基(ji)礎信息(xi)Product information

產品(pin)名稱(cheng)：中國(guo)臺灣慶聲KSON THS-F恒(heng)溫(wen)恒(heng)濕箱

產品(pin)型(xing)號(hao)：

更(geng)新時(shi)間：2025-06-09

產品(pin)簡介：

專業(ye)為中國(guo)區用(yong)戶提供(gong)中國(guo)臺灣慶聲KSON THS-F恒(heng)溫(wen)恒(heng)濕箱/高低(di)溫(wen)試(shi)驗箱儀(yi)器設備、測試(shi)方(fang)案(an)、技術(shu)培訓(xun)、維(wei)修(xiu)服(fu)務，為(wei)上海(hai)華(hua)東(dong)地區壹家以技術(shu)為導(dao)向(xiang)的儀器設備綜(zong)合服(fu)務商(shang)。

產(chan)品(pin)特(te)性(xing)Product characteristics

    專業(ye)儀器設備與測試(shi)方(fang)案(an)供應商(shang)——上海(hai)堅(jian)融實業(ye)有(you)限公(gong)司JETYOO INDUSTRIAL & 堅(jian)友（上海(hai)）測量儀器有(you)限公(gong)司JETYOO INSTRUMENTS，由(you)原安捷(jie)倫Agilent技術(shu)工程師(shi)——堅(jian)JET和(he)泰克(ke)Tektronix用(yong)戶工程師(shi)——融YOO於2011年共(gong)同創(chuang)立(li)，誌在(zai)破舊立(li)新(xin)！*測試(shi)測量(liang)行業(ye)代理(li)經(jing)銷(xiao)商(shang)只(zhi)專業(ye)做商(shang)務銷(xiao)售(shou)，不(bu)專(zhuan)業(ye)做售(shou)前測(ce)試(shi)方(fang)案(an)，不專(zhuan)業(ye)做售(shou)後使(shi)用(yong)培訓(xun)的空白(bai)。我(wo)們的技術(shu)銷售(shou)工程師(shi)均為本科以上學(xue)歷(li)，且(qie)均有(you)10年以上儀(yi)器行業(ye)工作經(jing)驗，專業(ye)為中國(guo)區用(yong)戶提供(gong)儀(yi)器設備、測試(shi)方(fang)案(an)、技術(shu)培訓(xun)、維(wei)修(xiu)服(fu)務，為(wei)上海(hai)華(hua)東(dong)地區壹家以技術(shu)為導(dao)向(xiang)的儀器設備綜(zong)合服(fu)務商(shang)。

中國(guo)臺灣慶聲KSON THS-F恒(heng)溫(wen)恒(heng)濕箱/高低(di)溫(wen)試(shi)驗箱(桌(zhuo)上型(xing))(Bench-top Temperature&Humidity Chamber) 

恒(heng)溫(wen)恒(heng)濕機-桌(zhuo)上型(xing)的目(mu)的是仿真產(chan)品(pin)在(zai)氣候(hou)環(huan)境溫濕組合條件(jian)下(高(gao)低溫操作&儲存、溫(wen)度(du)循環(huan)、高溫(wen)高濕、 低溫低(di)濕、結露(lu)試(shi)驗...等)，檢(jian)測(ce)產品(pin)本身(shen)的適應能(neng)力與特(te)性(xing)是否改(gai)變(bian)，並(bing)且(qie)提供(gong)較輕(qing)巧的體積(ji)，方(fang)便(bian)研(yan)發(fa)單(dan)位(wei)測試(shi)時(shi)使(shi)用(yong)。 

※需符(fu)合性規(gui)範之(zhi)要(yao)求(qiu)(IEC、JIS、GB、MIL…)以達到(dao)間量測(ce)程序*性(含(han)測(ce)試(shi)步驟(zhou)、條件(jian)、方(fang)法(fa))避免(mian)認(ren)知(zhi)不(bu)同，並(bing)縮(suo)小(xiao)量(liang)測(ce)不(bu)確定的因(yin)素(su)範圍發(fa)生。

中國(guo)臺灣慶聲KSON THS-F恒(heng)溫(wen)恒(heng)濕箱/高低(di)溫(wen)試(shi)驗箱特(te)點(dian)介紹(shao)：

全自動配合待測品(pin)負(fu)載量控(kong)制(zhi)壓(ya)縮機冷(leng)媒(mei)流(liu)量達(da)到(dao)省(sheng)電(dian)目(mu)的

同業(ye)數量(liang)多(duo)機臺(tai)安全保(bao)護偵測(ce)點(dian)

專li&認(ren)證：

a.恒(heng)溫(wen)恒(heng)濕機防(fang)止(zhi)結露(lu)

b.伺(si)服(fu)超音波(bo)控制(zhi)技術(shu)

c.通過EMC防電(dian)磁(ci)波(bo)幹(gan)擾

d.榮(rong)獲蘇州名pai產品(pin)證書(shu)

世(shi)界(jie)shou創(chuang)：

a.斜(xie)率段(duan)＆恒(heng)溫(wen)段(duan)同步(bu)溫濕度(du)設定

b.完整(zheng)實(shi)時(shi)試(shi)驗曲線(xian)分(fen)析顯(xian)示(shi)，無時(shi)間限制(zhi)

c.試(shi)驗結束待(dai)測品(pin)回常(chang)溫(wen)保(bao)護機制(zhi)

d.內建USB2.0接(jie)口數(shu)字記錄器(紀(ji)錄中不(bu)需插(cha)入(ru)隨身(shen)碟(die)，並(bing)可拷(kao)貝試(shi)驗曲線(xian)及加載程序)

e.機臺(tai)或(huo)計算(suan)機重(zhong)新(xin)來(lai)電(dian)遠(yuan)程聯機試(shi)驗曲線(xian)自動接(jie)續

控制(zhi)器創(chuang)新(xin)：

a.動(dong)態(tai)實時(shi)變(bian)化(hua)程序編輯(ji)曲(qu)線(xian)

b.溫(wen)濕度(du)設定條件(jian)防呆(dai)保(bao)護

c.機臺(tai)重(zhong)新(xin)來(lai)電(dian)試(shi)驗曲線(xian)不(bu)中斷

d.符(fu)合聯想計算(suan)機的Labview控制(zhi)命(ming)令

e.AI(人(ren)工智能(neng))+Fuzzy(模(mo)糊控(kong)制(zhi))技術(shu)

f.繁(fan)簡體中文(wen)、英(ying)文三(san)種(zhong)畫(hua)面語(yu)系切換(huan)

中國(guo)臺灣慶聲KSON THS-F恒(heng)溫(wen)恒(heng)濕箱/高低(di)溫(wen)試(shi)驗箱技術(shu)指標參(can)數(shu)

Models THS-F

 內箱(xiang)尺寸(cun)(W.D.H)cm 40x40x55

 外(wai)箱(xiang)尺寸(cun)(W.D.H)cm 101x111x85   

溫度(du)範圍

-20℃~100℃

 濕度(du)範圍 30～98%R.H

 溫(wen)度(du)穩定度(du)℃ ±0.2℃

 溫度(du)分辨率℃ ±0.01℃

 濕度(du)穩定度(du)% R.H ±2% R.H

 濕度(du)分辨率% R.H ±0.1% R.H

※以上規(gui)格僅(jin)供參(can)考(kao)，如有(you)變更(geng)不另(ling)行通(tong)知(zhi)。

  恒(heng)溫(wen)恒(heng)濕觸控式(shi)控(kong)制(zhi)系統

 控(kong)制(zhi)系統通(tong)過EMC(電(dian)磁(ci)兼(jian)容(rong)性(xing))驗證

  直(zhi)立式(shi)全彩(cai)液晶(jing)TFT,簡/繁(fan)/英(ying)文顯(xian)示(shi)器

  9999 HOURS / STEP 每(mei)段(duan)可控制(zhi)時(shi)間

  150 program x 100 step 程序記憶(yi)容(rong)量(liang)

  USB2.0儲存接(jie)口(kou)與曲線(xian)記(ji)錄 

  12 bit D/A 溫度(du)濕度(du)轉(zhuan)換(huan)接(jie)口(kou)

  全自動控(kong)制(zhi)與(yu)安全保(bao)護協調系統

  High power LED運(yun)轉(zhuan)狀(zhuang)態(tai)指示(shi)燈(deng) 

  Index 運(yun)轉(zhuan)狀(zhuang)態(tai)指示(shi)燈(deng) 

高(gao)低溫試(shi)驗箱相關規(gui)範資料(liao)介(jie)紹(shao)：

  項目(mu) 溫度(du) 時(shi)間 其它(ta)

Inverter-可靠(kao)度(du)試(shi)驗

常溫(wen)初(chu)期試(shi)驗

25 ℃ TIME≧2小(xiao)時(shi)

-

低(di)溫(wen)初(chu)期(qi)試(shi)驗 0 ℃ or -5 ℃ TIME≧2小(xiao)時(shi) -

液(ye)晶(jing)顯(xian)示(shi)器LCD

高(gao)溫(wen)存(cun)儲 60℃,30%RH 120 小(xiao)時(shi) 批(pi)註(zhu)1

低(di)溫(wen)存儲 -20℃ 120 小(xiao)時(shi) 批(pi)註(zhu)1

偏光(guang)板(ban) 高(gao)溫(wen) 80℃×500HR -

濕熱 60℃×90%RH×500HR以下的工作條件(jian)

液晶(jing)顯示(shi)器於Aging階段(duan)常用(yong)的試(shi)驗條件(jian) 條件(jian)1 50℃ 6.5小(xiao)時(shi) (15#~21# TFT )

條件(jian)2 65℃ 4小(xiao)時(shi) (15#~21# TFT)

觸(chu)控(kong)式(shi)面板(ban)

高(gao)溫試(shi)驗-1 70℃/40～50%R.H. 120小(xiao)時(shi)

試(shi)驗結束後(hou)室溫下靜(jing)置2小(xiao)時(shi)再(zai)行測(ce)試(shi)，24小(xiao)時(shi)之(zhi)後(hou)在(zai)測壹(yi)次。

高溫試(shi)驗-2 70℃ 240小(xiao)時(shi)

試(shi)驗結束後(hou)室溫下靜(jing)置2小(xiao)時(shi)再(zai)行測(ce)試(shi)，24小(xiao)時(shi)之(zhi)後(hou)在(zai)測壹(yi)次。