基(ji)礎(chu)信息Product information

產品(pin)名(ming)稱：美(mei)國SCS CTM051接(jie)地檢(jian)測儀Ground Pro Meter

產品(pin)型號(hao)：

更(geng)新(xin)時(shi)間：2025-06-10

產品(pin)簡(jian)介(jie)：

美國(guo)SCS CTM051接(jie)地檢(jian)測儀Ground Pro Meter適(shi)用(yong)於電(dian)子(zi)、半(ban)導體、光(guang)電(dian)、電(dian)機(ji)行業(ye)測(ce)試(shi)阻抗、交/直(zhi)流(liu)電(dian)壓(ya)、EMI幹擾(rao)電(dian)壓(ya)

產品(pin)特(te)性Product characteristics

      專(zhuan)業(ye)儀(yi)器(qi)設備與測(ce)試(shi)方案供應(ying)商——上海堅融(rong)實(shi)業(ye)有限(xian)公(gong)司(si)JETYOO INDUSTRIAL & 堅友（上海）測量儀(yi)器(qi)有限(xian)公(gong)司(si)JETYOO INSTRUMENTS，為原安(an)捷倫Agilent產品(pin)技術支(zhi)持工(gong)程(cheng)師-堅JET和(he)吉(ji)時(shi)利KEITHLEY產品(pin)技術應(ying)用工(gong)程(cheng)師-融(rong)YOO於2011年(nian)共同(tong)創辦的以(yi)技術支(zhi)持為(wei)特色的代(dai)理(li)貿(mao)易公(gong)司(si)，誌在破(po)舊(jiu)立(li)新(xin)！*進口儀(yi)器(qi)設備大多(duo)廠(chang)家僅(jin)在國(guo)內(nei)設銷(xiao)售點，技術支(zhi)持薄(bo)弱(ruo)或(huo)沒(mei)有，而代(dai)理(li)經(jing)銷(xiao)商也只專做銷(xiao)售，不專業(ye)做(zuo)售前(qian)技術答(da)疑/測試(shi)方案，不專業(ye)做(zuo)售後使用培(pei)訓(xun)/維(wei)修(xiu)校準(zhun)的空白。我們(men)的技術銷(xiao)售工程(cheng)師均(jun)為(wei)本(ben)科(ke)以上學(xue)歷，且(qie)均(jun)有10年(nian)以(yi)上測試(shi)行業(ye)經(jing)驗(yan)，以我們(men)*進*的經(jing)營(ying)理念(nian)，專(zhuan)業(ye)為(wei)祖(zu)國用(yong)戶(hu)提(ti)供儀(yi)器(qi)設備、測試(shi)方案、技術培訓、維(wei)修(xiu)計(ji)量服(fu)務(wu)，為上海華東地區壹(yi)家以(yi)技術為導向的儀(yi)器(qi)設備綜合(he)服(fu)務(wu)商。

美(mei)國(guo)SCS CTM051接(jie)地檢(jian)測儀Ground Pro Meter適(shi)用(yong)於電(dian)子(zi)、半(ban)導體、光(guang)電(dian)、電(dian)機(ji)行業(ye)測(ce)試(shi)阻抗、交/直(zhi)流(liu)電(dian)壓(ya)、EMI幹擾(rao)電(dian)壓(ya)。
阻抗測試(shi)（不受EMI幹擾，保(bao)證測(ce)試(shi)準確，不會導致(zhi)電(dian)路燒(shao)毀(hui)或(huo)引(yin)起跳閘事故(gu)）
量程(cheng)0.000～1.999Ω，精度2%+0.003Ω
量程(cheng)00.00～19.99Ω，精度1%+0.05Ω
量程(cheng)000.0～199.9Ω，精度1%+0.5Ω
量程(cheng)0000 ～1999Ω，精度1%+5Ω

EMI測(ce)試(shi)
頻寬9kHz～450MHz
量程(cheng)10mV～5V（peak）；80dBµV～134dBµV
讀數：peak峰(feng)值，rms平(ping)均(jun)有效(xiao)值(zhi)

電(dian)壓(ya)測試(shi)
交流(liu)電(dian)壓(ya)量程(cheng)（50～500Hz)：0.001～250V RMS
直流(liu)電(dian)壓(ya)量程(cheng)：0.001～350V

CTM051接(jie)地檢(jian)測儀Ground Pro Meter
產品(pin)描述：檢(jian)測接(jie)地阻抗，接(jie)地點是(shi)否(fou)存(cun)在EMI和(he)交/直(zhi)流(liu)電(dian)壓(ya)
測試(shi)類型：接(jie)地阻抗
產品(pin)類(lei)型：測試(shi)儀
產品(pin)品(pin)牌：SCS（DESCO子(zi)品牌）
產品(pin)產地：美國(guo)
訂購(gou)貨號(hao)：CTM051

美國(guo)SCS CTM051接(jie)地檢(jian)測儀Ground Pro Meter儀(yi)器(qi)描述
CTM051 是壹(yi)款綜合(he)測量儀(yi)器(qi)，根(gen)據(ju) ANSI/ESD S20.20 和(he) ANSI/ESD S6.1 規範(fan)檢(jian)測設備或(huo)工(gong)具(ju)的接(jie)地阻抗，還(hai)可以(yi)測(ce)試(shi)接(jie)地點是(shi)否(fou)存(cun)在交流(liu)或(huo)直(zhi)流(liu)電(dian)壓(ya)，並進(jin)壹(yi)步(bu)測試(shi)是否(fou)存(cun)在 EMI 幹(gan)擾(rao)。
產品(pin)參(can)數
接(jie)地阻抗（量程(cheng)/精度）
0.000 ~ 1.999Ω / 2%+0.003Ω
00.00 ~ 19.99Ω / 1%+0.05Ω
000.0 ~ 199.9Ω / 1%+0.5Ω
0000 ~ 1999Ω / 1%+5Ω

EMI 幹(gan)擾(rao)
頻寬：9kHz~450MHz
量程(cheng)：10mV~5V（峰(feng)值）；80dBμV~134dBμV
讀(du)數：峰(feng)值/有效(xiao)平(ping)均(jun)值

交流(liu)/直(zhi)流(liu)電(dian)壓(ya)
交流(liu)：0.001~250VAC RMS（50~500Hz）
直(zhi)流(liu)：0.001~350VDC

儀(yi)器(qi)電(dian)池：9V 堿(jian)性(xing)電(dian)池
儀(yi)器(qi)尺(chi)寸：114mm x 92mm x 28mm
儀(yi)器(qi)重量：140g
標(biao)準(zhun)配置(zhi)
 測試(shi)表： 1 個；貨號(hao) CTM051
 測試(shi)線及表筆(bi)（含小配(pei)件）： 1 對(dui)；貨號(hao) NCA006
 9V 電(dian)池： 1 個(ge)
 手(shou)提(ti)箱（只(zhi)裝測(ce)試(shi)表）： 1 個
 原廠校準(zhun)證書(shu)
 產品(pin)說(shuo)明書(shu)

2. 儀(yi)器(qi)面(mian)板
開(kai)/關(guan)機(ji)鍵：短按(an)開(kai)機(ji)，長按(an)關(guan)機(ji)
進入阻抗測試(shi)界面(mian)，測試(shi)接(jie)地阻抗
進入(ru) EMI 測試(shi)界面(mian)，測試(shi)接(jie)地點是(shi)否(fou)存(cun)在 EMI 幹(gan)擾(rao)
按(an) 1 次鎖定(ding)讀(du)數，再(zai)按(an) 1 次顯示(shi)大(da)值(zhi)，再(zai)按(an) 1 次退(tui)出鎖定(ding)模(mo)式(shi)
按(an) 1 次關閉背景燈，再(zai)按(an) 1 次打(da)開(kai)背景燈
功(gong)能(neng)鍵(jian)
進(jin)入(ru)電(dian)壓(ya)測試(shi)界面(mian)，測試(shi)接(jie)地點是(shi)否(fou)存(cun)在交流(liu)或(huo)直(zhi)流(liu)電(dian)壓(ya)
進入(ru)報(bao)警模(mo)式(shi)，超過(guo)設置(zhi)值會有聲(sheng)音(yin)報警
編(bian)輯參數

3. 基(ji)本(ben)功(gong)能(neng)
 開(kai)機(ji)：快速(su)按(an) 1 次 POWER/C 鍵（*裝入電(dian)池，儀(yi)器(qi)自(zi)動(dong)開機(ji)）
 關機(ji)：長按(an) POWER/C 鍵(jian)（該(gai)儀(yi)器(qi)具(ju)有自(zi)動(dong)關機(ji)功能(neng)，待機(ji) 10 分鐘無任(ren)何(he)操(cao)作，儀器(qi)自(zi)動(dong)關機(ji)）
當電(dian)量低於 20%時(shi)，在任(ren)壹(yi)界面(mian)會出現電(dian)池報(bao)警符號(hao)，這時(shi)要(yao)求(qiu)更(geng)換電(dian)池。在電(dian)量過(guo)低時(shi)開機(ji)，儀器(qi)會發出“滴”的壹(yi)聲(sheng)報警然後自(zi)動(dong)關機(ji)。
在任(ren)何(he)界(jie)面(mian)均可快(kuai)速(su)按(an) 2 次 F 鍵查看電(dian)池電(dian)量，如(ru)下圖(tu)所(suo)示(shi)。查看完電(dian)量後，按(an) 1 次 POWER/C 鍵返(fan)回原(yuan)來的界(jie)面(mian)：
電(dian)池報(bao)警符號(hao)
剩(sheng)余(yu)電(dian)量
電(dian)池電(dian)壓(ya)

4. 阻(zu)抗測試(shi)
按(an) 1 次 OHM 鍵進入阻(zu)抗測試(shi)界面(mian)，如下圖(tu)所(suo)示(shi)：
 10.23：阻(zu)抗讀數
 OH：單(dan)位(wei)，歐(ou)姆(mu)（Ω）
 指示(shi)條(tiao)：示(shi)意(yi)讀數水(shui)平(ping)
選(xuan)擇量程(cheng)
按(an)面(mian)板的↑鍵(jian)增加(jia)量程(cheng)，↓鍵降(jiang)低
1.- - -：壹(yi)檔量程(cheng)，0.000~1.999Ω
1 -.- -：二(er)檔量程(cheng)，00.00~19.99Ω
1 - -.-：三檔(dang)量程(cheng)，000.0~199.9Ω
1 - - -：四檔(dang)量程(cheng)，0000.~.1999Ω
測試(shi)線零(ling)平(ping)衡(heng)
為避免測試(shi)線本(ben)身(shen)的阻(zu)抗影響(xiang)測試(shi)精度，可以(yi)對(dui)測(ce)試(shi)線做(zuo)零(ling)平(ping)衡(heng)。
兩(liang)個表(biao)筆短接(jie)，然後快速(su)按(an) 3 次發出“滴”的壹(yi)聲(sheng)，表示(shi)設置(zhi)成功保(bao)存(cun)在內(nei)存(cun)中(zhong)。不用每(mei)次都(dou)設置(zhi)零(ling)平(ping)衡(heng)，在設置(zhi)時(shi)，如果(guo)儀器(qi)發出“滴”長(chang)中，兩(liang)個表(biao)筆壹(yi)定(ding)要(yao)保(bao)持緊(jin)密(mi)穩(wen)定(ding)地接(jie)觸(chu)指示(shi)條(tiao)

量程(cheng)：
把量程(cheng)設到(dao)小(xiao)檔，
F 鍵(jian)屏幕如下圖(tu)所(suo)示(shi)：
。表(biao)筆(bi)短接(jie)，屏幕顯示(shi)讀(du)數為(wei) 0（或(huo)很(hen)小(xiao)的壹(yi)個值(zhi)），測試(shi)線本(ben)身(shen)的阻(zu)值通常(chang)更(geng)換測試(shi)線後需要(yao)重做零(ling)平(ping)衡(heng)。
提(ti)示(shi)音(yin)，表示(shi)零(ling)平(ping)衡(heng)不成功，必需重新(xin)操(cao)作。

把測(ce)試(shi)線插(cha)入(ru)表體，註(zhu)意(yi)：在做(zuo)零(ling)平(ping)衡(heng)整個(ge)過程(cheng)
單位(wei)
讀(du)數REF 報(bao)警模(mo)式(shi)（阻抗測試(shi)）
可以(yi)設置(zhi)壹(yi)個報(bao)警值(zhi)，在測(ce)試(shi)阻抗時(shi)，低於該(gai)值(zhi)進(jin)入(ru)下圖(tu)所(suo)示(shi)的報(bao)警模(mo)式(shi)：
按(an)面(mian)板的↑鍵(jian)和(he)↓鍵(jian)可以(yi)設置(zhi)任意(yi)的報(bao)警值(zhi)，該(gai)報(bao)警值(zhi)記錄在儀(yi)器(qi)內(nei)存(cun)中(zhong)，以(yi)後無需再(zai)次設置(zhi)。
任何時(shi)候，按(an) 1 次 REF 鍵即(ji)可退(tui)出
註(zhu)意(yi)：各(ge)個(ge)量程(cheng)檔位(wei)下需要(yao)分(fen)別設置(zhi)報警值(zhi)。
註(zhu)意(yi)：在阻(zu)抗測試(shi)界面(mian)，REF 報警是(shi)低於設置(zhi)值，發出提(ti)示(shi)音(yin)。在其他測試(shi)界面(mian)，是高(gao)於設置(zhi)值，發出報警聲(sheng)。

5. 電(dian)壓(ya)測試(shi)
按(an) 1 次面(mian)板上的 V 鍵(jian)測試(shi)交流(liu)電(dian)壓(ya)，快速(su)按(an)和(he)直(zhi)流(liu)測(ce)試(shi)界面(mian)，如下圖(tu)所(suo)示(shi)：
 AVG：表(biao)示(shi)平(ping)均(jun)有效(xiao)值(zhi)，即(ji)
 電(dian)壓(ya)讀數：如(ru)果(guo)前(qian)面(mian)有符號(hao)
 電(dian)壓(ya)類型：AC 表示(shi)測(ce)試(shi)交流(liu)電(dian)壓(ya)，
這時(shi)按(an)面(mian)板的↑鍵(jian)增加(jia)量程(cheng)，↓鍵
註(zhu)意(yi)：不要(yao)測(ce)試(shi)超過大量程(cheng)的電(dian)壓(ya)，以免損壞(huai)儀器(qi)
REF 報警模(mo)式(shi)
實時(shi)讀數
報(bao)警值(zhi)
電(dian)壓(ya)讀數

，儀(yi)器(qi)發出提(ti)示(shi)音(yin)，表示(shi)連(lian)通(tong)。按(an)報(bao)警模(mo)式(shi)，返(fan)回到(dao)常(chang)規測(ce)試(shi)界面(mian)。
2 次 V 鍵測試(shi)直流(liu)電(dian)壓(ya)。在測(ce)試(shi)過程(cheng)中
RMS 值(zhi)
-，表(biao)示(shi)負(fu)值(zhi)
DC 表(biao)示(shi)直(zhi)流(liu)電(dian)壓(ya)
如果(guo)超出量程(cheng)，屏幕顯示(shi)如(ru)下：
降低量程(cheng)。交流(liu)電(dian)壓(ya)大量程(cheng) 250VAC，直流(liu)電(dian)壓(ya)大量程(cheng)。不要(yao)測(ce)試(shi)電(dian)源(yuan)插座的火線和(he)零(ling)線，可能(neng)導致(zhi)跳閘(zha)

1 次面(mian)板上的 REF 鍵(jian)，
，可以(yi)按(an) V 鍵(jian)切換交流(liu)
350VDC。
電(dian)壓(ya)類型
平(ping)均(jun)有效(xiao)值(zhi)REF 報警模(mo)式(shi)（電(dian)壓(ya)測試(shi)）
在交流(liu)或(huo)直(zhi)流(liu)測(ce)試(shi)界面(mian)均可進(jin)入(ru)
按(an)面(mian)板的↑鍵(jian)和(he)↓鍵(jian)可以(yi)設置(zhi)任意(yi)的報(bao)警值(zhi)，該(gai)報(bao)警值(zhi)記錄在儀(yi)器(qi)內(nei)存(cun)中(zhong)，以(yi)後無需再(zai)次設置(zhi)。當讀數超(chao)過(guo)設置(zhi)值時(shi)，發出快速(su)報警聲(sheng)。
任何時(shi)候，按(an) 1 次 REF 鍵即(ji)可退(tui)出報警

6. EMI 測(ce)試(shi)
按(an) 1 次面(mian)板上的 EMI 鍵(jian)進入“單(dan)位(wei)可以(yi)按(an) EMI 鍵(jian)切換單位(wei)“V”和(he)EMI 測(ce)試(shi)-“單
屏幕頂部(bu)出現 AVG 和(he) PEAK 符號(hao)，表示(shi)
² PEAK：峰(feng)值
² AVG：平(ping)均(jun)有效(xiao)值(zhi)
² 底部(bu)指示(shi)條(tiao)：示(shi)意(yi)峰(feng)值的水(shui)平(ping)
在 EMI 測(ce)試(shi)界面(mian)，不需要(yao)手(shou)動(dong)設置(zhi)量程(cheng)，超過(guo)量程(cheng)
REF 報警模(mo)式(shi)（EMI 測試(shi)）
不同(tong)於阻(zu)抗測試(shi)和(he)電(dian)壓(ya)測試(shi)的報(bao)警
報(bao)警（平(ping)均(jun)值報警模(mo)式(shi)）。在單(dan)位(wei)
設置(zhi)值，儀器(qi)發出快速(su)報警聲(sheng)。
REF 報警模(mo)式(shi)
實時(shi)讀數
報(bao)警值(zhi)

REF 報(bao)警模(mo)式(shi)，按(an) 1 次 REF 鍵進入下圖(tu)所(suo)示(shi)的模(mo)式(shi)，返(fan)回到(dao)常(chang)規測(ce)試(shi)界面(mian)。
V 界面(mian)”，快速(su)按(an) 2 次 EMI 鍵進入“單(dan)位 dBμV
“dBμV”，如(ru)下圖(tu)所(suo)示(shi)：
位(wei) V 界(jie)面(mian)” EMI 測試(shi)-“單位 dBμV
常(chang)規測(ce)試(shi)界面(mian)，壹(yi)行讀(du)數為(wei) PEAK 值(zhi)，第二(er)行讀(du)數為(wei)
PEAK 峰(feng)值顯(xian)示(shi) 1 -.- -
模(mo)式(shi)，在 EMI 測(ce)試(shi)時(shi)可以(yi)設置(zhi)峰(feng)值報(bao)警（峰(feng)值“V”和(he)“dBμV”界(jie)面(mian)下均可設置(zhi)峰(feng)值和(he)平(ping)均(jun)在報(bao)警界(jie)面(mian)按(an)↑鍵(jian)和(he)↓鍵(jian)可以(yi)設置(zhi)任意(yi)的報(bao)警值(zhi)。

報(bao)警模(mo)式(shi)：
界面(mian)”。在測(ce)試(shi)過程(cheng)中，
界(jie)面(mian)”
AVG 值：
報(bao)警模(mo)式(shi)）和(he)平(ping)均(jun)有效(xiao)值(zhi)
有效(xiao)值(zhi)的報(bao)警值(zhi)，讀(du)數超(chao)過(guo)
² “單位(wei) V 界面(mian)”的峰(feng)值報(bao)警
如(ru)下圖(tu)所(suo)示(shi)：
² “單(dan)位(wei) V 界(jie)面(mian)”的平(ping)均(jun)值報警
再(zai)按(an) 1 次 REF 鍵退(tui)出
-----------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------
² “單位(wei) dBμV 界面(mian)”的峰(feng)值
警模(mo)式(shi)，如下圖(tu)所(suo)示(shi)：
² “單(dan)位(wei) dBμV 界(jie)面(mian)”的平(ping)均(jun)值
再(zai)按(an) 1 次 REF 鍵退(tui)出報警
REF 報(bao)警模(mo)式(shi)
REF 報警模(mo)式(shi)
REF 報警模(mo)式(shi)
REF 報警模(mo)式(shi)

模(mo)式(shi)：在 EMI 測(ce)試(shi)“單位 V 界面(mian)”下，按(an) 1 次
模式(shi)：再(zai)按(an) 1 次 REF 鍵進入平(ping)均(jun)值報警模(mo)式(shi)，如下圖(tu)所(suo)示(shi)：
報(bao)警模(mo)式(shi)，返(fan)回原(yuan)來的常(chang)規測(ce)試(shi)界面(mian)（“單位(wei) V
報(bao)警模(mo)式(shi)：在 EMI 測(ce)試(shi)“單位 dBμV 界面(mian)”下，按(an)
報(bao)警模(mo)式(shi)：再(zai)按(an) 1 次 REF 鍵進入平(ping)均(jun)值報警
模(mo)式(shi)，返(fan)回原(yuan)來的常(chang)規測(ce)試(shi)界面(mian)（“單位(wei) dBμV

REF 鍵(jian)進(jin)入(ru)峰(feng)值報(bao)警模(mo)式(shi)，
”的 EMI 測(ce)試(shi)界面(mian)）
---------
1 次 REF 鍵進入峰(feng)值報(bao)
模式(shi)，如下圖(tu)所(suo)示(shi)：
”的 EMI 測(ce)試(shi)界面(mian)）
峰(feng)值
峰(feng)值讀(du)數
峰(feng)值報(bao)警值(zhi)
平(ping)均(jun)值
平(ping)均(jun)值讀數
平(ping)均(jun)值報警值(zhi)
峰(feng)值
峰(feng)值讀(du)數
峰(feng)值報(bao)警值(zhi)
平(ping)均(jun)值
平(ping)均(jun)值讀數
平(ping)均(jun)值報警值(zhi)

7. 測(ce)試(shi)設備接(jie)地示(shi)例(li)
測(ce)試(shi)項目(mu) 示(shi)意(yi)圖(tu) 按(an)鍵(jian)操(cao)作
測試(shi)項：交流(liu)電(dian)壓(ya)（電(dian)源(yuan)）
黑表筆(bi)：地線
紅(hong)表(biao)筆(bi)：火線
合(he)格值(zhi)：220VAC+/-10%
規 範(fan)：NEC
按(an) 1 次 V 鍵
測試(shi)項：EMI 幹擾電(dian)壓(ya)（電(dian)源(yuan)）
黑表筆(bi)：地線
紅(hong)表(biao)筆(bi)：火線
合(he)格值(zhi)：<0.5V Hold+Max+Peak 模式(shi)
規 範(fan)：IPC-A-610F
按(an) 1 次 EMI 鍵，再(zai)快速(su)按(an) 2 次 HOLD 鍵
測試(shi)項：阻抗（電(dian)源(yuan)）
黑表筆(bi)：地線
紅(hong)表(biao)筆(bi)：零(ling)線
合(he)格值(zhi)：<1Ω
規 範(fan)：ANSI/ESD S20.20
按(an) 1 次 OHM 鍵
測試(shi)項：EMI 幹擾電(dian)壓(ya)（電(dian)源(yuan)）
黑表筆(bi)：地線
紅(hong)表(biao)筆(bi)：零(ling)線
合(he)格值(zhi)：<0.5V Hold+Max+Peak 模式(shi)
規 範(fan)：IPC-A-610F
按(an) 1 次 EMI 鍵，再(zai)快速(su)按(an) 2 次 HOLD 鍵
測試(shi)項：阻抗（電(dian)源(yuan)-設備）
黑表(biao)筆(bi)：地線
紅(hong)表(biao)筆(bi)：設備或(huo)工(gong)具(ju)金屬部(bu)位
合(he)格值(zhi)：<1Ω
規 範(fan)：ANSI/ESD S20.20
按(an) 1 次 OHM 鍵
測試(shi)項：EMI 幹擾電(dian)壓(ya)（電(dian)源(yuan)-設備）
黑表(biao)筆(bi)：地線
紅(hong)表(biao)筆(bi)：設備或(huo)工(gong)具(ju)金屬部(bu)位
合(he)格值(zhi)：<0.5V Hold+Max+Peak 模式(shi)
規 範(fan)：IPC-A-610F
按(an) 1 次 EMI 鍵，再(zai)快速(su)按(an) 2 次 HOLD 鍵
紅(hong)表(biao)筆(bi) 黑(hei)表筆
註(zhu)意(yi)！不要(yao)直(zhi)接(jie)測試(shi)電(dian)源(yuan)插座的測(ce)試(shi)火線和(he)零(ling)線極，可能(neng)導致(zhi)跳閘(zha)故(gu)障(zhang)
測試(shi) EMI 幹擾時(shi)，選擇單位(wei) V，並采用(yong)“Hold+Max+Peak”模(mo)式(shi)，該(gai)模(mo)式(shi)持續(xu)記錄所(suo)測得(de)的大(da)峰(feng)值。按(an)1 次 EMI 鍵，再(zai)快速(su)按(an) 2 次 HOLD 鍵進入“Hold+Max+Peak”模(mo)式(shi)，如下圖(tu)所(suo)示(shi)：
按(an) 1 次 HOLD 鍵可以(yi)退(tui)出“Hold+Max+Peak”模式(shi)，返(fan)回常(chang)規測(ce)試(shi)界面(mian)EMI 測試(shi)結(jie)果(guo)：
 峰(feng)值和(he)平(ping)均(jun)有效(xiao)值(zhi)都(dou)低：非常(chang)好
 峰(feng)值高(gao)，平(ping)均(jun)有效(xiao)值(zhi)低：不好，但(dan)通(tong)常(chang)不會造(zao)成(cheng)嚴重問題(ti)
 峰(feng)值低，平(ping)均(jun)有效(xiao)值(zhi)高：不好，可能(neng)會導致(zhi) EOS（電(dian)氣過(guo)載）
 峰(feng)值和(he)平(ping)均(jun)有效(xiao)值(zhi)都(dou)高(gao)：非(fei)常(chang)不好
火線
零(ling)線
地線
平(ping)均(jun)有效(xiao)值(zhi)
大峰(feng)值

8. 產品(pin)註(zhu)意(yi)事項(xiang)及保(bao)修(xiu)
 不能(neng)用(yong)於測(ce)試(shi)電(dian)源(yuan)插座的火線和(he)零(ling)線
 不能(neng)在具(ju)有爆炸等(deng)潛在危(wei)害場所(suo)使用
 不要(yao)在戶(hu)外或(huo)高(gao)濕(shi)度場(chang)所(suo)使用
 不要(yao)在開(kai)機(ji)狀(zhuang)態(tai)下更(geng)換電(dian)池
 使用過(guo)程(cheng)中，保(bao)證手(shou)指位於表(biao)筆(bi)保(bao)護盾後面(mian)
 測試(shi)線斷(duan)裂或(huo)破(po)損(sun)時(shi)，不要(yao)繼(ji)續使用
 長(chang)期(qi)擱置(zhi)不使用時(shi)，應(ying)取出電(dian)池存(cun)放(fang)
 儀器(qi)表體無(wu)易(yi)損(sun)部(bu)件，嚴禁自(zi)行(xing)維(wei)修(xiu)或(huo)更(geng)換部(bu)件，打(da)開(kai)儀表(biao)外(wai)殼失(shi)去(qu)保(bao)修(xiu)權利(li)
 防護(hu)等(deng)級(ji) IPX10
 汙(wu)染(ran)等(deng)級(ji) 2
 工(gong)作(zuo)溫度 10℃~43℃
 工(gong)作濕(shi)度不得超過 80%
 產品(pin)保(bao)修(xiu)期 1 年(nian)，人為或(huo)操(cao)作不當造(zao)成(cheng)的損(sun)壞(huai)不在保(bao)修(xiu)範圍(wei)內(nei)