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      1. <dl id="nxG8kb"></dl>

        1. 產(chan)品(pin)中(zhong)心(xin)您當前的(de)位(wei)置:首頁 > 產(chan)品(pin)中(zhong)心(xin) > 安(an)捷倫Agilent/是(shi)德KEYSIGHT > 示(shi)波(bo)器(qi) > RTA4004+RTA-B245羅(luo)德(de)與(yu)施(shi)瓦(wa)茨RS RTA4004示(shi)波(bo)器(qi)

          基礎信(xin)息Product information

          產(chan)品(pin)名(ming)稱(cheng):羅(luo)德(de)與(yu)施(shi)瓦(wa)茨RS RTA4004示(shi)波(bo)器(qi)

          產(chan)品(pin)型號:RTA4004+RTA-B245

          更新(xin)時間:2025-06-10

          產(chan)品(pin)簡(jian)介(jie):

          專(zhuan)業為(wei)中(zhong)國(guo)區(qu)用(yong)戶(hu)提(ti)供(gong)羅(luo)德(de)與(yu)施(shi)瓦(wa)茨RS RTA4004示(shi)波(bo)器(qi)儀器(qi)設(she)備(bei)、測試(shi)方案、技術培(pei)訓、維(wei)修(xiu)服(fu)務,為(wei)上(shang)海(hai)華東(dong)地(di)區(qu)壹家以(yi)技術為(wei)導(dao)向(xiang)的(de)儀器(qi)設(she)備(bei)綜合服務商(shang)。

          產(chan)品(pin)特性Product characteristics

              專(zhuan)業(ye)儀器(qi)設(she)備(bei)與(yu)測(ce)試(shi)方案供(gong)應(ying)商(shang)——上(shang)海(hai)堅(jian)融實(shi)業(ye)有(you)限公(gong)司(si)JETYOO INDUSTRIAL & 堅(jian)友(上(shang)海(hai))測量儀器(qi)有(you)限公(gong)司(si)JETYOO INSTRUMENTS,由堅(jian)JET和融(rong)YOO兩(liang)位(wei)技術工程師(shi)於(yu)2011年(nian)共同創立,誌(zhi)在破舊(jiu)立新(xin)!*測(ce)試(shi)測(ce)量行業(ye)代理(li)經(jing)銷(xiao)商(shang)只(zhi)專(zhuan)業(ye)做商(shang)務銷(xiao)售(shou),不專業做(zuo)售(shou)前(qian)測(ce)試(shi)方案,不專業做(zuo)售(shou)後(hou)使(shi)用(yong)培(pei)訓的(de)空(kong)白(bai)。我(wo)們(men)的(de)技術銷(xiao)售工程師(shi)均為(wei)本(ben)科(ke)以(yi)上(shang)學(xue)歷,且均有(you)10年(nian)以上(shang)儀器(qi)行(xing)業(ye)工作經(jing)驗(yan),專業(ye)為(wei)中(zhong)國(guo)區(qu)用(yong)戶(hu)提(ti)供(gong)羅(luo)德(de)與(yu)施(shi)瓦(wa)茨RS RTA4004示(shi)波(bo)器(qi)儀器(qi)設(she)備(bei)、測試(shi)方案、技術培(pei)訓、維(wei)修(xiu)服(fu)務,為(wei)上(shang)海(hai)華東(dong)地(di)區(qu)壹家以(yi)技術為(wei)導(dao)向(xiang)的(de)儀器(qi)設(she)備(bei)綜合服務商(shang)。

           

          羅(luo)德(de)與(yu)施(shi)瓦(wa)茨RS RTA4004示(shi)波(bo)器(qi),帶(dai)寬(kuan)200 MHz,通道4,采(cai)樣率(lv)5 Gsample/s,大(da)存(cun)儲(chu)深(shen)度(du)200 Msample
          羅(luo)德(de)與(yu)施(shi)瓦(wa)茨R&S RTA4004+RTA-B243示(shi)波(bo)器(qi),帶(dai)寬(kuan)350 MHz,通道4,采(cai)樣率(lv)5 Gsample/s,大(da)存(cun)儲(chu)深(shen)度(du)200 Msample
          羅(luo)德(de)與(yu)施(shi)瓦(wa)茨R&S RTA4004+RTA-B245示(shi)波(bo)器(qi),帶(dai)寬(kuan)500 MHz,通道4,采(cai)樣率(lv)5 Gsample/s,大(da)存(cun)儲(chu)深(shen)度(du)200 Msample
          羅(luo)德(de)與(yu)施(shi)瓦(wa)茨R&S RTA4004+RTA-B2410示(shi)波(bo)器(qi),帶(dai)寬(kuan)1GHz,通道4,采(cai)樣率(lv)5 Gsample/s,大(da)存(cun)儲(chu)深(shen)度(du)200 Msample

          特性和(he)優點(dian)
          電(dian)源(yuan)應(ying)用(yong)的(de)理(li)想(xiang)之選
          分辨(bian)率(lv)高達(da) 10 位(wei),輕(qing)松(song)查看(kan)電源(yuan)信號細(xi)節(jie)
          在電(dian)源(yuan)測量中(zhong),高動(dong)態(tai)信(xin)號的(de)微小(xiao)細節(jie)也至關(guan)重要。比(bi)如驗證 MOSFET 的(de) RDS(on)。R&S®RTA4000 示(shi)波(bo)器(qi)具備(bei)出色(se)的(de) ADC 分辨(bian)率(lv),可(ke)將垂(chui)直(zhi)分辨(bian)率(lv)提(ti)升(sheng)至 10 位(wei)。以前無(wu)法查看(kan)的(de)信(xin)號細(xi)節(jie)變得可(ke)見,並(bing)且可(ke)測量(liang)。因(yin)此(ci)在驗證 RDS(on) 時,可(ke)以在(zai)開關關(guan)閉的(de)狀(zhuang)態(tai)下(xia)測(ce)量(liang)漏源(yuan)極(ji)電壓(ya)的(de)斜率。

          電(dian)源(yuan)分析
          分析開關電(dian)源(yuan)的(de)輸(shu)入、輸(shu)出和(he)傳(chuan)輸(shu)功(gong)能(neng)
          信號分析:快速(su)獲取(qu)結(jie)果
          可(ke)查看(kan)存(cun)在於(yu)大(da)信(xin)號中(zhong)的(de)小(xiao)信號細(xi)節(jie)
          R&S®RTA4000 使用(yong)羅(luo)德(de)與(yu)施(shi)瓦(wa)茨設(she)計(ji)的(de)定制(zhi)化 10 位模(mo)數(shu)轉換器(qi),分辨(bian)率(lv)提(ti)升(sheng)到(dao)傳(chuan)統 8 位(wei)模(mo)數(shu)轉換器(qi)的(de) 4 倍(bei)。分辨(bian)率(lv)越高,波(bo)形(xing)越清(qing)晰,進而顯(xian)示(shi)更多在其他情況下(xia)可(ke)能(neng)忽略的(de)信(xin)號細(xi)節(jie)。比如在測(ce)量開關電(dian)源(yuan)的(de)特性時, 在(zai)單(dan)次(ci)捕(bu)獲中(zhong),需(xu)要同時測(ce)量(liang)開關設(she)備(bei)開啟(qi)和(he)關(guan)斷(duan)時的(de)電(dian)壓(ya)。

           

          100 Msample 標(biao)配存(cun)儲(chu)
          捕(bu)獲和(he)分析長(chang)時間的(de)脈沖和(he)突(tu)發(fa)信號,標(biao)配存(cun)儲(chu)深(shen)度(du)高達(da) 200 Msample
          在(zai)全(quan)帶寬下(xia)采(cai)集時間更長(chang)
          分段存(cun)儲(chu):1000 Msample,帶(dai)歷(li)史功(gong)能(neng)
          R&S®RTA-K15 選件帶(dai)有深(shen)存(cun)儲(chu)、分段存(cun)儲(chu)功(gong)能(neng),能(neng)分析較長(chang)觀(guan)測(ce)時間的(de)信(xin)號序列。可(ke)以在(zai)幾(ji)秒(miao)或幾(ji)分鐘(zhong)內(nei)捕(bu)獲有(you)通(tong)信間隔(ge)的(de)協(xie)議信(xin)號(例(li)如 I²C 或 SPI)。由於(yu)分段長(chang)度(du)可(ke)調(tiao),因此 1000 Msample 的(de)存(cun)儲(chu)深(shen)度(du)能(neng)得到(dao)優(you)的(de)利(li)用(yong)。在歷史模(mo)式(shi)下(xia),可(ke)以調(tiao)用 1000 Msample 大(da)分段存(cun)儲(chu)中(zhong)的(de)所有采(cai)集波(bo)形(xing)並(bing)進行(xing)分析。

          1000 Msample 分段存(cun)儲(chu)
          具備(bei) 1000 Msample 存(cun)儲(chu),可(ke)捕(bu)獲長(chang)時間的(de)信(xin)號
          使(shi)用(yong) MSO 選件進(jin)行邏輯(ji)分析
          16 個附加(jia)數(shu)字(zi)信(xin)道(dao)
          使用 R&S®RTA-B1 選件,每(mei)臺(tai) R&S®RTA4000 都可(ke)以升(sheng)級為(wei)具有(you) 16 個附加(jia)數(shu)字(zi)信(xin)道(dao)、直觀(guan)易(yi)用的(de) MSO。該(gai)示(shi)波(bo)器(qi)能(neng)同時捕(bu)獲和(he)分析嵌入式(shi)設(she)計(ji)的(de)模(mo)擬(ni)和數(shu)字(zi)信(xin)號。例(li)如,可(ke)以使(shi)用(yong)光標(biao)測量(liang)很(hen)方便(bian)地(di)確(que)定模(mo)數(shu)轉換器(qi)輸(shu)入輸(shu)出之間的(de)延遲。

           

          波(bo)形(xing)發(fa)生(sheng)器(qi)和(he)碼(ma)型發(fa)生(sheng)器(qi)
          除(chu)了(le)常見(jian)的(de)正(zheng)弦(xian)波(bo)、方波(bo)/脈沖波(bo)、鋸(ju)齒(chi)波(bo)和(he)噪聲(sheng)波(bo)形(xing)外,此(ci)發(fa)生(sheng)器(qi)還可(ke)輸(shu)出用(yong)戶(hu)定義(yi)的(de)波(bo)形(xing)以及(ji) 4 位信號碼(ma)型。
          數(shu)字(zi)電(dian)壓(ya)表(biao)
          測量(liang)並(bing)顯示(shi)電(dian)勢(shi)
          R&S®RTA4000 在(zai)每(mei)個(ge)信(xin)道(dao)上(shang)設(she)有三位電(dian)壓(ya)表(biao) (DVM) 和六(liu)位(wei)頻(pin)率計(ji),可(ke)實現(xian)同步測(ce)量(liang)。標(biao)配測(ce)量(liang)功(gong)能(neng)包括(kuo) DC、AC + DC (RMS) 和 AC (RMS)。

          數(shu)字(zi)電(dian)壓(ya)表(biao)
          3 位電(dian)壓表(biao)可(ke)測量(liang)並(bing)顯示(shi)電(dian)路(lu)上(shang)兩(liang)點(dian)之間的(de)電(dian)勢(shi)差。
          頻(pin)率分析模(mo)式(shi)
          有(you)些(xie)故障難(nan)以察(cha)覺(jiao),這(zhe)通(tong)常是(shi)因(yin)為(wei)時間和頻(pin)率信號之間的(de)相互(hu)作用(yong)。只(zhi)要(yao)按(an)下(xia)按(an)鈕,輸(shu)入中(zhong)心(xin)頻(pin)率和頻(pin)率範圍(wei),即可(ke)激(ji)活(huo) R&S®RTA4000 的(de) FFT 功(gong)能(neng)。R&S®RTA4000 示(shi)波(bo)器(qi)具有(you)強大(da)的(de) FFT 功(gong)能(neng),可(ke)分析長(chang)達(da) 128 kpoints 的(de)信(xin)號。其他實(shi)用功(gong)能(neng)包括(kuo)光標(biao)測量(liang)和(he)頻(pin)域自動(dong)設置。

           

          模(mo)板(ban)測試(shi),提(ti)供(gong)結(jie)果統計(ji)數(shu)據(ju)
          合格/不合格評估(gu)統計(ji)數(shu)據(ju)可(ke)評估(gu)被(bei)測(ce)設(she)備的(de)質(zhi)量(liang)和穩定性。

          留(liu)言框

          • 產(chan)品(pin):

          • 您的(de)單(dan)位(wei):

          • 您的(de)姓(xing)名(ming):

          • 聯(lian)系電(dian)話:

          • 常用(yong)郵(you)箱:

          • 省份:

          • 詳(xiang)細地(di)址:

          • 補(bu)充(chong)說(shuo)明(ming):

          • 驗(yan)證碼:

            請輸(shu)入計(ji)算(suan)結(jie)果(填(tian)寫(xie)阿(e)拉(la)伯(bo)數(shu)字(zi)),如:三加(jia)四(si)=7

          上(shang)壹篇(pian):RTM3004+RTM-B245羅(luo)德(de)與(yu)施(shi)瓦(wa)茨RS RTM3004示(shi)波(bo)器(qi)

          下(xia)壹篇(pian):RTH1004羅(luo)德(de)與(yu)施(shi)瓦(wa)茨RS RTH1002手(shou)持(chi)式示(shi)波(bo)器(qi)

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