基礎信(xin)息Product information

產(chan)品名稱：慶(qing)聲(sheng)KSON光伏(fu)太陽能恒溫(wen)恒濕(shi)試驗箱(xiang)

產(chan)品型號：

更新(xin)時間：2025-06-09

產(chan)品簡(jian)介：

專業為中(zhong)國(guo)區用戶提供(gong)慶聲(sheng)KSON光伏(fu)太陽能恒溫(wen)恒濕(shi)試驗箱(xiang)（KSON for the Solar Market）儀(yi)器設(she)備、測試(shi)方(fang)案、技術(shu)培訓、維(wei)修(xiu)服(fu)務(wu)，為(wei)上海(hai)華(hua)東地區壹家以(yi)技術(shu)為導(dao)向的(de)儀(yi)器設(she)備綜合(he)服(fu)務商(shang)。

產(chan)品特性Product characteristics

    專業儀(yi)器設(she)備與(yu)測試(shi)方(fang)案供應(ying)商(shang)——上海(hai)堅融(rong)實(shi)業有限(xian)公(gong)司JETYOO INDUSTRIAL & 堅友(you)（上海(hai)）測量儀(yi)器有限(xian)公(gong)司JETYOO INSTRUMENTS，由(you)原(yuan)安(an)捷倫(lun)Agilent技術(shu)工(gong)程(cheng)師(shi)——堅(jian)JET和泰(tai)克Tektronix用戶工(gong)程(cheng)師(shi)——融(rong)YOO於2011年共(gong)同創(chuang)立，誌在破(po)舊立新(xin)！*測試(shi)測量行(xing)業代(dai)理(li)經銷商(shang)只(zhi)專業做商(shang)務銷售，不專(zhuan)業做售(shou)前(qian)測試(shi)方(fang)案，不專(zhuan)業做售(shou)後(hou)使(shi)用培訓的(de)空(kong)白。我(wo)們(men)的(de)技術(shu)銷售(shou)工(gong)程(cheng)師(shi)均(jun)為(wei)本(ben)科(ke)以(yi)上學歷(li)，且(qie)均有10年(nian)以(yi)上儀(yi)器行(xing)業工(gong)作經驗，專(zhuan)業為中(zhong)國(guo)區用戶提供(gong)儀(yi)器設(she)備、測試(shi)方(fang)案、技術(shu)培訓、維(wei)修(xiu)服(fu)務(wu)，為(wei)上海(hai)華(hua)東地區壹家以(yi)技術(shu)為導(dao)向的(de)儀(yi)器設(she)備綜合(he)服(fu)務商(shang)。

慶聲(sheng)KSON光伏(fu)太陽能恒溫(wen)恒濕(shi)試驗箱(xiang)(KSON for the Solar Market)

        太(tai)陽能(neng)電池模塊的(de)設(she)計(ji)使(shi)用年限(xian)大(da)約是20～30年，而可(ke)靠度(du)試驗是(shi)仿(fang)真陸上太(tai)陽(yang)光電模塊(晶(jing)矽、非晶(jing)矽、薄膜(mo)、聚(ju)光型)的(de)設(she)計(ji)驗證(zheng)，讓(rang)模塊能(neng)夠(gou)在壹般(ban)氣候(hou)下(xia)長(chang)期操作(zuo)20年以(yi)上，規(gui)範(fan)要求太陽能電(dian)池需進行(xing)：Thermal cycle test(溫(wen)度(du)循環(huan)測試(shi))、Humidity-freeze test(濕(shi)冷凍測試(shi))、Damp Heat(濕(shi)熱(re)測試(shi))，以(yi)確(que)認(ren)太(tai)陽(yang)能電池能夠(gou)承(cheng)受(shou)高溫(wen)高(gao)濕(shi)之(zhi)後隨級(ji)的(de)零下溫(wen)度(du)影響(xiang)，以(yi)及(ji)對於溫(wen)度(du)重復(fu)變化時引起的(de)疲(pi)勞和熱(re)失效，另(ling)外(wai)確(que)定(ding)太(tai)陽(yang)能電池能夠(gou)抵(di)抗濕氣長(chang)期滲(shen)透(tou)之能(neng)力(li)，其試(shi)驗設(she)備設(she)計(ji)與(yu)能(neng)力(li)需滿足(zu)相(xiang)關規(gui)範(fan)：(IEC61215 , IEC61646 , UL1703 , IEC62108 , IEEE1513,IEC61730 ) 的(de)要(yao)求才行(xing)。

慶聲(sheng)KSON光伏(fu)太陽能恒溫(wen)恒濕(shi)試驗箱(xiang)產(chan)品特色：

a.支持太(tai)陽能(neng)電(dian)池進行(xing)測試(shi)中(zhong)量測要(yao)求(太陽能電(dian)池開(kai)路(lu)量測系(xi)統)

b.具備太陽(yang)能(neng)電(dian)池試驗整(zheng)合(he)能(neng)力與(yu)通訊(xun)命(ming)令(ling)(Labview、VB、VC、C++、RS232)

c.節(jie)能減碳省電(dian)設(she)計(ji)

規範(fan)要(yao)求：

a.於模塊測試(shi)期間(jian)減少凝(ning)結(jie)於表面(mian)上

b.櫃內(nei)頂端(duan)不得(de)有凝(ning)結(jie)水(shui)滴(di)在試(shi)件(jian)上

c.可(ke)時間設(she)定電源時序開(kai)關控(kong)制(滿足(zu)IEC61215 、IEC62108 要(yao)求)

專li&認證：

a.恒溫(wen)恒濕(shi)機防(fang)止結(jie)露(lu)

d.通過(guo)EMC防(fang)電(dian)磁波(bo)幹擾

 c.專(zhuan)li設(she)計(ji)太陽(yang)能(neng)放(fang)置治(zhi)具(ju)

 安(an)全保(bao)護(hu)：

a.試(shi)驗結(jie)束待(dai)測品(pin)回(hui)常溫(wen)保(bao)護(hu)機(ji)制

b.試驗機(ji)臺(tai)具(ju)備(bei)35點(dian)內(nei)外安(an)全保(bao)護(hu)偵測(內(nei)部14點(dian)，外(wai)部(bu)31點(dian))

世界(jie)shou創(chuang)：

a.斜(xie)率(lv)段＆恒溫(wen)段(duan)同(tong)步(bu)溫(wen)濕(shi)度(du)設(she)定

b.完整實(shi)時試驗曲線分(fen)析(xi)顯(xian)示(shi)，無(wu)時間限(xian)制

c.試驗結(jie)束待(dai)測品(pin)回(hui)常溫(wen)保(bao)護(hu)機(ji)制

 控(kong)制器創(chuang)新(xin)：

a.動(dong)態實(shi)時變化程(cheng)序(xu)編輯曲線

b.溫(wen)濕(shi)度(du)設(she)定條件(jian)防(fang)呆(dai)保(bao)護(hu)

c.機(ji)臺(tai)重(zhong)新(xin)來(lai)電(dian)試(shi)驗曲線不中(zhong)斷

 d.符合(he)聯想計(ji)算機的(de)Labview控(kong)制命令

e.AI(人(ren)工(gong)智(zhi)能)+Fuzzy(模糊控(kong)制)技術(shu)

f.繁(fan)簡(jian)體(ti)中(zhong)文(wen)、英文三種畫面(mian)語(yu)系(xi)切(qie)換(huan)

高(gao)相(xiang)關規(gui)範(fan)資(zi)料(liao)介紹：

矽晶(jing)太陽(yang)能:IEC61215、UL1703 、GB9535

薄膜(mo)太陽(yang)能(neng):IEC61646、GB18911

聚(ju)光太陽能(neng):IEC62108 、IEEE1513

※相關試(shi)驗後(hou)皆須進行(xing)規範所要求的(de)檢(jian)查(zha)項(xiang)目(外(wai)觀(guan)、絕(jue)緣(yuan)電阻(zu)、大輸(shu)出(chu)功率(lv))

Thermal cycle test(溫(wen)度(du)循環(huan)測試(shi))

目的(de)：確(que)定(ding)組(zu)件(jian)於溫(wen)度(du)重復(fu)變化時,引起的(de)疲(pi)勞和其(qi)它應(ying)力的(de)熱(re)失效。

溫(wen)度(du)循環(huan)比較(jiao)

低(di)溫(wen)

高(gao)溫(wen)

溫(wen)變率(lv)

駐留時間

循環(huan)數(shu)

IEC61215

-40±2℃

85±2℃

大(da)100℃/h

少(shao)10min

50、200

GB9535

-40±2℃

85±2℃

大(da)100℃/h

少10min

50、200

IEC61646

-40±2℃

85±2℃

大(da)100℃/h

少(shao)10min

50、200

GB18911

-40±2℃

85±2℃

大(da)100℃/h

少(shao)10min

50、200

UL1703

-40±2℃

90±2℃

大(da)120℃/h

30～105min

200

IEC62108

-40±2℃

65℃、85℃、110℃

10cycle/day

10min

500、1000、2000

IEC62108

-40℃

65℃、85℃、110℃

18cycle/day

10min

500、1000、2000

IEEE1513

-40℃

90℃、110℃

0.9～7.5℃/min

少(shao)10min

250、500

IEEE1513

-40℃

90℃、110℃

大(da)100℃/h

少10min

100、200

IEEE1513

-40℃

60℃、90℃

大(da)100℃/h

少(shao)10min

50、200

Humidity-freeze test(濕(shi)冷凍測試(shi))

目的(de)：確(que)定(ding)組(zu)件(jian)承(cheng)受(shou)高溫(wen)、高(gao)濕(shi)之(zhi)後以(yi)及(ji)隨後(hou)的(de)零下溫(wen)度(du)影響(xiang)的(de)能(neng)力(li)。

溫(wen)度(du)循環(huan)比較(jiao)

高(gao)溫(wen)高(gao)濕(shi)

低(di)溫(wen)

溫(wen)變率(lv)

循環(huan)數

IEC61215

85℃/85±5%(20h)

-40℃(0.5～4h)

高溫(wen)升降溫(wen)(100℃/h)

低(di)溫(wen)升降溫(wen)(200℃/h)

10

GB9535

85℃/85±5%(20h)

-40℃(0.5～4h)

高(gao)溫(wen)升降溫(wen)(100℃/h)

低(di)溫(wen)升降溫(wen)(200℃/h)

10

IEC61646

85℃/85±5%(20h)

-40℃(0.5～4h)

高(gao)溫(wen)升降溫(wen)(100℃/h)

低(di)溫(wen)升降溫(wen)(200℃/h)

10

GB18911

85℃/85±5%(20h)

-40℃(0.5～4h)

高(gao)溫(wen)升降溫(wen)(100℃/h)

低(di)溫(wen)升降溫(wen)(200℃/h)

10

UL1703

85℃/85±2.5%(20h)

-40℃(0.5～4h)

高(gao)溫(wen)升降溫(wen)(120℃/h)

低(di)溫(wen)升降溫(wen)(200℃/h)

10

IEEE1513

85℃/85±2.5%(20h)

-40℃(0.5～4h)

高(gao)溫(wen)升降溫(wen)(100℃/h)

低(di)溫(wen)升降溫(wen)(200℃/h)

20

IEC62108

85℃/85±2.5%(20h)

-40℃(0.5～4h)

高(gao)溫(wen)升降溫(wen)(100℃/h)

低(di)溫(wen)升降溫(wen)(200℃/h)

20、40

Damp Heat(濕(shi)熱(re)測試(shi))

85 ±2 ℃/85 ±5%/1000h ，目的(de)：確(que)定(ding)模塊抵(di)抗濕氣長(chang)期滲(shen)透(tou)之能(neng)力(li)。

 直立(li)式(shi)觸控(kong)式(shi)控(kong)制系(xi)統

 控(kong)制系(xi)統通過(guo)EMC(電磁兼(jian)容性)驗證(zheng)

  直(zhi)立式(shi)全彩液晶(jing)TFT,簡(jian)/繁(fan)/英文顯示(shi)器

  9999 HOURS / STEP 每(mei)段可(ke)控(kong)制時間

  150 program x 100 step 程(cheng)序(xu)記憶容量

  USB2.0儲存(cun)接口與(yu)曲線記(ji)錄(lu) 

  12 bit D/A 溫(wen)度(du)濕度(du)轉換(huan)接口

  全(quan)自(zi)動(dong)控(kong)制與(yu)安(an)全保(bao)護(hu)協(xie)調(tiao)系(xi)統

  High power LED運轉狀態指示(shi)燈 

  Index 運(yun)轉狀態指示(shi)燈 

太(tai)陽能電(dian)池開(kai)路(lu)量測檢(jian)測系(xi)統

(Photovoltaic Module Electrical Performance Test)  

 太陽能電(dian)池在可(ke)靠度(du)測試(shi)中(zhong)必須(xu)要進(jin)規範所提到的(de)濕(shi)冷凍、溫(wen)度(du)循環(huan)、濕熱(re)試驗..等(deng)試(shi)驗，確(que)認(ren)太(tai)陽(yang)能電池在試(shi)驗過(guo)程(cheng)當(dang)中(zhong)是(shi)否發(fa)生故障或(huo)是失(shi)效，透(tou)過開(kai)路(lu)測試(shi)系(xi)統可(ke)以(yi)進行(xing)簡(jian)易的(de)太(tai)陽(yang)能(neng)電(dian)池失效判(pan)定。

IEC61646、IEC61215、UL1703、IEEE1513規(gui)範對試驗中(zhong)量測系(xi)統要求：

太陽能電(dian)池規範

IEC61646(薄(bo)膜(mo)太(tai)陽能(neng))

IEC61215(晶(jing)圓太(tai)陽能)

UL1703(晶(jing)圓太(tai)陽能)

IEE1513(聚(ju)光型太陽(yang)能(neng))

整(zheng)個測試(shi)過(guo)程(cheng)中(zhong)，監測每(mei)壹個模塊內(nei)部電(dian)連(lian)續性之(zhi)儀(yi)器

熱(re)循環(huan)、濕冷凍 熱(re)循環(huan)、濕冷凍 熱(re)循環(huan)、濕冷凍  

監測每(mei)壹個模塊之(zhi)壹個隱現(xian)端(duan)和邊框或(huo)支撐架之(zhi)間絕(jue)緣(yuan)完整(zheng)性

熱(re)循環(huan)、濕冷凍 熱(re)循環(huan)、濕冷凍  

整(zheng)個測試(shi)過(guo)程(cheng)中(zhong)紀(ji)錄(lu)模塊溫(wen)度(du)

熱(re)循環(huan)、濕冷凍 熱(re)循環(huan) 熱(re)循環(huan)、濕冷凍  

並(bing)監測可(ke)能(neng)產(chan)生之任何開(kai)路(lu)或(huo)接地失效(測試(shi)過(guo)程(cheng)中(zhong)無(wu)間歇(xie)開(kai)路(lu)或(huo)接地失效)。

熱(re)循環(huan)、濕冷凍 熱(re)循環(huan) 熱(re)循環(huan)、濕冷凍  

絕(jue)緣(yuan)電阻(zu)需符合(he)如(ru)初(chu)步(bu)量測之(zhi)相(xiang)同要求

熱(re)循環(huan)、濕冷凍、

濕(shi)熱(re)試驗 熱(re)循環(huan)、濕冷凍、

濕(shi)熱(re)試驗 熱(re)循環(huan)、濕冷凍 熱(re)循環(huan)、濕冷凍、

濕(shi)熱(re)試驗

施加電流(liu)等於測試(shi)模塊之(zhi)STC大(da)功(gong)率(lv)電流(liu)±2%之儀(yi)器(50個(ge)cycle內(nei)不需(xu)通電(dian)，模塊溫(wen)度(du)大於25℃時才通電(dian))

  熱(re)循環(huan)  

測量及(ji)紀錄(lu)模塊溫(wen)度(du)之儀(yi)器準(zhun)確(que)度(du)±1℃

熱(re)循環(huan)、濕冷凍 熱(re)循環(huan)、濕冷凍  

適(shi)用規(gui)範(fan)：IEC61215 , IEC61646 , UL1703 , IEC62108 , IEEE1513,IEC61730 

試(shi)驗試(shi)驗條(tiao)件(jian)：溫(wen)度(du)循環(huan)(Thermal Cycling Test)、濕冷凍(Humidity Freeze Test)

濕(shi)熱(re) (Damp-heat test)

量測軌(gui)道(dao)：4組(zu)太陽(yang)能電池(溫(wen)度(du)*1+電壓(ya)*2+電(dian)阻(zu)*1)+爐內(nei)溫(wen)濕(shi)度(du)

失效判(pan)定：設(she)定量測值(zhi)上下(xia)限(xian)範(fan)圍(wei)

報(bao)表：EXCEL報(bao)告(gao)

曲線：18軌(gui)多軌(gui)曲線(電(dian)壓(ya)、電(dian)阻(zu)、表面(mian)溫(wen)度(du)、試驗爐(lu)溫(wen)濕(shi)度(du))

控(kong)制模式：量測、暫(zan)停(ting)、停(ting)止

溫(wen)度(du)量測：熱(re)電偶(ou)合(he)

備(bei)註：此系(xi)統不包(bao)含(han)太(tai)陽(yang)能恒溫(wen)恒濕(shi)機、計(ji)算機、計(ji)算機桌、儀(yi)器架(jia)

建議(yi)搭(da)配(pei)設(she)備：太陽能(neng)恒溫(wen)恒濕(shi)機

慶(qing)聲(sheng)KSON薄(bo)膜(mo)太(tai)陽能電池溫(wen)循(xun)濕(shi)冷凍試(shi)驗機(ji)  

    薄(bo)膜太(tai)陽電池可(ke)以(yi)使(shi)用在價(jia)格(ge)低(di)廉的(de)玻(bo)璃(li)、塑料(liao)、陶瓷、石墨(mo)，金(jin)屬(shu)片(pian)等不同(tong)材(cai)料(liao)當(dang)基板(ban)來(lai)制造，薄膜(mo)太陽電(dian)池在溫(wen)度(du)循環(huan)、濕冷凍、濕(shi)熱(re)試驗中(zhong)的(de)量測及(ji)電壓(ya)輸(shu)入(ru)的(de)方(fang)式(shi)，與(yu)晶(jing)圓型是不壹樣的(de)所以(yi)量測方(fang)式(shi)也(ye)所有不同(tong)，是(shi)不可(ke)以(yi)混淆的(de)，薄(bo)膜(mo)型太陽(yang)能(neng)電(dian)池所依(yi)據(ju)的(de)試(shi)驗規(gui)範(fan)為IEC 61646、IEC 61215、UL1703、GB9535、GB18911..等(deng)。

形成(cheng)可(ke)產(chan)生電壓(ya)的(de)薄(bo)膜(mo)厚(hou)度(du)僅需(xu)數μm，因(yin)此在同(tong)壹受光面(mian)積(ji)之下(xia)可(ke)較(jiao)矽晶(jing)圓太(tai)陽能電(dian)池大幅減少原(yuan)料(liao)的(de)用(yong)量(厚度(du)可(ke)低(di)於矽晶(jing)圓太(tai)陽能電(dian)池90%以(yi)上)，目前(qian)轉(zhuan)換(huan)效率(lv)高以(yi)可(ke)達13%，薄(bo)膜電(dian)池太陽電(dian)池除(chu)了平面(mian)之(zhi)外，也(ye)因(yin)為具(ju)有可(ke)撓(nao)性可(ke)以(yi)制作成非(fei)平面(mian)構(gou)造(zao)其應(ying)用範圍(wei)大(da)，可(ke)與(yu)建築(zhu)物結(jie)合(he)或(huo)是變成建築(zhu)體(ti)的(de)壹部份(fen)，在薄(bo)膜太陽電(dian)池制造上，則(ze)可(ke)使(shi)用各式(shi)各(ge)樣的(de)沈(shen)積(ji)(deposition)技術(shu)，壹層又(you)壹層地把(ba)p-型或(huo)n-型材(cai)料(liao)長(chang)上去(qu)，常見(jian)的(de)薄(bo)膜(mo)太(tai)陽(yang)電(dian)池有非(fei)晶(jing)矽、CuInSe2 (CIS)、CuInGaSe2 (CIGS)、和CdTe..等(deng)。

慶聲(sheng)KSON薄(bo)膜(mo)太(tai)陽能電池溫(wen)循(xun)濕(shi)冷凍試(shi)驗機(ji) 產(chan)品特色：

a.符合(he)IEC61646-10.11、GB18911-10.11、CNS15115-10.11熱(re)循環(huan)、濕冷凍、濕(shi)熱(re)規範(fan)當(dang)中(zhong)的(de)試(shi)驗要(yao)求

b.試驗過(guo)程(cheng)進(jin)行(xing)相關電(dian)性(xing)與(yu)物理量量測

c.櫃內(nei)頂端(duan)不得(de)有凝(ning)結(jie)水(shui)滴(di)在試(shi)件(jian)上

d.專(zhuan)li設(she)計(ji)太陽(yang)能(neng)放(fang)置治(zhi)具(ju)

e.試(shi)驗結(jie)束待(dai)測品(pin)回(hui)常溫(wen)保(bao)護(hu)機(ji)制

目的(de)：確(que)定(ding)組(zu)件(jian)於溫(wen)度(du)重復(fu)變化時,引起的(de)疲(pi)勞和其(qi)它應(ying)力的(de)熱(re)失效。

要(yao)求：

1.整個測試(shi)過(guo)程(cheng)中(zhong)紀(ji)錄(lu)模塊溫(wen)度(du)，測量及(ji)紀錄(lu)模塊溫(wen)度(du)之儀(yi)器準(zhun)確(que)度(du)±1℃

2.整個(ge)測試(shi)過(guo)程(cheng)中(zhong)，監測每(mei)壹個模塊內(nei)部電(dian)連(lian)續性之(zhi)儀(yi)器

3.監測每(mei)壹個模塊之(zhi)壹個隱現(xian)端(duan)和邊框或(huo)支撐架之(zhi)間絕(jue)緣(yuan)完整(zheng)性之儀(yi)器

4.監測可(ke)能(neng)產(chan)生之任何開(kai)路(lu)或(huo)接地失效(測試(shi)過(guo)程(cheng)中(zhong)無(wu)間歇(xie)開(kai)路(lu)或(huo)接地失效)。

慶(qing)聲(sheng)KSON薄(bo)膜(mo)太(tai)陽能電池溫(wen)循(xun)濕(shi)冷凍試(shi)驗機(ji) 參(can)數指標

溫(wen)度(du)循環(huan)比較(jiao)

低(di)溫(wen)

高(gao)溫(wen)

溫(wen)變率(lv)

駐留時間

循環(huan)數(shu)

IEC61646

-40±2℃

85±2℃

大(da)100℃/h

少(shao)10min

50、200

GB18911

-40±2℃

85±2℃

大(da)100℃/h

少10min

50、200

CNS15115

-40±2℃

85±2℃

大(da)100℃/h

少(shao)10min

50、200

Humidity-freeze test(濕(shi)冷凍測試(shi))

目的(de)：確(que)定(ding)組(zu)件(jian)承(cheng)受(shou)高溫(wen)、高(gao)濕(shi)之(zhi)後以(yi)及(ji)隨後(hou)的(de)零下溫(wen)度(du)影響(xiang)的(de)能(neng)力(li)。

要(yao)求：

1.整個測試(shi)過(guo)程(cheng)中(zhong)紀(ji)錄(lu)模塊溫(wen)度(du)，測量及(ji)紀錄(lu)模塊溫(wen)度(du)之儀(yi)器準(zhun)確(que)度(du)±1℃

2.整個(ge)測試(shi)過(guo)程(cheng)中(zhong)，監測每(mei)壹個模塊內(nei)部電(dian)連(lian)續性之(zhi)儀(yi)器

3.監測每(mei)壹個模塊之(zhi)壹個隱現(xian)端(duan)和邊框或(huo)支撐架之(zhi)間絕(jue)緣(yuan)完整(zheng)性之儀(yi)器

4. 監測可(ke)能(neng)產(chan)生之任何開(kai)路(lu)或(huo)接地失效(測試(shi)過(guo)程(cheng)中(zhong)無(wu)間歇(xie)開(kai)路(lu)或(huo)接地失效)。

溫(wen)度(du)循環(huan)比較(jiao)

高(gao)溫(wen)高(gao)濕(shi)

低(di)溫(wen)

溫(wen)變率(lv)

循環(huan)數

IEC61646

85℃/85±5%(20h)

-40℃(0.5～4h)

高溫(wen)升降溫(wen)(100℃/h)

低(di)溫(wen)升降溫(wen)(200℃/h)

10

GB18911

85℃/85±5%(20h)

-40℃(0.5～4h)

高(gao)溫(wen)升降溫(wen)(100℃/h)

低(di)溫(wen)升降溫(wen)(200℃/h)

10

CNS15115

85℃/85±5%(20h)

-40℃(0.5～4h)

高(gao)溫(wen)升降溫(wen)(100℃/h)

低(di)溫(wen)升降溫(wen)(200℃/h)

10

Damp Heat(濕(shi)熱(re)測試(shi))

目的(de)：確(que)定(ding)模塊抵(di)抗濕氣長(chang)期滲(shen)透(tou)之能(neng)力(li)。

試驗條(tiao)件(jian)：85 ±2 ℃/85 ±5%/1000h(IEC61646-10.13、GB18911-10.13、CNS15115-10.13)

  直立(li)式(shi)觸控(kong)式(shi)控(kong)制系(xi)統

 控(kong)制系(xi)統通過(guo)EMC(電磁兼(jian)容性)驗證(zheng)

  直(zhi)立式(shi)全彩液晶(jing)TFT,簡(jian)/繁(fan)/英文顯示(shi)器

  9999 HOURS / STEP 每(mei)段可(ke)控(kong)制時間

  150 program x 100 step 程(cheng)序(xu)記憶容量

  USB2.0儲存(cun)接口與(yu)曲線記(ji)錄(lu) 

  12 bit D/A 溫(wen)度(du)濕度(du)轉換(huan)接口

  全(quan)自(zi)動(dong)控(kong)制與(yu)安(an)全保(bao)護(hu)協(xie)調(tiao)系(xi)統

  High power LED運轉狀態指示(shi)燈 

  Index 運(yun)轉狀態指示(shi)燈