產品(pin)名稱(cheng):吉時(shi)利KEITHLEY源表測(ce)試(shi)功能方(fang)案
產品(pin)型(xing)號(hao):
更(geng)新(xin)時(shi)間:2025-06-09
產品(pin)簡介(jie):
石墨(mo)烯,碳納米(mi)管(guan),納(na)米(mi)線(xian),晶(jing)圓(yuan),薄膜,印(yin)刷電子技術(shu),電(dian)阻器(qi)、二極管、齊納(na)二極管、LED、磁(ci)盤(pan)驅動(dong)器(qi)磁(ci)頭(tou) 光(guang)驅、傳(chuan)感器(qi),小信(xin)號(hao)雙極節型(xing)晶(jing)體(ti)管(guan) (BJT)、場效(xiao)應(ying)晶(jing)體(ti)管(guan) (FET),霍(huo)爾(er)效應,半導體(ti)材(cai)料SiC,GaN,IBGT,功率MOSFET,晶(jing)閘(zha)管,太(tai)陽能電(dian)池(chi),LEDs/AMOLED,功率管(guan)理(li)模塊(kuai)等(deng)電流(liu)/電壓(ya)特(te)性分(fen)析(xi)和功能吉(ji)時(shi)利KEITHLEY源表測(ce)試(shi)功能方(fang)案
石墨(mo)烯,碳納米(mi)管(guan),納(na)米(mi)線(xian),晶(jing)圓(yuan),薄膜,印(yin)刷電子技術(shu),電(dian)阻器(qi)、二極管、齊納(na)二極管、LED、磁(ci)盤(pan)驅動(dong)器(qi)磁(ci)頭(tou) 光(guang)驅、傳(chuan)感器(qi),小(xiao)信號(hao)雙極節型(xing)晶(jing)體(ti)管(guan) (BJT)、場效(xiao)應(ying)晶(jing)體(ti)管(guan) (FET),霍(huo)爾(er)效應,半(ban)導體(ti)材(cai)料SiC,GaN,IBGT,功率MOSFET,晶(jing)閘管(guan),太(tai)陽能電(dian)池(chi),LEDs/AMOLED,功率管(guan)理(li)模塊(kuai)等(deng)電流(liu)/電壓(ya)特(te)性分(fen)析(xi)和功能吉(ji)時(shi)利KEITHLEY源表測(ce)試(shi)功能方(fang)案:
KEYSIGHT是(shi)德(de)B2900系(xi)列源表,單(dan)通道(dao)/雙通道(dao),210V,3.03A(脈沖(chong)10.5A),功率31.8W,采樣率10μs(100K點/秒),帶視圖(tu)表(biao)。 | KEITHLEY吉(ji)時(shi)利2400源表,200V,1A,20W 2401源表,20V,1A,20W 2410源表,1100V,1A,20W 2420源表,60V,3A,60W 2425源表,100V,3A,100W 2430源表,100V,10A脈沖(chong)型(xing),1000W 2440源表,40V,5A,50W | 260X源表, 40V,3A,40W 261X/263X源表 200V,1.5A,30W 2651A源表, 40V,50A,200W 2657A源表, 3000V,120mA,180W | 2450源表,200V,1A,20W 2460源表,100V,7A,100W 2461源表,100V,10A,1000W 帶視圖(tu)表(biao) |
專業(ye)儀器(qi)設(she)備(bei)和測試(shi)方(fang)案供應(ying)商(shang)——上(shang)海堅融(rong)實(shi)業(ye)有限公司(si)JETYOO INDUSTRIAL & 堅(jian)友(you)(上(shang)海)測量(liang)儀器(qi)有限公司(si)JETYOO INSTRUMENTS,由(you)前安捷倫Agilent【現 是(shi)德(de)KEYSIGHT】產品(pin)技術(shu)支(zhi)持工(gong)程(cheng)師(shi)——堅 JET 和 吉時(shi)利KEITHLEY【現(xian) 泰(tai)克(ke)Tektronix】忠(zhong)實(shi)用(yong)戶(hu)使用(yong)工(gong)程(cheng)師(shi)——融(rong) YOO於2012年(nian)共(gong)同創(chuang)立(li),誌(zhi)在(zai)破(po)舊(jiu)立新(xin)!*電(dian)子(zi)測(ce)試(shi)行(xing)業(ye)代(dai)理(li)經(jing)銷(xiao)商(shang)只(zhi)專業(ye)做(zuo)商(shang)務(wu)銷(xiao)售(shou),不(bu)專業(ye)做(zuo)售(shou)前測試(shi)方(fang)案,不專業(ye)做(zuo)售(shou)後(hou)使用(yong)培訓的(de)空(kong)白。我們(men)的(de)技(ji)術(shu)銷(xiao)售(shou)工(gong)程(cheng)師(shi)均(jun)為本(ben)科(ke)以(yi)上(shang)學歷,且均(jun)有(you)10年(nian)以(yi)上(shang)儀(yi)器(qi)行業(ye)工(gong)作(zuo)經(jing)驗(yan),專業(ye)為中(zhong)國(guo)區用(yong)戶(hu)提供吉(ji)時(shi)利KEITHLEY源表測(ce)試(shi)功能方(fang)案,為上(shang)海華東地(di)區壹(yi)家(jia)以(yi)技術(shu)為導向的(de)儀器(qi)設(she)備(bei)綜合(he)服務商(shang)。
企(qi)業(ye)在銷(xiao)售(shou)過程(cheng)中(zhong)根據(ju)給用(yong)戶(hu)實(shi)際(ji)測試(shi)使用(yong)編(bian)撰(zhuan)了(le)《GB/T國(guo)標(biao)、ANSI/ASTM美(mei)標絕(jue)緣材(cai)料電阻和電阻率測(ce)試(shi)》、《防(fang)靜(jing)電工(gong)作(zuo)臺(tai)面(mian)/地(di)板(ban)/鞋(xie)服/橡(xiang)膠絕緣材(cai)料/薄膜/包裝(zhuang)材(cai)料ANSI/ESD規範測(ce)試(shi)靜電(dian)電阻》、《電(dian)子電(dian)器(qi)/帶靜電(dian)產品(pin)的IEC 61340、EOS/ESD S.3.1和SAE J1645標(biao)準靜(jing)電場(chang)電壓(ya)、靜(jing)電消(xiao)散時(shi)間測(ce)試(shi)》、《基於Wayne Kerr阻抗分(fen)析(xi)儀(yi)的(de)介(jie)電常(chang)數、電(dian)導率、阻抗測(ce)試(shi)評估(gu)》、《6517B與B2985A高阻表測(ce)量(liang)電阻/體(ti)積(ji)電(dian)阻率》、《新(xin)材(cai)料先進半導體(ti)微(wei)電流(liu)/微電(dian)阻/低噪(zao)聲(sheng)測(ce)試(shi)》、《霍(huo)爾(er)效應與範德(de)堡測(ce)試(shi)》、《MOSFET/CMOS/IGBT半(ban)導體(ti)晶(jing)體(ti)管(guan)特(te)性曲(qu)線分(fen)析(xi)》、《鑲(xiang)嵌(qian)機、磨拋機(ji)在電(dian)子零部(bu)件(jian)中(zhong)的應(ying)用(yong)》、《Agilent34970A,KEITHLEY2700數(shu)據(ju)采集(ji)監測(ce)多(duo)路(lu)溫度(du)/電(dian)壓(ya)/電(dian)阻》、《循(xun)環伏安法(fa)CV電(dian)化(hua)學實(shi)驗系(xi)統測(ce)試(shi)站(zhan)電(dian)流(liu)-時(shi)間曲(qu)線I-t》、《精(jing)密電(dian)流(liu)源/納伏表微(wei)小電(dian)阻測試(shi)》、《LED照(zhao)明測(ce)試(shi)》、《IoT物聯網設(she)備(bei)低功耗(hao)測試(shi)》、《大(da)功率編(bian)程(cheng)電源/負載(zai)的(de)太(tai)陽能光(guang)伏、新(xin)能源汽(qi)車、充(chong)電(dian)樁(zhuang)、燃料電池(chi)測試(shi)》
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