基礎信(xin)息Product information

產品名(ming)稱：Chroma17011電(dian)池(chi)芯充放電(dian)測(ce)試系統(tong)

產品型號(hao)：

更新(xin)時間(jian)：2025-06-10

產品簡介(jie)：

Chroma17011電(dian)池(chi)芯充放電(dian)測(ce)試系統(tong)，專(zhuan)業(ye)為祖(zu)國用(yong)戶(hu)提供(gong)儀器設備(bei)、測試(shi)方案、技術培訓、維(wei)修(xiu)計(ji)量服務(wu)，為上(shang)海(hai)華(hua)東地區壹(yi)家以技術為導(dao)向(xiang)的儀器設備(bei)綜(zong)合(he)服務(wu)商(shang)。

產品特性Product characteristics

   專業(ye)儀器設備(bei)與測(ce)試方案供(gong)應(ying)商(shang)——上(shang)海(hai)堅融實業(ye)有限(xian)公司(si)JETYOO INDUSTRIAL & 堅友(you)（上(shang)海(hai)）測(ce)量(liang)儀器有限(xian)公司(si)JETYOO INSTRUMENTS，為原(yuan)安捷(jie)倫Agilent技術工程(cheng)師-堅JET和(he)吉(ji)時利(li)KEITHLEY應(ying)用(yong)工程(cheng)師-融YOO於(yu)2011年(nian)共同(tong)創(chuang)辦的以技術應(ying)用(yong)為特色(se)的代(dai)理(li)貿易公司(si)，誌(zhi)在(zai)破(po)舊立新(xin)！*進(jin)口儀器設備(bei)大多廠(chang)家(jia)僅(jin)在(zai)國內設銷(xiao)售點(dian)，技術支持薄弱(ruo)或(huo)沒有，而代(dai)理(li)經(jing)銷(xiao)商(shang)也只專(zhuan)做(zuo)商(shang)務銷(xiao)售，不(bu)專(zhuan)業(ye)做售前(qian)測(ce)試(shi)原(yuan)理(li)方案答(da)疑，不(bu)專(zhuan)業(ye)做售後(hou)使(shi)用(yong)培訓(xun)/維(wei)修校(xiao)準(zhun)的空(kong)白(bai)。我們(men)的技術銷(xiao)售工(gong)程(cheng)師均為本(ben)科以上(shang)學歷(li)，且(qie)均有10年以上(shang)測試行(xing)業(ye)經(jing)驗(yan)，以我們(men)*進(jin)*的經(jing)營理(li)念，專(zhuan)業(ye)為祖(zu)國用(yong)戶(hu)提供(gong)儀器設備(bei)、測試(shi)方案、技術培訓、維(wei)修(xiu)計(ji)量服務(wu)，為上(shang)海(hai)華(hua)東地區壹(yi)家以技術為導(dao)向(xiang)的儀器設備(bei)綜(zong)合(he)服務(wu)商(shang)。

Chroma17011電(dian)池(chi)芯充放電(dian)測(ce)試系統(tong)主(zhu)要(yao)特色(se)：

高精(jing)度(du)輸出(chu)與(yu)量測(ce)， 0.015% of F.S.

快(kuai)速(su)電(dian)流(liu)響應(ying)，<100 μS

高速(su)率數(shu)據紀(ji)錄 (10 mS)

彈(dan)性的取(qu)樣(yang)記(ji)錄方(fang)式(Δt, ΔV, ΔI, ΔQ, ΔE)

信(xin)道(dao)並聯(lian)輸(shu)出(chu)功能，達1200 A

高效(xiao)率充放電(dian)、低(di)發(fa)熱

放電(dian)能源(yuan)回(hui)收功能 (能源(yuan)回(hui)收系列)

動態工況(kuang)仿(fang)真功能 (電(dian)流(liu)/功率模式(shi))

內建直流內阻(zu)(DCIR)測試功能

內建EDLC之電(dian)容(rong)量與(yu)直流內阻(zu)測試功能

操(cao)作(zuo)模式

定電(dian)流(liu)

定功率

定電(dian)壓

定電(dian)阻(zu)

定電(dian)流(liu)轉定電(dian)壓

定功率轉定(ding)電(dian)壓

靜置

自放電(dian)測(ce)試

多層安全保(bao)護機制

可整合多功能記(ji)錄器與恒溫(wen)濕箱

應(ying)用(yong)領域

電(dian)動(dong)車產業(ye)

電(dian)動(dong)機車/自行(xing)車(che)產業(ye)

儲能應(ying)用(yong)產業(ye)

電(dian)動(dong)機具產業(ye)

質檢機構

學術研究

Chroma17011電(dian)池(chi)芯充放電(dian)測(ce)試系統(tong)是專(zhuan)為鋰(li)離(li)子(zi)電(dian)池(chi)芯(Lithium-Ion Battery Cell, LIB Cell)、電(dian)氣二(er)重層電(dian)容(rong)器(Electric Double Layer Capacitor, EDLC)與鋰(li)離(li)子(zi)電(dian)容(rong)器(Lithium-Ion Capacitor, LIC)等儲能組件測(ce)試(shi)而開發(fa)的高精(jing)度(du)測試設備(bei)，適合(he)用(yong)於(yu)產品研發(fa)、質量(liang)控制，有利(li)於(yu)特性研(yan)究、循(xun)環(huan)壽(shou)命(ming)測(ce)試(shi)、產品選型與(yu)質(zhi)量(liang)鑒定(ding)等用(yong)途(tu)。

Chroma 17011系統(tong)針對(dui)不(bu)同(tong)應(ying)用(yong)分別(bie)發(fa)展了線性電(dian)路(lu)系列與(yu)交(jiao)直(zhi)流(liu)雙向(xiang)能源(yuan)回(hui)收系列產品；線性電(dian)路(lu)系列具(ju)有極(ji)低(di)輸出(chu)噪(zao)聲與(yu)超(chao)高量測(ce)精(jing)度(du)特性，適(shi)合中(zhong)小型儲能組件的精(jing)密(mi)測(ce)試(shi)；而雙(shuang)向(xiang)能源(yuan)回(hui)收系列則(ze)適(shi)合(he)中(zhong)大(da)型儲能組件或(huo)功率型電(dian)池(chi)芯測試，具(ju)有高效(xiao)率、省電(dian)、低(di)發(fa)熱與(yu)量測穩定的優(you)點(dian)，符合(he)綠(lv)能產業(ye)低碳(tan)排的生(sheng)產方式。

Chroma 17011系統(tong)除了常用(yong)的定(ding)電(dian)流(liu) (CC)、定功率 (CP)、定電(dian)壓 (CV)、定(ding)電(dian)阻(zu) (CR)與靜置(zhi)(Rest)測試(shi)模式，具(ju)備(bei)波(bo)形(xing)仿(fang)真(Waveform)測(ce)試(shi)功能，以及(ji)符合(he)測試標準(zhun)的測(ce)試(shi)項目，如(ru)直(zhi)流(liu)內阻(zu)(DCIR)、EDLC電(dian)容(rong)量、EDLC直(zhi)流內阻(zu)等測試(shi)工(gong)步，滿(man)足(zu)各類(lei)型測(ce)試應(ying)用(yong)，更利(li)於(yu)用(yong)戶(hu)快(kuai)速(su)編(bian)輯程(cheng)序與(yu)分析測試(shi)結(jie)果。

Chroma 17011系統(tong)具(ju)有靈活的軟件(jian)編(bian)程(cheng)功能，軟件(jian)可(ke)以為每個(ge)通道(dao)創建基本(ben)充放電(dian)或(huo)復雜結構(gou)的循(xun)環(huan)測試，每個(ge)信(xin)道(dao)獨(du)立運(yun)行(xing)，程(cheng)序可(ke)編(bian)輯邏輯判斷(duan)跳躍(yue)或(huo)變量輸(shu)出(chu)，中(zhong)途(tu)可預約(yue)暫停或(huo)接(jie)續，並具(ju)有數(shu)據保護功能，萬壹(yi)發(fa)生電(dian)力(li)或計(ji)算(suan)器通信(xin)丟失(shi)的情(qing)況(kuang)，數(shu)據將安全地存(cun)儲在(zai)系統(tong)的非(fei)易失(shi)性內(nei)存中(zhong)，防(fang)止潛(qian)在(zai)的測(ce)試(shi)數(shu)據丟失(shi)並允(yun)許重新(xin)啟動後接續測(ce)試(shi)。

鋰(li)離(li)子(zi)電(dian)池(chi)芯測試的安全性是十(shi)分重要(yao)的，Chroma 17011具(ju)備(bei)多項安全防(fang)護設計(ji)，在(zai)啟動測試前(qian)進(jin)行(xing)接(jie)觸檢查(zha)與極(ji)性檢(jian)查(zha)來(lai)避免不(bu)良接線(xian)進(jin)行(xing)測(ce)試，在(zai)測試過(guo)程(cheng)除了固(gu)有硬(ying)件線(xian)路保護，用(yong)戶(hu)可自(zi)定義(yi)韌體檢(jian)測(ce)過電(dian)壓(OVP)、過(guo)電(dian)流(liu)(OCP)、過容(rong)量(OQP)、電(dian)壓/電(dian)流(liu)變化量(liang)(ΔV/ΔI)、回路(lu)電(dian)阻(zu)等多種(zhong)異常(chang)檢(jian)知功能，保(bao)障(zhang)鋰(li)離(li)子(zi)電(dian)池(chi)芯實驗(yan)安全性。

高精(jing)度(du) – 提高產品質量

電(dian)壓/電(dian)流(liu)量測精(jing)度(du)：±0.015％ of F.S. / ±0.02％ of F.S.

電(dian)壓輸(shu)出(chu)範(fan)圍廣(guang)：具備(bei) 0V 到 6V 輸出(chu)範(fan)圍，而特定(ding)型號(hao)提(ti)供(gong)三種電(dian)壓輸(shu)出(chu)切(qie)換(huan)功能，電(dian)壓量(liang)測分(fen)辨率達 0.1mV。

多檔位量(liang)測(ce)設計(ji)：依(yi)據(ju)機型輸出(chu)範(fan)圍提(ti)供(gong)多電(dian)流(liu)或電(dian)壓量(liang)程(cheng)，大幅提(ti)高量測(ce)精(jing)度(du)與分辨率；系統(tong)會(hui)依(yi)據(ju)工步參數(shu)自動選擇(ze)適合電(dian)流(liu)量程(cheng)，在(zai)定壓模(mo)式下(xia)，電(dian)流(liu)範圍自動(dong)切(qie)換(huan)，不(bu)會(hui)出(chu)現(xian)任何(he)電(dian)流(liu)輸出(chu)中(zhong)斷(duan)。

快(kuai)速(su)電(dian)流(liu)響應(ying) – 適合各種(zhong)高速(su)瞬時測試應(ying)用(yong)

電(dian)流(liu)響應(ying)速(su)度(du) (10% to 90%) < 100 μS *

支持動態波(bo)形(xing)仿(fang)真 (Waveform)模(mo)擬(ni)快(kuai)速(su)變化的電(dian)流(liu)和(he)功率狀(zhuang)態(tai)

註(zhu)：電(dian)流(liu)響應(ying)速(su)度(du)<100 μS 為 17216M-10-6 機(ji)種(zhong)，另外(wai)不(bu)同(tong)待測物阻(zu)抗將會(hui)有些許差(cha)異。

動態波(bo)形(xing)仿(fang)真應(ying)用(yong)

功率或電(dian)流(liu)的動(dong)態(tai)充電(dian)/放電(dian)波(bo)形(xing)，仿(fang)真駕(jia)駛(shi)行(xing)車(che)數(shu)據或任何(he)現(xian)實世界(jie)的應(ying)用(yong)

能夠從Excel文件匯(hui)入(ru)存儲的電(dian)流(liu)/功率波(bo)形(xing)

多支持 1,440,000 點的波(bo)形(xing)數(shu)據空間(jian)

輸出(chu)數(shu)據點小間(jian)隔(ge)：10 mS

能源(yuan)回(hui)收 – 電(dian)力(li)優化(hua)利(li)用(yong)

直接回收：自動(dong)優(you)先將放電(dian)中(zhong)的電(dian)能轉(zhuan)移(yi)到需要(yao)充電(dian)的電(dian)池(chi)芯，回收效(xiao)率>80%

電(dian)網回(hui)收：多余電(dian)能回(hui)收(shou)到電(dian)網，回(hui)收效(xiao)率>60%

實現(xian)低碳(tan)排(pai)的綠(lv)能產業(ye)，避免放電(dian)時電(dian)能以負(fu)載(zai)消耗(hao)產生廢熱

高效(xiao)率充放電(dian)，節(jie)約(yue)電(dian)費

節省設備(bei)與環(huan)境降(jiang)溫(wen)的空(kong)調費用(yong)

設備(bei)回饋(kui)電(dian)網電(dian)流(liu)總(zong)諧(xie)波(bo)失(shi)真<5%

額定功率下，功率因素>0.98

高精(jing)度(du) – 提高產品質量

電(dian)壓精(jing)度(du)：±(0.02% of Reading + 0.02% of F.S.)

電(dian)流(liu)精(jing)度(du)：±0.05% of F.S.

快(kuai)速(su)電(dian)流(liu)響應(ying) – Waveform模式

電流響應(應)速(su)度(du) (-90%~90%) < 1mS適合各種(種)測(測)試(試)應(應)用(yong)

支持動態波(bo)形(xing)仿(fang)真(Waveform)仿(fang)真真實(shi)行(xing)車(che)數(shu)據之電(dian)流(liu)或功率狀(zhuang)態(tai)，包(bao)含(han)NEDC、FUDS 和(he) DST測試(shi)標準(zhun)

功能特色(se)  

高頻采樣(yang)測量(liang)技術 – 提高量測(ce)精(jing)度(du)

V / I 采樣率：50 KHz (Δt：20 μS)

壹(yi)般電(dian)池(chi)充放電(dian)測(ce)試器使用(yong)軟件(jian)紀(ji)錄值來(lai)計算(suan)電(dian)容(rong)量與(yu)能量(liang)，然(ran)而有限(xian)的數(shu)據采樣率在(zai)計算(suan)動(dong)態(tai)電(dian)流(liu)時會導(dao)致較(jiao)大的誤(wu)差(cha)；通過提(ti)高V / I采樣(yang)率並使(shi)用(yong)雙重積分方法，能夠以更高的精(jing)度(du)提供(gong)容(rong)量計(ji)算(suan)。 當(dang)電(dian)流(liu)瞬間(jian)變化時，數(shu)據不(bu)失(shi)真，傳(chuan)輸(shu)速(su)度(du)不(bu)受(shou)影響

* 註(zhu)：電(dian)流(liu)響應(ying)速(su)度(du)<100 μS 為 17216M-10-6 機(ji)種(zhong)，另外(wai)不(bu)同(tong)待測物阻(zu)抗將會(hui)有些許差(cha)異。

通道(dao)任意並聯(lian)輸(shu)出(chu)應(ying)用(yong)

允許彈(dan)性設定(ding)信(xin)道(dao)之並聯(lian)，提(ti)供(gong)更高電(dian)流(liu)的應(ying)用(yong)範圍(wei)，兼(jian)具多通道(dao)數(shu)與廣(guang)泛測(ce)試(shi)範(fan)圍(wei)的優(you)點(dian)，適合(he)多種(zhong)待(dai)測(ce)物應(ying)用(yong)。

操(cao)作(zuo)簡易，軟件(jian)測(ce)試(shi)器之信(xin)道(dao)並聯(lian)，全(quan)系列產品支持

適用(yong)於(yu)高功率型EDLC/LIB充放電(dian)測(ce)試應(ying)用(yong)

數(shu)據保護與復歸功能

電(dian)力(li)失(shi)效(xiao)數(shu)據復歸機制：當電(dian)力(li)失(shi)效(xiao)時，已寫(xie)入(ru)數(shu)據庫之測試數(shu)據在(zai)電(dian)力(li)問(wen)題排除後，PC會自(zi)動(dong)取得復歸數(shu)據狀(zhuang)態(tai)，用(yong)戶(hu)可選(xuan)擇(ze)接續測(ce)試(shi)或重新(xin)測(ce)試(shi)。

HPPC測試應(ying)用(yong)

HPPC是美國USABC的測(ce)試(shi)方案，用(yong)來(lai)測試(shi)混合(he)動(dong)力(li)車與(yu)純(chun)電(dian)動(dong)車的電(dian)池(chi)性能，主(zhu)要(yao)測試(shi)目的是於(yu)電(dian)池(chi)的電(dian)壓範(fan)圍內(nei)，建立放電(dian)深(shen)度(du)與功率函數(shu)關(guan)系；次要(yao)測試(shi)目的是於(yu)電(dian)池(chi)的電(dian)壓範(fan)圍內(nei)，於(yu)放電(dian)、靜(jing)置、充電(dian)的動(dong)作(zuo)中(zhong)，從電(dian)壓與(yu)電(dian)流(liu)曲線，建立放電(dian)深(shen)度(du)與傳(chuan)導(dao)性電(dian)阻(zu)及(ji)極(ji)化(hua)電(dian)阻(zu)的函(han)數(shu)，並可(ke)以從電(dian)阻(zu)的量(liang)測(ce)結果來(lai)評估(gu)後(hou)續壽(shou)命(ming)測(ce)試(shi)中(zhong)之功率衰退，與(yu)開發(fa)動力(li)電(dian)池(chi)的等效(xiao)電(dian)路(lu)模型。Chroma 17011支持彈(dan)性編(bian)輯程(cheng)序來(lai)進(jin)行(xing)HPPC測(ce)試。

鋰(li)電(dian)池(chi)測試應(ying)用(yong)  

電(dian)池(chi)直流內阻(zu)測試應(ying)用(yong)

電(dian)池(chi)內阻(zu)值關(guan)系著(zhe)電(dian)池(chi)可應(ying)用(yong)充/放電(dian)倍(bei)率，內阻(zu)越(yue)大效(xiao)率越(yue)差(cha)且容(rong)易發(fa)熱溫(wen)升。參(can)照鋰(li)離(li)子(zi)電(dian)池(chi)等效(xiao)電(dian)路(lu)模型，傳(chuan)統(tong)使(shi)用(yong)LCR Meter 1KHz 的交(jiao)流(liu)內阻(zu)(ACIR)量測方(fang)法，只(zhi)能評(ping)估(gu)出(chu)影響瞬間(jian)功率輸出(chu)的傳(chuan)導(dao)性電(dian)阻(zu)(Ro)，但無法評(ping)估(gu)在(zai)電(dian)化(hua)學反應(ying)時所(suo)產生的極(ji)化(hua)電(dian)阻(zu)(Rp)；直流內(nei)阻(zu)(DCIR)的評(ping)估(gu)即(ji)包(bao)含(han)ACIR的阻(zu)值，其測(ce)試方(fang)式更貼近於(yu)動(dong)力(li)電(dian)池(chi)連續電(dian)流(liu)應(ying)用(yong)的實(shi)際(ji)極(ji)化(hua)效(xiao)應(ying)。

Chroma17011內建兩(liang)種DCIR測(ce)試模(mo)式：DCIR測試(1)利(li)用(yong)壹(yi)段電(dian)流(liu)變化造成(cheng)的電(dian)壓差(cha)來(lai)計算(suan)DCIR值(zhi)；DCIR測(ce)試(shi)(2)利(li)用(yong)兩(liang)段電(dian)流(liu)間(jian)變化造成(cheng)的電(dian)壓差(cha)來(lai)計算(suan)DCIR值(zhi)，使(shi)用(yong)者可(ke)依(yi)需(xu)求選(xuan)擇(ze)測試方式，不(bu)須透過(guo)人工(gong)計(ji)算(suan)，自(zi)動(dong)取(qu)得符合(he)IEC 61960標(biao)準(zhun)的測(ce)試(shi)結果。

電(dian)池(chi)容(rong)量測(ce)試應(ying)用(yong)

電(dian)池(chi)容(rong)量以電(dian)流(liu)對時間(jian)積(ji)分而得，從開始(shi)充放電(dian)直(zhi)到滿(man)足(zu)截(jie)止條(tiao)件(jian)結束(shu)，經(jing)由(you)比對方(fang)式可分析各產品之間(jian)性能差(cha)異；常(chang)見(jian)的測(ce)試(shi)項目包(bao)含(han)電(dian)流(liu)倍(bei)率與溫(wen)度(du)特性測(ce)試。電(dian)流(liu)、電(dian)壓量(liang)測精(jing)度(du)越(yue)高與取(qu)樣越(yue)快(kuai)速(su)將可(ke)更準(zhun)確的分(fen)辨出(chu)電(dian)池(chi)芯容(rong)量差(cha)異。

電(dian)池(chi)循(xun)環(huan)壽(shou)命(ming)測(ce)試(shi)應(ying)用(yong)

循(xun)環(huan)壽(shou)命(ming)為電(dian)池(chi)重要(yao)的測(ce)試(shi)項目之壹(yi)，依(yi)據(ju)不(bu)同(tong)實驗(yan)目(mu)的，以重復的充放電(dian)條(tiao)件測試同(tong)壹(yi)個電(dian)池(chi)，直到容(rong)量衰退至(zhi)原先80%，計算(suan)可(ke)循(xun)環(huan)次數(shu)：循(xun)環(huan)壽(shou)命(ming)試(shi)驗(yan)可(ke)用(yong)來(lai)評鑒電(dian)池(chi)性能優(you)劣(lie)或定義(yi)適合的使(shi)用(yong)條件(jian)。

庫倫效(xiao)率測試(shi)應(ying)用(yong)

將電(dian)池(chi)滿(man)充電(dian)後(hou)再(zai)滿(man)放電(dian)測(ce)試，計算(suan)電(dian)池(chi)放出(chu)/充入(ru)電(dian)荷(he)量可得到庫倫效(xiao)率。特性良好(hao)的電(dian)池(chi)庫倫效(xiao)率高，需要(yao)高精(jing)度(du)與穩定(ding)度(du)的設備(bei)才(cai)能分(fen)辨差(cha)異；精(jing)的庫(ku)倫效(xiao)率測試(shi)能夠憑借(jie)少量(liang)循(xun)環(huan)來(lai)預估(gu)電(dian)池(chi)壽(shou)命(ming)。

容(rong)量增量分(fen)析應(ying)用(yong)

透過高精(jing)度(du)電(dian)壓量(liang)測與(yu)ΔV取樣功能可(ke)以繪(hui)制dQ/dV vs Voltage曲線(xian)圖，用(yong)來(lai)分析電(dian)池(chi)芯特性與(yu)電(dian)池(chi)容(rong)量衰退機(ji)理(li)。

EDLC測試應(ying)用(yong)  

典型(xing)EDLC之等效(xiao)電(dian)路(lu)模型包(bao)含(han)等效(xiao)串(chuan)聯(lian)電(dian)阻(zu)(ESR)，理(li)想電(dian)容(rong)(C)與等效(xiao)並聯(lian)電(dian)阻(zu)(EPR)，其中(zhong)，ESR是評(ping)價EDLC在(zai)充放電(dian)過(guo)程(cheng)中(zhong)內(nei)部能量(liang)損(sun)耗與熱的重要(yao)項目；EPR是評(ping)價EDLC在(zai)長(chang)期(qi)儲存(cun)能量(liang)的漏(lou)電(dian)效(xiao)應(ying)之組件；C則(ze)是評(ping)價EDLC循(xun)環(huan)壽(shou)命(ming)的指(zhi)標(biao)。

這(zhe)些(xie)參(can)數(shu)不(bu)易在(zai)實驗(yan)室(shi)被(bei)直(zhi)接被(bei)測(ce)得，研究人員需要(yao)透過(guo)數(shu)據分析與復雜計算(suan)才(cai)能辨證這(zhe)些(xie)重要(yao)指標(biao)。Chroma 17011內建符合IEC 62391測試(shi)標(biao)準(zhun)，使用(yong)者可(ke)由(you)充放電(dian)測(ce)試獲取EDLC參(can)數(shu)值來(lai)評價(jia)EDLC的性能與(yu)循(xun)環(huan)壽(shou)命(ming)。

直流電(dian)阻(zu)(DCR)與等效(xiao)串(chuan)聯(lian)電(dian)阻(zu)(ESR)測試應(ying)用(yong)

Chroma 17011提供(gong)符合IEC 62391標(biao)準(zhun)的EDLC直(zhi)流(liu)內阻(zu)測試功能，在(zai)測試容(rong)量前(qian)，EDLC須先經(jing)過(guo)CV充電(dian)程(cheng)序並設置(zhi)足(zu)夠的充電(dian)時間(jian)，再(zai)依(yi)據(ju)規範電(dian)流(liu)進(jin)行(xing)CC放電(dian)，放電(dian)程(cheng)序完(wan)成(cheng)後(hou)，取(qu)放電(dian)曲(qu)線線性的區域之線段，並延伸(shen)至(zhi)放電(dian)之啟始(shi)時間(jian)點(dian)，取其(qi)推算(suan)電(dian)壓與(yu)放電(dian)前(qian)電(dian)壓間(jian)之電(dian)壓差(cha)以及(ji)放電(dian)電(dian)流(liu)，來(lai)計算(suan)DCR值(zhi)。

靜電(dian)容(rong)(C)測試(shi)應(ying)用(yong)

依(yi)據(ju)IEC 62391測試標準(zhun)之直線逼近法計(ji)算(suan)法(Straight Line Approximation Method)，在(zai)測試電(dian)容(rong)(C)值前(qian)，EDLC需先經(jing)過(guo)CC-CV充電(dian)程(cheng)序來(lai)充滿(man)電(dian)，再(zai)依(yi)據(ju)規範電(dian)流(liu)進(jin)行(xing)CC放電(dian)，待(dai)放電(dian)程(cheng)序完(wan)成(cheng)後(hou)，取(qu)放電(dian)曲(qu)線上(shang)兩(liang)參考(kao)點(dian)之電(dian)壓差(cha)(ΔV)及(ji)對應(ying)時間(jian)差(cha)(Δt)與放電(dian)電(dian)流(liu)(I)來(lai)計算(suan)EDLC的電(dian)容(rong)(C)值。

直流電(dian)阻(zu) (DCR) 與靜電(dian)容(rong) (C) 二(er)合(he)壹(yi)測試(shi)應(ying)用(yong)

Chroma 17011 另增設直(zhi)流(liu)電(dian)組(DCR)與電(dian)容(rong)(C)二(er)合(he)壹(yi)測試(shi)模式(shi)，用(yong)戶(hu)可在(zai)相同的CC-CV充電(dian)及(ji)CC放電(dian)條(tiao)件下，透過(guo)選(xuan)取(qu)的參(can)考(kao)點(dian)電(dian)位同(tong)時計算(suan)出(chu)EDLC的DCR及(ji)C值，大(da)幅縮(suo)減測(ce)試(shi)時間(jian)與(yu)測試(shi)工步(bu)數(shu)。

充放電(dian)性能與(yu)循(xun)環(huan)壽(shou)命(ming)測(ce)試(shi)應(ying)用(yong)

Chroma 17011系統(tong)內(nei)建的直(zhi)流(liu)內阻(zu)(DCR)與電(dian)容(rong)(C)值測(ce)試模式可搭配(pei)循(xun)環(huan)(cycle)功能與(yu)變量條(tiao)件設定(ding)，在(zai)特定(ding)實驗(yan)條(tiao)件(jian)下(xia)進(jin)行(xing)EDLC充放電(dian)負(fu)載(zai)耐(nai)性與(yu)可靠性試(shi)驗(yan)。測(ce)試(shi)實(shi)驗(yan)完(wan)成(cheng)後(hou)，使(shi)用(yong)者可(ke)直(zhi)接匯出(chu)DCR vs Cycle No. 與(yu) Capacity vs Cycle No.報(bao)表數(shu)據，分析EDLC故障與劣(lie)化的機(ji)理(li)。

庫倫效(xiao)率測試(shi)應(ying)用(yong)

Chroma 17011系統(tong)具(ju)備(bei)低噪(zao)聲、電(dian)流(liu)自動換(huan)量(liang)程(cheng)與截(jie)止值(zhi)報(bao)表等特色(se)，可快(kuai)速(su)輸出(chu)精(jing)的充放電(dian)電(dian)量(liang)。庫倫效(xiao)率(Coulombic Efficiency, CE) 定義(yi)為放電(dian)與(yu)充電(dian)電(dian)荷(he)量之比值，該(gai)比(bi)值(zhi)表(biao)示(shi)電(dian)容(rong)器內部(bu)電(dian)量(liang)轉變為可(ke)使(shi)用(yong)電(dian)量(liang)之能力(li)，高精(jing)的庫(ku)倫效(xiao)率(CE)可被(bei)視(shi)為區分(fen)產品優劣的重要(yao)指針。

漏(lou)電(dian)流(liu)測試應(ying)用(yong)

EDLC之漏(lou)電(dian)流(liu)(leakage current)量測壹(yi)般需經(jing)CC-CV模(mo)式充電(dian)達特定(ding)時間(jian)，再(zai)量測其(qi)微(wei)小充電(dian)電(dian)流(liu)，而此(ci)電(dian)流(liu)視為漏(lou)電(dian)流(liu)。Chroma 17011 CC-CV模式可自(zi)動(dong)切(qie)換(huan)電(dian)流(liu)量程(cheng)且輸(shu)出(chu)不(bu)中(zhong)斷(duan)，在(zai)恒定(ding)電(dian)壓狀(zhuang)態(tai)下(xia)電(dian)流(liu)量程(cheng)小可達 200μA。

自放電(dian)測(ce)試應(ying)用(yong)

Chroma 17011另內建自放電(dian)(Self-discharge)測(ce)試模式，可(ke)在(zai)EDLC全充電(dian)狀(zhuang)態(tai)進(jin)行(xing)特定(ding)時間(jian)的充放電(dian)測(ce)試，此(ci)模式(shi)啟動時系統(tong)將切(qie)斷(duan)量測網絡(luo)，提(ti)供(gong)理(li)想的開路(lu)狀(zhuang)態(tai)，全(quan)程(cheng)僅量(liang)測起始(shi)電(dian)位(V1)與(yu)終(zhong)止(zhi)電(dian)位(V2)，並由(you)軟件(jian)自(zi)動(dong)計(ji)算(suan)電(dian)位差(cha)(ΔV)。

  圖形化軟件(jian)操(cao)作(zuo)接口  

Chroma 17011測試系統(tong)是由(you)計算(suan)機(ji)軟件(jian)控(kong)制，具備(bei)儲能產品測試的多樣(yang)化(hua)要(yao)求功能，滿(man)足(zu)高度(du)安全和(he)穩定(ding)性，友(you)善的操(cao)作(zuo)接口便(bian)於(yu)用(yong)戶(hu)快(kuai)速(su)進(jin)行(xing)設定(ding)與(yu)測試。

繁中(zhong) / 簡中(zhong) / 英(ying)文多語系接(jie)口

顯(xian)示(shi)實(shi)時多信(xin)道(dao)待測(ce)物狀(zhuang)態(tai)

安全管(guan)理(li)：設置(zhi)用(yong)戶(hu)訪問(wen)權(quan)限(xian)以確(que)保安全操(cao)作(zuo)

故障記(ji)錄跟(gen)蹤：獨(du)立記(ji)錄每個(ge)信(xin)道(dao)的任(ren)何(he)異常(chang)狀(zhuang)態(tai)，充電(dian)和(he)放電(dian)保(bao)護將在(zai)檢測到異常(chang)情(qing)況(kuang)時中(zhong)止(zhi)測試

500個充電(dian)/放電(dian)條(tiao)件

設置(zhi)雙(shuang)層循(xun)環(huan)(Cycle &Loop)，每層999,999個(ge)循(xun)環(huan)

子(zi)配(pei)方(fang)功能：可(ke)呼(hu)叫(jiao)已存(cun)在(zai)配方

測試步驟(zhou)：CC / CV / CP / CC-CV / CP-CV / CR / Rest / Waveform / DCIR / C / DCR等

截(jie)止條(tiao)件(jian)：時間(jian) / 電(dian)流(liu) / 容(rong)量 / 功率 / 變量等

邏輯運行(xing)：下(xia)壹(yi)步 / 結(jie)束(shu) / 跳(tiao)轉 / 邏輯跳轉(zhuan)(If)

配方執(zhi)行(xing)

操(cao)作(zuo)模式：開始(shi) / 停止(zhi) / 暫停 / 復歸 / 跳躍(yue) /預約(yue)暫停/ 測(ce)試(shi)中(zhong)修(xiu)改(gai)配(pei)方(fang)

顯(xian)示(shi)接(jie)口：圖(tu)像(xiang)顯(xian)示(shi) / 表(biao)格(ge)顯(xian)示(shi) 

實時監控畫面

統計報(bao)告

可自行(xing)定(ding)義報(bao)表格(ge)式(shi)，導(dao)出(chu) PDF、CSV、XLS 文件格(ge)式(shi)

圖形報(bao)告分(fen)析功能：允(yun)許創建自定義報(bao)告，如(ru)循(xun)環(huan)壽(shou)命(ming)報(bao)告，Q-V報(bao)告，V / I / T時間(jian)報(bao)告等

  系統(tong)整(zheng)合  

安全型(xing)恒溫(wen)恒濕(shi)箱，配(pei)合(he)充放電(dian)測(ce)試做同步(bu)設定(ding)條(tiao)件

數(shu)據記(ji)錄器，充放電(dian)過(guo)程(cheng)中(zhong)紀(ji)錄溫度(du)，可自定(ding)義多組的溫(wen)度(du)紀(ji)錄，其條件可(ke)轉(zhuan)成(cheng)保(bao)護啟動或截(jie)止條(tiao)件(jian)

外(wai)觀架構(gou)  

線性電(dian)路(lu)機型

可獨(du)立單(dan)機使(shi)用(yong)，占用(yong)空間(jian)小，適合少(shao)量測(ce)試置於(yu)桌(zhuo)面使用(yong)。測試(shi)通道(dao)數(shu)量多時可整合於(yu)標(biao)準(zhun)19吋系統(tong)櫃(gui)，依(yi)照用(yong)戶(hu)需求彈(dan)性系統(tong)配(pei)置，壹(yi)臺PC多可(ke)同(tong)時控制64個通道(dao)。

能源(yuan)回(hui)收式機(ji)型

標準(zhun)19吋系統(tong)整(zheng)合使(shi)用(yong)，由充放電(dian)測(ce)試器與AC/DC雙(shuang)向(xiang)轉換(huan)器組成，依(yi)照用(yong)戶(hu)需求彈(dan)性系統(tong)配(pei)置，壹(yi)臺PC多可(ke)同(tong)時控制48個通道(dao)。

17011 電(dian)池(chi)芯充放電(dian)測(ce)試系統(tong)

17216M-10-6 可編(bian)程(cheng)充放電(dian)測(ce)試器 10V/6A 16通道(dao)

17216M-6-12 可編(bian)程(cheng)充放電(dian)測(ce)試器 6V/12A 16通道(dao)

17208M-6-30 可編(bian)程(cheng)充放電(dian)測(ce)試器 6V/30A 8通道(dao)

17208M-6-60 可編(bian)程(cheng)充放電(dian)測(ce)試器 6V/60A 8通道(dao)

17212R-5-60 可編(bian)程(cheng)充放電(dian)測(ce)試器 5V/60A 12通道(dao)

17212M-6-100 可編(bian)程(cheng)充放電(dian)測(ce)試器 6V/100A 12通道(dao)

A691103 交直流雙向(xiang)轉換(huan)器 AC 220V轉DC 45V

A691104 交直流雙向(xiang)轉換(huan)器 AC 380V轉DC 45V

 電池芯充放電(電)測(測)試(試)系統(統) BATTERY CELL CHARGE & DISCHARGE TEST SYSTEM，MODEL 17011

Chroma 17011 電池芯充放電(電)測(測)試(試)系統(統)是專(專)為鋰離子(zi)電(電)池(chi)芯(Lithium-Ion Battery Cell, LIB Cell)、電(電)氣(氣)二(er)重層電容(rong)器(Electric Double Layer Capacitor, EDLC)與(與)鋰離子(zi)電(電)容(rong)器(Lithium-Ion

Capacitor, LIC)等儲能元件(jian)測(測)試(試)而開(開)發(發)的高精(jing)度(du)測(測)試(試)設備(備)，適合(he)用(yong)於產(產)品(pin)研發(發)、品質(質)控(kong)制，有利(li)於特性研(yan)究、循(xun)環(環)壽(壽)命(ming)測(測)試(試)、產品(pin)選(選)型與(與)品質(質)鑑(鑑)定等用(yong)途(tu)。

Chroma 17011系統(統)針(針)對(對)不(bu)同(tong)應(應)用(yong)分別(別)發(發)展了線性電(電)路系列與(與)交直(zhi)流(liu)雙(雙)向(xiang)能源(yuan)回(hui)收系列產(產)品(pin)；線性電(電)路系列具(ju)有極低(di)輸(輸)出(chu)雜(雜)訊與(與)超(chao)高量測(測)精(jing)度(du)特性，適(適)合中(zhong)小型儲能元件(jian)的精(jing)密(mi)測(測)試(試)；而雙(雙)向(xiang)能源(yuan)回(hui)收系列則(則)適(適)合(he)中(zhong)大(da)型儲能元件(jian)或(huo)功率型電(電)池(chi)芯測(測)試(試)，具有高效(xiao)率、省電(電)、低(di)發熱與(與)量測(測)穩定(ding)的優(優)點，符合(he)綠(綠)能產(產)業(業)低碳排(pai)的生(sheng)產(產)方式(shi)。

Chroma 17011系統(統)除了常用(yong)的定(ding)電(電)流 (CC)、定(ding)功率 (CP)、 定電(電)壓(壓) (CV)、 定電阻(zu) (CR)與(與)靜置(zhi)(Rest)測(測)試(試)模式(shi)，具(ju)備(備)波(bo)形(xing)模(mo)擬(Waveform)測(測)試(試)功能，以及(ji)符合(he)國(國)際(際)測(測)試(試)標準(準)的測(測)試(試)項目(mu)，如(ru)直(zhi)流(liu)內阻(zu)(DCIR)、 HPPC、 EDLC電容(rong)量、 EDLC直(zhi)流內阻(zu)等測(測)試(試)工步(bu)，滿(滿)足(zu)各類(類)型(xing)測(測)試(試)應(應)用(yong)，更利(li)於使(shi)用(yong)者快(kuai)速(su)編輯程(cheng)序與(與)分析測(測)試(試)結(結)果。

Chroma 17011系統(統)具(ju)有靈活(huo)的軟(軟)件(jian)編程(cheng)功能，軟(軟)件(jian)可以為每個通道(dao)創建基本(ben)充放電(電)或(huo)複雜(雜)結(結)構(構)的循(xun)環(環)測(測)試(試)，每個通道(dao)獨立(li)運行(xing)，程(cheng)式可(ke)編輯邏(邏)輯判(pan)斷跳躍(躍)或變(變)數輸(輸)出(chu)，中(zhong)途(tu)可預(預)約暫(暫)停或(huo)接(jie)續，並(並)具(ju)有資(資)料保(bao)護功能，萬壹(yi)發生(sheng)電力(li)或計算(suan)機(機)通信(xin)丟(丟)失(shi)的情(qing)況(況)，數據將安全地存(cun)儲在(zai)系統(統)的非(fei)易失(shi)性記(記)憶體(體)中(zhong)，防(fang)止潛在(zai)的測(測)試(試)數據丟失(shi)並(並)允(yun)許重新(xin)啟動(動)後接(jie)續測(測)試(試)。

鋰離子(zi)電(電)池(chi)芯測(測)試(試)的安全性是十(shi)分重要(yao)的，Chroma 17011具(ju)備(備)多項(項)安全防(fang)護設(設)計，在(zai)啟動(動)測(測)試(試)前進行(xing)接(jie)觸檢查(zha)與(與)極性檢查(zha)來(來)避免不(bu)良接線進行(xing)測(測)試(試)，在(zai)測(測)試(試)過程(cheng)除了固(gu)有硬(ying)體(體)線路(lu)保(bao)護，使(shi)用(yong)者可(ke)自(zi)訂(訂)韌(韌)體(體)檢測(測)過電(電)壓(OVP)、過電流(OCP)、過(過)容(rong)量(OQP)、電(電)壓/電流變化量(liang)(Δ V/Δ I)、迴(迴)路電阻(zu)等多種(種)異(異)常檢知(zhi)功能，保(bao)障(zhang)鋰離子(zi)電(電)池(chi)芯實(實)驗安全性。