基礎(chu)信息(xi)Product information

產(chan)品(pin)名(ming)稱：吉(ji)時利KEITHLEY皮安(an)表(biao)測試方案

產(chan)品(pin)型(xing)號：

更(geng)新時間：2025-06-09

產(chan)品(pin)簡(jian)介(jie)：

電阻值/電阻率測量，波束監(jian)測(ce)與(yu)放射監測，絕緣體(ti)、開(kai)關、繼(ji)電器(qi)和其它元件(jian)的漏(lou)電流測(ce)試，半(ban)導體(ti)和(he)光電器(qi)件(jian)的I-V特(te)性(xing)分析，光纖校(xiao)準(zhun)，DCLF電路中(zhong)的電路測(ce)試與(yu)分析，傳(chuan)感器(qi)特(te)性(xing)分析，SEM波(bo)束電流測(ce)量，光電子/納(na)米(mi)電子器(qi)件(jian)特(te)征分析吉(ji)時利KEITHLEY皮安(an)表(biao)測試方案

產(chan)品(pin)特(te)性(xing)Product characteristics

電阻值/電阻率測量，波束監(jian)測(ce)與(yu)放射監測，絕緣體(ti)、開(kai)關、繼(ji)電器(qi)和其它元件(jian)的漏(lou)電流測(ce)試，半(ban)導體(ti)和(he)光電器(qi)件(jian)的I-V特(te)性(xing)分析，光纖校(xiao)準(zhun)，DCLF電路中(zhong)的電路測(ce)試與(yu)分析，傳(chuan)感器(qi)特(te)性(xing)分析，SEM波(bo)束電流測(ce)量，光電子/納(na)米(mi)電子器(qi)件(jian)特(te)征分析吉(ji)時利KEITHLEY皮安(an)表(biao)測試方案：

        專業(ye)儀(yi)器(qi)設備(bei)和測(ce)試方案供應商(shang)——上(shang)海(hai)堅(jian)融(rong)實業有(you)限(xian)公司(si)JETYOO INDUSTRIAL & 堅(jian)友（上(shang)海(hai)）測(ce)量儀器(qi)有限公(gong)司(si)JETYOO INSTRUMENTS，由(you)前(qian)安捷倫Agilent【現(xian) 是德(de)KEYSIGHT】產(chan)品(pin)技術(shu)支(zhi)持(chi)工程(cheng)師——堅 JET 和(he) 吉時利KEITHLEY【現(xian) 泰(tai)克(ke)Tektronix】忠實用(yong)戶使(shi)用(yong)工(gong)程師——融(rong) YOO於(yu)2012年(nian)共(gong)同創(chuang)立，誌在破舊(jiu)立新！*電子測(ce)試行業(ye)代理(li)經銷(xiao)商(shang)只專(zhuan)業做商務銷售(shou)，不專(zhuan)業(ye)做售(shou)前(qian)測試方案，不(bu)專(zhuan)業做售(shou)後使(shi)用(yong)培訓(xun)的空白(bai)。我(wo)們(men)的技術(shu)銷售(shou)工程(cheng)師均為本(ben)科(ke)以(yi)上(shang)學(xue)歷(li)，且(qie)均(jun)有(you)10年(nian)以(yi)上(shang)儀(yi)器(qi)行業(ye)工作(zuo)經驗(yan)，專業(ye)為中(zhong)國(guo)區(qu)用(yong)戶提供吉(ji)時利KEITHLEY皮安(an)表(biao)測試方案服(fu)務(wu)，為上(shang)海(hai)華東(dong)地區(qu)壹家以(yi)技術(shu)為導向的儀(yi)器(qi)設備(bei)綜(zong)合服(fu)務(wu)商(shang)。                    

   企(qi)業在銷售(shou)過程(cheng)中(zhong)根(gen)據給(gei)用(yong)戶實際測(ce)試使(shi)用(yong)編(bian)撰了《集成芯(xin)片I2C、SPI測(ce)試》、《存(cun)儲器(qi)SD3.0、eMMC5.1測試》、《電腦(nao)周(zhou)邊(bian)USB2.0、UART測(ce)試》、《CAN、LIN、MVB、WTB汽(qi)車總線測試》、《電源管(guan)理(li)系(xi)統(tong)BMS測(ce)試》、《音(yin)視(shi)頻多(duo)媒體(ti)I²S、HDMI、S/PDIF測(ce)試》、《GB/T國(guo)標、ANSI/ASTM美(mei)標絕緣材料電阻和(he)電阻率測試》、《防(fang)靜電工作(zuo)臺(tai)面/地(di)板/鞋(xie)服(fu)/橡(xiang)膠(jiao)絕緣材料/薄膜(mo)/包(bao)裝(zhuang)材料ANSI/ESD規(gui)範測(ce)試靜(jing)電電阻》、《電子電器(qi)/帶靜電產品(pin)的IEC 61340、EOS/ESD S.3.1和(he)SAE J1645標準(zhun)靜(jing)電場(chang)電壓、靜(jing)電消(xiao)散(san)時間測(ce)試》、《基於(yu)Wayne Kerr阻抗分析儀(yi)的介(jie)電常(chang)數、電導率、阻抗測(ce)試評(ping)估》、《6517B與(yu)B2985A高阻(zu)表測量電阻/體(ti)積(ji)電阻率》、《新材(cai)料先進(jin)半導體(ti)微(wei)電流/微(wei)電阻/低噪(zao)聲測(ce)試》、《霍爾效應與範德(de)堡測試》、《MOSFET/CMOS/IGBT半(ban)導體(ti)晶體(ti)管(guan)特(te)性(xing)曲線分析》、《電波暗(an)室EMC電磁兼(jian)容(rong)測試》、《相噪/頻(pin)響/數字(zi)模擬高速(su)信號采(cai)集/射頻(pin)微(wei)波(bo)測(ce)試》、《音(yin)視(shi)頻綜(zong)合測(ce)試分析》、《Wi-Fi/藍(lan)牙Bluetooth/LTE/GPS測(ce)試》、《大(da)眾(zhong)VW80000/通用(yong)GMW3172/ISO7637瞬態(tai)傳導(dao)抗擾(rao)/ISO16750電源故(gu)障(zhang)模擬標準(zhun)測試》、《鑲嵌機、磨(mo)拋機(ji)在電子零部件(jian)中(zhong)的應(ying)用(yong)》、《Agilent34970A，KEITHLEY2700數據(ju)采(cai)集監測(ce)多(duo)路溫度/電壓/電阻》、《循(xun)環(huan)伏(fu)安(an)法CV電化(hua)學(xue)實驗(yan)系(xi)統(tong)測(ce)試站(zhan)電流-時間曲(qu)線I-t》、《精密電流源(yuan)/納(na)伏表(biao)微(wei)小電阻測(ce)試》、《LED照(zhao)明測試》、《IoT物(wu)聯網設備(bei)低功(gong)耗測試》、《大(da)功率編程(cheng)電源/負(fu)載的太(tai)陽能光伏、新(xin)能源(yuan)汽(qi)車、充電樁、燃(ran)料電池測試》、《機(ji)電/材(cai)料/生物(wu)醫學(xue)/汽(qi)車電子雲(yun)熱(re)像》、《ABS防抱(bao)死制動(dong)系(xi)統(tong)、SRS汽(qi)車安(an)全氣(qi)囊(nang)、TPMS胎壓監測測試系(xi)統(tong)》、《電氣(qi)耐壓絕緣接地電阻泄(xie)漏(lou)電流測(ce)試》、《幹(gan)濕(shi)球(qiu)、不(bu)飽(bao)和、濕(shi)潤(run)飽(bao)和模式高壓加(jia)速老(lao)化(hua)試驗(yan)》、《高低溫/恒(heng)溫恒(heng)濕(shi)/冷(leng)熱(re)沖(chong)擊(ji)試驗(yan)》、《樹(shu)脂、塗料、膠(jiao)帶(dai)易燃物(wu)質防(fang)爆(bao)型高溫烘箱(xiang)》等(deng)上(shang)百篇技術(shu)應用(yong)解(jie)決(jue)方案文(wen)獻(xian)，為電子測(ce)試行業(ye)做出(chu)了我(wo)們(men)應(ying)有的貢(gong)獻(xian)。 

   堅(jian)忍不拔(ba)  圓融(rong)通達(da) 是我(wo)們(men)秉(bing)承(cheng)的理(li)念(nian)。嚶(ying)其鳴矣(yi)  求其友聲 我(wo)們(men)渴望(wang)跟(gen)更(geng)多(duo)誌同道(dao)合的同(tong)仁共(gong)建至真至誠的合(he)作(zuo)，為祖國(guo)電子事(shi)業(ye)添(tian)磚(zhuan)加(jia)瓦！