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基(ji)礎信(xin)息Product information
產品(pin)名(ming)稱：英(ying)國Wayne Kerr介電常數(shu)阻(zu)抗分析儀測(ce)試方(fang)案
產品(pin)型(xing)號(hao)：
更(geng)新時(shi)間(jian)：2025-06-09
產品(pin)簡(jian)介(jie)：
電阻電容電感(gan)值測量(liang)，阻抗(kang)參(can)數(shu)評估(gu)和性(xing)能(neng)分析，晶體(ti)管或(huo)集成電路的寄生(sheng)參(can)數(shu)分(fen)析，介電常數(shu)和損(sun)耗(hao)角(jiao)評估(gu)，導磁率(lv)和損(sun)耗(hao)，導電率和C-V特性(xing)，英(ying)國Wayne Kerr介電常數(shu)阻(zu)抗分析儀測(ce)試方(fang)案
產品(pin)特(te)性(xing)Product characteristics
電阻電容電感(gan)值測量(liang)，阻抗(kang)參(can)數(shu)評估(gu)和性(xing)能(neng)分析，晶體(ti)管或(huo)集成電路的寄生(sheng)參(can)數(shu)分(fen)析，介電常數(shu)和損(sun)耗(hao)角(jiao)評估(gu)，導磁率(lv)和損(sun)耗(hao)，導電率和C-V特性(xing)，英(ying)國Wayne Kerr介電常數(shu)阻(zu)抗分析儀測試方(fang)案：
英(ying)國穩科Wayne Kerr，美國是德(de)KEYSIGHT E4980A LCR電橋/阻抗(kang)分(fen)析儀，0.05%精(jing)度，500kHz/1MHz/2MHz/5MHz/10MHz/20MHz/50MHz/120MHz頻率(lv)。
專業儀器設備和測試方(fang)案供應(ying)商(shang)——上(shang)海堅(jian)融實(shi)業有(you)限(xian)公司(si)JETYOO INDUSTRIAL & 堅(jian)友(you)（上(shang)海）測量(liang)儀器(qi)有限(xian)公司(si)JETYOO INSTRUMENTS，由前安捷倫Agilent【現 是德(de)KEYSIGHT】產品(pin)技(ji)術(shu)支(zhi)持工(gong)程(cheng)師(shi)——堅(jian) JET 和 吉時(shi)利(li)KEITHLEY【現 泰克Tektronix】忠實(shi)用戶(hu)使(shi)用工(gong)程(cheng)師(shi)——融 YOO於(yu)2012年共同(tong)創(chuang)立(li)，誌(zhi)在破(po)舊(jiu)立(li)新(xin)！*電子測試行業(ye)代(dai)理經銷(xiao)商(shang)只(zhi)專業做商(shang)務(wu)銷售(shou)，不專業(ye)做售(shou)前測試方(fang)案，不專(zhuan)業(ye)做售(shou)後使(shi)用培(pei)訓(xun)的空(kong)白(bai)。我(wo)們(men)的技(ji)術(shu)銷(xiao)售(shou)工(gong)程(cheng)師(shi)均為(wei)本科以(yi)上(shang)學(xue)歷(li)，且(qie)均(jun)有(you)10年(nian)以(yi)上(shang)儀(yi)器(qi)行業工(gong)作(zuo)經驗，專(zhuan)業為(wei)中(zhong)國區用戶(hu)提(ti)供英(ying)國Wayne Kerr介電常數(shu)阻(zu)抗分析儀測試方(fang)案服務(wu)，為(wei)上(shang)海華(hua)東地區(qu)壹(yi)家以(yi)技(ji)術(shu)為(wei)導向的儀(yi)器(qi)設備綜合(he)服(fu)務商(shang)。
企業(ye)在銷售(shou)過程(cheng)中根據給(gei)用戶(hu)實(shi)際測試使(shi)用編(bian)撰(zhuan)了(le)《集成芯(xin)片I2C、SPI測(ce)試》、《存(cun)儲器(qi)SD3.0、eMMC5.1測(ce)試》、《電腦周邊USB2.0、UART測試》、《CAN、LIN、MVB、WTB汽(qi)車(che)總線(xian)測(ce)試》、《電源(yuan)管(guan)理系(xi)統(tong)BMS測(ce)試》、《音視(shi)頻(pin)多(duo)媒(mei)體(ti)I²S、HDMI、S/PDIF測試》、《GB/T國標(biao)、ANSI/ASTM美標(biao)絕(jue)緣材料電阻和電阻率測試》、《防靜電工(gong)作(zuo)臺面(mian)/地板/鞋服(fu)/橡膠(jiao)絕(jue)緣材料/薄膜/包裝材料ANSI/ESD規範測試靜電電阻》、《電子電器/帶靜電產品(pin)的IEC 61340、EOS/ESD S.3.1和SAE J1645標(biao)準靜電場電壓(ya)、靜電消散(san)時(shi)間(jian)測試》、《英(ying)國Wayne Kerr介電常數(shu)阻(zu)抗分析儀測試方(fang)案》、《6517B與B2985A高(gao)阻表測量(liang)電阻/體(ti)積電阻率》、《新材料先(xian)進半(ban)導體(ti)微(wei)電流/微(wei)電阻/低噪聲(sheng)測(ce)試》、《霍(huo)爾(er)效應(ying)與(yu)範德(de)堡(bao)測試》、《MOSFET/CMOS/IGBT半(ban)導體(ti)晶體(ti)管特(te)性(xing)曲(qu)線分析》、《Agilent34970A，KEITHLEY2700數據采(cai)集監(jian)測(ce)多(duo)路溫(wen)度/電壓(ya)/電阻》、《循環伏(fu)安法CV電化學(xue)實(shi)驗系(xi)統(tong)測(ce)試站電流-時(shi)間(jian)曲線I-t》、《精密(mi)電流源(yuan)/納(na)伏(fu)表(biao)微(wei)小(xiao)電阻測試》、《LED照明(ming)測試》、《IoT物(wu)聯(lian)網(wang)設備低功耗(hao)測(ce)試》、《電氣(qi)耐壓(ya)絕(jue)緣接地電阻泄漏(lou)電流測試》、《幹濕(shi)球(qiu)、不飽和、濕潤(run)飽和模式(shi)高(gao)壓(ya)加(jia)速(su)老化試驗》、《高低(di)溫(wen)/恒溫(wen)恒(heng)濕(shi)/冷熱(re)沖擊(ji)試驗》、《樹脂(zhi)、塗料、膠(jiao)帶易(yi)燃物(wu)質防爆型(xing)高(gao)溫(wen)烘箱(xiang)》等(deng)上(shang)百(bai)篇(pian)技(ji)術(shu)應(ying)用解(jie)決方(fang)案文獻，為(wei)電子測試行業(ye)做(zuo)出(chu)了(le)我(wo)們(men)應(ying)有(you)的貢獻。
堅(jian)忍(ren)不(bu)拔(ba) 圓融通達(da) 是我(wo)們秉承(cheng)的理念(nian)。嚶其(qi)鳴矣(yi) 求其(qi)友(you)聲 我們(men)渴望跟更(geng)多(duo)誌(zhi)同道(dao)合(he)的同(tong)仁(ren)共(gong)建至(zhi)真至(zhi)誠(cheng)的合(he)作(zuo)，為(wei)祖(zu)國電子事(shi)業添(tian)磚(zhuan)加(jia)瓦！
上(shang)壹(yi)篇(pian):吉時(shi)利(li)KEITHLEY霍(huo)爾(er)效應(ying)與(yu)範德(de)堡(bao)測試
下壹(yi)篇(pian)：半(ban)導體(ti)特性(xing)曲(qu)線圖示儀
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