基礎信息Product information

產品名(ming)稱(cheng)：MICROTEST6367精(jing)密LCR測(ce)試儀(yi)

產品型(xing)號：

更(geng)新時間(jian)：2025-06-10

產品簡(jian)介(jie)：

專業(ye)為祖(zu)國(guo)用戶提供MICROTEST6367精(jing)密LCR測(ce)試儀(yi)儀(yi)器設(she)備、測(ce)試方案、技術培(pei)訓、維修(xiu)服務(wu)，為上(shang)海(hai)華(hua)東地區(qu)壹家(jia)以技(ji)術(shu)為導向的(de)儀(yi)器設(she)備綜合服(fu)務(wu)商。

產品特(te)性(xing)Product characteristics

      專業(ye)儀(yi)器設(she)備與測(ce)試方案供應(ying)商——上(shang)海(hai)堅(jian)融實(shi)業有(you)限公司JETYOO INDUSTRIAL & 堅(jian)友(you)（上(shang)海(hai)）測(ce)量儀(yi)器有(you)限公司JETYOO INSTRUMENTS，為原(yuan)安(an)捷倫Agilent技術工程師-堅(jian)JET和(he)吉(ji)時(shi)利(li)KEITHLEY應(ying)用工(gong)程師-融(rong)YOO於2011年共(gong)同創(chuang)辦(ban)的(de)以技(ji)術(shu)支持為特(te)色(se)的代(dai)理貿(mao)易(yi)公司，誌(zhi)在(zai)破(po)舊立(li)新！*進口儀(yi)器設(she)備大(da)多(duo)廠(chang)家(jia)僅(jin)在(zai)國(guo)內設(she)銷售(shou)點(dian)，技術(shu)支持薄(bo)弱或(huo)者(zhe)沒有(you)，而代理經銷商(shang)也(ye)只專業(ye)做(zuo)商(shang)務(wu)銷售(shou)，不專業(ye)做(zuo)售(shou)前儀(yi)器設(she)備選(xuan)型(xing)配(pei)置(zhi)/測試方案系統(tong)搭建(jian)，不專業(ye)做(zuo)售(shou)後(hou)操(cao)作(zuo)使(shi)用培訓/維修(xiu)校準(zhun)保養的(de)空白(bai)。我(wo)們(men)的(de)技(ji)術銷售(shou)工(gong)程師均(jun)為本(ben)科(ke)以上(shang)學歷(li)，且均(jun)有(you)10年以上(shang)測(ce)試行業(ye)經(jing)驗(yan)，以我(wo)們(men)*進*的經(jing)營理(li)念，專業(ye)為祖(zu)國(guo)用戶提供儀(yi)器設(she)備、測(ce)試方案、技術培(pei)訓、維修(xiu)服務(wu)，為上(shang)海(hai)華(hua)東地區(qu)壹家(jia)以技(ji)術(shu)為導向的(de)儀(yi)器設(she)備綜合服(fu)務(wu)商。

MICROTEST6367精(jing)密LCR測(ce)試儀(yi)，測試頻率(lv)範(fan)圍(wei)從(cong)10Hz~1MHz，6367A，測試頻率(lv)範(fan)圍(wei)從(cong)0.1Hz~1MHz。小量測頻(pin)率(lv)可(ke)達0.1Hz。新壹代LCR Meter和(he)舊壹(yi)代LCR Meter差別在(zai)於量測速(su)度更(geng)快(kuai)和(he)精(jing)準度都(dou)更(geng)上(shang)壹(yi)層樓。LCR 電表(biao)精(jing)準度可(ke)到±0.08，在(zai)螢(ying)幕(mu)方面也(ye)從以往的單(dan)色(se)螢(ying)幕(mu)變(bian)成800*480彩色(se)螢(ying)幕(mu)。並(bing)可(ke)以同(tong)時(shi)顯(xian)示(shi)四項量測(ce)參(can)數(shu)，相較(jiao)於舊款LCR Meter壹次只能(neng)顯(xian)示(shi)兩(liang)個(ge)量測(ce)參數(shu)新壹代LCR Meter更(geng)能(neng)夠執(zhi)行的(de)元(yuan)件測試。

除(chu)了量(liang)測(ce)各類元件外，也可(ke)運(yun)用(yong)在(zai)汽(qi)車(che)電池(chi)、手(shou)機(ji)電池本(ben)身(shen)充放電電容、UPS不斷(duan)電系統(tong)等(deng)大(da)能(neng)量電(dian)源(yuan)的(de)穩定(ding)電容。

MICROTEST6367精(jing)密LCR測(ce)試儀(yi)規格參(can)數(shu)指標  

型(xing)號6367，量測(ce)頻(pin)率(lv) 10Hz-1MHz

型(xing)號6367A，量測(ce)頻(pin)率(lv) 0.1Hz-1MHz

量(liang)頻(pin)率(lv)點(dian)數(shu) 可(ke)程序(xu)  

基(ji)本(ben)精(jing)確度 ± 0.08%  

AC 測(ce)試信號位(wei)準(zhun)/td> 10mV至(zhi)2Vrms (1m Vrms 解(jie)析度)  

DC 測(測)試(試)信號位(wei)準(準) 0.01V-2V  

輸(shu)出(chu)阻抗(kang) 100Ω  

頻率(lv)微(wei)調解析(xi)度 5 Digits  

頻(pin)率(lv)微(wei)調(tiao)分辨率(lv) ±0.01%  

AC / DC  量(liang)測(ce)速(su)度 8mS     

測(ce)試值判(pan)斷(duan)模式 依(yi)主參數(shu)或次(ci)參數(shu)設(she)定(ding)上(shang)下(xia)限

等(deng)效(xiao)電(dian)路模(mo)式 串(chuan)聯/並(bing)聯

量(liang)測(ce)模(mo)式 Meter模(mo)式/多(duo)步列(lie)表(biao)

測(ce)試檔位(wei) 自動/鎖定(ding)

指示器(qi) Pass/Fail、內建(jian)喇(la)叭

多(duo)步列(lie)表(biao)測試 多(duo)8個(ge)步驟

壹(yi)般(ban)安(an)全考慮 依(yi)據並(bing)符合EN61010-1 要求(qiu)

Immunity EN61326-1

Emissions EN55022 Class A

偏(pian)差校正(zheng) 開(kai)路/短(duan)路 : 避免(mian)夾(jia)具或治(zhi)具上(shang)的(de)雜(za)散電(dian)容(rong)及(ji)引(yin)線電(dian)阻所(suo)造成的誤(wu)差

斷(duan)電自動存檔 當(dang)關(guan)閉(bi)電源(yuan)或(huo)斷(duan)電時，設(she)定(ding)數(shu)據將自動存盤(pan)，且於下(xia)次開(kai)機(ji)時回復(fu)

電(dian)源(yuan)需求(qiu) 電壓 98-132Vac or 195-264Vac (可(ke)切(qie)換) ， 頻(pin)率(lv) 47-63Hz

液(ye)晶(jing)屏(ping)幕(mu) 800*480 分(fen)辨率(lv)彩色(se)圖形液(ye)晶(jing)顯(xian)示(shi)

界(jie)面 RS-232, GPIB, Handler, USB Host, LAN

儲(chu)存內(nei)存 內(nei)建(jian)式內(nei)存，可(ke)儲(chu)存128組(zu)測試設(she)定(ding)

啟(qi)動(dong)方式 自動、手(shou)動(dong)、RS-232、GPIB、Handler

操(cao)作(zuo)環(huan)境 Temperature : 10°C to 40°C Humidity : 20 ~ 90%

外(wai)觀(guan)尺(chi)寸 (W*H*D) 344x145x343 mm

重(zhong)量 3 Kg

參(can)數(shu)量測(ce)範(fan)圍(wei)  

｜Z｜ R X 0.001mΩ - 99.999MΩ

｜Y｜ G B 0.1nS - 99.999S

Cs Cp 0.01pF - 9.9999F

Ls Lp 0.1nH - 99.999KH

D 0.00001 - 9.9999

Q 0.1 - 9999.9

DCR 0.001mΩ - 99.999MΩ

Δ% -9999% - 9999%

Θ ±0.001 ~ ±180.000deg

相(xiang)關(guan)選(xuan)配(pei)件

FX-0000C6 高(gao)頻(pin)DIP元(yuan)件測試治(zhi)具 ，端子連接：4-Terminal Pair, BNC 待測(ce)物連(lian)接 : 4-Terminal 尺(chi)寸(大(da)約(yue)):  98x25x65mm

FX-0000C7 介(jie)電(dian)常(chang)數(shu)測試治(zhi)具，端子連接：4-Terminal Pair, BNC 待測(ce)物連(lian)接 : 2-Terminal 尺(chi)寸(大(da)約(yue)):  115x155x126mm (W/H/D）

FX-0000C8 導磁(ci)系數(shu)測試治(zhi)具，端子連接：4-Terminal Pair, BNC 尺(chi)寸(大(da)約(yue)):  105x125x65mm (W/H/D) 重(zhong)量(大(da)約(yue)): 738g 

FX-0000C9 材料測試治(zhi)具，端子連接：4-Terminal Pair, BNC 待測(ce)物連(lian)接 : 2-Terminal 尺(chi)寸(大(da)約(yue)):  115x135x126mm (W/H/D）

FX-000C10 高(gao)頻(pin)精(jing)密型(xing)下(xia)壓式SMD測(ce)試治(zhi)具， 端子連接：4-Terminal Pair, BNC 待測(ce)物連(lian)接: 2-Terminal 尺(chi)寸(大(da)約(yue)):  91x80x98mm (W/H/D) 

FX-000C11 高(gao)頻(pin)精(jing)密型(xing)鑷子式測(ce)試線夾(jia)， 端子連接：4-Terminal Pair, BNC 待測(ce)物連(lian)接: 2-Terminal 線(線)長(大(da)約(yue)):  1m (RG178) 

FX-000C12 高(gao)頻(pin)精(jing)密型(xing)SMD測試治(zhi)具，端子連接：4-Terminal Pair, BNC 待測(ce)物連(lian)接: 2-Terminal 尺(chi)寸(大(da)約(yue)):  91x42x57mm (W/H/D) 

FX-000C19 高(gao)頻(pin)DIP元(yuan)件測試治(zhi)具，端子連接：4-Terminal Pair, BNC 待測(ce)物連(lian)接 : 4-Terminal 尺(chi)寸(大(da)約(yue)):  96x34x49mm

FX-000C20 液(ye)體(ti)介(jie)電(dian)測(ce)試治(zhi)具，端子連接：4-Terminal Pair, BNC 尺(chi)寸(大(da)約(yue)):  115 x 129.5 x 159mm (W/H/D) 重(zhong)量(大(da)約(yue)): 1650g 

F423503 DIP組(zu)件測試治(zhi)具，端子連接：4-Terminal Pair, BNC 待測(ce)物連(lian)接 : 4-Terminal 尺(chi)寸(大(da)約(yue)):  105x25x68mm (W/H/D)

F423504 延(yan)伸DIP組(zu)件測試盒，端子連接：4-Terminal Pair, BNC 待測(ce)物連(lian)接 : 4-Terminal 線長(chang)(大(da)約(yue)):  1.2m (RG174) 

F423905 SMD測(ce)試治(zhi)具，端子連接：4-Terminal Pair, BNC 待測(ce)物連(lian)接 : 2-Terminal 尺(chi)寸(大(da)約(yue)):  118x48x52mm (W/H/D) 

F423906A 凱(kai)爾文(wen)測試線夾(jia) (含(han)BNC Box)，端子連接：4-Terminal Pair, BNC 待測(ce)物連(lian)接 : 4-Terminal 線長(chang)(大(da)約(yue)):  1m (RG174) 

F420001 外(wai)部(bu)偏(pian)壓盒 (±200V/2MHz)，端子連接：4-Terminal Pair, BNC 待測(ce)物連(lian)接 : 4-Terminal 尺(chi)寸(大(da)約(yue)):  150x97x145 (W/H/D) 

F663001A/B/C BNC測(ce)試延(yan)長線， 端子連接：4-Terminal Pair, BNC 待測(ce)物連(lian)接 : 4-Terminal 線長(chang)(大(da)約(yue)):  0.5m/1m/2m

6630 LCR 測(ce)試儀(yi)，提供 6 種(zhong)頻率(lv)選(xuan)項(xiang)(10 Hz 至(zhi)1/3/5/10/20/30 MHz)，可(ke)以進行交(jiao)流(liu)信號的LCR測(ce)試，測試頻率(lv)和(he)測(ce)試級別可(ke)進行連(lian)續(xu)變(bian)化(hua)的階段測(ce)量(liang)。

6632 精(jing)密阻抗(kang)分(fen)析儀(yi)，提供 6 種(zhong)頻率(lv)選(xuan)項(xiang)（10 Hz 至(zhi)1/3/5/10/20/30 MHz），可(ke)以進行交(jiao)流(liu)信號的LCR測(ce)試，測試頻率(lv)和(he)測(ce)試級別可(ke)進行連(lian)續(xu)變(bian)化(hua)的階段測(ce)量(liang)。

6363 精(jing)密型(xing)LCR 測試儀(yi)，測試頻率(lv)範(fan)圍(wei)從(cong)10Hz~20kHz，新壹代LCR Meter和(he)舊壹(yi)代LCR Meter差別在(zai)於量測速(su)度更(geng)快(kuai)和(he)精(jing)準度都(dou)更(geng)上(shang)壹(yi)層樓。

6365 精(jing)密型(xing)LCR 測試儀(yi)，測試頻率(lv)範(fan)圍(wei)從(cong)10Hz~200KHz，6365A，測試頻率(lv)範(fan)圍(wei)從(cong)0.1Hz~200KHz。小量測頻(pin)率(lv)可(ke)達0.1Hz。

6366 精(jing)密型(xing)LCR 測試儀(yi)，測試頻率(lv)範(fan)圍(wei)從(cong)10Hz~500KHz，6365A，測試頻率(lv)範(fan)圍(wei)從(cong)0.1Hz~500KHz。小量測頻(pin)率(lv)可(ke)達0.1Hz。

6367精(jing)密型(xing)LCR Meter，測試頻率(lv)範(fan)圍(wei)從(cong)10Hz~1MHz，6367A，測試頻率(lv)範(fan)圍(wei)從(cong)0.1Hz~1MHz。小量測頻(pin)率(lv)可(ke)達0.1Hz。