基礎信(xin)息(xi)Product information

產(chan)品名稱(cheng)：華(hua)儀(yi)eec7472耐壓(ya)測試儀(yi)

產品型(xing)號：

更新時間：2025-06-09

產(chan)品簡介：

專業為中(zhong)國(guo)區用(yong)戶(hu)提供(gong)華(hua)儀(yi)eec7472耐壓(ya)測試儀(yi)儀器(qi)設備、測試方(fang)案、技(ji)術培(pei)訓、維(wei)修服(fu)務(wu)

產(chan)品特性(xing)Product characteristics

    專業儀器(qi)設備與測試方(fang)案供(gong)應商(shang)——上海堅(jian)融實業有限(xian)公(gong)司JETYOO INDUSTRIAL & 堅(jian)友(you)（上海）測量(liang)儀(yi)器(qi)有限(xian)公(gong)司JETYOO INSTRUMENTS，由(you)原安(an)捷(jie)倫Agilent技術(shu)工(gong)程(cheng)師(shi)——堅JET和(he)泰克(ke)Tektronix用戶(hu)工程(cheng)師(shi)——融YOO於2011年共(gong)同創(chuang)立(li)，誌(zhi)在(zai)破(po)舊(jiu)立(li)新！*測試測量(liang)行業代(dai)理(li)經(jing)銷(xiao)商只專業做商(shang)務(wu)銷(xiao)售，不專業做售(shou)前測試方(fang)案，不(bu)專業做售(shou)後使用培(pei)訓(xun)的空白(bai)。我們的技(ji)術(shu)銷(xiao)售工程(cheng)師(shi)均(jun)為本(ben)科以上學歷(li)，且均(jun)有10年(nian)以上儀器(qi)行業工作(zuo)經(jing)驗(yan)，專業為中(zhong)國(guo)區用(yong)戶(hu)提供(gong)華(hua)儀(yi)eec7472耐壓(ya)測試儀(yi)，直流耐壓(ya)(DCW)  12kVdc/10mA 儀(yi)器(qi)設備、測試方(fang)案、技(ji)術培(pei)訓、維(wei)修服(fu)務(wu)，為(wei)上海華(hua)東地區壹(yi)家(jia)以技術(shu)為(wei)導(dao)向(xiang)的儀(yi)器(qi)設備綜合服(fu)務(wu)商(shang)。

華(hua)儀(yi)eec7470耐壓(ya)測試儀(yi)，交(jiao)流耐壓(ya)(ACW) 10kVac/20mA

華(hua)儀(yi)eec7472耐壓(ya)測試儀(yi)，直流耐壓(ya)(DCW)  12kVdc/10mA 

華(hua)儀(yi)eec7473耐壓(ya)測試儀(yi)， 交(jiao)流耐壓(ya)(ACW)  20kVac/10mA 

華(hua)儀(yi)eec7474耐壓(ya)測試儀(yi)，直流耐壓(ya)(DCW)  20kVdc/5mA

交(jiao)流電(dian)壓(ya)（AC）：具(ju)有規(gui)則(ze)性(xing)和(he)正負(fu)方(fang)向(xiang)的電(dian)壓(ya)，目前世(shi)界上大都(dou)使用每(mei)秒60Hz或50Hz的電(dian)壓(ya)。

耐壓(ya)崩潰（Breakdown）：絕(jue)緣體在某些(xie)情況(kuang)之下(xia)會發生電弧或電(dian)暈的現像(xiang)，如(ru)果電(dian)壓(ya)逐(zhu)漸被提升(sheng)，絕(jue)緣體會在某壹個(ge)電(dian)壓(ya)值(zhi)突(tu)然(ran)崩潰，這時的電(dian)流(liu)的流(liu)量(liang)和(he)電壓(ya)值(zhi)不(bu)會成為等(deng)比(bi)例(li)增加。

導(dao)電(dian)（Conductive）：在每(mei)立(li)方(fang)公(gong)分的體積內(nei)，其電(dian)阻值不超(chao)過(guo)1000歐姆(mu)，或每(mei)平(ping)方(fang)公(gong)分的表面(mian)積(ji)內(nei)，其電(dian)阻值不超(chao)過(guo)100000歐姆(mu)。

導(dao)電(dian)體（Conductor）：壹種固(gu)體或液(ye)體物質，可(ke)以讓電(dian)流(liu)流(liu)過，在每(mei)立(li)方(fang)公(gong)分的體積內(nei)，其電(dian)阻值不超(chao)過(guo)1000歐姆(mu)。

電流（Current）：電(dian)子(zi)在(zai)導(dao)體上的流(liu)動，其測量(liang)單位為(wei)安(an)培(pei)（ampere）、毫(hao)安(an)（milliampere）、或微安(an)培(pei)（microampere）等(deng)，其(qi)代(dai)表符號為I。

介電體（Dielectric）：在兩個(ge)導(dao)電(dian)體之間(jian)的絕(jue)緣物(wu)質，可(ke)以讓兩(liang)個(ge)導(dao)電(dian)體產生充(chong)電現象或出(chu)現電位差。

直流電(dian)（DC）：電(dian)流(liu)只流向(xiang)單壹方(fang)向(xiang)，具(ju)有極性(xing)的特(te)點，壹端的電(dian)位(wei)永遠較另外壹端為(wei)高(gao)。

耐壓(ya)測試器(qi)（Hipot Tester）：通常(chang)應(ying)用(yong)在(zai)介(jie)電體耐壓(ya)的測試儀(yi)器(qi)。

絕(jue)緣體（Insulation）：具(ju)有1000G/cm的氣(qi)體、液(ye)體或固(gu)體，其目的在(zai)於(yu)避免電流(liu)在兩(liang)導(dao)電(dian)體之間(jian)流(liu)通。

絕(jue)緣阻(zu)抗(kang)測試器(qi)（Insulation Resistance Tester）：壹種具(ju)有電(dian)阻(zu)測量(liang)到(dao)200M以上能力的儀(yi)器(qi)，壹般(ban)都(dou)必(bi)須(xu)在電阻表內(nei)使用壹(yi)個(ge)高(gao)壓(ya)電(dian)源供應器(qi)，測量(liang)能(neng)力才能超(chao)過(guo)200 M以上。

泄漏電(dian)流(liu)（Leakage）:AC或DC電(dian)流流(liu)經(jing)絕(jue)緣體或其(qi)表面(mian)，在(zai)AC方(fang)面(mian)也(ye)同時會流經(jing)電(dian)容(rong)體，電流的流(liu)量(liang)和(he)電壓(ya)成(cheng)正比例。絕(jue)緣和(he)/或電(dian)容體的阻(zu)抗(kang)值為(wei)恒(heng)定(ding)，除(chu)非(fei)發生耐壓(ya)崩潰的現像(xiang)。

電阻（Resistance）：壹(yi)種可(ke)以阻止(zhi)的電(dian)流(liu)流通的物(wu)質(zhi)，在電流(liu)通過(guo)這(zhe)種物(wu)質後，會用產生熱量(liang)作(zuo)為表現的方(fang)式，其單位為(wei)Ohm（），而代(dai)表符號為R。

跳脫點（Trip Point）：在介電耐壓(ya)測試時可(ke)以被判定(ding)為不(bu)可(ke)接受條件的低(di)電(dian)流量(liang)。

電壓(ya)（Voltage）：電(dian)子(zi)流(liu)在兩導(dao)體之間(jian)的壓(ya)力，通(tong)常為(wei)驅(qu)動電流在導(dao)體上流通(tong)的壓(ya)力，其(qi)代(dai)表符號為V。

1.5.3接地電(dian)阻測試（GROUND CONTINUITY TEST OR GROUND BOND TEST）

接地電(dian)阻測試的主(zhu)要目的為(wei)確(que)定(ding)被測物在(zai)故障(zhang)的情(qing)況(kuang)之下(xia)，安(an)全(quan)接地線(xian)是否能承擔故障(zhang)的電(dian)流(liu)流量(liang)，接地的電(dian)阻(zu)值必須(xu)越低(di)越(yue)好(hao)，這樣才能確認壹(yi)旦(dan)產(chan)品發生故障(zhang)時，在輸(shu)入的的電(dian)源開關尚(shang)未(wei)切(qie)斷(duan)電(dian)源以前，可(ke)以讓使用者(zhe)免於感電的危(wei)險和(he)威脅。

1.5.4產品電氣(qi)系統測試（RUN TEST）

許多產品制造(zao)商(shang)希(xi)望(wang)產品在終的安(an)規(gui)測試之後也(ye)能開(kai)機(ji)測試以便(bian)確認產(chan)品的功(gong)能(neng)，除(chu)了(le)測試產(chan)品的基本功能外，許多顧客(ke)也(ye)需(xu)要壹些(xie)產品在測試時的基本資料。RUN TEST Module允(yun)許(xu)待(dai)測物（產(chan)品）在安(an)規(gui)測試之後立(li)刻提供(gong)電源給(gei)待(dai)測物，在(zai)待(dai)測物測試時並(bing)顯(xian)示(shi)電流、電壓(ya)、瓦特(te)及(ji)功率(lv)因數之數值。

1.5.5電源泄漏電(dian)流測試（Line Leakage Test）

電源泄漏電(dian)流測試是(shi)諸多安(an)規(gui)測試之中(zhong)的壹(yi)項(xiang)測試，通(tong)常安(an)規(gui)執(zhi)行單位、例(li)如(ru)UL、CSA、IEC、BSI、VDE、TUV和(he)JSI等會要求某些(xie)產品必須(xu)做(zuo)這項(xiang)測試。電(dian)源泄漏電(dian)流的測試規(gui)格視各(ge)種不(bu)同的產(chan)品而有很大(da)的不(bu)同，產(chan)品應用(yong)的場(chang)所和(he)功能(neng)的不(bu)同，也(ye)會造(zao)成(cheng)規(gui)格(ge)標準的差(cha)別(bie)。

電流泄(xie)漏(lou)電(dian)（Current Leakage）和(he)電源泄漏（Line Leakage）測試為(wei)通稱的電(dian)源泄漏電(dian)流測試條款，事(shi)實(shi)上可(ke)以被區分(fen)為(wei)三(san)種不(bu)同的測試，分(fen)別(bie)為(wei)對(dui)地泄(xie)漏電(dian)電流(liu)（Earth LeakageCurrent）、對(dui)表面(mian)泄(xie)漏電(dian)流(liu)（Enclosure或Surface Leakage Current）和(he)表面(mian)間(jian)泄漏(lou)電(dian)電(dian)流(liu)（Applied Part或surface to Surface Leakage）。主(zhu)要的不(bu)同點在於測試棒(bang)所測量(liang)位(wei)置的不(bu)同而有所(suo)不(bu)同，對(dui)地泄(xie)漏電(dian)流為(wei)漏(lou)電(dian)電流經(jing)由(you)電(dian)源線(xian)上的接地線(xian)流回大地，而表面(mian)泄(xie)漏電(dian)流(liu)是(shi)由(you)於(yu)人(ren)員觸摸(mo)機(ji)體時，泄漏(lou)電流(liu)經(jing)由(you)人(ren)體流回大(da)地。另外表面(mian)間(jian)泄漏(lou)電(dian)流(liu)或稱(cheng)為治(zhi)療泄漏(lou)電(dian)流（Patient Lead Leakage）則為(wei)任何(he)應(ying)用(yong)物(wu)件之間(jian)或流(liu)向(xiang)應(ying)用(yong)物(wu)件(jian)的泄(xie)漏(lou)電流，通(tong)常只(zhi)有醫(yi)療儀器(qi)有這(zhe)項(xiang)測試的要求。這(zhe)些(xie)測試的主(zhu)要目的為(wei)讓(rang)使用者(zhe)在操作或手(shou)握應(ying)用(yong)物件時非(fei)常安(an)全(quan)，而不致於(yu)有感電傷(shang)害的危(wei)險。

電源泄漏電(dian)流測試模(mo)塊(kuai)所提供(gong)的測試能(neng)力*符合(he)UL 544、IEC 950、UL 1950、IEC1010、UL 3101、IEC 601-1、UL 2601、UL1563和(he)其他(ta)測試規(gui)格所規(gui)定(ding)的電(dian)源泄漏電(dian)流測試規(gui)格的標準。電(dian)源泄漏電(dian)流測試為(wei)壹種產(chan)品的泄(xie)漏(lou)電電流(liu)經(jing)由(you)壹(yi)組摸擬(ni)人(ren)體阻抗(kang)電路(lu)作為(wei)測量(liang)依(yi)據的測試，這(zhe)個(ge)摸(mo)擬(ni)人(ren)體阻抗(kang)的電(dian)路(lu)被稱為“人(ren)體阻抗(kang)模擬(ni)電路(lu)（Measuring Device，MD）”。

本儀器(qi)備有五(wu)種不(bu)同的人(ren)體阻抗(kang)模擬(ni)電路(lu)（MD），在本(ben)儀器(qi)的測試參(can)數設定(ding)時可(ke)以選(xuan)擇其中(zhong)壹組作為(wei)人(ren)體阻抗(kang)模擬(ni)電路(lu)（MD）的依(yi)據，每壹組的人(ren)體阻抗(kang)模擬(ni)電路(lu)（MD）代(dai)表人(ren)體在不同情(qing)況(kuang)之下(xia)的阻(zu)抗(kang)。人(ren)體的阻(zu)抗(kang)由(you)於(yu)人(ren)機(ji)接觸(chu)點的位(wei)置、面(mian)積(ji)和(he)電流(liu)的流(liu)向(xiang)而有所(suo)不(bu)同，基於上述這些(xie)理(li)由(you)，人(ren)體阻抗(kang)模擬(ni)電路(lu)規格(ge)的選(xuan)擇必須(xu)依(yi)據要做何(he)種測試以及(ji)所能允(yun)許(xu)的大(da)泄(xie)漏電流(liu)量(liang)來決(jue)定(ding)。產品泄漏(lou)電(dian)流的測量(liang)不(bu)但要做產(chan)品正常工作和(he)異常(chang)時的測量(liang)，同時必須(xu)做電(dian)源極性(xing)反向(xiang)時的測量(liang)，以避免當產品在輸(shu)入(ru)電壓(ya)的高(gao)值(zhi)（通常為(wei)輸入(ru)電(dian)壓(ya)額定(ding)值的110%）工(gong)作(zuo)時，因異常(chang)或使用不(bu)當而所引起的諸多問(wen)題(ti)和(he)危險。

電源泄漏電(dian)流測試通(tong)常規定(ding)產品在開(kai)發(fa)設計和(he)驗證(zheng)時必須(xu)做這(zhe)項(xiang)測試，這(zhe)樣可(ke)以確認產(chan)品在設(she)計(ji)時能夠符合(he)規(gui)格的標準，但是這仍(reng)無(wu)法保(bao)證生產線(xian)上的每(mei)壹(yi)個(ge)產(chan)品都(dou)能(neng)符合(he)規(gui)格的要求，所(suo)以在生產線(xian)上生產的每(mei)個(ge)產(chan)品都(dou)必(bi)須(xu)做測試，才能*保證產(chan)品符合(he)規(gui)格

華(hua)儀(yi)eec7472耐壓(ya)測試儀(yi)，直流耐壓(ya)(DCW)  12kVdc/10mA 產(產)品規格(ge)書
MODEL 7470 7472 7473 7474
AC WITHSTAND VOLTAGE (7470 & 7473) 
Output Rating 10KVAC / 20mA 12KVDC / 10mA 20KVAC / 10mA 20KVDC / 5mA 
Range Resolution Accuracy 
Output Voltage, ACV (for 
7473) 
0 - 20000 10 ± (1.5% of setting + 20V) 
Output Voltage, ACV (for 
7470) 
0 - 10000 10 ± (1.5% of setting + 10V) 
Output Frequency 50Hz / 60Hz ± 0.1%, User Selectable
Output Waveform Sine Wave ,THD. < 3% at 2K - 20KV (Resistive Load), Crest Factor = 1.3 - 1.5
Output Regulation ± (1% of output + 10V), From no load to full load 
SETTINGS 
Hi / Lo - Limit AC Current, 
mA (for 7473) 
0 - 9.999 0.001 ± (2% of setting + 2 counts) 
Hi / Lo - Limit AC Current, 
mA (for 7470) 
0 - 9.999 / 10.00 -
20.00 
0.001 / 0.01 ± (2% of setting + 2 counts) 
Ramp Up Time, second 0.3 - 999.9 0.1
± (0.1% of setting + 0.05sec) 
Ramp Down Time, second 0.1 - 999.9 0.1
Dwell Time 
0, 0.3 - 999.9 sec 
(0 = continuous) 
0.1
0, 0.1 - 999.9 min 
(0 = continuous) 
0.1
0, 0.1 - 999.9 hr 
(0 = continuous) 
0.1
Cycle Test 0 - 9999 Times, (0 = continuous) 
Arc Detection 
For 7470 : Range 1-9 at Output Voltage < 7.00KV, 
Range 1-8 at Output Voltage ≥ 7.00KV; 
For 7473: Range 1-9 at Output Voltage< 15.00KV, 
Range 1-7 at Output Voltage ≥ 15.00KV
AC Current Offset, mA 0 - 2.000 or Auto Set (OPTION) 
MEASUREMENT 
Output Voltage, KV (for 
7470) 
0 - 10.00 0.01
± (2% of reading + 2 counts) 
Output Voltage, KV (for 0 - 20.00 0.01
- 15 -
7473) 
AC Current Range, mA 
0 - 3.500 0.001
± (2% of reading + 3 counts)
3.00 - 10.00 (for 
7473) 
0.01
3.00 - 20.00 (for 
7470) 
0.01
DC WITHSTAND VOLTAGE (7472 & 7474) 
Output Voltage, KV (for 
7474) 
0 - 20000 10 ± (1.5% of setting + 20V) 
Output Voltage, KV (for 
7472) 
0 - 12000 10 ± (1.5% of setting + 10V) 
Output Ripple < 5%, 20KV / 5000μA for 7474, 12KV / 9999μA at Resistive Load for 7472 
SETTINGS 
Hi / Lo - Limit DC Current, 
μA (for 7474) 
0.0 - 999.9 / 1000 -
5000 
0.1 / 1 ± (2% of setting + 2 counts) 
Hi / Lo - Limit DC Current, 
μA (for 7472) 
0.0 - 999.9 / 1000 -
9999 
0.1 / 1 ± (2% of setting + 2 counts) 
Ramp Up Time, second 0.4 - 999.9 0.1
± (0.1% of setting+ 0.05 sec) 
Ramp Down Time, second 0, 1.0 - 999.9 0.1
Dwell Time 
0, 0.4 - 999.9 sec
(0 = continuous) 
0.1
0, 0.1 - 999.9 min 
(0 = continuous) 
0.1
0, 0.1 - 999.9 hr 
(0 = continuous) 
0.1
Cycle Test 0 - 9999 Times, (0 = continuous) 
Arc Detection 1 - 9 ranges (9 is the most sensitivity) 
DC Current Offset, μA 0.0 - 200.0 or Auto Set (Option ) 
Ramp High Current ON / OFF, User Selectable
Charge - Low Current, μA 0.0 - 350.0 or Auto Set 
Discharge Time ≤ 200 msec 
Maximum Capacitive Load 
1.5μF < 2KV, 0.15μF < 8KV, 0.12μF < 14KV, 0.08μF < 20KV 
0.28μF < 4KV, 0.15μF < 10KV, 0.1μF < 16KV 
0.18μF < 6KV, 0.12μF < 12KV, 0.08μF < 18KV 
MEASUREMENT 
DC Voltage, KV (for 7474) 0 - 20.00 0.01 ± (1.5% of reading + 2 counts) 
DC Voltage, KV (for 7472) 0 - 10.00 0.01 ± (1.5% of reading + 2 counts) 
DC Current Range, μA 0 - 350.0 0.1 ± (2% of reading + 3 counts)