基(ji)礎(chu)信息(xi)Product information

產(chan)品(pin)名稱(cheng)：慶聲KSON薄(bo)膜太陽(yang)能(neng)電池(chi)溫循濕冷(leng)凍試(shi)驗(yan)機(ji)

產(chan)品(pin)型(xing)號(hao)：

更(geng)新(xin)時(shi)間(jian)：2025-06-09

產(chan)品(pin)簡介：

慶(qing)聲KSON薄(bo)膜太陽(yang)能(neng)電池(chi)溫循濕冷(leng)凍試(shi)驗(yan)機(ji) 符(fu)合IEC61646-10.11、GB18911-10.11、CNS15115-10.11熱循(xun)環(huan)、濕冷(leng)凍、濕熱規(gui)範(fan)當中的(de)試驗(yan)要(yao)求(qiu)

產(chan)品(pin)特性(xing)Product characteristics

慶聲KSON薄(bo)膜太陽(yang)能(neng)電池(chi)溫循濕冷(leng)凍試(shi)驗(yan)機(ji)  

    薄膜太陽(yang)電池(chi)可以(yi)使(shi)用(yong)在(zai)價(jia)格低廉的玻璃、塑料(liao)、陶瓷(ci)、石墨，金(jin)屬(shu)片等(deng)不(bu)同(tong)材料(liao)當(dang)基板(ban)來(lai)制造(zao)，薄膜太陽(yang)電池(chi)在溫度循環(huan)、濕冷(leng)凍、濕熱試(shi)驗(yan)中(zhong)的量(liang)測(ce)及(ji)電壓(ya)輸(shu)入的(de)方式，與晶圓(yuan)型(xing)是(shi)不(bu)壹樣的所(suo)以(yi)量(liang)測(ce)方式也所(suo)有(you)不(bu)同(tong)，是(shi)不(bu)可以(yi)混淆(xiao)的(de)，薄(bo)膜型(xing)太(tai)陽能(neng)電池(chi)所依據(ju)的試(shi)驗(yan)規(gui)範(fan)為IEC 61646、IEC 61215、UL1703、GB9535、GB18911..等(deng)。

形(xing)成(cheng)可產(chan)生電壓(ya)的薄膜厚(hou)度僅(jin)需數(shu)μm，因此(ci)在(zai)同(tong)壹(yi)受光面積(ji)之下可(ke)較矽(gui)晶圓(yuan)太(tai)陽(yang)能(neng)電池(chi)大幅(fu)減(jian)少(shao)原料(liao)的(de)用(yong)量(liang)(厚(hou)度可低於(yu)矽(gui)晶圓(yuan)太(tai)陽(yang)能(neng)電池(chi)90%以(yi)上)，目(mu)前(qian)轉換(huan)效率(lv)高以(yi)可達13%，薄(bo)膜電池(chi)太陽電池(chi)除了(le)平面之外，也因為(wei)具(ju)有(you)可(ke)撓(nao)性可以(yi)制作(zuo)成(cheng)非(fei)平面構(gou)造(zao)其(qi)應用範(fan)圍大，可與建(jian)築物結(jie)合或(huo)是(shi)變成(cheng)建(jian)築體的壹(yi)部(bu)份，在薄(bo)膜太陽(yang)電池(chi)制造(zao)上，則可使(shi)用(yong)各(ge)式(shi)各樣的沈(shen)積(deposition)技術，壹層(ceng)又壹(yi)層(ceng)地(di)把(ba)p-型(xing)或(huo)n-型(xing)材料(liao)長上去(qu)，常(chang)見的(de)薄膜太陽(yang)電池(chi)有(you)非(fei)晶矽(gui)、CuInSe2 (CIS)、CuInGaSe2 (CIGS)、和CdTe..等(deng)。

慶聲KSON薄(bo)膜太陽(yang)能(neng)電池(chi)溫循濕冷(leng)凍試(shi)驗(yan)機(ji) 產(chan)品(pin)特色(se)：

a.符(fu)合IEC61646-10.11、GB18911-10.11、CNS15115-10.11熱循(xun)環(huan)、濕冷(leng)凍、濕熱規(gui)範(fan)當中的(de)試驗(yan)要(yao)求(qiu)

b.試驗(yan)過(guo)程進(jin)行(xing)相關電性(xing)與物理(li)量(liang)量(liang)測(ce)

c.櫃內頂端不(bu)得(de)有(you)凝(ning)結水(shui)滴在試(shi)件上

d.專li設(she)計太陽(yang)能(neng)放(fang)置治(zhi)具(ju)

e.試驗(yan)結(jie)束(shu)待(dai)測品(pin)回(hui)常(chang)溫保(bao)護機(ji)制(zhi)

目(mu)的(de)：確定組件於(yu)溫度重復變化時(shi),引(yin)起的疲(pi)勞和其(qi)它(ta)應(ying)力(li)的(de)熱失(shi)效。

要求(qiu)：

1.整個(ge)測(ce)試過(guo)程(cheng)中紀錄(lu)模(mo)塊溫(wen)度，測量(liang)及(ji)紀錄(lu)模(mo)塊溫(wen)度之儀器(qi)準確度±1℃

2.整個(ge)測(ce)試過(guo)程(cheng)中，監測每(mei)壹(yi)個(ge)模(mo)塊內部電連(lian)續(xu)性之儀器(qi)

3.監測每(mei)壹(yi)個(ge)模(mo)塊之壹個(ge)隱(yin)現端和邊框或支(zhi)撐架(jia)之間絕緣(yuan)完(wan)整性(xing)之儀器(qi)

4.監測可(ke)能(neng)產(chan)生之任何(he)開(kai)路或接地(di)失(shi)效(xiao)(測試(shi)過程(cheng)中(zhong)無(wu)間(jian)歇開(kai)路或(huo)接地失效)。

慶聲KSON薄(bo)膜太陽(yang)能(neng)電池(chi)溫循濕冷(leng)凍試(shi)驗(yan)機(ji) 參(can)數(shu)指標

溫度循環(huan)比(bi)較

低溫(wen)

高溫(wen)

溫變率(lv)

駐留(liu)時(shi)間(jian)

循環(huan)數(shu)

IEC61646

-40±2℃

85±2℃

大100℃/h

少10min

50、200

GB18911

-40±2℃

85±2℃

大100℃/h

少10min

50、200

CNS15115

-40±2℃

85±2℃

大100℃/h

少10min

50、200

Humidity-freeze test(濕冷(leng)凍測(ce)試)

目(mu)的(de)：確定組件承(cheng)受(shou)高(gao)溫、高(gao)濕之後以(yi)及(ji)隨後(hou)的零(ling)下溫(wen)度影響的能(neng)力(li)。

要求(qiu)：

1.整個(ge)測(ce)試過(guo)程(cheng)中紀錄(lu)模(mo)塊溫(wen)度，測量(liang)及(ji)紀錄(lu)模(mo)塊溫(wen)度之儀器(qi)準確度±1℃

2.整個(ge)測(ce)試過(guo)程(cheng)中，監測每(mei)壹(yi)個(ge)模(mo)塊內部電連(lian)續(xu)性之儀器(qi)

3.監測每(mei)壹(yi)個(ge)模(mo)塊之壹個(ge)隱(yin)現端和邊框或支(zhi)撐架(jia)之間絕緣(yuan)完(wan)整性(xing)之儀器(qi)

4. 監測可(ke)能(neng)產(chan)生之任何(he)開(kai)路或接地(di)失(shi)效(xiao)(測試(shi)過程(cheng)中(zhong)無(wu)間(jian)歇開(kai)路或(huo)接地失效)。

溫度循環(huan)比(bi)較

高溫(wen)高(gao)濕

低溫(wen)

溫變率(lv)

循環(huan)數(shu)

IEC61646

85℃/85±5%(20h)

-40℃(0.5～4h)

高溫(wen)升降(jiang)溫(100℃/h)

低溫(wen)升降(jiang)溫(200℃/h)

10

GB18911

85℃/85±5%(20h)

-40℃(0.5～4h)

高溫(wen)升降(jiang)溫(100℃/h)

低溫(wen)升降(jiang)溫(200℃/h)

10

CNS15115

85℃/85±5%(20h)

-40℃(0.5～4h)

高溫(wen)升降(jiang)溫(100℃/h)

低溫(wen)升降(jiang)溫(200℃/h)

10

Damp Heat(濕熱測(ce)試)

目(mu)的(de)：確定模塊抵抗濕氣長期滲透之能(neng)力(li)。

試驗(yan)條(tiao)件：85 ±2 ℃/85 ±5%/1000h(IEC61646-10.13、GB18911-10.13、CNS15115-10.13)

  直(zhi)立(li)式觸(chu)控式控制系統(tong)

 控制系統(tong)通過EMC(電磁(ci)兼容(rong)性(xing))驗(yan)證(zheng)

  直(zhi)立(li)式全(quan)彩液(ye)晶TFT,簡/繁/英(ying)文顯示器(qi)

  9999 HOURS / STEP 每(mei)段(duan)可控制時(shi)間(jian)

  150 program x 100 step 程序記憶(yi)容量(liang)

  USB2.0儲存(cun)接(jie)口與(yu)曲(qu)線記(ji)錄(lu) 

  12 bit D/A 溫度濕度轉換(huan)接口

  全(quan)自(zi)動控制與(yu)安全(quan)保(bao)護協(xie)調(tiao)系統(tong)

  High power LED運(yun)轉狀態指示燈(deng) 

  Index 運(yun)轉狀態指示燈(deng) 

慶聲KSON太(tai)陽(yang)能(neng)電池(chi)開路量(liang)測(ce)檢(jian)測系統(tong)

(Photovoltaic Module Electrical Performance Test)  

 太陽(yang)能(neng)電池(chi)在可靠(kao)度測試中必(bi)須要(yao)進(jin)規(gui)範(fan)所提(ti)到(dao)的(de)濕冷(leng)凍、溫(wen)度循環(huan)、濕熱試(shi)驗(yan)..等(deng)試(shi)驗(yan)，確認(ren)太(tai)陽(yang)能(neng)電池(chi)在試驗(yan)過(guo)程當中(zhong)是(shi)否發生故障(zhang)或是失(shi)效，透過開路測試系統(tong)可(ke)以(yi)進(jin)行(xing)簡易的(de)太陽能(neng)電池(chi)失效判(pan)定(ding)。

IEC61646、IEC61215、UL1703、IEEE1513規範(fan)對試驗(yan)中(zhong)量(liang)測(ce)系統(tong)要(yao)求(qiu)：

太陽(yang)能(neng)電池(chi)規範(fan)

IEC61646(薄膜太陽(yang)能(neng))

IEC61215(晶圓(yuan)太(tai)陽(yang)能(neng))

UL1703(晶圓(yuan)太(tai)陽(yang)能(neng))

IEE1513(聚(ju)光型(xing)太(tai)陽能(neng))

整個(ge)測(ce)試過(guo)程(cheng)中，監測每(mei)壹(yi)個(ge)模(mo)塊內部電連(lian)續(xu)性之儀器(qi)

熱循(xun)環(huan)、濕冷(leng)凍 熱循(xun)環(huan)、濕冷(leng)凍 熱循(xun)環(huan)、濕冷(leng)凍  

監測每(mei)壹(yi)個(ge)模(mo)塊之壹個(ge)隱(yin)現端和邊框或支(zhi)撐架(jia)之間絕緣(yuan)完(wan)整性(xing)

熱循(xun)環(huan)、濕冷(leng)凍 熱循(xun)環(huan)、濕冷(leng)凍  

整個(ge)測(ce)試過(guo)程(cheng)中紀錄(lu)模(mo)塊溫(wen)度

熱循(xun)環(huan)、濕冷(leng)凍 熱循(xun)環(huan) 熱循(xun)環(huan)、濕冷(leng)凍  

並(bing)監測可(ke)能(neng)產(chan)生之任何(he)開(kai)路或接地(di)失(shi)效(xiao)(測試(shi)過程(cheng)中(zhong)無(wu)間(jian)歇開(kai)路或(huo)接地失效)。

熱循(xun)環(huan)、濕冷(leng)凍 熱循(xun)環(huan) 熱循(xun)環(huan)、濕冷(leng)凍  

絕緣(yuan)電阻需符(fu)合如初(chu)步量(liang)測(ce)之相同(tong)要(yao)求(qiu)

熱循(xun)環(huan)、濕冷(leng)凍、

濕熱試(shi)驗(yan) 熱循(xun)環(huan)、濕冷(leng)凍、

濕熱試(shi)驗(yan) 熱循(xun)環(huan)、濕冷(leng)凍 熱循(xun)環(huan)、濕冷(leng)凍、

濕熱試(shi)驗(yan)

施(shi)加電流(liu)等(deng)於(yu)測試(shi)模(mo)塊(kuai)之STC大功率電流(liu)±2%之儀器(qi)(50個(ge)cycle內不(bu)需通電，模(mo)塊溫度大於(yu)25℃時(shi)才(cai)通電)

  熱循(xun)環(huan)  

測量(liang)及(ji)紀錄(lu)模(mo)塊溫(wen)度之儀器(qi)準確度±1℃

熱循(xun)環(huan)、濕冷(leng)凍 熱循(xun)環(huan)、濕冷(leng)凍  

適用(yong)規(gui)範(fan)：IEC61215 , IEC61646 , UL1703 , IEC62108 , IEEE1513,IEC61730 

試驗(yan)試(shi)驗(yan)條(tiao)件：溫(wen)度循環(huan)(Thermal Cycling Test)、濕冷(leng)凍(Humidity Freeze Test)

濕熱 (Damp-heat test)

量(liang)測(ce)軌(gui)道(dao)：4組太陽(yang)能(neng)電池(chi)(溫度*1+電壓(ya)*2+電阻*1)+爐內溫濕度

失效(xiao)判(pan)定(ding)：設(she)定(ding)量(liang)測(ce)值(zhi)上下限(xian)範(fan)圍

報表：EXCEL報告(gao)

曲(qu)線：18軌(gui)多(duo)軌(gui)曲(qu)線(電壓(ya)、電阻、表面溫度、試驗(yan)爐溫濕度)

控制模(mo)式(shi)：量(liang)測(ce)、暫(zan)停(ting)、停(ting)止(zhi)

溫度量(liang)測(ce)：熱電偶(ou)合

備註(zhu)：此(ci)系統(tong)不(bu)包含(han)太(tai)陽能(neng)恒(heng)溫(wen)恒(heng)濕機(ji)、計算機(ji)、計算機(ji)桌、儀(yi)器(qi)架(jia)

建(jian)議搭配(pei)設備(bei)：太陽能(neng)恒(heng)溫(wen)恒(heng)濕機(ji)