產品名稱:中(zhong)國臺灣(wan)慶(qing)聲KSON二(er)箱式冷(leng)熱(re)沖(chong)擊(ji)試驗(yan)箱
產品型號:
更(geng)新時間(jian):2025-06-09
產品簡介:
中(zhong)國臺灣(wan)慶(qing)聲KSON二(er)箱式冷(leng)熱(re)沖(chong)擊(ji)試驗(yan)箱(Programmable Thermal Shock Tester) 試驗(yan)其(qi)因熱(re)脹(zhang)冷縮(suo)所引起的化學變(bian)化或物(wu)理傷害.適(shi)用的對(dui)象包(bao)括 金(jin)屬(shu),塑(su)料,橡膠(jiao),電子(zi)..等材(cai)料
中國臺灣(wan)慶(qing)聲KSON二(er)箱式冷(leng)熱(re)沖(chong)擊(ji)試驗(yan)箱(Programmable Thermal Shock Tester)
高低(di)溫(wen)冷熱(re)沖(chong)擊(ji)試驗(yan)箱,用來測試材料結(jie)構或復合材(cai)料在(zai)瞬(shun)間(jian)下經(jing)*溫(wen)及(ji)極(ji)低(di)溫(wen)的連(lian)續環境下(xia)所能忍(ren)受(shou)的程(cheng)度, 藉以在(zai)短(duan)時間(jian)內(nei) 試驗(yan)其(qi)因熱(re)脹(zhang)冷縮(suo)所引起的化學變(bian)化或物(wu)理傷害.適(shi)用的對(dui)象包(bao)括 金(jin)屬(shu),塑(su)料,橡膠(jiao),電子(zi)..等材(cai)料,可(ke)作為(wei)其(qi)產品改(gai)進的依據或參(can)考
中(zhong)國臺灣(wan)慶(qing)聲KSON二(er)箱式冷(leng)熱(re)沖(chong)擊(ji)試驗(yan)箱特點(dian)
世(shi)界(jie)shou創內(nei)建(jian)USB2.0接口(kou)數字記錄(lu)器(qi)(紀(ji)錄(lu)中(zhong)可(ke)隨時熱(re)插(cha)拔(ba))
工業(ye)級(ji)直立(li)式全(quan)彩觸控可(ke)程序(xu)多語(yu)系(xi)控制(zhi)系(xi)統
世(shi)界(jie)shou創標準出(chu)貨內(nei)附(fu)USB2.0與(yu)磁盤(pan)驅動(dong)器(qi)儲存(cun)雙(shuang)接口(kou)
世(shi)界(jie)shou創試驗(yan)結(jie)束待測品回常(chang)溫(wen)保護(hu)機制
世(shi)界(jie)shou創完整(zheng)實時試驗(yan)曲(qu)線(xian)分(fen)析顯示(shi)無時間(jian)限制
溫濕度設(she)定條(tiao)件(jian)防呆保護(hu)
繁(fan)簡(jian)體中文(wen)、英(ying)文(wen)三種畫(hua)面語系(xi)切換(huan)
動(dong)態(tai)實時變化程序(xu)編輯曲(qu)線(xian)
3 1/2" 1.44MB 磁牒機記憶(yi)裝置可(ke)儲存(cun)備份程序(xu)與試驗(yan)曲(qu)線(xian)數據(ju)記(ji)錄(lu), 可(ke)在(zai)PC上(shang)執行曲(qu)線(xian)分(fen)析
Help 操作說(shuo)明List 簡(jian)易(yi)窗(chuang)體操作
二(er)箱移(yi)動式冷(leng)熱(re)沖(chong)擊(ji)機,氣(qi)壓(ya)驅動(dong)測試區(qu)(待測品)機構
Error 故(gu)障(zhang)病(bing)歷表(biao)軟(ruan)件(jian)裝置
機構與(yu)高(gao)效(xiao)率(lv)冷(leng)凍(dong)機械設(she)計(ji)
HFC環(huan)保冷媒,SWEP板(ban)式冷(leng)熱(re)交(jiao)換(huan)器(qi), 二元式冷(leng)凍(dong)系(xi)統
出(chu)風口(kou)與回風口(kou)感知器(qi)檢(jian)知控(kong)制
Server Valve 動(dong)態自(zi)動負載控制(zhi)
150(60)℃~(-10)-65℃測試範圍
冷(leng)熱(re)沖(chong)擊(ji)機構移(yi)動時間(jian)為(wei)10秒(miao)內(nei),可(ke)符合MIL, IEC, JIS規(gui)範
風向(xiang)柵門(men)機構切換(huan)時間(jian)為(wei)10秒(miao)內(nei)
冷(leng)熱(re)沖(chong)擊(ji)溫(wen)度恢(hui)復時間(jian)為(wei)5分(fen)鐘(zhong)內(nei), 可(ke)符合相(xiang)關試驗(yan)規範
50%省(sheng)電效(xiao)率(lv)與(yu)自(zi)動伺服(fu)控制
相(xiang)容於CM BUS遠(yuan)程監(jian)控管(guan)理系(xi)統
可(ke)擴充(chong): LN2V 液(ye)態氮快(kuai)速(su)降溫(wen)控(kong)制(zhi)裝置
直立(li)式全(quan)彩觸控控(kong)制系(xi)統
KTC-2005彩色觸控式控(kong)制(zhi)系(xi)統
控(kong)制(zhi)系(xi)統通(tong)過EMC(電(dian)磁兼(jian)容性)驗(yan)證(zheng)
直立(li)式全(quan)彩液(ye)晶TFT,簡(jian)/繁(fan)/英(ying)文(wen)顯示(shi)器(qi)
0. 01℃精確(que)解析能(neng)力
1000 HOURS / STEP 每(mei)段可(ke)控制(zhi)時間(jian)
150 program x 100 step 程序(xu)記(ji)憶(yi)容量
USB2.0儲(chu)存(cun)接口(kou)與曲(qu)線(xian)記錄(lu)
12 bit D/A 溫(wen)度轉換(huan)接口(kou)
全(quan)自(zi)動控制(zhi)與安(an)全(quan)保護(hu)協(xie)調系(xi)統
Index 運(yun)轉狀態指(zhi)示(shi)燈
中(zhong)國臺灣(wan)慶(qing)聲KSON二(er)箱式冷(leng)熱(re)沖(chong)擊(ji)試驗(yan)箱指(zhi)標(biao)參(can)數(shu)
Models KTC-2系(xi)列 KTC-3系(xi)列 KTC-4系(xi)列
Structure 雙(shuang)重設(she)計(ji)(熱(re)室或冷(leng)室)
Damper Device 強力氣(qi)體驅動(dong)阻(zu)泥(ni)器(qi)
Preheating Temperature +60.00℃~+200.00℃ +60.00℃~+200.00℃ +60.00℃~+200.00℃
Precooling Temperature -10.00℃~-60.00℃ -10.00℃~-80.00℃ -10.00℃~-80.00℃
H.T.Shocking +60.00℃~+150.00℃ +60.00℃~+150.00℃ +60.00℃~+150.00℃
L.T.Shocking -10.00℃~-40.00℃ -10.00℃~-55.00℃ -10.00℃~-65.00℃
Setting Range -70℃~200℃ /Time 0h 1 min ~ 9999 hour 59 min / cycle1~99
Resolution Temperature 0.01℃ / Time:1 min