基(ji)礎(chu)信息Product information

產(chan)品(pin)名稱：ITECH艾德(de)克(ke)斯(si)IT5101電(dian)池(chi)內(nei)阻(zu)測(ce)試(shi)儀

產品(pin)型(xing)號：IT5101H

更(geng)新(xin)時間(jian)：2025-06-10

產品(pin)簡(jian)介(jie)：

ITECH艾德克(ke)斯(si)IT5101電(dian)池(chi)內(nei)阻(zu)測(ce)試(shi)儀是(shi)壹(yi)款(kuan)高精度(du)、高分(fen)辨率、高速(su)度(du)的電(dian)池(chi)測(ce)試(shi)儀。采(cai)用(yong)交(jiao)流(liu)四(si)端子測(ce)試(shi)方(fang)法(fa)，可(ke)更(geng)準(zhun)確地測(ce)試(shi)電(dian)池(chi)的內(nei)阻(zu)和(he)電(dian)壓(ya)。IT5101/5101E電(dian)阻(zu)分(fen)辨率可達(da)0. 1uΩ，電(dian)壓(ya)分辨率可達(da)10uV

產品(pin)特性(xing)Product characteristics

      專(zhuan)業(ye)儀器(qi)設(she)備與測(ce)試(shi)方(fang)案供(gong)應(ying)商(shang)——上海(hai)堅融(rong)實(shi)業有(you)限(xian)公(gong)司(si)JETYOO INDUSTRIAL & 堅友（上海(hai)）測(ce)量(liang)儀器(qi)有(you)限(xian)公(gong)司(si)JETYOO INSTRUMENTS，為原安捷(jie)倫(lun)Agilent技術(shu)工程(cheng)師(shi)-堅JET和(he)吉(ji)時利KEITHLEY應(ying)用(yong)工程(cheng)師(shi)-融(rong)YOO於2011年共(gong)同創(chuang)辦(ban)的以(yi)技術(shu)支持為特色(se)的代理貿(mao)易(yi)公司(si)，誌(zhi)在(zai)破(po)舊(jiu)立(li)新(xin)！*進(jin)口儀器(qi)設(she)備大多(duo)廠(chang)家(jia)僅(jin)在(zai)國(guo)內(nei)設(she)銷售(shou)點(dian)，技術(shu)支持薄弱或(huo)者(zhe)沒有(you)，而(er)代理經銷商(shang)也只(zhi)專業(ye)做(zuo)商(shang)務(wu)銷(xiao)售(shou)，不專(zhuan)業(ye)做(zuo)售(shou)前儀器(qi)設(she)備選型(xing)配置(zhi)/測(ce)試(shi)方(fang)案系(xi)統(tong)搭建，不(bu)專(zhuan)業做(zuo)售(shou)後(hou)操作(zuo)使用(yong)培(pei)訓(xun)/維修(xiu)校準(zhun)保(bao)養的空白(bai)。我(wo)們(men)的技術(shu)銷售(shou)工程(cheng)師(shi)均為本(ben)科(ke)以(yi)上學(xue)歷(li)，且均有(you)10年(nian)以(yi)上測(ce)試(shi)行(xing)業經(jing)驗，以(yi)我們(men)*進(jin)*的經營理念，專業(ye)為祖國(guo)用(yong)戶提(ti)供(gong)儀器(qi)設(she)備、測(ce)試(shi)方(fang)案、技術(shu)培(pei)訓(xun)、維修(xiu)服務(wu)，為上海(hai)華(hua)東地區壹(yi)家(jia)以(yi)技術(shu)為導向(xiang)的儀器(qi)設(she)備綜合服務(wu)商(shang)。

ITECH艾(ai)德(de)克(ke)斯(si)IT5101電(dian)池(chi)內(nei)阻(zu)測(ce)試(shi)儀

IT5100系(xi)列內(nei)阻(zu)測(ce)試(shi)儀是(shi)壹(yi)款(kuan)高精度(du)、高分(fen)辨率、高速(su)度(du)的電(dian)池(chi)測(ce)試(shi)儀。采(cai)用(yong)交(jiao)流(liu)四(si)端子測(ce)試(shi)方(fang)法(fa)，可(ke)更(geng)準(zhun)確地測(ce)試(shi)電(dian)池(chi)的內(nei)阻(zu)和(he)電(dian)壓(ya)。IT5101/5101E電(dian)阻(zu)分(fen)辨率可達(da)0. 1uΩ，電(dian)壓(ya)分辨率可達(da)10uV。利用外部(bu)U盤(pan)存儲，可長時間進(jin)行(xing)統(tong)計(ji)運算(suan)。內(nei)建比較(jiao)器(qi)功(gong)能(neng)，可自(zi)動(dong)判斷電(dian)池(chi)參(can)數(shu)是(shi)否符合標準(zhun)，統(tong)計(ji)合格(ge)率，適合各種電(dian)池(chi)的檢測(ce)和(he)分揀(jian)。內(nei)建GPIB/USB/LAN通(tong)訊接(jie)口，支(zhi)持SCPI通(tong)訊協(xie)議。IT5102單(dan)機支持16通(tong)道(dao)電(dian)池(chi)的測(ce)量(liang)，至(zhi)多(duo)支持17臺儀器(qi)級(ji)聯(lian)，將(jiang)通道(dao)數(shu)擴展至(zhi)272個(ge)，對(dui)於提高測(ce)試(shi)效(xiao)率有(you)很(hen)大幫(bang)助。內(nei)建LAN / RS232通(tong)信接口，IT5100系(xi)列電(dian)池(chi)測(ce)試(shi)儀廣泛應(ying)用(yong)於手機鋰電(dian)池(chi)、蓄電(dian)池(chi)以(yi)及(ji)動(dong)力電(dian)池(chi)等(deng)各種電(dian)池(chi)的測(ce)試(shi) 。

ITECH艾(ai)德(de)克(ke)斯(si)電(dian)池(chi)內(nei)阻(zu)測(ce)試(shi)儀應(ying)用(yong)範圍(wei)

低電(dian)流(liu)的條件下來(lai)表(biao)征機(ji)電(dian)元件的低阻(zu)特性(xing)

各(ge)種接觸(chu)電(dian)阻(zu)的測(ce)試(shi)

堿(jian)性(xing)電(dian)池(chi)、鉛蓄電(dian)池(chi)的劣化情(qing)況(kuang)測(ce)定及(ji)壽(shou)命(ming)評估

UPS檢測(ce)

蓄電(dian)池(chi)出(chu)廠(chang)檢驗

超(chao)級(ji)電(dian)容(rong)等(deng)效(xiao)電(dian)阻(zu)（ESR）測(ce)量(liang)

鋰電(dian)池(chi)內(nei)阻(zu)和(he)電(dian)壓(ya)測(ce)量(liang)

紐(niu)扣(kou)電(dian)池(chi)高速(su)量(liang)產抽檢

燃(ran)料(liao)電(dian)池(chi)組(zu)的測(ce)量(liang)

電(dian)動(dong)汽(qi)車鋰電(dian)池(chi)等(deng)高壓(ya)電(dian)池(chi)組(zu)的測(ce)試(shi)

多(duo)節(jie)串(chuan)聯(lian)高壓(ya)鋰電(dian)池(chi)內(nei)阻(zu)和(he)電(dian)壓(ya)測(ce)量(liang)

型(xing)號 電(dian)壓(ya) 分辨率 精 度(du) 接(jie) 口 尺寸(cun)

ITECH艾(ai)德(de)克(ke)斯(si)IT5101電(dian)池(chi)內(nei)阻(zu)測(ce)試(shi)儀，-300~+300V10uV/0.1 uΩ±(0.01%+0.01%FS)/ ±(0.4%+0.05%FS)GPIB/USB/LAN/前置(zhi)USB½ 2U詢(xun)價

IT5101H，-1000~+1000V10uV/0.1 uΩ±(0.01%+0.01%FS)/ ±(0.4%+0.05%FS)GPIB/USB/LAN/前置(zhi)USB½ 2U詢(xun)價

IT5101E，-300~+300V10uV/0.1mΩ±(0.01%+0.01%FS)/ ±(0.4%+0.05%FS)GPIB/USB/LAN/前置(zhi)USB½ 2U詢(xun)價

IT5102，0~60V0.1mV/0.01mΩ±(0.02%±0.02%FS)/ ±(0.5%±0.05%FS)RS232/LAN½ 2U詢(xun)價

IT5102E，0~60V0.1 mV/0.01mΩ±(0.02%±0.02%FS)/ ±(0.5%±0.05%FS)RS232/LAN½ 2U詢(xun)價

產(chan)品(pin)特點(dian)

大(da)屏(ping)幕LCD顯示屏(ping)：電(dian)池(chi)內(nei)阻(zu)和(he)電(dian)壓(ya)同時(shi)顯示

電(dian)壓(ya)測(ce)量(liang)範圍(wei)：10uV～300V 

電(dian)阻(zu)測(ce)量(liang)範圍(wei)：150uΩ ～ 3000Ω 

三(san)段電(dian)壓(ya)量程(cheng)、七段電(dian)阻(zu)量(liang)程(cheng)的自動(dong)或手動(dong)測(ce)試(shi)

同時(shi)測(ce)試(shi)電(dian)阻(zu)、電(dian)壓(ya)，速度(du)高達(da)125次/秒

GPIB/USB/LAN通(tong)訊接(jie)口，支(zhi)持SCPI協(xie)議

支(zhi)持統(tong)計(ji)運算(suan)，通(tong)過USB存儲數(shu)據(ju) 

比較(jiao)器(qi)功(gong)能(neng)：HI/IN/LOW顯示分選結(jie)果(guo)

調(tiao)零(ling)功(gong)能(neng)：全量(liang)程(cheng)短路(lu)清(qing)零

交(jiao)流(liu)四(si)端子測(ce)試(shi)

訊響報警(jing)

IT5102單(dan)機(ji)高達(da)16通道(dao)測(ce)試(shi) ，且(qie)支持達(da)17臺主(zhu)從(cong)連接(jie)擴展

支(zhi)持電(dian)池(chi)在(zai)線(xian)測(ce)試(shi)

可(ke)配(pei)合ITS5300電(dian)池(chi)充放(fang)電(dian)測(ce)試(shi)系(xi)統(tong)進(jin)行(xing)自動(dong)化測(ce)

能(neng)自動(dong)檢測(ce)出(chu)測(ce)試(shi)探頭的斷線情況和接觸(chu)不(bu)良(liang)，為工程(cheng)師(shi)提(ti)高測(ce)量(liang)的可信度。

通(tong)過簡(jian)易(yi)的操作(zuo)計(ji)算(suan)平(ping)均值(zhi)，保證測(ce)試(shi)的穩定性(xing)和(he)可(ke)靠(kao)性(xing)。

測(ce)量(liang)阻(zu)抗(kang)采(cai)用(yong)的是(shi)交(jiao)流(liu)4端子法(fa)。測(ce)量(liang)時可以(yi)保證(zheng)待(dai)測(ce)物(wu)不受測(ce)試(shi)線(xian)的阻(zu)抗(kang)影(ying)響。

統(tong)計(ji)運算(suan)：利用外部(bu)U盤(pan)等(deng)存儲設備，多(duo)能(neng)夠對(dui)n*1000組(zu)數(shu)據(ju)進(jin)行(xing)運算(suan)。適(shi)用(yong)於工程(cheng)管(guan)理和品(pin)質管(guan)理。

比較(jiao)器(qi)功(gong)能(neng)

阻(zu)抗(kang)&電(dian)壓(ya)同時(shi)判斷

超(chao)出(chu)Hi/Lo量程(cheng)可蜂(feng)鳴(ming)聲報警(jing)

綜(zong)合判斷結果輸(shu)出(chu)

手動(dong)比較(jiao)

2種設置(zhi)方(fang)法(fa)

比較(jiao)功(gong)能(neng)分為比較(jiao)和(he)相(xiang)對(dui)比較(jiao)

常(chang)規(gui)的電(dian)池(chi)內(nei)阻(zu)測(ce)試(shi)需(xu)在(zai)充放(fang)電(dian)結(jie)束(shu)後(hou)才(cai)能(neng)測(ce)試(shi)內(nei)阻(zu)，兩(liang)次(ci)接線不僅(jin)大大(da)增加(jia)了(le)測(ce)試(shi)時(shi)間，且不利於批量(liang)測(ce)試(shi)，IT5102/5102E電(dian)池(chi)測(ce)試(shi)儀可實(shi)現(xian)在(zai)線(xian)測(ce)試(shi)——即(ji)在(zai)充放(fang)電(dian)過程(cheng)中實(shi)現(xian)對(dui)電(dian)池(chi)內(nei)阻(zu)的測(ce)試(shi)，全程(cheng)只需(xu)壹(yi)次(ci)接線，不僅(jin)確保測(ce)試(shi)結(jie)果的準(zhun)確性(xing)，更(geng)是(shi)大大提高了(le)測(ce)試(shi)效(xiao)率。