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基礎(chu)信(xin)息Product information
產品名稱(cheng)：英(ying)國(guo)穩(wen)科(ke)Wayne Kerr 6500B阻抗(kang)分析(xi)儀(yi)
產品型號：
更新(xin)時(shi)間：2025-06-10
產品簡介：
為祖國用(yong)戶(hu)提(ti)供(gong)英(ying)國(guo)穩(wen)科(ke)Wayne Kerr 6500B阻抗(kang)分析(xi)儀(yi)儀(yi)器設(she)備(bei)、測試(shi)方(fang)案(an)、技(ji)術培訓、維修計量(liang)全面(mian)服務,精(jing)準(zhun)和(he)多(duo)功(gong)能(neng)性(xing)使WK6500系(xi)列(lie)成為各種不(bu)同類(lei)型的工作(zuo)和(he)應(ying)用(yong)程式(shi)的理(li)想(xiang)選(xuan)擇。使用(yong)者(zhe)包(bao)括(kuo)被(bei)動元(yuan)件設(she)計(ji)師，電(dian)介(jie)體、絕緣(yuan)體(ti)的設(she)計(ji)測試人員(yuan)，及生(sheng)產線的測試(shi)人員(yuan)。
產品特性(xing)Product characteristics
英(ying)國(guo)穩(wen)科(ke)WayneKerr6500B阻抗(kang)分析(xi)儀(yi)七(qi)種(zhong)機型20Hz~5MHz,10MHz,15MHz,20MHz,30MHz,50MHz和(he)120MHz，符(fu)合客(ke)戶(hu)不(bu)同采購(gou)預算(suan)簡易的TFT觸屏(ping)操(cao)作(zuo)，10分鐘(zhong)內輕(qing)易(yi)上手(shou)
電介(jie)質、壓(ya)電片(pian)及石英(ying)晶(jing)體(ti)測試解決(jue)方(fang)案(an)
30ms超高(gao)速測試(shi)速度
等(deng)效(xiao)Rdc可高(gao)度精(jing)準(zhun)四(si)線式測(ce)試(shi)，量(liang)測到(dao)0.01mΩ
0.05%基(ji)本精(jing)確(que)度(du)
可(ke)內建(jian)0-100mA+/-40V，外加可(ke)至60ADCBias
可將(jiang)測(ce)試(shi)波(bo)形儲(chu)存(cun)成CSV格(ge)式，放大、縮小(xiao)及MARKER功能(neng)
20Hz~120MHz，七(qi)種(zhong)機型，可(ke)隨時升(sheng)級，最(zui)高(gao)升級(ji)到(dao)120MHz
直覺(jiao)的用戶(hu)操(cao)作(zuo)接(jie)口，USB、LAN、GPIB及HANDLER
可使(shi)用鼠(shu)標及鍵盤(pan)操(cao)控(kong)，也(ye)可外接打(da)印機及使用(yong)USB接口儲(chu)存(cun)數(shu)據(ju)
具等(deng)效(xiao)電路(lu)仿(fang)真(zhen)功能(neng)，內建(jian)同頻率(lv)LCRMeter壹(yi)臺(tai)
七(qi)種(zhong)機型且(qie)最(zui)高(gao)可升(sheng)級到(dao)120MHz
1J6505B頻(pin)率(lv)範(fan)圍20Hz~5MHz
1J6510B頻(pin)率(lv)範(fan)圍20Hz~10MHz
1J6515B頻(pin)率(lv)範(fan)圍20Hz~15MHz
1J6520B頻(pin)率(lv)範(fan)圍20Hz~20MHz
1J6530B頻(pin)率(lv)範(fan)圍20Hz~30MHz
1J6550B頻(pin)率(lv)範(fan)圍20Hz~50MHz
1J65120B頻(pin)率(lv)範(fan)圍20Hz~120MHz
英(ying)國(guo)穩(wen)科(ke)WayneKerr6500B阻抗(kang)分析(xi)儀(yi)性(xing)能特(te)點
準(zhun)確快(kuai)速的進行(xing)元(yuan)件測(ce)試,±0.05%基本精(jing)確(que)度(du),使(shi)該系(xi)列(lie)產品成為同級當中的翹楚(chu)。
精(jing)準(zhun)和(he)多(duo)功(gong)能(neng)性(xing)使WK6500系(xi)列(lie)成為各種不(bu)同類(lei)型的工作(zuo)和(he)應(ying)用(yong)程式(shi)的理(li)想(xiang)選(xuan)擇。使用(yong)者(zhe)包(bao)括(kuo)被(bei)動元(yuan)件設(she)計(ji)師，電(dian)介(jie)體、絕緣(yuan)體(ti)的設(she)計(ji)測試人員(yuan)，及生(sheng)產線的測試(shi)人員(yuan)。
工程師需(xu)要在高(gao)頻率(lv)的狀況下以(yi)*的精(jing)度(du)來(lai)定(ding)義元(yuan)件的特性(xing)，WK6500B系(xi)列(lie)精(jing)密(mi)阻(zu)抗(kang)分析(xi)儀(yi)成為您準(zhun)確易(yi)用的理(li)想(xiang)測(ce)試工(gong)具(ju)。
測試參數(shu)
電(dian)容(rong)(C),電(dian)感(gan)(L),電阻(zu)(R),電導(G),電(dian)納(na)(B),電抗(kang)(X),損(sun)耗因數(shu)(D),品(pin)質因數(shu)(Q),阻(zu)抗(kang)(Z),導納(na)(Y),相(xiang)位角(θ)、介電常(chang)數(shu)(ε′𝑟相(xiang)對(dui)介電(dian)常(chang)數(shu)實部(bu)、ε′′r相(xiang)對(dui)介電(dian)常(chang)數(shu)虛(xu)部(bu)、Dε相(xiang)對(dui)介電(dian)損(sun)耗)、磁導率(lv)(μ′𝑟相(xiang)對(dui)磁導率(lv)實部(bu)、μ′′r相(xiang)對(dui)磁導率(lv)虛(xu)部(bu)、Dμ相(xiang)對(dui)磁導率(lv)損(sun)耗)
高(gao)精(jing)度(du)量(liang)測
電(dian)容(rong)C,電(dian)感(gan)L及阻抗(kang)Z基(ji)本精(jing)確(que)度(du)為±0.05%。損耗因數(shu)D精(jing)確(que)度(du)為±0.0005及品質因數(shu)Q精(jing)確(que)度(du)為±0.05%。
元(yuan)件圖形掃描
WK6500B系(xi)列(lie)精(jing)密(mi)阻(zu)抗(kang)分析(xi)儀(yi)不(bu)僅(jin)提(ti)供(gong)高(gao)頻率(lv)，高(gao)精(jing)度(du)的量(liang)測。該設(she)備(bei)還是(shi)壹(yi)個包(bao)含(han)豐(feng)富特性(xing)的元(yuan)件分析(xi)儀(yi)。
曲線掃描可依(yi)據頻(pin)率(lv)、電(dian)壓值(zhi)和(he)直流(liu)偏流(liu)源同時在清晰(xi)度高(gao)的大型(xing)彩色屏幕上顯(xian)示任意兩種參(can)數(shu)的曲線。顯示(shi)格(ge)式(shi)包(bao)括(kuo)串聯(lian)或(huo)並聯(lian)等(deng)效(xiao)電路(lu)。
單(dan)測某壹(yi)頻率(lv)時(shi)可以(yi)從曲(qu)線掃描轉(zhuan)換(huan)成(cheng)標(biao)準(zhun)LCR表讀(du)值(zhi)模(mo)式(shi)。
WK6500B精(jing)密(mi)阻(zu)抗(kang)分析(xi)儀(yi)系(xi)列(lie)
可變(bian)的輸出(chu)和(he)偏壓(ya)源
交流(liu)輸出(chu)可(ke)選(xuan)高(gao)達(da)1V或(huo)20mA，實現在真(zhen)實操(cao)作(zuo)環(huan)境中(zhong)來評(ping)估(gu)元(yuan)件。可(ke)變(bian)偏壓(ya)直流(liu)源可提(ti)供(gong)達(da)100mA的電流(liu).
外部(bu)控(kong)制(zhi)
在品管或制(zhi)作檔(dang)譜(pu)的過(guo)程(cheng)中可通(tong)過(guo)GPIB介(jie)面(mian)來控制儀(yi)器和(he)收(shou)取(qu)讀(du)值(zhi).
網端(duan)介面(mian)也(ye)具有同樣的控制(zhi)儀(yi)器和(he)傳(chuan)輸(shu)資料的功能(neng)–使儀(yi)器能適(shi)應許(xu)多(duo)不(bu)同的測試(shi)環(huan)境.
多(duo)選(xuan)擇的介面(mian)
VGA介面(mian)可連(lian)接到(dao)PC顯(xian)示(shi)器或投影(ying)機,這種(zhong)功能(neng)為生(sheng)產環(huan)境或(huo)教學培訓都(dou)提(ti)供(gong)無法衡(heng)量(liang)的價(jia)值(zhi).本機還可(ke)通(tong)過(guo)外(wai)接鍵盤(pan)和(he)滑(hua)鼠(shu)來操(cao)控(kong),任何(he)PS2或USB鍵(jian)盤(pan)和(he)滑(hua)鼠(shu)都(dou)能(neng)簡單(dan)的接插(cha)到(dao)系(xi)統(tong)中(zhong),提(ti)供(gong)控制和(he)操(cao)作(zuo)儀(yi)器的另壹(yi)種可(ke)行(xing)方(fang)式.
資料儲(chu)存(cun)和(he)提(ti)取(qu)
所(suo)有的測試(shi)結(jie)果(guo)及設(she)制(zhi)都(dou)可(ke)以(yi)通(tong)過(guo)網(wang)路(lu)介面(mian)或USB閃盤(pan)來(lai)儲(chu)存(cun).
分類(lei)處(chu)理(li)介(jie)面(mian)
BinHandler為可選(xuan)設(she)制(zhi),通(tong)過(guo)25相(xiang)D型接(jie)頭(tou)提(ti)供(gong)獨立(li)(24V)和(he)非獨(du)立(li)(5V)的信(xin)號.
印表機輸出(chu)
測(ce)試結(jie)果(guo)可通(tong)過(guo)幾種不(bu)同的途經(jing)列(lie)印出(chu),其(qi)中包(bao)括(kuo)直接(jie)列(lie)印至HP-PCL匹(pi)配(pei)的圖形印表機,EPSON相(xiang)匹(pi)配(pei)的文字印(yin)表機或直接(jie)通(tong)過(guo)儀(yi)器的網口經(jing)局域(yu)網(wang)列(lie)印.
待(dai)測元(yuan)件連(lian)接
可(ke)通(tong)過(guo)面(mian)板(ban)的BNC接頭(tou)來(lai)實現倆(liang)端(duan),三端(duan)或四(si)埠(bu)的連(lian)接以(yi)及可能(neng)的接地(di)狀況.備(bei)有許(xu)多(duo)的可選(xuan)附件(jian)以(yi)供(gong)不(bu)同的測試(shi)需(xu)要.
充(chong)電(dian)電容(rong)保護(hu)
高(gao)精(jing)密(mi)的測試(shi)儀(yi)器可能在使用(yong)過(guo)程(cheng)中被(bei)已充電(dian)的電容(rong)裝(zhuang)置(zhi)所(suo)損壞(huai),造(zao)成昂(ang)貴(gui)的維修及不(bu)必要(yao)的停產.6500系(xi)列(lie)有內置(zhi)的保護(hu)來(lai)避免(mian)這種情況發生(sheng).
綜合,精(jing)確(que)的高(gao)頻測(ce)試
“綜(zong)合,精(jing)確(que)的高(gao)頻測(ce)試”使(shi)該系(xi)列(lie)產品是高(gao)要求(qiu)測試(shi)的*.
WPC&NFC測試(shi)方(fang)案(an)——WK6500B精(jing)密(mi)阻(zu)抗(kang)分析(xi)儀(yi)
NFC模(mo)塊測(ce)試(shi)條(tiao)件(jian)
測試(shi)頻(pin)率(lv):13.56MHz
測(ce)試參數(shu):L、QorRs
磁(ci)導率(lv):μ'&μ'at13.56MHz
飽(bao)和(he)DC偏置(zhi)電(dian)流(liu):1A~10A
WPC模(mo)塊測(ce)試(shi)條(tiao)件(jian)
測試(shi)頻(pin)率(lv)範(fan)圍:100KHz~500KHz
測(ce)試參(can)數(shu)：L~10uH、Q>onecertainfigure、Rs≥30mΩ
自(zi)諧振(zhen)頻率(lv)範(fan)圍：2MHz~15MHz
飽(bao)和(he)DC偏置(zhi)電(dian)流(liu)：1A~10A
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