高(gao)電(dian)子(zi)遷(qian)移率(lv)晶體(ti)管設(she)計(ji)

復(fu)合(he)半(ban)導(dao)體(ti)器(qi)件設(she)計(ji)

分析(xi)納米材料和實驗(yan)器(qi)件

碳納米管(guan)的電(dian)測量標準

測量碳納米管(guan)電(dian)氣(qi)特(te)性

提高(gao)納米電(dian)子(zi)和分子(zi)電(dian)子(zi)器(qi)件的(de)低(di)電(dian)流(liu)測量

在低(di)功(gong)率(lv)和低(di)壓應(ying)用(yong)中實(shi)現準確、可(ke)靠(kao)的電(dian)阻測量

納米級器(qi)件和材料的電(dian)氣(qi)測量

提高(gao)超高(gao)電(dian)阻和電(dian)阻率(lv)測量的可(ke)重(zhong)復(fu)性

壹(yi)種(zhong)微(wei)分電(dian)導(dao)的(de)改(gai)進(jin)測量方法(fa)

納米技(ji)術準確電(dian)氣(qi)測量的技術

納米級材料的電(dian)氣(qi)測量

降低(di)外部誤差(cha)源影(ying)響(xiang)的儀(yi)器(qi)技術

迎接(jie)65nm節(jie)點(dian)的(de)測量挑戰

測量半(ban)導(dao)體(ti)材料的高(gao)電(dian)阻率(lv)和霍(huo)爾(er)電(dian)壓(ya)

用(yong)微(wei)微(wei)微(wei)安量程測量電(dian)流(liu)

柵(zha)極(ji)電(dian)介質(zhi)電(dian)容(rong)電(dian)壓(ya)特(te)性分(fen)析(xi)

評估(gu)氧化層(ceng)的(de)可(ke)靠(kao)性

半(ban)導(dao)體(ti)器(qi)件結(jie)構(gou)設(she)計(ji)和試驗(yan)低(di)電(dian)阻、低(di)功(gong)耗(hao)半(ban)導(dao)體(ti)器(qi)

輸出(chu)極(ji)低(di)電(dian)流(liu)和測量極(ji)低(di)電(dian)壓(ya)分(fen)析(xi)現代材料、半(ban)導(dao)體(ti)和納米電(dian)子(zi)元件的(de)電(dian)阻

低(di)阻測量(低(di)至10nΩ)分析(xi)導(dao)通電(dian)阻參數(shu)、互(hu)連和低(di)功(gong)率(lv)半(ban)導(dao)體(ti)。

用(yong)於*進(jin)CMOS技術的脈沖可(ke)靠(kao)性測試

高(gao)K柵(zha)極(ji)電(dian)介質(zhi)電(dian)荷俘獲(huo)行為(wei)的(de)脈沖特性分(fen)析(xi)

用(yong)6線歐(ou)姆測量技術進(jin)行更(geng)高(gao)準確(que)度(du)的(de)電(dian)阻測量

配置分(fen)立電(dian)阻器(qi)驗證(zheng)測試系統

電(dian)信(xin)激光二極(ji)管模(mo)塊的高(gao)吞吐(tu)率(lv)直流生產(chan)測試

多(duo)臺數(shu)字(zi)源(yuan)表的觸發(fa)器(qi)同步

高(gao)亮度(du)、可(ke)見(jian)光LED的生產(chan)測試

OLED顯示器(qi)的直流生產(chan)測試

在運行中第5次測量用(yong)於偏(pian)置溫(wen)度(du)不(bu)穩(wen)定特(te)性分(fen)析(xi)

數(shu)字(zi)源(yuan)表的緩(huan)沖(chong)器(qi)以及(ji)如何(he)用(yong)這(zhe)兩(liang)個(ge)緩沖(chong)器(qi)獲取多(duo)達5000點(dian)數(shu)據(ju)

連接(jie)器(qi)的生產(chan)測試方案

射頻(pin)功(gong)率(lv)晶體(ti)管的(de)直流電(dian)氣(qi)特(te)性分(fen)析(xi)

1. MOS 電(dian)容(rong)器(qi)

2. 雙(shuang)極(ji)結(jie)型(xing)晶體(ti)管

3. 亞微(wei)米集(ji)成 MOSFET

VCSEL測試、光伏電(dian)池的I-V特(te)性、IDDQ測試和待機(ji)電(dian)流(liu)測試、產(chan)生電(dian)流(liu) (或(huo)電(dian)壓(ya)) 脈(mai)沖(chong)、提(ti)升多(duo)引(yin)腳(jiao)器(qi)件的(de)生產(chan)量、創(chuang)建(jian)可(ke)擴(kuo)縮(suo)、多(duo)引(yin)腳(jiao)、多(duo)功(gong)能(neng)IC測試系統、激光二極(ji)管模(mo)塊和VCSEL進(jin)行高(gao)吞吐(tu)率(lv)直流、二極(ji)管生產(chan)測試、高(gao)亮度(du)、可(ke)見(jian)光LED、驗證(zheng)變(bian)阻器(qi)、電(dian)池放電(dian)/充(chong)電(dian)周(zhou)期、配(pei)置電(dian)阻網絡(luo)、大電(dian)流(liu)變(bian)阻器(qi)、熱敏(min)電(dian)阻的生產(chan)測試

江蘇(su)浙江(jiang)上海吉時(shi)利KEITHLEY源(yuan)表（SourceMeter）對比 

標配自(zi)帶(dai)配(pei)件(jian)
8605型(xing)高(gao)性能(neng)模(mo)塊化測試線，長度(du)為(wei)0.9米（3 ft），（適用(yong)於2000、2001、2002、2010、2400系(xi)列）

系列(lie)產(chan)品 
KEITHLEY2400-C型(xing)帶接(jie)觸檢測的通用(yong)數(shu)字(zi)源(yuan)表，能測量高(gao)達20V的(de)電(dian)壓(ya)和1A的電(dian)流(liu)，輸(shu)出(chu)功(gong)率(lv)20W 
KEITHLEY2410型(xing)高(gao)壓源(yuan)表能夠測量高(gao)達1100V的(de)電(dian)壓(ya)和1A的電(dian)流(liu)，輸(shu)出(chu)功(gong)率(lv)20W功(gong)率(lv)。 
KEITHLEY2410-C型(xing)帶(dai)接(jie)觸檢測的高(gao)壓數(shu)字(zi)源(yuan)表，能測量高(gao)達1100V的(de)電(dian)壓(ya)和1A的電(dian)流(liu)，輸(shu)出(chu)功(gong)率(lv)20W 
KEITHLEY2420型(xing)高(gao)壓源(yuan)表能夠測量高(gao)達60V的(de)電(dian)壓(ya)和3A的電(dian)流(liu)，輸(shu)出(chu)功(gong)率(lv)60W功(gong)率(lv) 
KEITHLEY2420-C型(xing)帶(dai)接(jie)觸檢測的大電(dian)流(liu)數(shu)字(zi)源(yuan)表，能測量高(gao)達60V的(de)電(dian)壓(ya)和3A的電(dian)流(liu)，輸(shu)出(chu)功(gong)率(lv)60W 
KEITHLEY2425型(xing)100W源(yuan)表能夠測量100V的電(dian)壓(ya)和3A的電(dian)流(liu) 
KEITHLEY2425-C型(xing)帶(dai)接(jie)觸檢測的100W數(shu)字(zi)源(yuan)表，能測量高(gao)達100V的(de)電(dian)壓(ya)和3A的電(dian)流(liu) 
KEITHLEY2430型(xing)1kW脈(mai)沖(chong)模(mo)式源(yuan)表能夠測量100V電(dian)壓(ya)和10A電(dian)流(liu) 
KEITHLEY2430-C型(xing)帶(dai)接(jie)觸檢測的1kW脈沖模(mo)式數(shu)字(zi)源(yuan)表，能測量高(gao)達100V的(de)電(dian)壓(ya)和10A的電(dian)流(liu) 
KEITHLEY2440型(xing)5A源(yuan)表能夠測量高(gao)達40V的(de)電(dian)壓(ya)和5A的電(dian)流(liu)，輸(shu)出(chu)功(gong)率(lv)50W 
KEITHLEY2440-C型(xing)帶(dai)接(jie)觸檢測的5A數(shu)字(zi)源(yuan)表，能測量高(gao)達40V的(de)電(dian)壓(ya)和5A的電(dian)流(liu)，輸(shu)出(chu)功(gong)率(lv)50W 
KEITHLEY6430亞(ya)fA程(cheng)控源(yuan)表 
KEITHLEY2400-LV型數(shu)字(zi)源(yuan)表，能測量高(gao)達20V的(de)電(dian)壓(ya)和1A的電(dian)流(liu)，輸(shu)出(chu)功(gong)率(lv)20W 

額外(wai)付(fu)費選(xuan)配(pei)件(jian) 
1754型2線(xian)通用(yong)10片裝(zhuang)測試線套件（適用(yong)於175A、197A、2000、2001、2002、2010） 
2499-DIGIO數(shu)字(zi)I/O擴(kuo)展器(qi)配件(jian)（2400系列(lie)） 
4288-1型單(dan)機架安裝套件（適用(yong)於428、486、487、776、2700、2000系(xi)列、2182、2300 系(xi)列、2400系列、2500系(xi)列(lie)、6514、6517A、7001、6430、6485） 
4288-2型雙(shuang)機架安裝套件（適用(yong)於428、486、487、776、2000系(xi)列、2182、2300 系(xi)列、2400系列、6514、6517A、7001、2700、6430、6485） 
5804型Kelvin（4線(xian)）10件裝的通用(yong)測試線套件（適用(yong)於580、2400系(xi)列、數(shu)字(zi)多(duo)用(yong)表） 
5805型Kelvin（4線(xian)）帶彈簧的(de)探頭(tou)，長度(du)為(wei)0.9米（3 ft）（適用(yong)於580、數(shu)字(zi)多(duo)用(yong)表） 
5806型Kelvin（4線(xian)）特大號鱷魚(yu)夾(jia)測試線，長度(du)為(wei)0.9米（3 ft）（適用(yong)於580、2400系(xi)列、數(shu)字(zi)多(duo)用(yong)表） 
7007-1：雙(shuang)層屏蔽(bi)高(gao)級GPIB接(jie)口(kou)電(dian)纜(lan)，長(chang)度(du)1米（3.3ft）（用(yong)於GPIB互(hu)連） 
7007-2：雙(shuang)層屏蔽(bi)高(gao)級GPIB接(jie)口(kou)電(dian)纜(lan)，長(chang)度(du)2米（6.6ft）（用(yong)於GPIB互(hu)連） 
7009-5型屏蔽(bi)RS-232電(dian)纜(lan)，長(chang)度(du)為(wei)1.5米（5 ft）（適用(yong)於2000、2010、6517A、2400系(xi)列） 
8501-1型DIN至(zhi)DIN觸發(fa)連接(jie)電(dian)纜(lan)，長(chang)度(du)為(wei)1米（3.3 ft），（適用(yong)於6517A、2400系(xi)列、KPC-TM、觸發(fa)連接(jie)輸(shu)入） 
8501-2型DIN至(zhi)DIN觸發(fa)連接(jie)電(dian)纜(lan)，長(chang)度(du)為(wei)2米（6.6 ft），（適用(yong)於6517A、2400系(xi)列、KPC-TM、觸發(fa)連接(jie)輸(shu)入） 
8502型觸發(fa)連接(jie)至(zhi)BNC中(zhong)斷(duan)盒(he)（適用(yong)於7001、7002、2000系(xi)列、2400系(xi)列、KPC-TM） 
8503型DIN至(zhi)雙(shuang)BNC觸發(fa)連接(jie)電(dian)纜(lan)，長(chang)度(du)為(wei)1米（3.3 ft），（適用(yong)於2000、2010、2400系(xi)列、觸發(fa)連接(jie)輸(shu)入） 
8505型公DIN至2 母(mu)DIN Y型適配(pei)器(qi)電(dian)纜(lan)，長(chang)度(du)為(wei)0.3米（1 ft）,（適用(yong)於觸發(fa)連接(jie)） 
8606型高(gao)性能(neng)模(mo)塊化探(tan)頭(tou)套件（適用(yong)於2000、2001、2002、2010、2400系(xi)列） 
8607型1kV，2根(gen)香蕉插頭(tou)測試電(dian)纜(lan)，長(chang)度(du)為(wei)1米（3.3 ft），（適用(yong)於2410、6430、6514、6517A） 
CA -18-1型屏蔽(bi)電(dian)纜(lan)，兩(liang)端接(jie)雙(shuang)香蕉插頭(tou)，長度(du)為(wei)1.2米（4 ft），（適於(yu)輸(shu)入端子） 
5808型低(di)成本單(dan)探(tan)針(zhen)，Kelvin探頭(tou) 
5809型低(di)成本Kelvin夾(jia)測試線組 
8620型通用(yong)4線數(shu)字(zi)多(duo)用(yong)表短路(lu)插(cha)頭(tou) 
KPCI-488LPA，KPCI-488LPA型 IEEE-488.2 PCI Bus 插(cha)件板 
KUSB-488A型IEEE-488.2 USB-GPIB接(jie)口(kou)適配(pei)器(qi)，適用(yong)於USB接(jie)口(kou)，內(nei)置2米（6.6ft）電(dian)纜(lan) 
4288-4型固定機(ji)架安裝套件（適用(yong)於195A、196、220、224、230、230-1、263、428、486、487、595、617、740、775A、776、2000系(xi)列、2182、2300系(xi)列、2400系列、6512、6514、6517A、7001） 
4288-5型固定機(ji)架安裝套件（適用(yong)於428、486、487、2000系(xi)列、2182、2300 系(xi)列、2400系列、6514、6517A、7001） 
4288-9 支架固定件(jian)套件
2499-DIGIO數(shu)字(zi)I/O擴(kuo)展器(qi)配件(jian)（2400系列(lie)）
7001，7001型80通道程控開(kai)關控制(zhi)器(qi) 
7002，7002型400通道程控開(kai)關控制(zhi)器(qi) 
7011-C型四(si)1×10多(duo)路選(xuan)通器(qi)，帶集(ji)中端(duan)接(jie)器(qi)（適用(yong)於7001和7002） 
7011-S型四(si)1×10多(duo)路選(xuan)通器(qi)，帶螺(luo)釘(ding)端(duan)子（適用(yong)於7001和7002） 
7012-C型4×10矩(ju)陣卡，帶集中端(duan)接(jie)器(qi)（適用(yong)於7001和7002） 
7012-S型4×10矩(ju)陣卡，帶螺(luo)釘(ding)端(duan)子（適用(yong)於7001和7002） 
7019-C型6線(xian)歐姆矩陣卡，帶(dai)96針(zhen)集中端(duan)接(jie)器(qi)（適用(yong)於7001和7002） 
2182A型納伏表 
7053高(gao)電(dian)流(liu)，10通道掃(sao)描卡，具(ju)有5A接(jie)觸（適用(yong)於7001和7002）