基(ji)礎信息(xi)Product information

產品(pin)名稱(cheng)：Chroma11210電(dian)池(chi)芯絕緣測(ce)試儀

產(chan)品(pin)型號(hao)：

更(geng)新時(shi)間：2025-06-10

產(chan)品簡(jian)介：

專業(ye)為(wei)祖(zu)國(guo)用(yong)戶(hu)提(ti)供Chroma11210電(dian)池(chi)芯絕緣測(ce)試儀儀器(qi)設(she)備(bei)、測試方案、技(ji)術培(pei)訓、維(wei)修計量(liang)服(fu)務，為(wei)上海華東(dong)地(di)區壹家以技(ji)術為(wei)導向的儀器(qi)設(she)備(bei)綜合服(fu)務(wu)商。

產(chan)品特(te)性Product characteristics

      專業(ye)儀器(qi)設(she)備(bei)與測試方案供(gong)應商——上海堅融(rong)實(shi)業有(you)限(xian)公司(si)JETYOO INDUSTRIAL & 堅友(you)（上海）測量(liang)儀器(qi)有(you)限公司(si)JETYOO INSTRUMENTS，為(wei)原(yuan)安捷(jie)倫(lun)Agilent產(chan)品技(ji)術支持(chi)工程師-堅JET和(he)吉(ji)時(shi)利(li)KEITHLEY產品(pin)技(ji)術應用(yong)工程師-融YOO於(yu)2011年共同(tong)創辦的以技(ji)術支持(chi)為(wei)特(te)色(se)的代理(li)貿(mao)易公司(si)，誌在(zai)破舊立(li)新！*進口(kou)儀器(qi)設(she)備(bei)大多廠(chang)家僅在國內(nei)設(she)銷(xiao)售(shou)點，技(ji)術支持(chi)薄弱(ruo)或沒有，而(er)代理(li)經(jing)銷(xiao)商也(ye)只專做(zuo)銷(xiao)售(shou)，不(bu)專業(ye)做(zuo)售(shou)前技(ji)術答疑/測(ce)試方案，不(bu)專業(ye)做(zuo)售(shou)後(hou)使(shi)用(yong)培(pei)訓/維(wei)修校準的空白(bai)。我(wo)們的技(ji)術銷(xiao)售(shou)工程師均為(wei)本科(ke)以(yi)上學(xue)歷(li)，且(qie)均(jun)有(you)10年以上測(ce)試行業經(jing)驗(yan)，以我(wo)們*進*的經(jing)營理(li)念(nian)，專業(ye)為(wei)祖(zu)國(guo)用(yong)戶(hu)提(ti)供儀器(qi)設(she)備(bei)、測試方案、技(ji)術培(pei)訓、維(wei)修計量(liang)服(fu)務，為(wei)上海華東(dong)地(di)區壹家以技(ji)術為(wei)導向的儀器(qi)設(she)備(bei)綜合服(fu)務(wu)商。

Chroma11210電(dian)池(chi)芯絕緣測(ce)試儀主(zhu)要特(te)色(se)：

測試電(dian)壓(ya):  1KV (dc)

充電(dian)電(dian)流: 大 50mA

寬(kuan)範(fan)圍(wei)的漏電流量測(ce) (10pA ~ 20mA)

針對(dui)鋰(li)電(dian)池(chi)潛(qian)在的內部短(duan)路(lu)問(wen)題(ti)，執(zhi)行局部放(fang)電 (Partial Discharge)/電(dian)氣閃(shan)絡(luo) (Flashover)之(zhi)偵(zhen)測(選(xuan)購項目 A112100):

- 局(ju)部放(fang)電強(qiang)度及(ji)次(ci)數(shu)的偵測與顯示

- 在(zai)電(dian)壓(ya)/電流波形上，對(dui)局部放(fang)電做(zuo)監控(kong)

- 可(ke)設(she)定(ding)局部放(fang)電之(zhi)強(qiang)度作(zuo)為(wei)測(ce)試通(tong)關(guan)之(zhi)條件

- 可即時顯示和(he)儲(chu)存(cun)發生(sheng)局部放(fang)電時(shi)的電壓(ya)/電流波形 (選(xuan)購項目 A112101)

內(nei)建快(kuai)速(su)且(qie)可(ke)靠(kao)的接觸(chu)檢(jian)查(zha)功(gong)能(neng)

依(yi)順(shun)序(xu)自動(dong)執(zhi)行測試程序(xu):充電(dian)→保(bao)持(chi)→測量→放(fang)電

快(kuai)速(su)量測(ce) (20ms/device)

480x272像素(su)全彩顯示以(yi)及(ji)方便的觸控式螢(ying)幕(mu)

具有(you)標準Handler 介面以及(ji)USB、RS-232、Ethernet 等通(tong)訊(xun)介面

應用(yong)領(ling)域

專門(men)針對(dui)鋰(li)電(dian)池(chi)幹電(dian)芯之(zhi)絕緣測(ce)試

亦適(shi)用(yong)於(yu)各(ge)式各(ge)樣(yang)電容產(chan)品或特(te)殊(shu)絕緣材(cai)料之(zhi)絕緣測(ce)試

Chroma11210電(dian)池(chi)芯絕緣測(ce)試儀為(wei)專門(men)量測鋰(li)電(dian)池(chi)(幹電(dian)芯)之(zhi)漏(lou)電流(LC)或絕緣電(dian)阻(zu)(IR)並(bing)可(ke)進行絕緣品(pin)質(zhi)檢測(ce)所新(xin)推(tui)出(chu)之(zhi)儀器(qi)。除鋰(li)電(dian)池(chi)幹電(dian)芯以(yi)外(wai)，亦可(ke)量測(ce)各(ge)式電(dian)容產(chan)品和(he)絕緣材(cai)料，除標(biao)準的LC/IR量測以外(wai)，11210尚具有(you)壹特(te)殊(shu)功(gong)能(neng): 於(yu)高壓(ya)量測(ce)過程中，可針對(dui)絕緣體(ti)內(nei)微小的局部放(fang)電(Partial Discharge, PD) 或電(dian)氣(qi)閃絡(luo)(Flashover) 進行偵測與分(fen)析(xi)(以(yi)下簡(jian)稱(cheng)"PD偵(zhen)測(ce)功(gong)能")，此功能可(ke)確(que)保(bao)鋰(li)電(dian)池(chi)幹電(dian)芯在(zai)電解液(ye)填(tian)充(chong)前的品質(zhi)，在生(sheng)產(chan)線(xian)上，能(neng)將(jiang)具有(you)潛(qian)在瑕疵(ci)的產品提(ti)前篩出(chu)，避免瑕疵(ci)產(chan)品(pin)進入(ru)下壹生(sheng)產階(jie)段(duan)或什至進入(ru)終(zhong)端市(shi)場(chang)，相(xiang)對(dui)於(yu)傳(chuan)統(tong)的絕緣測(ce)試，11210在(zai)絕緣材(cai)料品(pin)質(zhi)檢測(ce)這(zhe)個(ge)領(ling)域，進入(ru)了(le)壹個新的境界。

Chroma 11210擁(yong)有(you)高(gao)水平(ping)的充電電流和快(kuai)速(su)的量測電路(lu)，使得(de)整(zheng)體(ti)測(ce)試速(su)度得(de)以(yi)大幅(fu)提(ti)升，對(dui)壹般電容性待測物所做(zuo)的絕緣測(ce)試均(jun)可(ke)細(xi)分(fen)為(wei)四(si)個(ge)程序(xu): 充電(dian)→保(bao)持(chi)→測量→放(fang)電，11210可高(gao)速(su)而(er)自動(dong)的依(yi)序(xu)執行這些(xie)程序(xu)，可以(yi)在(zai)20ms內(nei)執行完壹(yi)個(ge)完整(zheng)測(ce)試。亦即，如生產(chan)線(xian)需要執行高速測試，11210可(ke)以(yi)達到每(mei)秒(miao)50 pcs的超高速度，對(dui)於(yu)生產(chan)線(xian)的效率提(ti)升非(fei)常(chang)顯著！

為(wei)了(le)達到準的LC/IR量測，Chroma 11210在漏(lou)電流量測(ce)上可(ke)細(xi)分(fen)為(wei)7個(ge)檔(dang)位(wei)，從小10pA到大20mA均可量(liang)測。另外(wai)，Auto-range之(zhi)功(gong)能可(ke)自(zi)動切(qie)換至佳檔(dang)位(wei)執行量測，省(sheng)卻使(shi)用(yong)者(zhe)的不(bu)便(bian)並(bing)確(que)保(bao)量(liang)測(ce)精(jing)度。

在(zai)PD偵(zhen)測的方面，由於(yu)Chroma 11210使用(yong)特(te)殊(shu)電(dian)路(lu)設(she)計(ji)，在執行此PD檢測功(gong)能並不(bu)會(hui)增(zeng)加任(ren)何額(e)外(wai)的測試時(shi)間(jian)，LC/IR的量測與PD偵(zhen)測可在同(tong)壹時間(jian)內完成(cheng)；同(tong)時(shi)， LC/IR量測與(yu)PD偵(zhen)測的結果可連同(tong)報表(biao)同時(shi)產(chan)出(chu)並在(zai)螢(ying)幕(mu)上呈(cheng)現(xian)。於(yu)生產(chan)線(xian)上，仍(reng)可以(yi)20ms/min.的高速同時(shi)執行LC/IR量測和PD檢(jian)測。

對(dui)於(yu)任何壹項絕緣測(ce)試而(er)言，接觸(chu)檢(jian)查(zha)對(dui)於(yu)測試的可靠(kao)性都(dou)有決(jue)定(ding)性的影(ying)響(xiang)，在(zai)整個(ge)量(liang)測(ce)過程中，"沒有接觸(chu)"也(ye)很有(you)可能被(bei)判(pan)定為(wei)良品，這(zhe)樣(yang)的誤(wu)判(pan)會讓不(bu)良品進入(ru)市(shi)場(chang)，如果待測物的絕緣電(dian)阻(zu)非(fei)常(chang)高(gao)，這(zhe)種(zhong)誤(wu)判(pan)情形會(hui)更(geng)明顯；所以(yi)壹(yi)般而(er)言，絕緣測(ce)試在(zai)測(ce)試過程中壹定要進行接觸(chu)檢(jian)查(zha)，Chroma 11210架(jia)構(gou)使用(yong)高(gao)階(jie)電(dian)路(lu)，可在5ms內(nei)執行壹次(ci)完整(zheng)的接觸(chu)檢(jian)查(zha)，並(bing)可(ke)選(xuan)擇量(liang)測(ce)前執(zhi)行、量測後(hou)執(zhi)行或量(liang)測(ce)前後(hou)皆(jie)執(zhi)行。

鋰(li)電(dian)池(chi)安全課題(ti)

鋰(li)電(dian)池(chi)(LIB)的起火或爆(bao)炸所造(zao)成(cheng)的災(zai)難(nan)已經(jing)是近年來為(wei)使(shi)用(yong)者(zhe)所嚴重(zhong)關(guan)切(qie)的議題，隨(sui)著(zhe)科(ke)技(ji)不(bu)斷(duan)的演進，鋰(li)電(dian)池(chi)的能量密度也(ye)不(bu)斷(duan)地(di)提(ti)高，鋰(li)電(dian)池(chi)安全性的問(wen)題(ti)更(geng)進壹(yi)步(bu)演變(bian)成(cheng)使用(yong)者(zhe)生(sheng)活中的壹個潛(qian)在危機! 為(wei)*杜絕這樣(yang)的潛(qian)在危機，鋰(li)電(dian)池(chi)起火(huo)爆(bao)炸的根因(yin)必(bi)須要被找到，有潛(qian)在危機的產品必須(xu)要在出(chu)廠(chang)前被(bei)篩出(chu)；近的研究(jiu)顯示，正極的鋁金(jin)屬(shu)(AL) 與(yu)負(fu)極(ji)的塗(tu)布材(cai)料(Anode) 之(zhi)間(jian)的短(duan)路(lu)是起火(huo)爆(bao)炸的根因(yin)[圖(tu)1]，而(er)正極鋁金(jin)屬(shu)上的毛刺(ci)或於(yu)絕緣層中的雜(za)質(zhi)顆(ke)粒是此等內(nei)部短(duan)路(lu)的主因(yin)[圖(tu)2]。

近期(qi)的研究(jiu)也顯示，負(fu)極(ji)塗(tu)布的材料(通(tong)常(chang)是石(shi)墨(mo)) 在(zai)每(mei)壹次(ci)充(chong)電過程中都(dou)會稍(shao)微的膨脹，經(jing)過多次(ci)充(chong)電後(hou)，因(yin)為(wei)膨(peng)脹導致厚(hou)度增(zeng)加高(gao)達24%或更(geng)多，充(chong)電次(ci)數(shu)越多，膨(peng)脹也(ye)可(ke)能越(yue)大，如果正極鋁金(jin)屬(shu)片上有(you)微(wei)小的毛刺(ci)，上述(shu)的膨脹現(xian)象(xiang)會讓該毛刺(ci)遲(chi)早碰觸到負極塗(tu)布材(cai)料，終(zhong)釀成災(zai)害(hai)[圖3]。通(tong)常(chang)鋰(li)電(dian)池(chi)在生(sheng)產線(xian)上都(dou)會經(jing)歷(li)過幾(ji)回的充放電循(xun)環。舉(ju)例來說，若(ruo)有兩(liang)個(ge)瑕疵(ci)電(dian)池(chi)，都(dou)各(ge)自(zi)具有(you)壹個長(chang)度不(bu)同(tong)的毛刺(ci)在其鋁(lv)電(dian)極(ji)板上[圖(tu)4中(zhong)的case 1 & case2 ]，case 1 極可能在(zai)生產線(xian)上的第二回充(chong)電時，就爆(bao)發內(nei)短(duan)路(lu)的問(wen)題(ti)。

PD局(ju)部放(fang)電偵(zhen)測與(yu)量(liang)測(ce)功能

Chroma 11210的PD局部放(fang)電偵(zhen)測功(gong)能(neng)可(ke)以偵測任何未註(zhu)液(ye)的鋰(li)電(dian)池(chi)幹電(dian)芯裏(li)的異物，當有任何金(jin)屬(shu)毛(mao)邊或異(yi)物(wu)(金(jin)屬(shu)顆(ke)粒) 存(cun)在於(yu)絕緣層(隔離膜(mo)) 中(zhong)，會使(shi)絕緣距離減少(shao)但(dan)不(bu)至於(yu)造成(cheng)短(duan)路(lu)，因(yin)為(wei)在(zai)檢(jian)測(ce)時(shi)並沒有短(duan)路(lu)現象，壹(yi)般的絕緣電(dian)阻(zu)測(ce)試儀無(wu)法檢(jian)測(ce)出(chu)有這(zhe)樣(yang)潛(qian)在危險的產品，11210可以(yi)在產品發生(sheng)問(wen)題(ti)前就(jiu)偵(zhen)測(ce)到有潛(qian)在短(duan)路(lu)的風險(xian)，透(tou)過施(shi)加適(shi)當的測試電(dian)壓(ya)以及(ji)PD大小，量測隔離膜(mo)的有效距離(詳(xiang)見右(you)方的等式及(ji)說明)。

Chroma 11210電(dian)池(chi)芯絕緣測(ce)試儀可(ke)偵(zhen)測發生(sheng)在鋰(li)電(dian)池(chi)芯內(nei)部的任何局部放(fang)電(Partial Discharge, PD)或電(dian)氣(qi)閃絡(luo)(Flashover)。 11210采(cai)用(yong)兩(liang)種(zhong)階(jie)段(duan)的PD偵測，並且(qie)使(shi)用(yong)不(bu)同(tong)的電路(lu)。壹階(jie)段(duan)是當使用(yong)者(zhe)設(she)定(ding)好(hao)充(chong)電(dian)電流並對(dui)待測物充電(dian)，此(ci)時(shi)處於(yu)CC (Constant Current)模式，在(zai)此(ci)模式下，11210會持(chi)續監測(ce)電(dian)壓(ya)的準位(wei)以及(ji)斜(xie)率(lv)，只要電壓(ya)在爬(pa)升(sheng)階(jie)段(duan)有任(ren)何的微小放電使電(dian)壓(ya)有微(wei)小的下降後(hou)又(you)爬(pa)升(sheng)，11210會回報有(you)PD產生(sheng)(顯示為(wei)  )；第(di)二(er)階(jie)段(duan)是CV (Constant Voltage) 模式，在(zai)此(ci)模式下，只應存(cun)在著(zhe)穩定的漏電流，有任(ren)何在電流波形上的異常(chang)或脈(mai)沖(chong)，通(tong)常(chang)為(wei)異(yi)常(chang)放(fang)電(dian)(即PD或Flashover)，此(ci)異(yi)常(chang)也(ye)會(hui)被(bei)11210偵(zhen)測(ce)到並回報有(you)PD發生(sheng)(顯示為(wei)  )，11210不(bu)僅(jin)可(ke)以(yi)進行偵測，還可(ke)以在CC與CV模式下偵測(ce)PD的強(qiang)度 (Note *1) 。 [圖(tu)5]

[圖(tu)5] 在CC模式與(yu)CV模式下，Partial Discharge/Flashover偵測(ce)

[圖6] 在CC & CV模式下，Chroma 11210回報偵(zhen)測出(chu)PD

無論(lun)在CC或CV模式下，Chroma 11210都(dou)能夠偵(zhen)測(ce)這(zhe)些(xie)PD的大小及(ji)次(ci)數(shu)，強(qiang)度可(ke)達99。並且(qie)可(ke)以(yi)制定(ding)PD大(da)小的上限(xian)制(zhi)，作(zuo)為(wei)pass/fail的判(pan)定標準，幫(bang)助(zhu)電池(chi)芯廠(chang)商分(fen)辨(bian)出(chu)良品/不(bu)良品。

Note *1: 當PD脈沖持(chi)續時間(jian)小於(yu)100us以及(ji)脈沖(chong)間(jian)隔(ge)大於(yu)300us，此時(shi)量(liang)測(ce)放(fang)電量(liang)準確(que)

因(yin)為(wei)具備(bei)*的PD偵測以及(ji)量測(ce)功(gong)能(neng)，Chroma 11210可以檢(jian)測出(chu)壹般的絕緣電(dian)阻(zu)計(ji)或耐(nai)壓(ya)測試儀無(wu)法測(ce)出(chu)的問(wen)題(ti)。壹(yi)般的絕緣電(dian)阻(zu)計(ji)或耐(nai)壓(ya)測試儀只能在特(te)定(ding)的時間間隔(ge)內量測漏(lou)電流的平(ping)均(jun)值，無法監(jian)控(kong)電壓(ya)及(ji)電流波形中(zhong)的任何異常(chang)變(bian)化(hua)，反觀(guan)Chroma 11210能(neng)夠提(ti)供非(fei)常(chang)穩定的測試電(dian)壓(ya)，電壓(ya)爬升(sheng)為(wei)線(xian)性，因(yin)此(ci)可以(yi)偵測為(wei)短(duan)路(lu)；壹般的絕緣電(dian)阻(zu)計(ji)或耐(nai)壓(ya)測試儀電(dian)壓(ya)爬升(sheng)非(fei)線(xian)性，即使電(dian)壓(ya)穩態，仍(reng)有大(da)的漣波與雜(za)訊(xun)，因(yin)此(ci)無法進行短(duan)路(lu)偵測。 [圖(tu)7]

[圖7] 如果沒有監控波形，有(you)任(ren)何PD或flashover發生(sheng)使波形發生(sheng)異常(chang)變(bian)化(hua)，都(dou)無法偵(zhen)測(ce)到，Chroma 11210可監控電(dian)壓(ya)電流波形，在(zai)右(you)圖(tu)可以觀察(cha)到有兩次(ci)PD現(xian)象發生(sheng)，壹次(ci)在(zai)CV模式、另壹次(ci)在(zai)CC模式。

測(ce)試完成(cheng)後(hou)，工程人員需要檢查(zha)不(bu)良品(因(yin)PD而(er)導致)的實(shi)際(ji)電(dian)壓(ya)與電(dian)流波形，Chroma 11210亦提(ti)供可(ke)記(ji)錄每(mei)個不(bu)良品發生(sheng)PD現象(xiang)的電壓(ya)波形，使(shi)用(yong)者(zhe)可(ke)以(yi)縮放(fang)記(ji)錄內(nei)的波形圖(tu)，可(ke)簡(jian)易地(di)查(zha)看(kan)PD現象(xiang)的波形細(xi)節(jie)，此​​功能(neng)對(dui)於(yu)品保(bao)及(ji)研發單位(wei)提(ti)供大(da)助(zhu)益。

電(dian)容測(ce)試應用(yong)

Chroma 11210為(wei)絕緣電(dian)阻(zu)表(biao)Chroma 11200的進階(jie)版，11210具有(you)更(geng)多的功能以及(ji)更(geng)優(you)的精(jing)度，同(tong)時(shi)也保(bao)留了11200的主要功能，因(yin)此(ci)Chroma 11210也同(tong)樣適(shi)用(yong)於(yu)需要高階(jie)絕緣電(dian)阻(zu)表(biao)測(ce)試的電容器(qi)。 [圖8]

[圖(tu)8] 當11210的待測物為(wei)電(dian)容時(shi)的測試架(jia)構(gou)圖

在生產線(xian)上，Chroma 11210搭(da)配(pei)適(shi)當的測試治(zhi)具就(jiu)能進行非常(chang)高(gao)速(su)的電容量(liang)測(~20ms per DUT)，並(bing)具有(you)寬範(fan)圍(wei)的LC/IR量測以及(ji)高精(jing)度，Chroma 11210 可(ke)為(wei)所有(you)電(dian)容生(sheng)產線(xian)提(ti)供壹(yi)個(ge)嶄(zhan)新的絕緣檢(jian)測。

Chroma 11210 PD檢(jian)測(ce)功(gong)能(neng)除了(le)於(yu)鋰(li)電(dian)池(chi)幹電(dian)芯的絕緣檢(jian)測外(wai)，PD功能(neng)亦能(neng)夠清楚地(di)檢測電(dian)容內(nei)部情(qing)況。使用(yong)者(zhe)亦可(ke)從Chroma 11210收(shou)集的數據中進壹(yi)步(bu)改善(shan)絕緣，確(que)保(bao)品(pin)質(zhi)可進壹(yi)步(bu)提(ti)升。

如前所述(shu)，在(zai)典型(xing)的絕緣測(ce)試中(zhong)，會(hui)依(yi)次(ci)執(zhi)行四個階(jie)段(duan)，即“充電(dian)→保(bao)持(chi)→測量→放(fang)電”[圖9]，Chroma 11210可(ke)讓使(shi)用(yong)者(zhe)分(fen)別設(she)定(ding)前三(san)階(jie)段(duan)所需(xu)的時間，每(mei)壹階(jie)段(duan)分別都(dou)可以(yi)設(she)置(zhi)5毫(hao)秒(miao)~99.999秒(miao)，而(er)量測(ce)時間可以設(she)置(zhi)0秒(miao)為(wei)連(lian)續模式，直到按下停(ting)止(zhi)鍵才會停(ting)止(zhi)測試。 “保(bao)持(chi)"階(jie)段(duan)尤其(qi)重(zhong)要，對(dui)於(yu)具有(you)高電容量(liang)但絕緣電(dian)阻(zu)偏(pian)低的大型電容，使(shi)用(yong)者(zhe)必(bi)須(xu)在(zai)量測(ce)之(zhi)前設(she)定(ding)足夠的延(yan)遲(chi)時間(jian)，待測物需要較長(chang)的延(yan)遲(chi)時間(jian)才能使(shi)充(chong)電電流穩定，避免影(ying)響(xiang)到漏電流的量測。 Chroma 11210在這(zhe)些(xie)參(can)數(shu)中的設(she)定(ding)非常(chang)靈活，並且(qie)能(neng)夠自(zi)動(dong)依(yi)順(shun)序(xu)執行這四個階(jie)段(duan)。對(dui)於(yu)電容生(sheng)產測(ce)試，Chroma 11210可(ke)協助(zhu)客戶(hu)建立(li)可靠(kao)的自動化量(liang)測，提(ti)供完整(zheng)的測試解決(jue)方案。

[圖(tu)9] 壹般絕緣測(ce)試的時序(xu)

11210 電池(chi)芯絕緣測(ce)試器(qi)

A112100 局(ju)部放(fang)電偵(zhen)測卡

A112101 局(ju)部放(fang)電分(fen)析(xi)卡

A112102 局(ju)部放(fang)電模擬器(qi)

電池(chi)芯絕緣測試(試)儀BATTERY CELL INSULATION TESTER MODEL 11210為(為)專門(門)量測(測)鋰(鋰)電池(chi)(乾(qian)電芯(xin))之(zhi)漏(lou)電流(LC)或絕緣電阻(zu)(IR)並(並)可(ke)進行絕緣品質(質)檢(檢)測所新(xin)推(tui)出(chu)之(zhi)儀器。 除鋰(鋰)電池(chi)乾(qian)電芯(xin)以(yi)外(wai)， 亦可(ke)量測(測)各(ge)式電(電)容產品和絕緣材料，除標(標)準(準)的LC/IR量測以外(wai)， 11210尚具有(you)壹特(te)殊(shu)功(gong)能(neng) : 於高(gao)壓(壓)量測過(過)程中， 可針對絕緣體內微(wei)小的局部放(fang)電 (Partial Discharge, PD) 或電(電)氣(氣)閃絡(絡)(Flashover) 進行偵測與(與)分(fen)析(xi) (以(yi)下簡稱"PD偵測功(gong)能(neng)")， 此(ci)功能(neng)可確(確)保(bao)鋰(鋰)電池(chi)乾(qian)電芯(xin)在(zai)電(電)解液(ye)填(tian)充(chong)前的品質(質)， 在(zai)生(sheng)產線上， 能(neng)將(將)具有(you)潛在瑕疵(ci)的產品提(ti)前篩(篩)出(chu)， 避免瑕疵(ci)產品進入(ru)下壹生(sheng)產階段(duan)或甚(shen)至進入(ru)終(終)端(duan)市(shi)場， 相對於傳(傳)統(統)的絕緣測試(試)，11210在絕緣材料品(pin)質(質)檢(檢)測這(這)個(個)領(領)域(yu)， *進入(ru)了(le)壹個(個)新(xin)的境界。

Chroma 11210擁(擁)有(you)高(gao)水平(ping)的充電電流和快(kuai)速(su)的量測電路(lu)， 使得(de)整(zheng)體測試(試)速度得(de)以(yi)大幅(fu)提(ti)升，對壹般電容性待測物所做(zuo)的絕緣測試(試)均可(ke)細(細)分(fen)為(為)四個(個)程序(xu): 充電(電)→保(bao)持(chi)→測量→放(fang)電， 11210可高(gao)速(su)而(er)自動(動)的依(yi)序(xu)執行這些(xie)程序(xu)， 可以(yi)在(zai)20ms內執(執)行完壹(yi)個(個)完整(zheng)測(測)試(試)。 亦即， 如生產線需要執行高速測試(試)， 11210可以達(達)到每(mei)秒(miao)50 pcs的超高速度， 對於生(sheng)產線的效率提(ti)升非(fei)常(chang)顯著!

為(為)了達(達)到精(jing)準(準)的LC/IR量測， Chroma 11210在漏(lou)電流量測(測)上可(ke)細(細)分為(為)7個(個)檔(檔)位， 從(從)小10pA到大20mA均可量(liang)測。 另外(wai)， Auto-range之(zhi)功(gong)能可(ke)自(zi)動(動)切(qie)換至佳檔(檔)位執(執)行量測， 省(sheng)卻(卻)使(shi)用(yong)者(zhe)的不(bu)便(bian)並(並)確(確)保(bao)量(liang)測(測)精(jing)準(準)度。

在(zai)PD偵測的方面， 由於Chroma 11210使(shi)用(yong)特(te)殊(shu)電(電)路(lu)設計， 在(zai)執行此PD檢(檢)測功(gong)能(neng)並(並)不(bu)會(會)增(zeng)加任(ren)何額外(wai)的測試時(時)間， LC/IR的量測與PD偵測可(ke)在(zai)同(tong)壹時(時)間內完成(cheng)； 同(tong)時(時)， LC/IR量測與PD偵測的結果可連(連)同(tong)報(報)表(biao)同(tong)時(時)產出(chu)並在(zai)螢(螢)幕(mu)上呈(cheng)現(現)。 於生(sheng)產線上， 仍(reng)可以(yi)20ms/min.的高速同時(時)執行LC/IR量測和PD檢(檢)測。

對於任(ren)何壹項(項)絕緣測試(試)而(er)言， 接觸檢(檢)查(zha)對於測(測)試(試)的可靠(kao)性都(dou)有決定(ding)性的影(ying)響， 在整(zheng)個(個)量(liang)測(測)過(過)程中， "沒有接觸"也(ye)很(hen)有可(ke)能(neng)被(bei)判(pan)定為(為)良品， 這(這)樣(樣)的誤判(pan)會讓不(bu)良品進入(ru)市(shi)場， 如果待測物的絕緣電阻(zu)非(fei)常(chang)高(gao)， 這(這)種誤(誤)判(pan)情形會(會)更(geng)明顯； 所以(yi)壹(yi)般而(er)言， 絕緣測試(試)在測(測)試(試)過(過)程中壹定要進行接觸檢(檢)查(zha)， Chroma 11210架(jia)構(構)使(shi)用(yong)高(gao)階(階)電(電)路(lu)， 可在5ms內執(執)行壹次(ci)完整(zheng)的接觸檢(檢)查(zha)， 並(並)可(ke)選(選)擇量測前執(執)行、 量測後執行或量(liang)測(測)前後皆執行。