基礎信息(xi)Product information

產(chan)品名(ming)稱：日本日置(zhi)LCR測試儀HIOKI IM3536

產品(pin)型(xing)號(hao)：

更(geng)新時(shi)間：2025-06-10

產(chan)品(pin)簡(jian)介：

專業為祖國(guo)用(yong)戶提(ti)供日(ri)本日置(zhi)LCR測試儀HIOKI IM3536儀器設(she)備、測試方(fang)案、技術培訓、維修計(ji)量服(fu)務(wu)，為上(shang)海華東地區壹家(jia)以技術為導(dao)向(xiang)的儀器設(she)備綜(zong)合(he)服(fu)務(wu)商(shang)。

產(chan)品(pin)特(te)性Product characteristics

      專業(ye)儀器設(she)備與測試方(fang)案供應商(shang)——上(shang)海堅融實(shi)業(ye)有(you)限(xian)公(gong)司(si)JETYOO INDUSTRIAL & 堅友(you)（上(shang)海）測量儀器有(you)限(xian)公(gong)司(si)JETYOO INSTRUMENTS，為原(yuan)安捷倫Agilent產品(pin)技術支(zhi)持工(gong)程師-堅(jian)JET和吉時(shi)利(li)KEITHLEY產品(pin)技術應用工程師-融(rong)YOO於2011年(nian)共同(tong)創(chuang)辦(ban)的以(yi)技術支(zhi)持為(wei)特(te)色(se)的代(dai)理貿(mao)易(yi)公司(si)，誌(zhi)在(zai)破舊立新！*進口儀器設(she)備大(da)多廠(chang)家僅在(zai)國內設(she)銷(xiao)售點(dian)，技術支(zhi)持薄(bo)弱(ruo)或沒有(you)，而(er)代(dai)理經銷(xiao)商(shang)也(ye)只(zhi)專做銷(xiao)售，不專業做售前(qian)技術答疑/測試方(fang)案，不專業做售後(hou)使用(yong)培訓/維修校(xiao)準的空(kong)白(bai)。我(wo)們(men)的技術銷(xiao)售工(gong)程師均(jun)為本科以(yi)上(shang)學歷，且(qie)均(jun)有(you)10年(nian)以(yi)上(shang)測試行(xing)業經驗(yan)，以我(wo)們(men)*進*的經營理念(nian)，專業為祖國(guo)用戶提(ti)供儀器設(she)備、測試方(fang)案、技術培訓、維修計(ji)量服(fu)務(wu)，為上(shang)海華東地區壹家(jia)以技術為導(dao)向(xiang)的儀器設(she)備綜(zong)合(he)服(fu)務(wu)商(shang)。

日本日置(zhi)LCR測試儀HIOKI IM3536性能(neng)特(te)點(dian)

電解(jie)電容(rong)器(qi)的電容(rong)測量：

根(gen)據(ju)JIS標(biao)準測試電解(jie)電容(rong)器(qi)，電解(jie)電容(rong)的電容(rong)值(zhi)在(zai)不同測試頻率(lv)下容(rong)值(zhi)差異(yi)較大(da)，因此需要根(gen)據(ju)實(shi)際(ji)回路的工(gong)作頻率(lv)來(lai)確認電容(rong)值(zhi)。

陶(tao)瓷(ci)電容(rong)器(qi)的電容(rong)測量：

陶(tao)瓷(ci)電容(rong)器(qi)可(ke)分為，隨電壓變(bian)化(hua)的高(gao)介電常(chang)數(shu)型(xing)和(he)溫(wen)度補(bu)償型(xing)。JIS標(biao)準針對兩種陶(tao)瓷(ci)電容(rong)特(te)性有(you)不同的測試要(yao)求(qiu)。使(shi)用(yong)LCR測試儀IM3536的頻率(lv)範圍DC,4Hz~8MHz，內置(zhi)電壓範圍10mV~5V，非常(chang)適合(he)用於以(yi)上(shang)兩種不同要求(qiu)的電容(rong)測試。

電感器（線(xian)圈）的電感測量：

電感器（線(xian)圈）所(suo)具備的電感和線(xian)圈的寄(ji)生(sheng)電容(rong)中將LC共(gong)振(zhen)現(xian)象稱為自諧(xie)振。 將(jiang)產(chan)生這種自諧(xie)振的頻率(lv)稱為自諧(xie)振頻率(lv)。在(zai)評估線(xian)圈時(shi)請(qing)在(zai)比自諧(xie)振頻率(lv)更(geng)低(di)的頻率(lv)下測量L和(he)Q。

測量電感器的頻率(lv)特(te)性：

LCR測試儀IM3536的測量頻率(lv)較廣(guang)，可(ke)以(yi)設(she)置(zhi)為(wei)DC、4 Hz～8 MHz，非常(chang)適合(he)於評(ping)估連(lian)續改(gai)變頻率(lv)的測量。在(zai)計(ji)算(suan)機中安裝附(fu)件LCR采(cai)用應用軟(ruan)件(jian)（CD-R），並通過(guo)接(jie)口（USB, GP-IB, RS-232C），可以進行(xing)掃頻功(gong)能(neng)，自(zi)動測量出(chu)的測量數(shu)值(zhi)能夠以Excel或CSV格式(shi)進行(xing)保(bao)存。

寬(kuan)廣(guang)範圍的測量條件(jian)下，非常(chang)適用於進(jin)行(xing)研(yan)發(fa)和(he)評估實(shi)際(ji)使用條件(jian)的LCR測試儀

寬(kuan)頻率(lv)範圍的LCR非常(chang)適用於研(yan)發(fa)和(he)評估不同工作頻率(lv)範圍下壓電元(yuan)器(qi)件和線(xian)圈等(deng)的諧(xie)振頻率(lv)。推薦用(yong)於評(ping)估壓電元(yuan)件(jian)和線(xian)圈的共(gong)振(zhen)頻率(lv)。若使用應用軟(ruan)件(jian)※則能夠簡(jian)單(dan)的對頻率(lv)、電壓和(he)電流(liu)進(jin)行(xing)掃描(miao)和測量。

可變(bian)頻率(lv)：DC, 4 Hz〜8 MHz

電壓可(ke)變(bian)：10 mV〜5 V（V模式(shi)/CV模式(shi)）

電流(liu)可(ke)變：10 μA〜100 mA（CC模式(shi)）

※能夠使用(yong)計(ji)算(suan)機設(she)置(zhi)掃(sao)頻（或電壓、電流(liu)），並將測量數(shu)據(ju)以(yi)CSV或Excel格式(shi)保(bao)存。應用軟(ruan)件(jian)請(qing)使用(yong)標配(pei)的CD進(jin)行(xing)安裝，或從(cong)HP中下載(zai)。

連(lian)續測量功(gong)能(neng)：希(xi)望以1kHz檢查電源(yuan)電感的L-Q，還(hai)想(xiang)檢查直(zhi)流電阻（Rdc）。這時(shi)，1臺IM3536就可(ke)以(yi)在(zai)2種測試要(yao)求(qiu)下(xia)進(jin)行(xing)連(lian)續高(gao)速(su)測試。

LCR測試儀在(zai)自動化產線(xian)中測試可(ke)靠：測試線(xian)補(bu)償

線(xian)長(chang)補(bu)償設(she)置(zhi)可(ke)設(she)置(zhi)為(wei)：0 m / 1 m / 2 m / 4 m。測試線(xian)延(yan)長(chang)時(shi)也(ye)能(neng)保(bao)證(zheng)精(jing)度。

LCR測試儀在(zai)自動化產線(xian)中測試可(ke)靠：接(jie)觸檢查功(gong)能(neng)

4端子測量時(shi)，預先(xian)設(she)置(zhi)判(pan)斷(duan)測試端與(yu)被(bei)測物的接(jie)觸狀態。 測量LPOT〜LCUR間(jian)和(he)HPOT〜HCUR間的接(jie)觸電阻，並在(zai)超過所(suo)設(she)閾(yu)值(zhi)時(shi)發出(chu)報(bao)警信號(hao)。

日本日置(zhi)LCR測試儀HIOKI IM3536基本參(can)數(shu)

測量模式(shi) LCR（單(dan)壹條件(jian)下測量），連(lian)續測量（保(bao)存條件(jian)下連(lian)續測量）

測量參(can)數(shu)Z, Y, θ, X, G, B, Q, Rdc（直(zhi)流電阻），Rs (ESR), Rp, Ls, Lp, Cs, Cp, D (tanδ), σ, ε

測量量(liang)程 100 mΩ~100 MΩ, 10檔量程（所(suo)有(you)參(can)數(shu)由Z規(gui)定）

顯示(shi)範圍 Z: 0.00 m~9.99999 GΩ, Y: 0.000 n~9.99999 GS, θ: ± (0.000°~999.999°), Q: ± (0.00~9999.99), Rdc: ± (0.00 m~9.99999 GΩ), D: ± (0.00000~9.99999), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)等(deng)

基本精度 Z: 0.05 % rdg. θ: 0.03°（代(dai)表(biao)值(zhi)，精度保(bao)證(zheng)範圍：1mΩ~200MΩ）

測量頻率(lv) 4 Hz~8 MHz (10 mHz~100 Hz步(bu)進(jin))

測量信號(hao)電平(ping) [V模式(shi), CV模式(shi)]的[通(tong)常(chang)模式(shi)]

4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~5 V (大(da)50 mA)

1.0001 MHz~8 MHz: 10 mV~1 V (大(da)10 mA)

[V模式(shi), CV模式(shi)]的[低(di)Z高(gao)精(jing)度模式(shi)]

4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~1 V (大(da)100 mA)

[CC模式(shi)]的[通(tong)常(chang)模式(shi)]

4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~50 mA (大(da)5 V)

1.0001 MHz~8 MHz: 10 μA~10 mA (大(da)1 V)

[CC模式(shi)]的[低(di)Z高(gao)精(jing)度模式(shi)]

4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~100 mA (大(da)1 V)

[直(zhi)流電阻測量]: 1 V固(gu)定(ding)

DC偏壓 發(fa)生(sheng)範圍：DC電壓0~2.50 V (低(di)Z高(gao)精(jing)度模式(shi)時(shi)0 ~1 V)

輸(shu)出(chu)阻抗(kang) 通(tong)常(chang)模式(shi)：100 Ω, 低Z高(gao)精度模式(shi): 10 Ω

顯示(shi) 彩(cai)色(se)TFT5.7英寸(cun)，觸摸(mo)屏(ping)

功(gong)能(neng) 比較器(qi)、BIN測量（2個(ge)項目10種分類），觸發(fa)功(gong)能(neng)、開路·短路補(bu)償、接(jie)觸檢查、面(mian)板(ban)保(bao)存·讀取功(gong)能(neng)、存(cun)儲功(gong)能(neng)

接口 EXT I/O (處(chu)理器(qi)), /USB/U盤/LAN/GP-IB/RS-232C, BCD輸(shu)出(chu)

電源(yuan) AC 100~240 V, 50/60 Hz, 50 VA max

體(ti)積及(ji)重(zhong)量(liang) 330W × 119H × 230D mm, 4.2 kg

附(fu)件 電源(yuan)線(xian)×1,使(shi)用(yong)說(shuo)明書(shu)×1,CD-R（通訊說(shuo)明書(shu)，LCR應用光盤）×1

探(tan)頭·治具

使用(yong)9268-10或9269-10時(shi)需要外接的恒(heng)壓源(yuan)、恒流(liu)源(yuan)。

SMD測試治(zhi)具IM9100直(zhi)接連(lian)接型(xing)，底(di)部有(you)電極(ji)SMD用(yong)，DC～8MHz，可測量樣品尺(chi)寸(cun)：0402～1005（JIS）

4端子開爾文(wen)夾(jia)9140-10，DC~200kH，50 Ω，1 m長(chang)

測試治(zhi)具9261-10，線(xian)長(chang)1m，DC~5MHz，特(te)性阻抗(kang)50Ω，可(ke)測端口直(zhi)徑：0.3~1.5mm

測試治(zhi)具9262，DC～8 MHz, 直(zhi)接連(lian)接型(xing)

SMD測試治(zhi)具9263，直(zhi)接連(lian)接型(xing), DC～5 MHz 測試尺(chi)寸(cun): 1mm～10.0mm

DC偏置(zhi)電壓單(dan)元 9268-10，直(zhi)接連(lian)接型(xing)，40Hz~8MHz，大(da)外加(jia)電壓DC±40V

DC偏置(zhi)電流(liu)單(dan)元 9269-10，直(zhi)接連(lian)接型(xing)，40Hz~2MHz，大(da)外加(jia)電流(liu)DC 2A(大(da)外加(jia)電壓DC±40V)

4端子探(tan)頭 9500-10，線(xian)長(chang)1m，DC~200kHz，50Ω，可(ke)測導(dao)體(ti)直(zhi)徑φ0.3mm~2mm

SMD測試治(zhi)具9677，用於側面(mian)有(you)電極(ji)的SMD DC~120MHz，測試樣品 尺(chi)寸(cun)：3.5mm±0.5mm

SMD測試治(zhi)具9699，用於底(di)部有(you)電極(ji)的SMD DC~120MHz，測試樣品 尺(chi)寸(cun)：寬(kuan)1.0~4.0mm，高(gao)1.5mm以(yi)下(xia)

前端探(tan)針IM9901，用於更(geng)換L2001的前(qian)端的通(tong)用(yong)尺(chi)寸(cun)，L2001標配(pei)

前端探(tan)針IM9902，用於更(geng)換L2001的前(qian)端的小型(xing)尺(chi)寸(cun)

4端子探(tan)頭L2000，DC~8MHz，1m長

鑷形探(tan)頭L2001，線(xian)長(chang)73cm，DC～8MHz，50Ω，前(qian)端電極(ji)間(jian)隔：0.3～6mm(IM9901:JIS尺(chi)寸(cun)1608～5750)（IM9902：JIS尺(chi)寸(cun)0603～5750）

PC通訊(xun)

GP-IB連(lian)接線(xian)9151-02，2m長(chang)

RS-232C 連(lian)接線(xian) 9637，9pin-9pin，1.8m長(chang)