基礎(chu)信息(xi)Product information

產(chan)品(pin)名(ming)稱：MICROTEST6630精(jing)密(mi)阻抗分析儀

產(chan)品(pin)型(xing)號(hao)：

更新(xin)時間(jian)：2025-06-10

產(chan)品(pin)簡介：

專(zhuan)業為(wei)祖(zu)國(guo)用(yong)戶(hu)提(ti)供(gong)MICROTEST6630精(jing)密(mi)阻抗分析儀LCR測(ce)試儀 儀器(qi)設(she)備(bei)、測(ce)試方(fang)案(an)、技術(shu)培訓(xun)、維(wei)修(xiu)服務，為(wei)上(shang)海(hai)華東地區(qu)壹(yi)家(jia)以技術(shu)為導(dao)向(xiang)的儀器(qi)設(she)備(bei)綜(zong)合服務商(shang)。

產(chan)品(pin)特性Product characteristics

      專(zhuan)業(ye)儀器(qi)設(she)備(bei)與(yu)測試方(fang)案(an)供(gong)應(ying)商(shang)——上(shang)海(hai)堅(jian)融(rong)實(shi)業(ye)有(you)限公司JETYOO INDUSTRIAL & 堅(jian)友（上(shang)海(hai)）測量(liang)儀器(qi)有(you)限公司JETYOO INSTRUMENTS，為(wei)原安(an)捷倫(lun)Agilent技術(shu)工(gong)程(cheng)師(shi)-堅(jian)JET和吉(ji)時利KEITHLEY應(ying)用(yong)工(gong)程(cheng)師(shi)-融(rong)YOO於(yu)2011年共同(tong)創辦(ban)的以(yi)技術(shu)支(zhi)持(chi)為特色的(de)代理貿(mao)易公司，誌在破(po)舊(jiu)立新(xin)！*進(jin)口(kou)儀器(qi)設(she)備(bei)大多廠家(jia)僅在國(guo)內(nei)設銷售點，技(ji)術(shu)支(zhi)持(chi)薄(bo)弱(ruo)或(huo)者沒(mei)有(you)，而代理經(jing)銷商(shang)也只專業(ye)做商(shang)務銷售，不專業(ye)做(zuo)售前(qian)儀器(qi)設(she)備(bei)選型(xing)配(pei)置/測(ce)試方(fang)案(an)系統搭建，不專業(ye)做(zuo)售後操作(zuo)使用(yong)培訓(xun)/維(wei)修(xiu)校準(zhun)保養(yang)的空白(bai)。我們(men)的(de)技術(shu)銷售工(gong)程(cheng)師(shi)均(jun)為(wei)本科以上(shang)學(xue)歷，且(qie)均(jun)有(you)10年以上(shang)測(ce)試行業經(jing)驗(yan)，以(yi)我們(men)*進(jin)*的經(jing)營理念，專業為(wei)祖(zu)國(guo)用(yong)戶(hu)提(ti)供(gong)儀器(qi)設(she)備(bei)、測(ce)試方(fang)案(an)、技術(shu)培訓(xun)、維(wei)修(xiu)服務，為(wei)上(shang)海(hai)華東地區(qu)壹(yi)家(jia)以技術(shu)為導(dao)向(xiang)的儀器(qi)設(she)備(bei)綜(zong)合服務商(shang)。

MICROTEST6630精(jing)密(mi)阻抗分析儀LCR測(ce)試儀 10Hz~1/3/5/10/20/30MHz應(ying)用(yong)範圍

被動(dong)元件 電容(rong)、電感(gan)、電阻、變(bian)壓器(qi)、陶(tao)瓷(ci)諧(xie)振(zhen)器、石(shi)英晶(jing)體

半導(dao)體元(yuan)件  變容(rong)二(er)極體之(zhi) cv 特性分析、二(er)極體

介(jie)電質(zhi)材料(liao)  塑膠(jiao)、陶(tao)瓷(ci)、印(yin)刷電路板(ban)的電容(rong)率(lv)和(he)損(sun)耗正切(qie)評估(gu)導(dao)

其他(ta)元件 電路板(ban)上(shang)的(de)元件阻抗評估(gu)

6630 LCR 測(ce)試儀，提(ti)供(gong) 6 種(zhong)頻率(lv)選項(xiang)(10 Hz 至1/3/5/10/20/30 MHz)，可以進行交流(liu)信號(hao)的LCR測試，測試頻率(lv)和(he)測(ce)試級(ji)別可進行連續(xu)變(bian)化(hua)的(de)階段(duan)測量。可在不同測(ce)試、模(mo)式條(tiao)件下(xia)、進(jin)行高速(su)地連續(xu)測(ce)試。提供(gong)輸(shu)出阻(zu)抗(kang)25Ω/100Ω可切換，ALC補(bu)償(chang)，多步測試;BIN 分類及比(bi)較(jiao)器功(gong)能(neng)在自動(dong)元件生產(chan)時進行良品(pin)與(yu)不良品(pin)分類。並支(zhi)援(yuan)RS-232、GPIB、Handler、LAN、USB Host/Device 介面(mian)。

6630 LCR 測(ce)試儀可搭配(pei)各式各樣(yang)的(de)測試治具與(yu)配(pei)件。介電常數測(ce)試治具 FX-0000C7，儀器(qi)內(nei)建公式直(zhi)接(jie)算(suan)出材料(liao)介電數值(zhi) εr'、εr"。評估(gu) PCB 空板或(huo)陶(tao)瓷(ci)板(ban)等(deng)。使(shi)用液(ye)態(tai)介電治具 FX-000C20，用(yong)來(lai)評估(gu)電化(hua)學(xue)材料(liao)特性分析。使(shi)用導(dao)磁(ci)系數(shu)測(ce)試治具 FX-0000C8，儀器(qi)內(nei)建公式直(zhi)接(jie)算(suan)各種(zhong)環(huan)形磁(ci)芯或(huo)鐵氧(yang)體磁(ci)芯(xin)及電磁屏(ping)蔽(bi)塗(tu)層材料(liao)的導(dao)磁(ci)系數(shu) μr'、μr"。

信號(hao)源頻率(lv)範圍：DC, 10Hz-1/3/5/10/20/30MHz

基本阻抗量測精(jing)度(du) ±0.05%

自動(dong)電平控制 (ALC) 功(gong)能(neng)

輸(shu)出阻(zu)抗(kang) 25Ω/100Ω 可切換

提(ti)供(gong)電表(biao)模(mo)式、多步測試並搭配(pei)多樣治(zhi)具，如(ru)：液(ye)態(tai)介電、介電常數治(zhi)具和(he)導(dao)磁(ci)系數(shu)量(liang)測

超(chao)快量(liang)測速(su)度(du) < 3mS

開路(lu) / 短路(lu) / 負載校(xiao)正功(gong)能(neng)

電表(biao)模(mo)式下(xia)多可顯示四(si)個元件參數 , 電感(gan)值及 DCR 值(zhi)可同時顯示

可同時量測(ce)和(he)顯示自動(dong)元件分類：比(bi)較(jiao)器功(gong)能(neng)及 Handler 接(jie)口(kou)BIN 分類功(gong)能(neng)

支(zhi)援(yuan) RS-232、GPIB、Handler、LAN、USB Host/Device 等介面(mian)

適(shi)用於(yu)研發(fa)、制程(cheng)、實驗(yan)室(shi)等(deng)檢測(ce)領(ling)域

可加購電腦(nao)連線(xian)軟體，全(quan)面(mian)采集(ji)分析量(liang)測數(shu)據(ju)

800*400 7 吋彩色螢(螢)幕，可以同時設定(ding)即(ji)顯示四種不同的(de)參數。

量(liang)測(測)待測(測)物(wu)之前(qian)，需(xu)要(yao)先做開路(lu)、短路(lu)、高(gao)頻負(負)載校正、及定(ding)頻負(負)載校正。

用(yong)於(yu)電(電)感(gan)元件特性的(de)量(liang)測(測)，量(liang)測(測)直(zhi)流(liu)的電阻特性。壹(yi)般(ban)用來評(評)估(gu)電(電)感(gan)的參數值(zhi)為(為) Ls/Lp/Q/SRF/DCR。電感(gan)匝數與(與)繞線材料(liao)會(會)影(ying)響DCR 值。

多步列(lie)表(biao)測(測)試自動(動)編成(cheng)功能(neng)，多 15 組 ( 可存(cun) 50 個(個)編程(cheng) )。

輸出阻(zu)抗(kang) 25Ω/100Ω 可以切換。自動(動)電(電)平控制 (ALC) 為(為)工(gong)程(cheng)師(師)更精(jing)確(確)量(liang)測(測)元(yuan)件。如(ru)積(積)層(層)陶(tao)瓷(ci)電(電)容(rong)(MLCC)，電(電)容(rong)值(zhi)>1uF，需打開ALC 量測(測)， 因(yin)為(為)電容(rong)值(zhi)在量(liang)測(測)時(時)有(you)可能(neng)會(會)低(di)於(yu)真實的(de)電(電)容(rong)量(liang)。壹(yi)般(ban)評(評)估(gu)電(電)容(rong)的(de)參數值(zhi)有(you) Cs/Cp/D/Q/ESR/DC Bias Voltage。

用(yong)介(jie)電(電)常數測(測)試治具 FX-0000C7，6630 內(內)建公式直(zhi)接(jie)算(suan)出材料(liao)介電(電)數值(zhi) εr'、εr"。評(評)估(gu) PCB 空板或(huo)陶(tao)瓷(ci)板(ban)等(deng)。

使(shi)用(yong)液(ye)態介(jie)電(電)治具 FX-000C20，用(yong)來(來)評(評)估(gu)電(電)化(hua)學材料(liao)特性分析。

使(shi)用(yong)導(導)磁係數測(測)試治具 FX-0000C8，6630 內(內)建公式直(zhi)接(jie)算(suan)各種(種)環(環)形磁(ci)芯或(huo)鐵(鐵)氧(yang)體磁(ci)芯及電(電)磁屏(ping)蔽(bi)塗(塗)層(層)材料(liao)的導(導)磁系數 μr'、μr"。

連接(jie) RS-232、LAN、GPIB 或(huo) Handler 搭載自動(動)化(hua)高(gao)速(su)量(liang)測(測) (測(測)試速度(du)<3mS)，生產有(you)效率(lv)。

MICROTEST6630精(jing)密(mi)阻抗分析儀規(gui)格參數指(zhi)標(biao)

測(ce)試頻率(lv)

6630-1 10Hz ~ 1MHz

6630-3 10Hz ~ 3MHz

6630-5 10Hz ~ 5MHz

6630-10 10Hz ~ 10MHz

6630-20 10Hz ~ 20MHz

6630-30 10Hz ~ 30MHz

小(xiao)分辨率(lv) 100mHz, 6位元頻率(lv)輸(shu)入

準(zhun)確(que)度(du) 7 ppm±100mHz

基本測量準確(que)度(du) ± 0.05% 

AC 測(ce)試信號(hao)為準，測(ce)試信號(hao)電壓範圍 10mV - 2Vrms，電壓小(xiao)分辨率(lv) 1mV

準(zhun)確(que)度(du) ALC ON：6％ * 設定電壓 ±2mV

ALC OFF：10％ * 設(she)定(ding)電壓 ±2mV

測(ce)試信號(hao)電流(liu)範圍 200µA - 20mArms

電流(liu)小(xiao)分辨率(lv) 10µA

準(zhun)確(que)度(du) ALC ON：6％ * 設定電流(liu) ± 20µA

ALC OFF：10％ * 設(she)定(ding)電流(liu) ± 20µA

DC 測(ce)試信號(hao)為準 1V(固(gu)定(ding))

測(ce)量(liang)時(shi)間< 3ms

輸(shu)出阻(zu)抗(kang) 可切換25Ω、100Ω (標(biao)稱值(zhi))

測(ce)試參數 |Z|(阻(zu)抗(kang))、|Y|(導(dao)納(na))、θ(相位角)、X(電抗)、R(串(chuan)並聯(lian)電阻)、G(電導(dao))、B(電納)、L(電感(gan))、D(損耗因數(shu))、Q(品(pin)質(zhi)因(yin)數(shu))、DCR(直(zhi)流(liu)電阻) 、C(電容(rong))、 Vdc-Idc(直(zhi)流(liu)電壓電流(liu))、ESR(等效串(chuan)聯(lian)電阻)、ε (相對介電系數(shu))、μr (相對導(dao)磁(ci)系數(shu))

測(ce)量(liang)模(mo)式 電表(biao)模(mo)式、多步列(lie)表(biao)

等(deng)效電路 串(chuan)聯(lian)、並聯(lian)

校(xiao)正 開路(lu)、短路(lu)、負載

多步列(lie)表(biao)測試 50組多步測試設定（每組15個測試步驟(zhou)）

BIN分類 9級(ji)(大)

比(bi)較(jiao)器 ABS、ΔABS、Δ%、OFF

內(nei)部儲(chu)存(cun) 100組LCR Meter測試設定文(wen)件 、50組多步測試設定

USB Host 儲(chu)存(cun) LCR Meter測(ce)試設定文(wen)件、多步測試設定文(wen)件、BMP圖(tu)像(xiang)

介(jie)面(mian) RS-232、GPIB、Handler、LAN、USB Host/Device

電源要(yao)求 電壓90V ～ 264Vac

頻(pin)率(lv) 47Hz ~ 63Hz

功(gong)耗 低(di)功(gong)耗：大30W (標(biao)稱值(zhi))

液(ye)晶(jing)螢(ying)幕 7吋TFT, 彩色顯示(800*480)

操(cao)作(zuo)環(huan)境 溫(wen)度(du): 10℃ ～ 40℃, 濕度(du): ≦80%RH

外(wai)觀(guan)尺寸(cun)(W*H*D) 336x147x340 mm

重(zhong)量 3 kg

參數量(liang)測(ce)範圍 

|Z| 0.000 mΩ - 9999.99 MΩ

R, X ± 0.000 mΩ - 9999.99 MΩ

|Y| 0.00000 uS - 999.999 kS

G, B ± 0.00000 uS - 999.999 kS

θRAD ± 0.00000 - 3.14159

θDEG ± 0.000° - 180.000°

Cs, Cp ± 0.00000 pF - 9999.99 F

Ls, Lp ± 0.00 nH - 9999.99 kH

D 0.00000 - 9999.99

Q 0.00 - 9999.99

Δ ± 0.00% - 9999.99%

Rdc 0.00 mΩ - 99.9999 MΩ

εr' εr'' 0 - 100000

μr' μr'" 0 - 100000

配(pei)件/治具

標(biao)準(zhun)配(pei)件

電源線(xian)，使(shi)用手冊，電子檔光(guang)碟，高頻DIP元(yuan)件測試治具(FX-000C19)

選購(gou)配(pei)件

凱爾(er)文(wen)測試夾線(xian)含BNC Box(F423906A)，DIP 元件測試治具(F423503)，延(yan)伸(shen) DIP 元件測試盒(he)(F423504)，高(gao)頻(pin)DIP元(yuan)件測試治具(FX-0000C6)，SMD 測(ce)試治具(F423905)，高(gao)頻(pin)精(jing)密(mi)型(xing)下(xia)壓(ya)式SMD測(ce)試治具(FX-0000C10)，高(gao)頻(pin)精(jing)密(mi)行鑷子式測(ce)試線(xian)夾(FX-000C11)，高頻精(jing)密(mi)型(xing)SMD測(ce)試治具(FX-000C12)，介(jie)電常數治(zhi)具(FX-0000C7)，導(dao)磁(ci)系數(shu)治(zhi)具(FX-0000C8)，材料(liao)測試治具(FX-0000C9)，BNC液(ye)體介(jie)電測試治具(FX-000C20)，BNC 測(ce)試延長(chang)線(xian)(F663001 A/B/C)，外(wai)部偏(pian)壓盒(he)±200V (F420001)，外(wai)部(bu)偏(pian)壓盒(he)±40V(F420003)