基(ji)礎信息(xi)Product information

產品名(ming)稱：美(mei)國吉(ji)時利(li)KEITHLEY6487皮(pi)安表測(ce)試軟件(jian)程序(xu)

產品型號(hao)：

更(geng)新(xin)時間(jian)：2025-06-09

產品簡介(jie)：

美(mei)國吉(ji)時利(li)KEITHLEY6487皮(pi)安表測(ce)試軟件(jian)程序(xu)功能(neng)介(jie)紹
1.電流測(ce)量：可(ke)設置(zhi)輸(shu)出(chu)電壓(ya)，電流量程(cheng)，電流限制，零(ling)點(dian)校(xiao)正，測(ce)量速(su)度(du)，采(cai)集間(jian)隔(ge)，采(cai)集時(shi)長，數(shu)據實時顯示。
2.電阻(zu)測(ce)量：可(ke)設置(zhi)輸(shu)出(chu)電壓(ya)，電阻(zu)量程(cheng)，電流限制，采(cai)集間(jian)隔，采集時長，數(shu)據實時顯示。
3.IV掃描(miao)：可(ke)設置(zhi)起(qi)始終(zhong)止電壓(ya)、步(bu)進（階(jie)梯電壓(ya)），掃(sao)描(miao)點(dian)間隔(ge)時間(jian)，可循環(huan)多次掃描(miao)。

產品特(te)性(xing)Product characteristics

     專業(ye)儀(yi)器設備和測(ce)試方(fang)案供(gong)應(ying)商——上海(hai)堅融實業有限公司JETYOO INDUSTRIAL & 堅友(you)（上海(hai)）測(ce)量儀(yi)器有限公司JETYOO INSTRUMENTS，由(you)前(qian)安捷倫(lun)Agilent【現 是德KEYSIGHT】產品技術(shu)支(zhi)持(chi)工(gong)程師(shi)——堅 JET 和 吉(ji)時(shi)利KEITHLEY【現 泰(tai)克Tektronix】忠實用(yong)戶使用(yong)工(gong)程師(shi)——融 YOO於(yu)2012年(nian)共(gong)同(tong)創(chuang)立(li)，誌在破舊(jiu)立(li)新(xin)！*電子測(ce)量行(xing)業(ye)代(dai)理(li)經銷(xiao)商只(zhi)專業(ye)做(zuo)商務(wu)銷(xiao)售，不專業(ye)做(zuo)售前(qian)測(ce)試方(fang)案，不專業(ye)做(zuo)售後使用(yong)培訓(xun)的(de)空(kong)白(bai)。我(wo)們的技術(shu)銷(xiao)售工(gong)程師(shi)均(jun)為(wei)本科以(yi)上學(xue)歷(li)，且(qie)均有10年(nian)以(yi)上儀(yi)器行(xing)業(ye)工(gong)作經驗，專業(ye)為(wei)中(zhong)國區(qu)用(yong)戶提(ti)供(gong)美(mei)國吉(ji)時利(li)KEITHLEY6487皮(pi)安表測(ce)試軟件(jian)程序(xu)，為(wei)上海(hai)華(hua)東地(di)區壹家(jia)以技術(shu)為(wei)導(dao)向(xiang)的(de)儀(yi)器設備綜(zong)合服(fu)務(wu)商。

堅融公(gong)司潛心研究(jiu)十年(nian)，KEITHLEY6487皮(pi)安表應(ying)用(yong)領域(yu)：

碳納米管(guan)
半導(dao)體(ti)納(na)米線(xian)
碳(tan)納(na)米管(guan) FET
納米傳(chuan)感器和陣(zhen)列(lie)
單電子晶體管(guan)
分(fen)子(zi)電子
有機(ji)電子
基(ji)本運放(fang)電路(lu)
二極管和電路(lu)
晶體管電路(lu)
雙(shuang)極(ji)結型(xing)晶體(ti)管設計(ji)
結型(xing)場效(xiao)應(ying)晶(jing)體(ti)管(guan)設計(ji)
金(jin)屬氧(yang)化(hua)物(wu)半導(dao)體(ti)場(chang)效(xiao)應(ying)晶(jing)體(ti)管(guan)設計(ji)
太(tai)陽(yang)能(neng)電池(chi)和 LED 設計(ji)
高電子遷移率(lv)晶(jing)體(ti)管(guan)設計(ji)
復合半導(dao)體(ti)器件(jian)設計(ji)

分析(xi)納米材料和實驗器件(jian)
碳納(na)米管(guan)的電測(ce)量標(biao)準
測(ce)量碳(tan)納米管(guan)電氣特(te)性(xing)
提高納(na)米電子和分(fen)子(zi)電子器件(jian)的低電流測(ce)量
在低功率(lv)和低壓(ya)應(ying)用(yong)中(zhong)實現準確、可靠(kao)的(de)電阻(zu)測(ce)量
納(na)米級(ji)器件(jian)和材料的(de)電氣測(ce)量
提(ti)高超高電阻(zu)和電阻(zu)率(lv)測(ce)量的(de)可重復(fu)性(xing)
壹種(zhong)微(wei)分(fen)電導(dao)的(de)改(gai)進(jin)測(ce)量方(fang)法
納(na)米技術(shu)準確電氣測(ce)量的(de)技術(shu)
納(na)米級(ji)材料的(de)電氣測(ce)量
降(jiang)低外部(bu)誤差(cha)源影(ying)響的(de)儀(yi)器技術(shu)
迎(ying)接65nm節(jie)點(dian)的測(ce)量挑(tiao)戰(zhan)
測(ce)量半導(dao)體(ti)材料的(de)高電阻(zu)率(lv)和霍爾電壓(ya)
用(yong)微微(wei)微安量程(cheng)測(ce)量電流
柵極電介質電容(rong)電壓(ya)特(te)性(xing)分析
評(ping)估氧(yang)化(hua)層(ceng)的(de)可(ke)靠性(xing)
用(yong)低噪聲美(mei)國吉(ji)時利(li)KEITHLEY4200-SCS進行(xing)超低電流測(ce)量
4探(tan)針(zhen)電阻(zu)率(lv)和霍爾電壓(ya)測(ce)量

波束(shu)監(jian)測(ce)與放射監(jian)測(ce)
絕緣(yuan)體(ti)、開關(guan)、繼電器和其(qi)他(ta)元(yuan)件(jian)的漏(lou)流測(ce)試
SEM波束(shu)電流測(ce)量
光電子器件(jian)測(ce)試與特(te)征(zheng)分(fen)析(xi)
光纖校(xiao)準
DCLF電路(lu)中(zhong)的電路(lu)測(ce)試與分(fen)析(xi)
傳(chuan)感器特(te)征(zheng)分(fen)析(xi)
半導(dao)體(ti)等(deng)器件(jian)的I-V測(ce)量
納(na)米電子器件(jian)特(te)征(zheng)分(fen)析(xi)
教(jiao)學實驗

測(ce)量二(er)極管
晶(jing)體(ti)管
運放(fang)
有源(yuan)器件(jian)
新(xin)的半導(dao)體(ti)器件(jian)結構設計(ji)和試(shi)驗低電阻(zu)、低功耗(hao)半導(dao)體(ti)器
輸(shu)出(chu)極低電流和測(ce)量極(ji)低電壓(ya)分(fen)析(xi)現代材料、半導(dao)體(ti)和納(na)米電子元(yuan)件(jian)的電阻(zu)
低阻(zu)測(ce)量(低至10nΩ)分(fen)析導(dao)通(tong)電阻(zu)參(can)數(shu)、互連(lian)和低功率(lv)半導(dao)體(ti)。
用(yong)於*進(jin)CMOS技術(shu)的(de)脈沖(chong)可(ke)靠(kao)性(xing)測(ce)試
高K柵(zha)極(ji)電介質電荷俘獲行(xing)為(wei)的(de)脈(mai)沖(chong)特(te)性(xing)分析
用(yong)6線(xian)歐(ou)姆(mu)測(ce)量技術(shu)進(jin)行(xing)更(geng)高(gao)準確度(du)的(de)電阻(zu)測(ce)量

序(xu)：
皮(pi)安表只(zhi)能(neng)簡(jian)單測(ce)微小電流值(zhi)，而(er)我(wo)們公司開發(fa)的皮(pi)安表測(ce)試軟件(jian)程序(xu)，應(ying)用(yong)算法(fa)將測(ce)量的(de)值(zhi)換算(suan)成您需(xu)要(yao)的(de)數(shu)據和曲(qu)線(xian)圖(tu)，您的(de)皮(pi)安表配(pei)上該軟件(jian)，僅需(xu)壹套(tao)軟(ruan)件(jian)，相當(dang)於(yu)您增(zeng)加了(le)幾臺儀(yi)器測(ce)試功能(neng)。這皮(pi)安表+軟件(jian)廣泛應(ying)用(yong)於全(quan)國幾十所(suo)高(gao)校(xiao)、研究(jiu)所，大(da)大(da)幫(bang)助和提(ti)升了(le)教授們(men)做(zuo)科研(yan)實驗，寫(xie)論(lun)文報告。

       中(zhong)科院上海(hai)應(ying)用(yong)物理(li)研究(jiu)所，中(zhong)科院大連(lian)物理(li)化學研究(jiu)所，上海(hai)科(ke)技大(da)學(xue)，南方(fang)科技大(da)學(xue)，北京(jing)大(da)學，清(qing)華大(da)學，北京(jing)理(li)工(gong)大學(xue)，北京(jing)師(shi)範大(da)學(xue)，北京(jing)航(hang)空航(hang)天(tian)大(da)學，北京(jing)郵電大學，華東(dong)師(shi)範大(da)學(xue)，東華(hua)大學，華東理(li)工(gong)大學(xue)，上海(hai)交(jiao)通(tong)大(da)學，復(fu)旦(dan)大(da)學(xue)，上海(hai)大(da)學，同(tong)濟大學，上海(hai)理(li)工(gong)大學(xue)，南(nan)開大(da)學，天(tian)津(jin)大學，河(he)北工(gong)業大(da)學(xue)，重(zhong)慶大學(xue)，西南(nan)大學(xue)，太(tai)原(yuan)理(li)工(gong)大學(xue)，內(nei)蒙(meng)古(gu)大學，大連(lian)理(li)工(gong)大學(xue)，東(dong)北大(da)學(xue)，吉林大學，東(dong)北師(shi)範大(da)學(xue)，哈爾濱工(gong)業大(da)學(xue)，哈(ha)爾濱工(gong)程大(da)學(xue)，南(nan)京大學(xue)，蘇(su)州(zhou)大(da)學，江南大(da)學(xue)，南(nan)京航(hang)空航(hang)天(tian)大(da)學，東南(nan)大(da)學，南京師範大(da)學(xue)，南京(jing)理(li)工(gong)大學(xue)，浙(zhe)江(jiang)大學，中(zhong)國科(ke)學技術(shu)大(da)學，合肥工(gong)業大(da)學(xue)，安徽大學(xue)，廈(sha)門(men)大學(xue)，福州(zhou)大(da)學，南昌(chang)大(da)學(xue)，山東(dong)大(da)學(xue)，中(zhong)國海(hai)洋(yang)大學(xue)，鄭(zheng)州(zhou)大(da)學，武(wu)漢大(da)學，武(wu)漢理(li)工(gong)大學(xue)，華(hua)中(zhong)師範大(da)學(xue)，華中(zhong)科技大(da)學(xue)，湖南(nan)大學，中(zhong)南大(da)學(xue)，中(zhong)山大(da)學(xue)，華(hua)南理(li)工(gong)大學(xue)，華(hua)南(nan)師範大(da)學(xue)，廣西大(da)學，桂林理(li)工(gong)大學(xue)，桂林電子科技大(da)學(xue)，四川(chuan)大(da)學(xue)，電子科技大(da)學(xue)，西北大(da)學(xue)，西北工(gong)業大(da)學(xue)，西安電子科技大(da)學(xue)，西安交(jiao)通(tong)大(da)學，蘭(lan)州(zhou)大(da)學都有在選用(yong)我(wo)們公司的(de)皮(pi)安表測(ce)試軟件(jian)程序(xu)系統(tong)。

美(mei)國吉(ji)時利(li)KEITHLEY皮(pi)安表測(ce)試軟件(jian)程序(xu)
1.軟(ruan)件(jian)為中(zhong)文界(jie)面(mian)，操(cao)作(zuo)簡便
2.可設置(zhi)零(ling)點(dian)校(xiao)正。
3.可(ke)設置(zhi)測(ce)量量程(cheng)（自動，20mA，2mA，200uA等(deng)）。
4.可調(tiao)節(jie)測(ce)量速(su)度(du)(快(kuai)速、中(zhong)速、慢速)。
5.自定義采(cai)樣間隔(ge)。
6.數(shu)據實時顯示和保存(cun)，可由(you)Excel直接打(da)開，也(ye)可(ke)導(dao)入(ru)Origin中(zhong)作進(jin)壹步(bu)分析(xi)。
可根(gen)據客(ke)戶要求進(jin)行(xing)修(xiu)改(gai)定(ding)制(zhi)。

美國吉(ji)時利(li)KEITHLEY6487皮(pi)安表測(ce)試軟件(jian)程序(xu)功能(neng)介(jie)紹
1.電流測(ce)量：可(ke)設置(zhi)輸(shu)出(chu)電壓(ya)，電流量程(cheng)，電流限制，零(ling)點(dian)校(xiao)正，測(ce)量速(su)度(du)，采(cai)集間(jian)隔(ge)，采(cai)集時(shi)長，數(shu)據實時顯示。
2.電阻(zu)測(ce)量：可(ke)設置(zhi)輸(shu)出(chu)電壓(ya)，電阻(zu)量程(cheng)，電流限制，采(cai)集間(jian)隔，采集時長，數(shu)據實時顯示。
3.IV掃描(miao)：可(ke)設置(zhi)起(qi)始終(zhong)止電壓(ya)、步(bu)進（階(jie)梯電壓(ya)），掃(sao)描(miao)點(dian)間隔(ge)時間(jian)，可循環(huan)多次掃描(miao)。
圖(tu)形(xing)實時顯示，數(shu)據自動保存(cun)，傻瓜(gua)式(shi)操(cao)作(zuo)，免安裝，解(jie)壓(ya)縮(suo)後(hou)即(ji)使用(yong)，支持(chi)WinXP，Win7,Win8,Win10。
數(shu)據直接記(ji)事本、Excel打開，也(ye)可(ke)導(dao)入(ru)Origin內(nei)進行(xing)分(fen)析(xi)。