基(ji)礎信息(xi)Product information

產(chan)品(pin)名(ming)稱(cheng)：致遠(yuan)電(dian)子(zi)周立(li)功ZLG LAB7504邏輯(ji)分(fen)析(xi)儀(yi)

產(chan)品(pin)型(xing)號(hao)：

更新(xin)時(shi)間：2025-06-10

產(chan)品(pin)簡(jian)介：

堅(jian)融(rong)實業(ye)——壹家致力於為(wei)祖國(guo)用(yong)戶(hu)提供致遠(yuan)電(dian)子(zi)周立(li)功ZLG LAB7504邏輯(ji)分(fen)析(xi)儀(yi)，致(zhi)遠(yuan)電(dian)子(zi)周立(li)功ZLG LAB6052邏輯(ji)分(fen)析(xi)儀(yi) LAB6022 LA2832A plus 致(zhi)遠(yuan)電(dian)子(zi)周立(li)功ZLG LA2832A邏輯(ji)分(fen)析(xi)儀(yi)儀(yi)器(qi)設備(bei)、測(ce)試方案(an)、技術(shu)培訓、維修計(ji)量(liang)全面(mian)服務的儀(yi)器(qi)設備(bei)綜(zong)合(he)服務商(shang)。

產(chan)品(pin)特性Product characteristics

專業(ye)儀(yi)器(qi)設備(bei)與測(ce)試方案(an)供應(ying)商(shang)——上海堅(jian)融(rong)實業(ye)有(you)限(xian)公(gong)司JETYOO INDUSTRIAL & 堅友（上(shang)海）測(ce)量(liang)儀(yi)器(qi)有(you)限(xian)公(gong)司JETYOO INSTRUMENTS，為(wei)原安(an)捷倫Agilent【現(xian)是(shi)德KEYSIGHT】品牌技術(shu)經理-堅JET與吉(ji)時(shi)利(li)KEITHLEY【現(xian)泰(tai)克(ke)Tektronix】品牌(pai)產(chan)品(pin)經理-融(rong)YOO於2011年(nian)共同(tong)創辦(ban)，專註工業(ye)測(ce)試領域(yu)十(shi)六(liu)年(nian)，誌(zhi)在破舊立(li)新(xin)！*進口儀(yi)器(qi)設備(bei)大(da)多數(shu)廠家僅在國(guo)內設銷售(shou)點，但技術(shu)支(zhi)持薄弱(ruo)甚(shen)至(zhi)沒有(you)，而(er)代理經銷(xiao)商(shang)也只(zhi)做商(shang)務，不(bu)做售(shou)前(qian)技術(shu)支(zhi)持/測(ce)試方案(an)和(he)售(shou)後使(shi)用(yong)培(pei)訓(xun)/維修校準(zhun)的空白。我(wo)們(men)的技術(shu)型(xing)銷(xiao)售(shou)均為(wei)本科(ke)以上(shang)學(xue)歷，且(qie)均有(you)10年(nian)以(yi)上(shang)測(ce)試行業(ye)經驗(yan)，以我(wo)們(men)*進*的經營(ying)理念，與客戶互(hu)惠(hui)互(hu)利(li)合(he)作(zuo)雙(shuang)贏(ying)，重(zhong)在協助用(yong)戶(hu)采(cai)購與技術(shu)工程(cheng)師的工作，提供較(jiao)有(you)競(jing)爭(zheng)力(li)的供應(ying)鏈管理與售(shou)前(qian)售(shou)後技術(shu)支(zhi)持。堅融(rong)實業(ye)——壹家致力於為(wei)祖國(guo)用(yong)戶(hu)提供儀(yi)器(qi)設備(bei)、測(ce)試方案(an)、技術(shu)培訓、維修計(ji)量(liang)全面(mian)服務的儀(yi)器(qi)設備(bei)綜(zong)合(he)服務商(shang)。

產(chan)品(pin)型(xing)號(hao) 致(zhi)遠電(dian)子(zi)周立(li)功ZLG LAB7504邏輯(ji)分(fen)析(xi)儀(yi)，致(zhi)遠(yuan)ZLG LAB6052邏(luo)輯(ji)分(fen)析(xi)儀(yi)，LA2832A plus 致(zhi)遠(yuan)電(dian)子(zi)周立(li)功ZLG LA2832A邏輯(ji)分(fen)析(xi)儀(yi)

存儲(chu)容量(liang)（bits） 2G， 1G， 1G， 512M

存儲(chu)深(shen)度(du)（bits/CH） 64M/128M(半通(tong)道)， 32M， 64M， 32M 

高速定時(shi)采(cai)樣率(lv) 5GHz，-- ，-- ，--， --

分(fen)段存儲(chu)（段數(shu)） --， --，65536，32768

定時(shi)采(cai)樣率(lv) 500MHz/1GHz(半(ban)通(tong)道(dao))， 500MHz， 200MHz， 200MHz

狀態(tai)采(cai)樣率(lv) 250MHz ，250MHz ，80MHz ，80MHz

頻寬(kuan) 250MHz， 250MHz， 80MHz， 80MHz

輸入(ru)通道 34CH ，32CH ，32CH ，32CH

記錄模式 -- ，-- ，支(zhi)持， 支(zhi)持

通道復用(yong) 32CH/16CH， -- ，32CH

壓縮存儲(chu) 支(zhi)持， 支(zhi)持

頻率(lv)計(ji) 支(zhi)持2路(lu) ，支(zhi)持32路(lu)

邏輯(ji)筆 支(zhi)持， 支(zhi)持32路(lu)

外部觸發 支(zhi)持觸(chu)發輸出、輸入(ru)， 支(zhi)持觸(chu)發輸出、輸入(ru)

輸入(ru)範圍 -30V～+30V， -30V～+30V

探頭(tou)參(can)數 100KΩ/15pF ，1MΩ/15pF

門(men)限(xian)電(dian)壓 -10～+10V， -6～+6V

供電(dian)電(dian)源(yuan) DC 12V@2A（內正外負） ，DC 5V@1A（內正外負）

協議(yi)解碼(ma)選型(xing)： 邏(luo)輯(ji)分(fen)析(xi)儀(yi)協(xie)議(yi)類型(xing)選型(xing)總覽表(biao)

1. 如(ru)何(he)選擇(ze)邏輯(ji)分(fen)析(xi)儀(yi)

邏輯(ji)分(fen)析(xi)儀(yi)是(shi)壹種類(lei)似於示(shi)波(bo)器(qi)的波形測試設備(bei)，它(ta)是用(yong)於監(jian)測硬(ying)件電(dian)路(lu)工作時(shi)的邏輯(ji)電(dian)平，並加以(yi)存儲(chu)， 用(yong)圖(tu)形的方式直觀地表(biao)達出來(lai)，便於用(yong)戶(hu)檢測(ce)、 分(fen)析(xi)電(dian)路(lu)設計(硬件設計和(he)軟件(jian)設計) 中(zhong)的錯誤。 邏輯(ji)分(fen)析(xi)儀(yi)是(shi)設計特別是(shi)數(shu)字設計中(zhong)*的設備(bei)，通(tong)過(guo)它，

可以迅速地定位錯(cuo)誤，解決(jue)問(wen)題，達到事半(ban)功倍的效果(guo)。

相對於示(shi)波(bo)器(qi)， 邏(luo)輯(ji)分(fen)析(xi)儀(yi)往(wang)往(wang)給(gei)人(ren)有(you)以(yi)下(xia)的感覺：

1. 操作復雜， 對使(shi)用(yong)者(zhe)的要求高；

2. 與示(shi)波(bo)器(qi)功能差(cha)不(bu)多；

3. 價格昂貴。

其實不(bu)然(ran)，邏(luo)輯(ji)分(fen)析(xi)儀(yi)在近的幾年(nian)中(zhong)隨著(zhe)數(shu)字電(dian)路(lu)的廣泛使(shi)用(yong)發(fa)展(zhan)迅速，已(yi)經成為(wei)很多電(dian)子(zi)開(kai)發(fa)公(gong)司的必選設備(bei)之壹。

邏輯(ji)分(fen)析(xi)儀(yi)的重(zhong)要指(zhi)標(biao)有(you)輸(shu)入(ru)通道數(shu)、定時(shi)采(cai)樣率(lv)、狀態(tai)采(cai)樣率(lv)、存儲(chu)容量(liang)、觸(chu)發(fa)方式、分(fen)析(xi)功能、其他功能等(deng)。表(biao) 1 為(wei)廣州(zhou)致(zhi)遠電(dian)子(zi)有(you)限(xian)公(gong)司出品(pin)邏輯(ji)分(fen)析(xi)儀(yi)的主(zhu)要選型(xing)參(can)數，也是邏(luo)輯(ji)分(fen)析(xi)儀(yi)的重(zhong)要選型(xing)指(zhi)標(biao)。

采(cai)樣通(tong)道(dao)數(shu)

在需(xu)要邏輯(ji)分(fen)析(xi)儀(yi)的地方，要對壹個系(xi)統進行全(quan)面(mian)地分(fen)析(xi)， 邏輯(ji)分(fen)析(xi)儀(yi)的通道數(shu)至(zhi)少應(ying)當足(zu)以(yi)把(ba)所(suo)有(you)需(xu)要觀測(ce)的信號(hao)全(quan)部引(yin)入(ru)邏輯(ji)分(fen)析(xi)儀(yi)當(dang)中(zhong)。

定時(shi)采(cai)樣率(lv)

在定時(shi)采(cai)樣分(fen)析(xi)時(shi)，要有(you)足(zu)夠的定時(shi)分(fen)辨率(lv)，就應(ying)當有(you)足(zu)夠高的定時(shi)分(fen)析(xi)采(cai)樣速(su)率(lv)，但並不(bu)是(shi)只(zhi)有(you)高速系(xi)統才需(xu)要高的采(cai)樣速(su)率(lv)。如(ru)果(guo)采(cai)樣頻(pin)率(lv)高，則可以(yi)看見(jian)更加精細的結(jie)果(guo)。

像 LAB7504 邏輯(ji)分(fen)析(xi)儀(yi)擁(yong)有(you) 5GHz 的定時(shi)采(cai)樣率(lv)，對信(xin)號(hao)間的時(shi)間分(fen)辨率(lv)高達 200ps，*現(xian)代器(qi)件 ns 級的測量。

狀態(tai)采(cai)樣率(lv)

在進行狀態(tai)分(fen)析(xi)時(shi)，邏(luo)輯(ji)分(fen)析(xi)儀(yi)采(cai)樣時(shi)鐘(zhong)使(shi)用(yong)外部輸入(ru)時(shi)鐘(zhong)，在外部時(shi)鐘(zhong)的驅動下(xia)進行數(shu)據(ju)存儲(chu)。外部輸入(ru)時(shi)鐘(zhong)的高頻率(lv)決(jue)定了邏輯(ji)分(fen)析(xi)儀(yi)的高狀態(tai)采(cai)樣率(lv)。 LAB7000 和(he)LAB6000 系(xi)列(lie)邏輯(ji)分(fen)析(xi)儀(yi)除(chu)了擁有(you)標(biao)準(zhun)的狀態(tai)采(cai)樣模式外，還擁(yong)有(you)帶時(shi)間戳的狀態(tai)采(cai)樣模

式。帶時(shi)間戳的狀態(tai)采(cai)樣模式讓(rang)用(yong)戶(hu)不(bu)但可以(yi)觀(guan)察到不同(tong)的輸入(ru)狀態(tai)，更加可(ke)以(yi)測(ce)每(mei)個(ge)輸入(ru)狀態(tai)與外部同步(bu)時(shi)鐘(zhong)之間的關(guan)系(xi)。

存儲(chu)容量(liang)

存儲(chu)容量(liang)是(shi)指(zhi)邏(luo)輯(ji)分(fen)析(xi)儀(yi)能(neng)夠(gou)連(lian)續(xu)保(bao)存采(cai)樣點的數量，直(zhi)接(jie)壹點說(shuo)，就是邏(luo)輯(ji)分(fen)析(xi)儀(yi)能(neng)夠(gou)測(ce)量多長(chang)時(shi)間的波形。存儲(chu)容量(liang)越(yue)大(da)能夠觀察的時(shi)間就越(yue)長(chang)，但由於高速存儲(chu)器的價格都比較(jiao)高，所(suo)以(yi)存儲(chu)容量(liang)越(yue)大(da)相應(ying)的邏輯(ji)分(fen)析(xi)儀(yi)價(jia)格就越(yue)高。 LAB7000、 LAB6000、 LA2000A

系(xi)列(lie)邏輯(ji)分(fen)析(xi)儀(yi)*的 Timing-State 模式可以很好的自動平衡存儲(chu)容量(liang)、觀(guan)測(ce)時(shi)間和(he)測量精度(du)的三者關(guan)系(xi)，運(yun)用(yong) Timing-State 技術(shu)可以使(shi)邏(luo)輯(ji)分(fen)析(xi)儀(yi)在相同(tong)的存儲(chu)容量(liang)下(xia)同時(shi)具有(you)很高測量(liang)精度(du)和(he)更長的觀測時(shi)間。

觸發方式

相比示(shi)波(bo)器(qi)，邏(luo)輯(ji)分(fen)析(xi)儀(yi)提供了豐(feng)富的觸發模式。除(chu)去(qu)邊緣觸(chu)發(fa)外，邏輯(ji)分(fen)析(xi)儀(yi)壹般(ban)都具有(you)針(zhen)對總線範圍(wei)、總線間關(guan)系(xi)、事件(jian)次數等(deng)觸(chu)發(fa)方式。 LAB7000、 LAB6000、 LA2000A系(xi)列(lie)邏輯(ji)分(fen)析(xi)儀(yi)還(hai)可(ke)以(yi)對數(shu)據進行範(fan)圍(wei)、 =、！ =、 >、 <等(deng)比較(jiao)。同時(shi)， LAB7000、 LAB6000、

LA2000A 系(xi)列(lie)邏輯(ji)分(fen)析(xi)儀(yi)提供可視觸發、協議(yi)觸發(fa)、插件觸(chu)發(fa)、用(yong)戶(hu)自(zi)定義(yi)觸發、高速 SPI觸(chu)發等(deng)多種觸(chu)發方式。

分(fen)析(xi)功能

分(fen)析(xi)功能是(shi)邏輯(ji)分(fen)析(xi)儀(yi)的大(da)亮點，也(ye)是邏(luo)輯(ji)分(fen)析(xi)儀(yi)區別於其他儀(yi)器(qi)的重(zhong)要指(zhi)標(biao)。邏(luo)輯(ji)分(fen)析(xi)儀(yi)對輸(shu)入(ru)信號(hao)進行時(shi)序(xu)和(he)狀態(tai)的分(fen)析(xi)。廣州(zhou)致(zhi)遠電(dian)子(zi)有(you)限(xian)公(gong)司出品(pin)的邏輯(ji)分(fen)析(xi)儀(yi)可(ke)以(yi)更進壹步(bu)的提供針對 I2C、 SPI、 UART、 ModBus、 1-Wire 等(deng)總線分(fen)析(xi)和(he) SD 卡、 CF 卡等(deng)高層

協議(yi)的分(fen)析(xi)，針對處(chu)理器的反匯(hui)編分(fen)析(xi)等(deng)功能。

其他功能

廣州(zhou)致(zhi)遠電(dian)子(zi)有(you)限(xian)公(gong)司出品(pin)的邏輯(ji)分(fen)析(xi)儀(yi)提出了數字電(dian)路(lu)測量平臺(tai)的概念，在設計之初就融(rong)入(ru)了頻率(lv)計(ji)、邏(luo)輯(ji)筆、總線分(fen)析(xi)儀(yi)、協(xie)議(yi)分(fen)析(xi)儀(yi)等(deng)功能，用(yong)戶(hu)在壹個軟件(jian)界(jie)面(mian)上(shang)實現(xian)同(tong)時(shi)對多種測(ce)量的觀察，壹機多用(yong)，省(sheng)去(qu)用(yong)戶(hu)重(zhong)復(fu)投(tou)資(zi)。廣州(zhou)致(zhi)遠電(dian)子(zi)有(you)限(xian)公(gong)司

2. 解答邏輯(ji)分(fen)析(xi)儀(yi)使(shi)用(yong)過(guo)程(cheng)中(zhong)的常見(jian)問(wen)題解(jie)答

2.1 邏輯(ji)分(fen)析(xi)儀(yi)處(chu)於離(li)線狀態(tai)

如(ru)果(guo)在硬件連(lian)接(jie)及軟件(jian)安(an)裝都完(wan)成後， 將(jiang)邏輯(ji)分(fen)析(xi)儀(yi)的電(dian)源(yuan)接(jie)好，並(bing)用(yong) USB 線將(jiang)分(fen)析(xi)儀(yi)和(he)電(dian)腦連(lian)接(jie)，此時(shi)如(ru)果(guo)邏(luo)輯(ji)分(fen)析(xi)儀(yi)處(chu)於離(li)線狀態(tai)， 原因可(ke)能有(you)以(yi)下(xia)三種：

壹是供電(dian)不足，電(dian)源(yuan)線沒有(you)接(jie)好或者(zhe)是(shi)沒有(you)打(da)開(kai)電(dian)源(yuan)按鈕(niu)；

二是硬件連(lian)接(jie)問(wen)題， 請(qing)檢查(zha) USB 線是否(fou)有(you)問(wen)題或者(zhe) USB 線是否(fou)連(lian)接(jie)正常。

三是 USB 驅動安(an)裝有(you)問(wen)題。 在 我的電(dian)腦→右擊屬性→硬(ying)件→設備(bei)管理器，在通用(yong)串(chuan)行(xing)

總線控(kong)制(zhi)器列(lie)表(biao)中(zhong)尋找 zlglogic 設備(bei)，如(ru)果(guo)沒有(you)此(ci)設備(bei)則證明確實是(shi)以(yi)上(shang)所(suo)陳述(shu)的兩種原因。

如(ru)果(guo)發(fa)現(xian)有(you)壹個前面打(da)問(wen)號(hao)的 zlglogic 設備(bei)，則說(shuo)明肯(ken)定是驅(qu)動沒有(you)安(an)裝好，此時(shi)的解決方法是進行強(qiang)制(zhi)驅動安(an)裝，您(nin)可(ke)在我們的網站上下(xia)載強(qiang)制(zhi)驅動安(an)裝文件並進行手(shou)動安(an)裝。

四還是供電(dian)不足的問(wen)題，如(ru)果(guo)在設備(bei)管理器裏(li)查(zha)看設備(bei)的時(shi)候(hou)可(ke)以看到這(zhe)個設備(bei)，而(er)且前面沒有(you)問(wen)號(hao)，那(na)就有(you)可(ke)能是(shi)供電(dian)不足的問(wen)題，此(ci)時(shi)插上電(dian)源(yuan)適配器，看是否(fou)在線。

五是軟件(jian)被攔(lan)截。如(ru)果(guo)以(yi)上(shang)四個(ge)原因都(dou)已(yi)經排(pai)除(chu)， 則有(you)可(ke)能是(shi)殺毒(du)軟件(jian)或者(zhe)防(fang)火墻(qiang)軟件(jian)等(deng)高安(an)全系(xi)數將(jiang)邏輯(ji)分(fen)析(xi)儀(yi)的軟件(jian)攔(lan)截了。將(jiang)此類(lei)軟件(jian)先禁用(yong)，看問(wen)題是(shi)否(fou)可(ke)以(yi)解決。

六， 臺(tai)式機前面(mian)的 USB 口和(he)後面的 USB 口的信號(hao)完(wan)整(zheng)性不(bu)同，如(ru)果(guo)問(wen)題無(wu)法解決就換到後面的 USB 口試試，因為(wei)後面的 USB 口是直(zhi)接(jie)從主(zhu)板上(shang)引(yin)出(chu)來(lai)的。

2.2 采(cai)集不(bu)到數據(ju)或者(zhe)采(cai)集到錯誤數據(ju)

若邏輯(ji)分(fen)析(xi)儀(yi)已(yi)經處(chu)於在線狀態(tai)情(qing)況(kuang)下(xia)， 信號(hao)線卻(que)沒有(you)任(ren)何(he)反應(ying)，則首(shou)先(xian)應(ying)檢查(zha)測量線是否(fou)已(yi)經連(lian)接(jie)在有(you)信(xin)號(hao)的被測信(xin)號(hao)上(shang)，如(ru)果(guo)確定有(you)輸(shu)入(ru)的信號(hao)，則應(ying)該檢查(zha)接(jie)地是否(fou)良好，常(chang)常會因(yin)為(wei)沒有(you)接(jie)地良好，後導致(zhi)信號(hao)無(wu)法正常采(cai)集。 甚(shen)至(zhi)有(you)時(shi)候(hou)被(bei)采(cai)集系(xi)統已(yi)經斷電(dian)了，

但邏輯(ji)分(fen)析(xi)儀(yi)仍(reng)然采(cai)集到了數據(ju)，這(zhe)也是(shi)因(yin)為(wei)地線沒有(you)接(jie)好。所(suo)以(yi)信(xin)號(hao)采(cai)集出(chu)現(xian)問(wen)題時(shi)應(ying)首(shou)先(xian)檢查(zha)地線是否(fou)接(jie)好。

2.3 邏輯(ji)分(fen)析(xi)儀(yi)測(ce)量(liang)線在懸空時(shi)測(ce)得(de)的數據

邏輯(ji)分(fen)析(xi)儀(yi)（除(chu) LA5034）的測量線在懸空（即(ji)不接(jie)任何(he)負載）的情況(kuang)下(xia)，測得(de)的信號(hao)將(jiang)是高電(dian)平。而 LA5034 的測量線在懸空時(shi)。測(ce)得(de)的信號(hao)電(dian)平的狀態(tai)跟(gen)門(men)限(xian)電(dian)壓的設置(zhi)相關(guan)，處(chu)於不(bu)定態。

2.4 邏輯(ji)分(fen)析(xi)儀(yi)通(tong)道(dao)有(you)電(dian)壓輸出(chu)，會不(bu)會影響設備(bei)？

用(yong)萬用(yong)表(biao)測(ce)量(liang)邏(luo)輯(ji)分(fen)析(xi)儀(yi)測(ce)量(liang)通(tong)道的輸出，有(you) 2.6V 左(zuo)右的電(dian)壓，會不(bu)會對設備(bei)提供上拉(la)並(bing)造(zao)成影響？

問(wen)題解(jie)答： 邏輯(ji)分(fen)析(xi)儀(yi)的測量通(tong)道(dao)直(zhi)接(jie)接(jie)到高速比較(jiao)器輸入(ru)端，有(you)可(ke)能由於比較(jiao)器存在漏電(dian)流而產(chan)生漏電(dian)壓。

通過(guo)仔細測(ce)試，結(jie)果(guo)如(ru)下(xia)： A、 B 口對外的電(dian)壓是高速比較(jiao)器的漏電(dian)流產(chan)生的，有(you) 5uA左(zuo)右的電(dian)流，這(zhe)個漏(lou)電(dian)流在業(ye)界(jie)已(yi)經很小， 經測(ce)量(liang)，邏(luo)輯(ji)分(fen)析(xi)儀(yi)正向輸(shu)入(ru)電(dian)阻(zu)為(wei) 50M，反向(xiang)輸入(ru)電(dian)阻(zu)為(wei) 5M。只(zhi)要被測(ce)對象(xiang)的輸出內阻(zu)小於 500K 就不會對被(bei)測對象(xiang)造(zao)成任(ren)何(he)影響。

因為(wei)萬用(yong)表(biao)的輸入(ru)阻(zu)抗大(da)概有(you) 10M 左(zuo)右，所(suo)以(yi)能(neng)夠測量(liang)出(chu)電(dian)壓。壹般(ban)我們設備(bei)輸(shu)出電(dian)阻(zu)都是(shi)很小的，如(ru)壹個 5V 的 TTL 器件，其輸出(chu)電(dian)流壹般(ban)有(you) 10mA～20mA 以(yi)上，輸(shu)出(chu)電(dian)阻(zu)為(wei)5V/10mA=500 歐姆以下(xia)，只(zhi)要妳的輸出電(dian)流能夠(gou)大(da)於 5uA 就不會對妳(ni)的設備(bei)造(zao)成影響，所(suo)廣州(zhou)致(zhi)遠電(dian)子(zi)有(you)限(xian)公(gong)司

以對於壹般(ban)的應(ying)用(yong)不(bu)會造(zao)成影響的。

2.5 邏輯(ji)分(fen)析(xi)儀(yi)在使(shi)用(yong) Timing_state 模式時(shi)不(bu)能(neng)將(jiang) 32 根測(ce)量(liang)線全部接(jie)入(ru)

由於在使(shi)用(yong) Timing_state 模式時(shi)，有(you)壹根測量線是用(yong)來(lai)存儲(chu)壓縮數據的，所(suo)以(yi)在使(shi)用(yong)Timing_state 模式時(shi)，多只(zhi)能使(shi)用(yong) 31 根(gen)測(ce)量線。

2.6 軟件(jian)觸發對話(hua)框出(chu)現(xian)亂(luan)碼(ma)

安(an)裝完(wan)軟件(jian)後在觸發設置(zhi)菜(cai)單(dan)裏(li)面(mian)出現(xian)亂(luan)碼(ma)，如(ru)下(xia)圖所(suo)示(shi)。

問(wen)題解(jie)答： 在觸發設置(zhi)窗(chuang)口區域內點擊(ji)鼠標右鍵(jian)，選擇(ze)“編碼(ma)→簡(jian)體(ti)中(zhong)文"選項即(ji)可，如(ru)下(xia)圖所(suo)示(shi)。如(ru)果(guo)還(hai)不(bu)行，可(ke)將(jiang)“自動選擇(ze)" 選項勾(gou)選上，然後再選擇(ze)“簡(jian)體(ti)中(zhong)文"，多試兩次壹定能夠(gou)解(jie)決問(wen)題。

2.7 邏輯(ji)分(fen)析(xi)儀(yi)能(neng)采(cai)樣多長(chang)時(shi)間

這(zhe)個問(wen)題要分(fen)兩(liang)種情(qing)況(kuang)來(lai)分(fen)析(xi)，壹種是(shi)采(cai)用(yong)定時(shi)采(cai)樣（timing），第二(er)種是(shi)采(cai)用(yong)動態采(cai)樣（timing-state）。

壹、定時(shi)采(cai)樣（timing）

定時(shi)采(cai)樣能(neng)采(cai)集的時(shi)間長短(duan)與采(cai)樣頻(pin)率(lv)和(he)存儲(chu)深(shen)度(du)有(you)關(guan)，每(mei)壹個存儲(chu)單(dan)元(yuan)存儲(chu)對應(ying)的時(shi)間為(wei)采(cai)集時(shi)鐘(zhong)的周期。設采(cai)樣頻(pin)率(lv)為(wei) Fc，每(mei)通(tong)道存儲(chu)容量(liang)為(wei) M，則邏輯(ji)分(fen)析(xi)儀(yi)能(neng)夠(gou)持(chi)續(xu)的

采(cai)樣時(shi)間為(wei)：T = M × 1/Fc

舉(ju)例說(shuo)明，使(shi)用(yong) LA2532 邏(luo)輯(ji)分(fen)析(xi)儀(yi)，采(cai)樣頻(pin)率(lv)為(wei) 100MHz，則采(cai)樣時(shi)間為(wei)：T = 1Mbits × 1/100MHz = 1048576 × 10ns ≈ 10.5ms

即(ji) 1Mbits 存儲(chu)深(shen)度(du) 100MHz 采(cai)樣頻(pin)率(lv)能(neng)采(cai)集 10ms 長(chang)度(du)的信號(hao)。因(yin)此邏輯(ji)分(fen)析(xi)儀(yi)的型(xing)號(hao)壹但確定，那(na)麽(me)采(cai)集時(shi)間只(zhi)與采(cai)集頻(pin)率(lv)有(you)關(guan)。

二、動態采(cai)樣（timing-state）

動態采(cai)樣（timing-state）是(shi) LAB7000、 LAB6000、 LA2000A 系(xi)列(lie)邏輯(ji)分(fen)析(xi)儀(yi)*的采(cai)樣模式。 當邏輯(ji)分(fen)析(xi)儀(yi)的硬件確定後，采(cai)樣時(shi)間只(zhi)與被(bei)采(cai)集信(xin)號(hao)的變(bian)化率(lv)有(you)關(guan)。被采(cai)樣信(xin)號(hao)頻(pin)率(lv)越(yue)低(di)，能(neng)采(cai)樣的時(shi)間就越(yue)長(chang)。

如(ru)果(guo)您(nin)想(xiang)在不升級(ji)硬件(jian)的基(ji)礎上增(zeng)大(da)采(cai)樣時(shi)間，您(nin)可(ke)以(yi)通過(guo)適當降低定時(shi)采(cai)樣率(lv)或者(zhe)將(jiang)采(cai)樣設置(zhi)裏(li)的 timing-state 選項勾(gou)選上，壹般(ban)情況(kuang)下(xia)都是(shi)可以(yi)大(da)大(da)增(zeng)加采(cai)樣時(shi)間的，但這(zhe)是跟(gen)被(bei)采(cai)樣信(xin)號(hao)的變(bian)化率(lv)息(xi)息(xi)相關(guan)的，被采(cai)樣信(xin)號(hao)變(bian)化率(lv)越(yue)低(di)，可(ke)以(yi)增(zeng)加的采(cai)樣時(shi)間就越(yue)長(chang)。

但如(ru)果(guo)采(cai)取這(zhe)些(xie)措(cuo)施(shi)後仍(reng)然無(wu)法滿足時(shi)間需(xu)求，您(nin)就只(zhi)能對硬(ying)件進行升(sheng)級(ji)了。 即(ji)購買(mai)更高型(xing)號(hao)的邏輯(ji)分(fen)析(xi)儀(yi)，從(cong)而(er)增(zeng)大(da)每(mei)通(tong)道的存儲(chu)深(shen)度(du)，從根(gen)本上(shang)解決采(cai)樣時(shi)間的問(wen)題。

2.8 關(guan)於狀態(tai)優(you)先(xian)和(he)位置(zhi)優(you)先(xian)的理解

位置(zhi)優(you)先(xian)： 位置(zhi)優(you)先(xian)模式保(bao)證了觸發(fa)點壹定會落在用(yong)戶(hu)的觸發位置(zhi)上(shang)。如(ru)圖(tu)所(suo)示(shi)。

從圖中(zhong)可以看出，用(yong)戶(hu)設置(zhi)的觸發位置(zhi)為(wei) xx%，當啟(qi)動邏輯(ji)分(fen)析(xi)儀(yi)采(cai)集時(shi)，數(shu)據(ju)會馬(ma)上被(bei)采(cai)集並(bing)存入(ru)存儲(chu)器中(zhong)，在數據末存滿(man)到的觸發位置(zhi)前(qian)，即(ji)使(shi)有(you)出(chu)現(xian)符合(he)觸(chu)發條(tiao)件的觸發信(xin)號(hao)，它(ta)也不會觸(chu)發的，只(zhi)有(you)當(dang)數據(ju)存滿(man)至(zhi)用(yong)戶(hu)設置(zhi)的觸發位置(zhi)後，出現(xian)符合(he)觸(chu)發條(tiao)件

的信號(hao)才(cai)會觸(chu)發。

狀態(tai)優(you)先(xian)： 狀態(tai)優(you)先(xian)不(bu)能(neng)保(bao)證觸(chu)發(fa)點壹定會落在用(yong)戶(hu)的觸發位置(zhi)上(shang)。它符合(he)觸(chu)發條(tiao)件的觸發信(xin)號(hao)的出現(xian)有(you)關(guan)，如(ru)圖(tu)所(suo)示(shi)。

從圖中(zhong)可以看出，然(ran)後用(yong)戶(hu)設置(zhi)的觸發位置(zhi)為(wei) xx%，但是實際(ji)的觸發位置(zhi)確是在前面，也(ye)即(ji)是只(zhi)要有(you)符合(he)觸(chu)發條(tiao)件的信號(hao)，它(ta)就會立(li)即(ji)觸發(fa)，而(er)不(bu)管是(shi)否(fou)到了用(yong)戶(hu)設置(zhi)的觸發位置(zhi)。

當然狀態(tai)優(you)先(xian)也(ye)有(you)可(ke)能會存在觸發點剛(gang)好在觸發位置(zhi)上(shang)的情況(kuang)，當(dang)數據存滿(man)到用(yong)戶(hu)觸(chu)發位置(zhi)前(qian)沒出現(xian)符合(he)觸(chu)發條(tiao)件的信號(hao)，那(na)麽(me)它(ta)的觸發點將(jiang)會落在觸發位置(zhi)上(shang)，如(ru)下(xia)圖所(suo)示(shi)。

狀態(tai)優(you)先(xian)的存在是為(wei)了避免(mian)錯過(guo)出現(xian)機率(lv)較(jiao)少的觸發條(tiao)件，假(jia)若只(zhi)使(shi)用(yong)位置(zhi)優(you)先(xian)，觸(chu)發(fa)條(tiao)件只(zhi)出現(xian)壹次，且出現(xian)在數據存滿(man)觸發位置(zhi)之前，那(na)麽(me)該(gai)觸發(fa)將(jiang)捕抓(zhua)不(bu)到，造(zao)成無(wu)觸(chu)發(fa)的錯誤分(fen)析(xi)。

上面分(fen)析(xi)所(suo)講(jiang)的存儲(chu)空間，其地址和(he)觸發位置(zhi)都(dou)是相對的，並不是(shi)存儲(chu)器的物(wu)理地址，這(zhe)點要註意。另外為(wei)了便於理解，妳(ni)可以認(ren)為(wei)當數(shu)據存到觸發(fa)位置(zhi)時(shi)，之後每(mei)存壹個數據，先(xian)存的那(na)個(ge)數(shu)據就丟掉(diao)，這(zhe)樣觸(chu)發(fa)位置(zhi)就壹直保(bao)持在用(yong)戶(hu)設置(zhi)的觸發位置(zhi)點上(shang)，只(zhi)需(xu)

等(deng)待符合(he)觸(chu)發條(tiao)件的信號(hao)到達就可以(yi)繼(ji)續(xu)往(wang)前存儲(chu)了，直到存滿(man)存儲(chu)器。

2.9 關(guan)於邏(luo)輯(ji)分(fen)析(xi)儀(yi)觸(chu)發(fa)次數的理解

邏輯(ji)分(fen)析(xi)儀(yi)采(cai)集數(shu)據(ju)直到存儲(chu)器滿(man)才(cai)能(neng)觸發壹次，即(ji)觸發(fa)壹次後，如(ru)果(guo)還(hai)有(you)觸(chu)發信(xin)號(hao)到來(lai)時(shi)，它(ta)並(bing)不會提示(shi)觸(chu)發(fa)，但會繼(ji)續(xu)記(ji)錄(lu)數(shu)據，直至(zhi)此(ci)次采(cai)集數(shu)據(ju)完(wan)成。因(yin)此(ci)並不(bu)是壹有(you)觸(chu)發信(xin)號(hao)觸(chu)發次數就會增(zeng)加。

2.10 UART 不能進行插件觸(chu)發(fa)

UART 的分(fen)析(xi)，實質(zhi)上(shang)是(shi)由邏(luo)輯(ji)分(fen)析(xi)儀(yi)對信(xin)號(hao)進行抽(chou)樣(yang)分(fen)析(xi)，分(fen)析(xi)檢測(ce)原理和(he) UART接(jie)收(shou)器(qi)壹樣，需(xu)要 16 倍 UART 波(bo)特率(lv)以(yi)上(shang)的采(cai)樣頻(pin)率(lv)才(cai)能(neng)正確解析(xi)。因(yin)此要求邏(luo)輯(ji)分(fen)析(xi)儀(yi)的采(cai)樣頻(pin)率(lv)至(zhi)少要是 UART 波(bo)特率(lv)的 16 倍以(yi)上(shang)才(cai)能正確的進行插件分(fen)析(xi)和(he)插件觸(chu)發(fa)。如(ru)采(cai)

115200bps 的信號(hao)，則至(zhi)少要用(yong) 2MHz 的采(cai)樣頻(pin)率(lv)。

2.11 以 CSV 格式導出的文件中(zhong) Time 間隔不(bu)壹樣

在邏輯(ji)分(fen)析(xi)儀(yi)采(cai)集完(wan)數據(ju)後， 這(zhe)些(xie)數(shu)據(ju)往(wang)往(wang)需(xu)要被導(dao)出並(bing)進行二(er)次利用(yong)。因(yin)此(ci)我們的軟件(jian)具有(you)數(shu)據導(dao)出(chu)功能，可(ke)以以(yi) CSV 格式或者(zhe)二(er)進制(zhi)文件(jian)格式進行導(dao)出(chu)。

以CSV文件格式導出後的結(jie)果(guo)如(ru)下(xia)圖所(suo)示(shi)，其中(zhong)Time的時(shi)間是狀態(tai)變(bian)化的時(shi)刻(ke)的時(shi)間，只(zhi)要信號(hao)變(bian)化不大(da)，則時(shi)間也不(bu)會改(gai)變(bian)，因此時(shi)間欄的時(shi)間不是(shi)等(deng)長(chang)的。

然而， 保(bao)存成 Bin 格式文件時(shi)，它(ta)是(shi)按 Timing 格式保(bao)存，也(ye)即(ji)是不(bu)管壓(ya)不(bu)壓縮，都按32位（因(yin)為(wei)有(you)32個(ge)通道(dao)）采(cai)樣點來(lai)保(bao)存，即(ji)兩數(shu)據(ju)間的時(shi)間是等(deng)長(chang)的；如(ru)采(cai)樣頻(pin)率(lv)為(wei)100MHz，則兩個(ge)數(shu)據之間的間隔為(wei) 10nS。

2.12 CAN 總線測量(liang)方案(an)

由於我(wo)們(men)的邏輯(ji)分(fen)析(xi)只(zhi)能測(ce)量單(dan)端(duan)信(xin)號(hao)，而(er) CAN 總線是差(cha)分(fen)信(xin)號(hao)，所(suo)以(yi)只(zhi)能單(dan)獨測CAN 總線的 CANH 或者(zhe) CANL，不(bu)能同(tong)時(shi)測(ce)量(liang)兩根信號(hao)（若(ruo)要同時(shi)測(ce)也(ye)有(you)辦(ban)法，見(jian)下(xia)述第三(san)種測(ce)量方式）。根據 CAN 的電(dian)平屬性（CANH 平時(shi)為(wei) 2.5V，高時(shi)為(wei) 4~5 伏， CANL 平時(shi)

為(wei) 2.5V，低時(shi)為(wei) 0V），所(suo)以(yi) CAN 總線有(you)三(san)種測(ce)量方式。

壹種測(ce)量方式，邏輯(ji)分(fen)析(xi)儀(yi)的地線接(jie)系(xi)統地，其中(zhong)壹通道接(jie) CANH，然後設置(zhi)邏(luo)輯(ji)分(fen)析(xi)的比較(jiao)門(men)限(xian)電(dian)平為(wei) 3V 左右就可以(yi)。

第二(er)種測(ce)量方式，系(xi)統地沒引(yin)出(chu)來(lai)，邏輯(ji)分(fen)析(xi)儀(yi)的地線接(jie) CANL，測量(liang)通道(dao)接(jie) CANH，這(zhe)種方式要特別註(zhu)意，由於 PC 地(即(ji)邏輯(ji)分(fen)析(xi)儀(yi)地)與被(bei)測系(xi)統地是共地的，所(suo)以(yi)需(xu)要做隔(ge)

離，這(zhe)個要特別註(zhu)意，操(cao)作方法如(ru)下(xia)，需(xu)要用(yong)筆(bi)記(ji)本電(dian)腦測，而且電(dian)腦不能接(jie)外置(zhi)電(dian)源(yuan)，以(yi)保(bao)證隔(ge)離(li)效(xiao)果(guo)。

第三(san)種測(ce)量方式，同時(shi)測(ce) CANL 和(he) CANH，邏輯(ji)分(fen)析(xi)儀(yi)的 PODA，和(he) PODB 的比較(jiao)電(dian)壓是可(ke)以單(dan)獨調(tiao)的，這(zhe)時(shi)我(wo)們(men)可以用(yong) PODA 的測量通(tong)道(dao)接(jie) CANH，並且(qie)設置(zhi) PODA 的比較(jiao)電(dian)平設為(wei) 3V 左右。用(yong) PODB 的測量通(tong)道(dao)接(jie) CANL，並且(qie)設置(zhi) PODB 的比較(jiao)電(dian)平為(wei) 1.5V 左

右。這(zhe)樣就可以(yi)同時(shi)觀(guan)測(ce)兩個信號(hao)。

2.13 邏輯(ji)分(fen)析(xi)儀(yi)保(bao)存的文件不(bu)能(neng)打(da)開(kai)

以前用(yong)邏(luo)輯(ji)分(fen)析(xi)儀(yi)保(bao)存的文件，現(xian)在打不開(kai)。

問(wen)題解(jie)答： 以前的軟件(jian)（3.x 版本）和(he)現(xian)在的軟件(jian)（4.x 版本）的架構(gou)是不同(tong)的，保(bao)存的文件格式是不兼容(rong)的，所(suo)以(yi)會出(chu)現(xian)上(shang)述(shu)問(wen)題。只(zhi)能用(yong)回(hui)舊的軟件(jian)來(lai)打開(kai)文(wen)件。

2.14 IIC 插件分(fen)析(xi)錯誤碼(ma)

IIC 插件分(fen)析(xi)每(mei)次分(fen)析(xi)結(jie)果(guo)都(dou)不(bu)壹樣，而數據(ju)實際(ji)上(shang)是(shi)壹樣的，如(ru)下(xia)圖所(suo)示(shi)，兩(liang)個(ge)圖(tu)的IIC 數據目測都(dou)能(neng)看得(de)出(chu)來(lai) IIC 地址都(dou)是 0x2A 是(shi)壹樣的，而分(fen)析(xi)結(jie)果(guo)有(you)時(shi)確是錯(cuo)誤的。

問(wen)題解(jie)答： IIC插件分(fen)析(xi)是根據SCL信(xin)號(hao)跳(tiao)變(bian)來(lai)判(pan)斷的，如(ru)果(guo)分(fen)析(xi)的數據中(zhong)出現(xian)有(you)毛刺，極(ji)有(you)可(ke)能會造(zao)成協(xie)議(yi)分(fen)析(xi)錯誤。這(zhe)裏(li)可(ke)將(jiang)數據(ju)放大(da)，觀察 SCL 信號(hao)線的邊沿附(fu)近是否(fou)有(you)毛

刺。將(jiang)上面(mian)協(xie)議(yi)分(fen)析(xi)錯誤部分(fen)放大(da)，如(ru)下(xia)圖所(suo)示(shi)，確實可(ke)以(yi)觀(guan)察到有(you)毛刺存在，從而導(dao)致協(xie)議(yi)分(fen)析(xi)錯誤。

由於 IIC 總線的時(shi)鐘(zhong)頻(pin)率(lv)比較(jiao)低，因此可(ke)以通過(guo)降低(di)采(cai)樣頻(pin)率(lv)來(lai)解決協議(yi)分(fen)析(xi)錯誤的問(wen)題，或者(zhe)打(da)開(kai)軟件(jian)濾波(bo)將(jiang)毛刺過(guo)濾掉(diao)，使(shi)插件解(jie)碼(ma)正確。

2.15 RS485 總線測量(liang)方案(an)

使(shi)用(yong)單(dan)端(duan)采(cai)樣方式進行分(fen)析(xi)；

分(fen)析(xi)過(guo)程(cheng)： RS-485 的協議(yi)和(he) RS-232 是壹樣的，只(zhi)不過(guo)電(dian)平特性是(shi)差(cha)分(fen)的，因為(wei)我們(men)的邏輯(ji)分(fen)析(xi)只(zhi)能測(ce)量單(dan)端(duan)信(xin)號(hao)，因(yin)此只(zhi)能單(dan)獨測 RS-485 總線的 A 端或 B 端(duan)。因(yin)為(wei) RS485 協議(yi)規定當在接(jie)收(shou)端(duan) A-B 之間有(you)大(da)於+200mV 的電(dian)平時(shi)，輸(shu)出(chu)為(wei)正邏輯(ji)電(dian)平；小於-200mV 時(shi)，

輸出為(wei)負邏(luo)輯(ji)電(dian)平。單(dan)端(duan)信(xin)號(hao)線的協議(yi)和(he) UART 協議(yi)是壹樣的，因此可(ke)以(yi)對 A 端(duan)數據進行UART 分(fen)析(xi)，邏輯(ji)分(fen)析(xi)儀(yi)的地線接(jie)設備(bei)系(xi)統地。如(ru)果(guo)不(bu)知(zhi)哪(na)個(ge)是(shi) A 端(duan)，可以先用(yong)邏(luo)輯(ji)分(fen)析(xi)進行預采(cai)樣判(pan)斷， A、 B 端都接(jie)到邏輯(ji)分(fen)析(xi)儀(yi)，然(ran)後進行采(cai)樣，如(ru)下(xia)圖所(suo)示(shi)，空(kong)閑(xian)時(shi)為(wei)高電(dian)

毛刺平的線的為(wei) A 端。

通訊參(can)數的設置(zhi)和(he) UART 協議(yi)壹樣。分(fen)析(xi)的結(jie)果(guo)如(ru)下(xia)圖所(suo)示(shi)：

註意事項： 由於差(cha)分(fen)信(xin)號(hao)根(gen)據系(xi)統的不同及(ji)傳輸(shu)距離的的長度(du)不同(tong)，電(dian)壓幅(fu)值(zhi)範(fan)圍不定。

因此分(fen)析(xi)之前要調(tiao)整(zheng)好(hao)邏輯(ji)分(fen)析(xi)的比較(jiao)電(dian)壓，以確保(bao)能夠(gou)正確采(cai)樣到數據(ju)。如(ru)果(guo)有(you)必要的話(hua)可以(yi)先(xian)用(yong)示(shi)波(bo)器(qi)測(ce)量 A 端的信號(hao)幅(fu)值(zhi)範(fan)圍，然後再確定壹個中(zhong)間比較(jiao)值(zhi)，如(ru)果(guo)沒有(you)示(shi)波(bo)器(qi)的話(hua)，可以(yi)用(yong)默(mo)認(ren)的 1.5V 比較(jiao)電(dian)平進行采(cai)樣，然(ran)後按照已(yi)采(cai)集的數據進行協(xie)議(yi)分(fen)析(xi)，如(ru)果(guo)

不正確的話(hua)則要重(zhong)新(xin)調(tiao)整(zheng)比較(jiao)電(dian)壓，直到正確分(fen)析(xi)為(wei)止(zhi)。

如(ru)果(guo)能(neng)保(bao)證設備(bei)的地和(he) PC 的地是隔(ge)離的，也可以(yi)用(yong)邏(luo)輯(ji)分(fen)析(xi)儀(yi)的測試通道(dao)接(jie) A 端，邏(luo)輯(ji)分(fen)析(xi)儀(yi)的地線接(jie) B 端進行測(ce)量(liang)分(fen)析(xi)（註意：設備(bei)的地和(he) PC 的地是壹定要是隔(ge)離的才能這(zhe)麽接(jie)，否(fou)則可能(neng)會損壞(huai)設備(bei)）。

2.16 SPI、 IIC、 SSI 具有(you)時(shi)鐘(zhong)信(xin)號(hao)數(shu)據分(fen)析(xi)錯誤問(wen)題描述(shu)： SPI、 IIC、 SSI 等(deng)具有(you) CLK 時(shi)鐘(zhong)信(xin)號(hao)的協議(yi)，在分(fen)析(xi)數據時(shi)。在不夠位數(shu)的情況(kuang)下(xia)分(fen)析(xi)出數據，數(shu)據(ju)分(fen)析(xi)混亂(luan)，出(chu)錯。

問(wen)題分(fen)析(xi)： 出現(xian)此(ci)種情(qing)況(kuang)壹般(ban)是由於 CLK 信(xin)號(hao)出(chu)現(xian)毛刺造(zao)成的。 例如(ru)，在此圖中(zhong) 0xC 是 8bit 位的是 5 個 CLK 信(xin)號(hao)就顯示(shi)出(chu)來(lai)， 其錯位原因主(zhu)要是因(yin)為(wei)在上圖畫(hua)紅線的地方出(chu)現(xian)了毛刺。放大(da)前兩個時(shi)鐘(zhong)部分(fen)分(fen)別是(shi)：

解決辦(ban)法：

1、在采(cai)集數(shu)據(ju)時(shi)開(kai)啟(qi)數據(ju)濾波(bo)（部分(fen)邏(luo)輯(ji)分(fen)析(xi)儀(yi)支(zhi)持）

2、降低采(cai)樣頻(pin)率(lv)（此(ci)方法可以降低(di)，但是還(hai)是(shi)有(you)壹定的幾率(lv)）

3、微(wei)調(tiao)門(men)限(xian)電(dian)壓

致遠電(dian)子(zi)周立(li)功ZLG LAB7504邏輯(ji)分(fen)析(xi)儀(yi)，LAB6052，LA2832Aplus，LA2832A何(he)謂(wei) " 邏(luo)輯(ji)分(fen)析(xi)儀(yi) "邏(luo)輯(ji)分(fen)析(xi)儀(yi)是(shi)壹種類(lei)似於示(shi)波(bo)器(qi)的波形分(fen)析(xi)設備(bei)，能(neng)夠連(lian)續(xu)不(bu)斷地采(cai)集電(dian)路(lu)的邏輯(ji)電(dian)平，並通(tong)過(guo)存儲(chu)和(he)波形顯示(shi)直(zhi)觀(guan)地呈現(xian)信(xin)號(hao)時(shi)序(xu)關(guan)系(xi)，幫(bang)助用(yong)戶(hu)快(kuai)速調(tiao)試電(dian)路(lu)中(zhong)存在的通信問(wen)題。