基礎(chu)信(xin)息(xi)Product information

產(chan)品(pin)名稱：華儀(yi)EXTECH ESA-150安(an)規(gui)綜(zong)合測(ce)試儀(yi)

產(chan)品(pin)型(xing)號：

更新時間：2025-06-09

產(chan)品(pin)簡介(jie)：

華(hua)儀(yi)EXTECH ESA-150安(an)規(gui)綜(zong)合測(ce)試儀(yi) 專(zhuan)業為中(zhong)國(guo)區(qu)用(yong)戶提供(gong)儀(yi)器設備(bei)、測(ce)試方(fang)案、技(ji)術培(pei)訓、維修(xiu)服(fu)務(wu)

產(chan)品(pin)特(te)性Product characteristics

    專業儀(yi)器設備(bei)與(yu)測(ce)試方(fang)案供應商(shang)——上(shang)海堅融(rong)實(shi)業有限公司JETYOO INDUSTRIAL & 堅友(you)（上(shang)海）測(ce)量儀(yi)器有限公司JETYOO INSTRUMENTS，由原(yuan)安(an)捷(jie)倫Agilent技(ji)術工(gong)程(cheng)師(shi)——堅JET和泰克(ke)Tektronix用(yong)戶工(gong)程(cheng)師(shi)——融(rong)YOO於(yu)2011年共同(tong)創(chuang)立，誌在(zai)破(po)舊立新！*測(ce)試測(ce)量行(xing)業(ye)代(dai)理(li)經銷(xiao)商(shang)只(zhi)專(zhuan)業(ye)做(zuo)商(shang)務(wu)銷(xiao)售，不(bu)專業(ye)做(zuo)售前測(ce)試方(fang)案，不(bu)專業(ye)做(zuo)售後(hou)使(shi)用培(pei)訓的(de)空白(bai)。我(wo)們的(de)技(ji)術銷(xiao)售工(gong)程(cheng)師(shi)均為本(ben)科(ke)以(yi)上(shang)學歷(li)，且(qie)均有10年以(yi)上(shang)儀(yi)器行(xing)業(ye)工(gong)作經(jing)驗，專業為中(zhong)國(guo)區(qu)用(yong)戶提供(gong)華(hua)儀(yi)EXTECH ESA-150安(an)規(gui)綜(zong)合測(ce)試儀(yi)儀(yi)器設備(bei)、測(ce)試方(fang)案、技(ji)術培(pei)訓、維修(xiu)服(fu)務(wu)，為上(shang)海華(hua)東(dong)地(di)區壹家(jia)以(yi)技(ji)術為導向的(de)儀(yi)器設備(bei)綜(zong)合服(fu)務(wu)商(shang)。

華儀(yi)EXTECH ESA-150安(an)規(gui)綜(zong)合測(ce)試儀(yi) ESA-140 

交流耐壓 (ACW) 5kVac/50mA 5kVac/100mA

直流耐(nai)壓 (DCW) 6kVdc/20mA

絕緣(yuan)阻抗 (IR) 1kVdc/50GΩ

接地(di)阻抗 (GB) 40A/600mΩ/8Vac

泄漏(lou)電流 (LLT) 16A/277Vac/15~1MHz

性能(neng)監控(RUN) 16A/277Vac/4.5kW

交流電源 (AC Source) 500VA (optional)

尺寸(cun) (mm) 430x133x500

重(zhong)量 30kg

華儀(yi)EXTECH安(an)規(gui)綜(zong)合測(ce)試儀(yi)

七(qi)合(he)壹彩色安規(gui)綜(zong)合分(fen)析儀(yi)，選(xuan)配(pei)內建500VA交流電源，同(tong)時兼(jian)容多(duo)種(zhong)通訊(xun)控(kong)制接口。壹站(zhan)多(duo)任務(wu)，解決所(suo)有安全顧慮(lv)，是(shi)系(xi)統整合(he)、實(shi)驗研發*的(de)解決方(fang)案。

華儀(yi)EXTECH ESA-150安(an)規(gui)綜(zong)合測(ce)試儀(yi) ESA-140 安(an)全特(te)性與(yu)產(chan)品(pin)特(te)點(dian)

同(tong)步測(ce)試

自我檢(jian)測(ce)

緩(huan)升(sheng)上(shang)限

充(chong)電下限

快(kuai)速(su)放(fang)電

電弧偵(zhen)測(ce)

智(zhi)慧(hui)防(fang)高(gao)壓觸電線(xian)路

外部擴展(zhan)器連接(jie)

七(qi)合(he)壹完(wan)整測(ce)試

壹機(ji)滿足(zu)所有安規(gui)需(xu)求(qiu)測(ce)試。具備交流(liu)耐(nai)壓(ACW)、直流耐(nai)壓(DCW)、絕緣(yuan)阻抗 (IR)、交(jiao)流(liu)接(jie)地(di)阻抗(AC GB)、導通檢(jian)測(ce)(GC)、接(jie)觸電流(TC)、功(gong)率測(ce)試(RT)以(yi)及(ji)內建交流電源共七(qi)種(zhong)功(gong)能(neng)，堪稱為實(shi)驗室的(de)*夥(huo)伴(ban)，功(gong)能(neng)完整(zheng)的(de)旗艦型(xing)機種(zhong)。

耐壓接地(di)，雙效(xiao)並(bing)行(xing)

儀(yi)器具備(bei)華(hua)儀(yi)DualCHEK 功(gong)能(neng)，可使(shi)耐壓(AC/DC)與接(jie)地(di)阻抗(GB)進(jin)行(xing)同(tong)步測(ce)試，以(yi)提高(gao)實(shi)驗室或產(chan)線(xian)整體測(ce)試效(xiao)率。

快(kuai)速(su)放(fang)電、安全關(guan)鍵(jian)

EEC快(kuai)速(su)放(fang)電裝(zhuang)置(zhi)，能(neng)使(shi)被測(ce)物(wu)在(zai)測(ce)試後(hou)50ms的(de)極短時(shi)間內放電，避(bi)免殘(can)余電壓造成人(ren)員觸電風險，增強測(ce)試環境(jing)安(an)全度(du)。

熱(re)態(tai)耐壓測(ce)試

熱(re)態(tai)耐壓測(ce)試，能(neng)在(zai)DUT開(kai)機的(de)狀態(tai)下進(jin)行(xing)耐(nai)壓測(ce)試，並(bing)且(qie)符合(he)中(zhong)國(guo)標準(zhun)GB/T 12350-2009 ，針(zhen)對(dui)小功(gong)率電動機(ji)相(xiang)關應用產(chan)品(pin)，對質量要(yao)求擁有更高(gao)的(de)測(ce)試標準(zhun)。

*仿真(zhen)人(ren)體電路

內建7組人(ren)體模(mo)擬(ni)線(xian)路(MD)，可模(mo)擬(ni)真(zhen)實(shi)世(shi)界(jie)的(de)各種(zhong)觸電危險狀況(kuang) 。

1.5.1耐壓測(ce)試（Dielectric Withstand Voltage Test）

耐壓測(ce)試的(de)基礎(chu)理(li)論是(shi)將(jiang)壹個(ge)產(chan)品(pin)暴露(lu)在(zai)非(fei)常惡劣的(de)環境(jing)之(zhi)下，如果產(chan)品(pin)能(neng)夠在(zai)這(zhe)種(zhong)惡

劣的(de)環境(jing)之(zhi)下還(hai)能(neng)維持(chi)正(zheng)常狀況(kuang)，就(jiu)可以(yi)確(que)定在(zai)正(zheng)常的(de)環境(jing)之(zhi)下工(gong)作，也(ye)壹定可以(yi)維持(chi)

很正(zheng)常的(de)狀況(kuang)。較(jiao)常使(shi)用耐(nai)壓測(ce)試的(de)情(qing)況(kuang)為：設計(ji)時(shi)的(de)功(gong)能(neng)測(ce)試確(que)定所設計(ji)的(de)產(chan)品(pin)能(neng)達到(dao)其(qi)功(gong)能(neng)要(yao)求的(de)條件。

生(sheng)產(chan)時的(de)規(gui)格(ge)測(ce)試確(que)認所(suo)生(sheng)產(chan)的(de)產(chan)品(pin)能(neng)達到(dao)其(qi)規(gui)格(ge)要(yao)求的(de)標準(zhun)。

品(pin)保時(shi)的(de)確(que)認測(ce)試確(que)認產(chan)品(pin)的(de)質量能(neng)符合(he)安(an)規(gui)的(de)標準(zhun)。

WARNING

7維修(xiu)後(hou)的(de)安全測(ce)試確(que)認維修(xiu)後(hou)的(de)產(chan)品(pin)能(neng)維持(chi)符合安規(gui)的(de)標準(zhun)。

不(bu)同(tong)的(de)產(chan)品(pin)有不(bu)同(tong)的(de)技(ji)術規(gui)格(ge)，基本(ben)上(shang)在(zai)耐(nai)壓測(ce)試時是將(jiang)壹個(ge)高於(yu)正(zheng)常工(gong)作的(de)電壓加(jia)在(zai)

產(chan)品(pin)上(shang)測(ce)試，這(zhe)個(ge)電壓必須(xu)持(chi)續壹段(duan)規(gui)定的(de)時間。如果(guo)壹個(ge)零組件在(zai)規(gui)定的(de)時間內，其

漏電電流量亦(yi)保持在(zai)規(gui)定的(de)範圍內，就可(ke)以(yi)確(que)定這(zhe)個(ge)零組件在(zai)正(zheng)常的(de)條件下運轉(zhuan)，應該

是非常安全。而(er)優(you)良的(de)設計(ji)和選擇(ze)良好的(de)絕緣(yuan)材(cai)料(liao)可(ke)以(yi)保(bao)護使(shi)用者(zhe)，讓他(ta)免予受(shou)到(dao)意(yi)外

感電。

本儀(yi)器所做(zuo)的(de)耐壓測(ce)試，壹般稱之為“高(gao)電壓介電測(ce)試”，簡稱為“耐(nai)壓測(ce)試”。基本(ben)

的(de)規(gui)定是以(yi)兩(liang)倍於(yu)被測(ce)物(wu)的(de)工(gong)作電壓，再(zai)加(jia)壹千伏(fu)特(te)，作為測(ce)試的(de)電壓標準(zhun)。有些產(chan)品(pin)

的(de)測(ce)試電壓可能(neng)高於(yu)2 X工(gong)作電壓+ 1000 V。

例如有些產(chan)品(pin)的(de)工(gong)作電壓範圍是從(cong)100V到(dao)240V，這(zhe)類產(chan)品(pin)的(de)測(ce)試電壓可能(neng)在(zai)1000V

到(dao)4000V之(zhi)間或更(geng)高(gao)。壹般而(er)言，具有“雙絕緣(yuan)”設計(ji)的(de)產(chan)品(pin)，其使(shi)用的(de)測(ce)試電壓可

能(neng)高於(yu)2 X工(gong)作電壓+ 1000 V的(de)標準(zhun)。

耐壓測(ce)試在(zai)產(chan)品(pin)的(de)設計(ji)和樣品(pin)制作時(shi)比(bi)正(zheng)式生(sheng)產(chan)時的(de)測(ce)試更為精密(mi)，因為產(chan)品(pin)在(zai)設計(ji)測(ce)

試階段(duan)便已(yi)決定產(chan)品(pin)的(de)安全性。雖然(ran)在(zai)產(chan)品(pin)設計(ji)時(shi)只(zhi)是(shi)用少數(shu)的(de)樣品(pin)來作判斷，然(ran)而(er)生(sheng)

產(chan)時的(de)在(zai)線(xian)測(ce)試更應嚴(yan)格(ge)要(yao)求所有的(de)產(chan)品(pin)都必須能(neng)通過(guo)安(an)規(gui)標準(zhun)，可以(yi)確(que)認沒有不(bu)良品(pin)

會流出(chu)生(sheng)產(chan)線(xian)。

耐壓測(ce)試器的(de)輸出(chu)電壓必須(xu)保(bao)持在(zai)規(gui)定電壓的(de)100%到(dao)120%的(de)範圍內。AC耐壓測(ce)試器

的(de)輸出(chu)頻(pin)率必(bi)須(xu)維持(chi)在(zai)40到(dao)70Hz之(zhi)間，同(tong)時其(qi)波峰值不(bu)得(de)低於(yu)均方(fang)根（RMS）電壓值的(de)

1.3倍，並(bing)且(qie)其波(bo)峰值不(bu)得(de)高(gao)於(yu)均方(fang)根（RMS）電壓值的(de)1.5倍。

高壓測(ce)試能(neng)檢(jian)測(ce)出(chu)下列狀況(kuang)

絕緣(yuan)材(cai)料(liao)的(de)絕緣(yuan)強(qiang)度(du)太(tai)弱(ruo)

絕緣(yuan)體上(shang)有針(zhen)孔

零組件之(zhi)間的(de)距離(li)不(bu)夠

絕緣(yuan)體被擠壓而破(po)裂

1.5.1.1交流（AC）測(ce)試的(de)優缺點

請(qing)先(xian)與受(shou)測(ce)試產(chan)品(pin)所的(de)安規(gui)單(dan)位確(que)認該(gai)產(chan)品(pin)應該使(shi)用何(he)種(zhong)電壓，有些產(chan)品(pin)可以(yi)同(tong)時

接受(shou)直流和交流(liu)兩(liang)種(zhong)測(ce)試選擇(ze)，但是(shi)仍然(ran)有多(duo)種(zhong)產(chan)品(pin)只允(yun)許(xu)接(jie)受(shou)直流或(huo)交(jiao)流中(zhong)的(de)壹種(zhong)測(ce)

試。如果安規(gui)規(gui)範(fan)允(yun)許(xu)同(tong)時接(jie)受(shou)直流或(huo)交(jiao)流測(ce)試，制造廠(chang)就(jiu)可(ke)以(yi)自己決(jue)定何(he)種(zhong)測(ce)試對於(yu)

產(chan)品(pin)較(jiao)為適當(dang)。為了達成此目地(di)，使(shi)用者(zhe)必須(xu)了解直流和交流(liu)測(ce)試的(de)優缺點。

交流耐壓（ACW）測(ce)試的(de)特(te)點(dian)

大部份做(zuo)耐(nai)壓測(ce)試的(de)被測(ce)物(wu)都會含有壹些(xie)雜散電容量。用交流測(ce)試時可能(neng)無法(fa)充(chong)飽(bao)這(zhe)些

雜散電容，會有壹個(ge)持續電流流(liu)過(guo)這(zhe)些雜散電容。

交流耐壓（ACW）測(ce)試的(de)優點(dian)

1.壹般而(er)言，交流測(ce)試比(bi)直流測(ce)試更容易被安規(gui)單(dan)位接受(shou)。主(zhu)因是大部份的(de)產(chan)品(pin)都使(shi)

用交流電，而交(jiao)流(liu)測(ce)試可以(yi)同(tong)時對(dui)產(chan)品(pin)作正(zheng)負極性的(de)測(ce)試，與產(chan)品(pin)使(shi)用的(de)環境(jing)*壹

致(zhi)，合乎(hu)實際(ji)使(shi)用狀況(kuang)。

2.由於(yu)交流(liu)測(ce)試時無法充(chong)飽(bao)那(na)些(xie)雜散電容，但不(bu)會有瞬間沖擊電流發生(sheng)，因此不(bu)需(xu)讓測(ce)

試電壓緩(huan)慢(man)上(shang)升，可(ke)以(yi)壹開(kai)始(shi)測(ce)試就全電壓加(jia)上(shang)，除非這(zhe)種(zhong)產(chan)品(pin)沖擊電壓很敏(min)感(gan)。

3.由於(yu)交流(liu)測(ce)試無法充(chong)滿(man)那(na)些(xie)雜散電容，在(zai)測(ce)試後(hou)不(bu)必對(dui)測(ce)試物作放(fang)電的(de)動作，這(zhe)是

另(ling)外(wai)壹個(ge)優點。

交流耐壓（AC）測(ce)試的(de)缺點

1.主要(yao)的(de)缺點為，如(ru)果(guo)被測(ce)物(wu)的(de)雜散電容量很大或被測(ce)物(wu)為電容性負載(zai)時(shi)，這(zhe)樣所產(chan)生(sheng)

的(de)電流，會(hui)遠(yuan)大於(yu)實際(ji)的(de)漏電電流，因而無法得(de)知(zhi)實際的(de)漏電電流。

2.另(ling)外(wai)壹個(ge)缺點是(shi)由(you)於(yu)必須(xu)供(gong)應被測(ce)物(wu)的(de)雜散電容所需(xu)的(de)電流，機(ji)器所需(xu)輸出(chu)的(de)電流會(hui)

比(bi)采(cai)用直流測(ce)試時的(de)電流大(da)很(hen)多(duo)。這(zhe)樣會增加(jia)操(cao)作人(ren)員的(de)危險性。

1.5.1.2直流（DC）測(ce)試的(de)優缺點

直流（DC）測(ce)試的(de)特(te)點(dian)

在(zai)直流耐(nai)壓測(ce)試時，被測(ce)物(wu)上(shang)的(de)雜散電容會被充(chong)滿(man)，直流耐(nai)壓測(ce)試時所造成的(de)容性電流，

在(zai)雜散電容被充(chong)滿(man)後(hou)，會下降到(dao)趨(qu)近於(yu)零。

直流（DC）測(ce)試的(de)優點(dian)

壹旦(dan)被測(ce)物(wu)上(shang)的(de)雜散電容被充(chong)滿(man)，只(zhi)會(hui)剩(sheng)下被測(ce)物(wu)實際的(de)漏電電流。直流耐(nai)壓測(ce)試可以(yi)

很清楚的(de)顯示出(chu)被(bei)測(ce)物(wu)實際的(de)漏電電流。

另(ling)外(wai)壹個(ge)優點是(shi)由於(yu)僅需(xu)在(zai)短時(shi)間內，供應被測(ce)物(wu)的(de)充(chong)電電流，其(qi)它(ta)時間所需(xu)供(gong)應的(de)電

流非常小，所以(yi)機(ji)器的(de)電流容量遠(yuan)低於(yu)交流(liu)耐(nai)壓測(ce)試時所需(xu)的(de)電流容量。

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直流（DC）測(ce)試的(de)缺點

1.除非被(bei)測(ce)物(wu)上(shang)沒有任何(he)電容量存在(zai)，否(fou)則(ze)測(ce)試電壓必須(xu)由(you)“零”開始(shi)，緩(huan)慢(man)上(shang)升，以(yi)

避(bi)免充(chong)電電流過(guo)大(da)，電容量越大所需(xu)的(de)緩(huan)升(sheng)時(shi)間越長(chang)，壹次(ci)所能(neng)增加(jia)的(de)電壓也越(yue)低。充(chong)

電電流過(guo)大(da)時，壹定會引(yin)起測(ce)試器的(de)誤判，使(shi)測(ce)試的(de)結果(guo)不(bu)正(zheng)確(que)。

2.由於(yu)直流耐(nai)壓測(ce)試會對被測(ce)物(wu)充(chong)電，所以(yi)在(zai)測(ce)試後(hou)，壹定要(yao)先(xian)對被(bei)測(ce)物(wu)放電，才能(neng)做

下壹步(bu)工(gong)作。

3.與交流測(ce)試不(bu)壹樣，直流耐(nai)壓測(ce)試只能(neng)單壹極(ji)性測(ce)試，如果產(chan)品(pin)要(yao)使(shi)用於(yu)交流(liu)電壓下，

這(zhe)個(ge)缺點必(bi)須(xu)被考慮(lv)。這(zhe)也是大多(duo)數(shu)安規(gui)單(dan)位都建議(yi)使(shi)用交(jiao)流耐(nai)壓測(ce)試的(de)原(yuan)因。

4.在(zai)交(jiao)流耐(nai)壓測(ce)試時，電壓的(de)波峰(feng)值(zhi)是(shi)電表顯示值的(de)1.4倍，這(zhe)壹點(dian)是壹般電表所(suo)不(bu)能(neng)

顯示的(de)，也是(shi)直流耐(nai)壓測(ce)試所無法達(da)到(dao)的(de)。所以(yi)多(duo)數(shu)安規(gui)單(dan)位都要(yao)求，如果(guo)使(shi)用直流

耐壓測(ce)試，必須提高(gao)測(ce)試電壓到(dao)相(xiang)等(deng)的(de)數(shu)值。

1.5.2絕緣(yuan)電阻測(ce)試（Insulation Resistance Test）

新設計(ji)的(de)壹些(xie)安規(gui)分(fen)析儀(yi)大(da)都將(jiang)絕緣(yuan)電阻測(ce)試的(de)功(gong)能(neng)含蓋在(zai)內，基本(ben)上(shang)絕緣(yuan)電阻測(ce)試功(gong)

能(neng)必須(xu)提供(gong)壹個(ge)500到(dao)1000VDC的(de)電壓，同(tong)時電阻的(de)測(ce)量範圍也必須可(ke)以(yi)由(you)幾(ji)百(bai)K

測(ce)量到(dao)幾(ji)個(ge)G。這(zhe)些功(gong)能(neng)可以(yi)讓產(chan)品(pin)的(de)制造廠(chang)符(fu)合(he)安(an)全要(yao)求的(de)規(gui)定，TUV和VDE等(deng)安

規(gui)執行(xing)單(dan)位在(zai)某些(xie)特(te)定的(de)產(chan)品(pin)會要(yao)求先(xian)做絕緣(yuan)電阻的(de)測(ce)試，然(ran)後(hou)才能(neng)執行(xing)耐(nai)壓測(ce)試，這(zhe)

項規(gui)定目前大(da)都被引用在(zai)產(chan)品(pin)設計(ji)所(suo)執行(xing)的(de)安規(gui)試驗上(shang)。

絕緣(yuan)電阻測(ce)試的(de)基本(ben)理(li)論與(yu)耐(nai)壓測(ce)試非常類似，耐(nai)壓測(ce)試的(de)判定是以(yi)漏(lou)電流量為基準(zhun)，

而絕緣(yuan)電阻測(ce)試則(ze)以(yi)電阻值(zhi)的(de)形(xing)態(tai)作為判定依據(ju)，通常必須(xu)為多(duo)少M以(yi)上(shang)。

絕緣(yuan)電阻值(zhi)越(yue)高表(biao)示產(chan)品(pin)的(de)絕緣(yuan)越(yue)好(hao)。絕緣(yuan)電阻測(ce)試的(de)接線(xian)方(fang)式與耐(nai)壓測(ce)試*相同(tong)，

測(ce)量到(dao)的(de)絕緣(yuan)電阻值(zhi)為兩(liang)個(ge)測(ce)之(zhi)間以(yi)及(ji)其(qi)周邊連(lian)接(jie)在(zai)壹起的(de)各項關連網(wang)絡所形(xing)成的(de)等(deng)效(xiao)

電阻值(zhi)。

華儀(yi)電子的(de)安規(gui)測(ce)試設備(bei)內所含蓋的(de)絕緣(yuan)電阻測(ce)試功(gong)能(neng)，是壹項獨立的(de)測(ce)試功(gong)能(neng)，不(bu)會

與耐壓測(ce)試的(de)功(gong)能(neng)互相(xiang)重(zhong)疊(die)，使(shi)用上(shang)更為簡便。

1.5.3接地(di)電阻測(ce)試（Ground Continuity Test or Ground Bond Test）

接地(di)電阻測(ce)試的(de)主要(yao)目的(de)為確(que)定被測(ce)物(wu)在(zai)故(gu)障的(de)情(qing)況(kuang)之下，安全接(jie)地(di)線(xian)是否能(neng)承擔(dan)故(gu)障

的(de)電流流(liu)量，接地(di)的(de)電阻值(zhi)必(bi)須越(yue)低越(yue)好(hao)，這(zhe)樣才能(neng)確(que)認壹旦(dan)產(chan)品(pin)發生(sheng)故障時，在(zai)輸入

的(de)電源開(kai)關(guan)尚(shang)未(wei)切斷(duan)電源以(yi)前，

華儀(yi)EXTECH安(an)規(gui)綜(zong)合測(ce)試儀(yi)系(xi)列產(chan)品(pin)

SE 系列安規(gui)綜(zong)合分(fen)析儀(yi)

SE 系列安規(gui)綜(zong)合分(fen)析儀(yi)

EST-300 系列耐壓測(ce)試儀(yi)

EST-300 系列耐壓測(ce)試儀(yi)

EPV-500 系列太(tai)陽(yang)能(neng)四合(he)壹安(an)規(gui)分(fen)析儀(yi)

EPV-500 系列太(tai)陽(yang)能(neng)四合(he)壹安(an)規(gui)分(fen)析儀(yi)

7006 多(duo)通道(dao)擴展(zhan)器

7006 多(duo)通道(dao)擴展(zhan)器

7630 接觸電流測(ce)試儀(yi)

7630 接觸電流測(ce)試儀(yi)

ESD 系列直流接(jie)地(di)阻抗測(ce)試儀(yi)

ESD 系列直流接(jie)地(di)阻抗測(ce)試儀(yi)

7300 系列交流接地(di)阻抗測(ce)試儀(yi)

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8200 系列絕緣(yuan)測(ce)試儀(yi)

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7470 系列耐壓測(ce)試儀(yi)

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7480 1kVA 交流耐壓測(ce)試儀(yi)

7480 1kVA 交流耐壓測(ce)試儀(yi)

型(xing)號

 ESA-140 ACW + DCW + IR + AC GB) + RUN + LLT華儀(yi)EXTECH安(an)規(gui)綜(zong)合測(ce)試儀(yi)

華儀(yi)EXTECH ESA-150安(an)規(gui)綜(zong)合測(ce)試儀(yi)  500VA ACW + DCW + IR + AC GB) + RUN + LLT