基(ji)礎(chu)信息(xi)Product information

產品(pin)名稱(cheng)：PRECISE S200替(ti)代吉時利(li)KEITHLEY2400源表(biao)

產品(pin)型(xing)號(hao)：

更新時間(jian)：2025-06-11

產品(pin)簡介(jie)：

堅(jian)融實業(ye)——壹(yi)家(jia)致力於為祖國用(yong)戶提(ti)供(gong)國產PRECISE S200替(ti)代吉時利(li)KEITHLEY2400源表(biao)儀器(qi)設(she)備、測(ce)試方(fang)案(an)、技(ji)術(shu)培(pei)訓(xun)、維(wei)修(xiu)計(ji)量(liang)全面服(fu)務的(de)儀器(qi)設(she)備綜(zong)合(he)服(fu)務商(shang)。

產品(pin)特(te)性Product characteristics

專(zhuan)業(ye)儀器(qi)設(she)備與測(ce)試方(fang)案(an)供(gong)應商(shang)——上(shang)海堅(jian)融實業(ye)有(you)限(xian)公司JETYOO INDUSTRIAL & 堅(jian)友（上(shang)海）測(ce)量(liang)儀器(qi)有(you)限(xian)公司JETYOO INSTRUMENTS，為原(yuan)安(an)捷倫Agilent【現是(shi)德KEYSIGHT】品(pin)牌技(ji)術(shu)經理(li)-堅(jian)JET與(yu)吉時利KEITHLEY【現泰(tai)克Tektronix】品(pin)牌產品(pin)經理(li)-融YOO共(gong)同(tong)創(chuang)辦(ban)，專(zhuan)註工(gong)業(ye)測(ce)試領(ling)域(yu)十六年，誌在(zai)破舊(jiu)立新！*進口(kou)儀(yi)器(qi)設(she)備大多(duo)數廠家(jia)僅(jin)在(zai)國內設(she)銷售點(dian)，但技(ji)術(shu)支(zhi)持(chi)薄弱(ruo)甚至(zhi)沒有(you)，而代理(li)經銷商(shang)也(ye)只做商(shang)務(wu)，不做售前技(ji)術(shu)支(zhi)持(chi)/測(ce)試方(fang)案(an)和(he)售後(hou)使(shi)用(yong)培訓(xun)/維(wei)修(xiu)校(xiao)準的空白。我們(men)的技(ji)術(shu)型(xing)銷售均(jun)為本科以(yi)上(shang)學(xue)歷，且(qie)均(jun)有(you)10年以上(shang)測(ce)試行(xing)業(ye)經驗，與(yu)客戶互惠(hui)互(hu)利合(he)作(zuo)雙贏，重在(zai)協(xie)助用(yong)戶采購與(yu)技(ji)術(shu)工(gong)程(cheng)師(shi)的工作，提(ti)供(gong)較有(you)競(jing)爭(zheng)力的(de)供(gong)應(ying)鏈管理(li)與(yu)售(shou)前(qian)售後技(ji)術(shu)支(zhi)持(chi)。堅(jian)融實業(ye)——壹(yi)家(jia)致力於為祖國用(yong)戶提(ti)供(gong)儀(yi)器(qi)設(she)備、測(ce)試方(fang)案(an)、技(ji)術(shu)培(pei)訓(xun)、維(wei)修(xiu)計(ji)量(liang)全面服(fu)務的(de)儀器(qi)設(she)備綜(zong)合(he)服(fu)務商(shang)。

國產PRECISE S200替(ti)代吉時利(li)KEITHLEY2400源表(biao)應用(yong)領域(yu)

各種(zhong)器(qi)件(jian)的I-V功(gong)能測(ce)試和(he)特(te)征分析，包(bao)括：

離散(san)和(he)無(wu)源(yuan)元件(jian)

–兩抽(chou)頭器(qi)件(jian)——傳感(gan)器(qi)、磁(ci)盤(pan)驅動器(qi)頭(tou)、金(jin)屬(shu)氧化物可變電(dian)阻（MOV）、二(er)極管、齊納(na)二(er)極管、電(dian)容、熱(re)敏電(dian)阻

–三(san)抽(chou)頭器(qi)件(jian)——小信號(hao)雙極(ji)結(jie)型(xing)晶體管（BJT）、場效(xiao)應(ying)晶體管（FET）等等

簡單IC器(qi)件(jian)——光學(xue)器(qi)件(jian)、驅動器(qi)、開(kai)關(guan)、傳感(gan)器(qi)

集(ji)成(cheng)器(qi)件(jian)——小規(gui)模(mo)集(ji)成(cheng)（SSI）和(he)大規模集(ji)成(cheng)（LSI）

–模擬(ni)IC

–射頻(pin)集(ji)成(cheng)電(dian)路（RFIC）

–專(zhuan)用(yong)集(ji)成(cheng)電(dian)路（ASIC）

–片上(shang)系統(tong)（SoC）器(qi)件(jian)

光電(dian)器(qi)件(jian)，例如發光(guang)二(er)極管（LED）、激光二(er)極管、高亮(liang)度LED（HBLED）、垂(chui)直(zhi)腔(qiang)面發(fa)射激光器(qi)（VCSEL）、顯(xian)示器(qi)

圓片(pian)級(ji)可靠(kao)性

- NBTI、TDDB、HCI、電(dian)遷移

太陽(yang)能電(dian)池

電(dian)池

暫態(tai)抑制器(qi)件(jian)

IC、RFIC、MMIC

激光二(er)極管、激光二(er)極管模塊(kuai)、LED、光(guang)電(dian)檢(jian)測(ce)器(qi)

電(dian)路保(bao)護器(qi)件(jian):

TVS、MOV、熔絲(si)

安全(quan)氣囊

連接器(qi)、開(kai)關(guan)、繼(ji)電(dian)器(qi)

碳納(na)米管

半導(dao)體納(na)米線(xian)

碳納(na)米管 FET

納(na)米傳感(gan)器(qi)和(he)陣列

單電(dian)子晶(jing)體管

分子電(dian)子

有(you)機(ji)電(dian)子

基(ji)本運放電(dian)路

二(er)極管和(he)電(dian)路

晶體管電(dian)路

測(ce)試：

漏流(liu)

低壓(ya)、電(dian)阻

LIV

IDDQ

I-V特(te)征分析

隔(ge)離與軌(gui)跡電(dian)阻

溫度(du)系(xi)數

正向(xiang)電(dian)壓(ya)、反向(xiang)擊(ji)穿(chuan)、漏(lou)電(dian)流(liu)

直流(liu)參數測(ce)試

直流(liu)電(dian)源

HIPOT

介(jie)質耐(nai)受性

雙極(ji)結(jie)型(xing)晶體管設(she)計(ji)

結型(xing)場效應(ying)晶(jing)體管設(she)計(ji)

金屬(shu)氧化物半(ban)導(dao)體場效(xiao)應(ying)晶體管設(she)計(ji)

太陽(yang)能電(dian)池和(he) LED 設(she)計(ji)

高電(dian)子遷(qian)移率晶(jing)體管設(she)計(ji)

復(fu)合(he)半(ban)導(dao)體器(qi)件(jian)設(she)計(ji)

分析納(na)米材料(liao)和(he)實驗器(qi)件(jian)

碳納(na)米管的電(dian)測(ce)量(liang)標準

測(ce)量(liang)碳納(na)米管電(dian)氣特(te)性

提(ti)高(gao)納(na)米電(dian)子和(he)分子電(dian)子器(qi)件(jian)的低電(dian)流(liu)測(ce)量(liang)

在(zai)低功(gong)率和(he)低壓(ya)應用(yong)中實現準(zhun)確、可靠(kao)的電(dian)阻測(ce)量(liang)

納(na)米級(ji)器(qi)件(jian)和(he)材料(liao)的電(dian)氣測(ce)量(liang)

提(ti)高(gao)超(chao)高(gao)電(dian)阻和(he)電(dian)阻率測(ce)量(liang)的可重復(fu)性

壹(yi)種(zhong)微分電(dian)導(dao)的改進測(ce)量(liang)方法

納(na)米技(ji)術(shu)準(zhun)確(que)電(dian)氣測(ce)量(liang)的技(ji)術(shu)

納(na)米級(ji)材料(liao)的電(dian)氣測(ce)量(liang)

降低外(wai)部(bu)誤差(cha)源影(ying)響(xiang)的儀(yi)器(qi)技(ji)術(shu)

迎接65nm節(jie)點(dian)的(de)測(ce)量(liang)挑(tiao)戰

測(ce)量(liang)半導(dao)體材料(liao)的(de)高電(dian)阻率和(he)霍爾(er)電(dian)壓(ya)

用(yong)微微(wei)微安(an)量(liang)程(cheng)測(ce)量(liang)電(dian)流(liu)

柵極(ji)電(dian)介(jie)質電(dian)容電(dian)壓(ya)特(te)性分析

評估(gu)氧化層(ceng)的可靠(kao)性

半導(dao)體器(qi)件(jian)結構設(she)計(ji)和(he)試驗低電(dian)阻、低功(gong)耗半導(dao)體器(qi)

輸出(chu)極(ji)低電(dian)流(liu)和(he)測(ce)量(liang)極低電(dian)壓(ya)分析現代(dai)材料(liao)、半導(dao)體和(he)納(na)米電(dian)子元件(jian)的電(dian)阻

低阻測(ce)量(liang)(低至(zhi)10nΩ)分析導(dao)通(tong)電(dian)阻參數、互連(lian)和(he)低功(gong)率半(ban)導(dao)體。

用(yong)於CMOS技(ji)術(shu)的(de)脈(mai)沖可靠(kao)性測(ce)試

高K柵(zha)極(ji)電(dian)介(jie)質電(dian)荷俘(fu)獲(huo)行(xing)為的(de)脈(mai)沖特(te)性分析

用(yong)6線(xian)歐姆(mu)測(ce)量(liang)技(ji)術(shu)進(jin)行(xing)更(geng)高準確(que)度的(de)電(dian)阻測(ce)量(liang)

配(pei)置(zhi)分立電(dian)阻器(qi)驗證測(ce)試系(xi)統(tong)

電(dian)信激光二(er)極管模塊(kuai)的(de)高(gao)吞吐率直(zhi)流(liu)生產測(ce)試

多(duo)臺數字源表(biao)的觸(chu)發(fa)器(qi)同(tong)步

高亮(liang)度、可見(jian)光(guang)LED的(de)生產測(ce)試

OLED顯示器(qi)的(de)直(zhi)流(liu)生產測(ce)試

在(zai)運行(xing)中第5次測(ce)量(liang)用(yong)於偏置(zhi)溫度(du)不穩定(ding)特(te)性分析

數字源表(biao)的緩(huan)沖器(qi)以(yi)及(ji)如(ru)何(he)用(yong)這兩(liang)個緩(huan)沖器(qi)獲(huo)取(qu)多(duo)達(da)5000點數據

連接器(qi)的(de)生產測(ce)試方(fang)案(an)

射頻(pin)功(gong)率晶(jing)體管的直(zhi)流(liu)電(dian)氣特(te)性分析

VCSEL測(ce)試、光(guang)伏(fu)電(dian)池的(de)I-V特(te)性、IDDQ測(ce)試和(he)待機(ji)電(dian)流(liu)測(ce)試、產生電(dian)流(liu) (或電(dian)壓(ya)) 脈(mai)沖、提(ti)升(sheng)多(duo)引(yin)腳器(qi)件(jian)的生產量(liang)、創(chuang)建可擴縮、多(duo)引(yin)腳、多(duo)功(gong)能IC測(ce)試系(xi)統(tong)、激光二(er)極管模塊(kuai)和(he)VCSEL進行(xing)高吞吐率直(zhi)流(liu)、二(er)極管生產測(ce)試、高(gao)亮(liang)度、可見(jian)光(guang)LED、驗證變阻器(qi)、電(dian)池放電(dian)/充電(dian)周期(qi)、配(pei)置(zhi)電(dian)阻網絡(luo)、大電(dian)流(liu)變阻器(qi)、熱(re)敏電(dian)阻的生產測(ce)試

規格(ge)參(can)數

電(dian)壓(ya) 源 測(ce)量(liang)

量(liang)程(cheng) 分辨(bian)率 準(zhun)確(que)度(du)±(% rdg.+volts) 分辨(bian)率 準(zhun)確(que)度(du)±(% rdg.+volts)

300mV 30uV 0.1%±300uV 30uV 0.1%±300uV

3V 300uV 0.1%±500uV 300uV 0.1%±500uV

30V 3mV 0.1%±3mV 3mV 0.1%±3mV

300V 30mV 0.1%±30mV 30mV 0.1%±30mV

電(dian)流(liu) 源 測(ce)量(liang)

量(liang)程(cheng) 分辨(bian)率 準(zhun)確(que)度(du)±(% rdg.+A) 分辨(bian)率 準(zhun)確(que)度(du)±(% rdg.+A)

100nA 10pA 0.1%±0.5nA 10pA 0.1%±0.5nA

1uA 100pA 0.1%±3nA 100pA 0.1%±3nA

10uA 1nA 0.1%±5nA 1nA 0.1%±5nA

100uA 10nA 0.1%±50nA 10nA 0.1%±50nA

1mA 100nA 0.1%±300nA 100nA 0.1%±300nA

10mA 1uA 0.1%±5uA 1uA 0.1%±5uA

100mA 10uA 0.1%±20uA 10uA 0.1%±20uA

1A 100uA 0.1%±2mA 100uA 0.1%±2mA

備註：

大輸出功率：30W，4象限(xian)源(yuan)或肼(jing)模式(shi)；

源限(xian)度(du)：電(dian)壓(ya)源：±30V（≤1A量(liang)程(cheng)），±300V（≤100mA量(liang)程(cheng)）；

電(dian)流(liu)源：±1.05A（≤30V量(liang)程(cheng)），±105mA（≤300V量(liang)程(cheng)）；

過量(liang)程(cheng)：105%量(liang)程(cheng)，源(yuan)和(he)測(ce)量(liang)；

穩定(ding)負載(zai)電(dian)容：<22nF；

寬帶(dai)噪(zao)聲(sheng)(20MHz)：2mV RMS（典型(xing)值），<20mV Vp-p（典型(xing)值）；

線(xian)纜(lan)保(bao)護電(dian)壓(ya)：輸出(chu)阻抗(kang)1KΩ，輸(shu)出電(dian)壓(ya)偏移<80uV；

大采樣(yang)速(su)率：1000S/s；

觸(chu)發(fa)：支(zhi)持(chi)IO觸(chu)發(fa)輸(shu)入(ru)及(ji)輸出，觸(chu)發(fa)極(ji)性可配(pei)置(zhi) 。

選型(xing)指南

型(xing)號(hao) S100 S200 S300

源精(jing)度(du) 0.1% 0.1% 0.1%

測(ce)量(liang)精度 0.1% 0.1% 0.1%

大功率 30W 30W 30W

小電(dian)壓(ya)量(liang)程(cheng) 300mV 300mV 300mV

大電(dian)壓(ya)量(liang)程(cheng) 30V 100V 300V

小電(dian)流(liu)量(liang)程(cheng) 100nA 100nA 100nA

大電(dian)流(liu)量(liang)程(cheng) 1A 1A 1A

把(ba)簡單帶(dai)給用(yong)戶

源表(biao) = 高精(jing)度雙極(ji)性可編(bian)程(cheng)電(dian)源 + 高(gao)精(jing)度(du)雙極(ji)性可編(bian)程(cheng)電(dian)子負載(zai) + 數字萬用(yong)表(biao)，可以(yi)簡化復(fu)雜的 IV 測(ce)量(liang)任務，用(yong)於創(chuang)建快速、功能強(qiang)大的電(dian)子器(qi)件(jian)測(ce)試和(he)測(ce)量(liang)系統。

傳統(tong)的(de)萬(wan)用(yong)表(biao)-電(dian)源組(zu)合(he)方(fang)式(shi)需(xu)要(yao)編程(cheng)實現設(she)備控制(zhi)及同(tong)步，這種(zhong)組合(he)的(de)開發建立和(he)維護(hu)都需(xu)要(yao)時間(jian)，而且(qie)購買整體成(cheng)本高。源(yuan)表(biao)不需(xu)要(yao)這種(zhong)多(duo)臺儀(yi)器(qi)相(xiang)關復(fu)雜同(tong)步連接問題，簡化了測(ce)試本身(shen)，提(ti)升(sheng)了(le)測(ce)試效(xiao)率。而(er)且(qie)源及測(ce)量(liang)的準確(que)度為0.1%，分辨(bian)率5數位(wei)，測(ce)量(liang)結果比傳統(tong)方(fang)式(shi)更(geng)精確。

源表(biao)同(tong)時精確提(ti)供(gong)和(he)測(ce)量(liang)電(dian)壓(ya)和(he)/或電(dian)流(liu)，減少(shao)了(le)測(ce)試時(shi)間(jian)。如果(guo)被測(ce)設(she)備實際電(dian)壓(ya)值或(huo)者電(dian)流(liu)值達(da)到了(le)用(yong)戶設(she)置(zhi)的限(xian)制(zhi)值，那(na)麽(me)電(dian)壓(ya)或者(zhe)電(dian)流(liu)會被精(jing)確(que)的(de)限(xian)制(zhi)住(zhu)，避免(mian)了(le)對(dui)被測(ce)設(she)備造成(cheng)損壞(huai)。

S系列源(yuan)表(biao)讓復(fu)雜測(ce)量(liang)變得簡單

在(zai)進行(xing) IV 測(ce)量(liang)時，如果(guo)使(shi)用(yong)常(chang)規儀器(qi)比如電(dian)壓(ya)/電(dian)流(liu)源、開關(guan)和(he)萬用(yong)表(biao)，那麽(me)測(ce)量(liang)過程(cheng)將(jiang)會非常(chang)復(fu)雜和(he)耗時。用(yong)戶必(bi)須(xu)精通(tong)測(ce)量(liang)方法和(he)儀器(qi)方(fang)面的(de)技(ji)術(shu)知識(shi)，才能實現精(jing)準的(de)測(ce)量(liang)。

S系列源(yuan)表(biao)支持(chi)四(si)象限(xian)工(gong)作，既(ji)能擔(dan)當精(jing)密性電(dian)壓(ya)/電(dian)流(liu)源（源模(mo)式(shi)），又(you)能充(chong)當電(dian)氣負載(zai)被動吸(xi)收流(liu)入的電(dian)流(liu)（肼(jing)模式(shi)），而(er)且(qie)支持(chi)豐富的(de)掃描(miao)模(mo)式(shi)（線(xian)性掃描(miao)、指(zhi)數掃描(miao)及(ji)用(yong)戶自定(ding)義(yi)掃描(miao)），能夠(gou)執行從直流(liu)到低頻(pin)交流(liu)的各種(zhong)測(ce)量(liang)，而無(wu)需(xu)更改連接或使(shi)用(yong)其(qi)他(ta)設(she)備。

S系列源(yuan)表(biao)讓復(fu)雜測(ce)量(liang)變得高(gao)效(xiao)

源表(biao)的輸(shu)出電(dian)壓(ya)（±300V）、電(dian)流(liu)範(fan)圍(wei)遠大於常(chang)規電(dian)源，測(ce)試不同(tong)功率大小的(de)待(dai)測(ce)器(qi)件(jian)（DUT）基(ji)本不用(yong)更換(huan)設(she)備，其(qi)次(ci)源(yuan)表(biao)在(zai)小電(dian)流(liu)測(ce)試時(shi)也(ye)具有(you)很高的精度，暗電(dian)流(liu)測(ce)試準(zhun)確(que)，而高(gao)精度的電(dian)流(liu)測(ce)試萬(wan)用(yong)表(biao)價格(ge)也是(shi)比較高的，再(zai)次(ci)多(duo)臺源(yuan)表(biao)間可以(yi)互(hu)聯(lian)觸(chu)發(fa)，支(zhi)持(chi)自動序列測(ce)試，測(ce)試速(su)度(du)快。

S系列源(yuan)表(biao)內置(zhi)有(you)掃描(miao)功(gong)能，支(zhi)持(chi)豐富的(de)掃描(miao)模(mo)式(shi)，用(yong)戶從儀器(qi)前(qian)面板上(shang)便可快速進行掃描(miao)測(ce)量(liang)並顯示掃描(miao)結(jie)果(guo)。綜(zong)合(he)的(de)掃描(miao)測(ce)量(liang)功能可以(yi)顯(xian)著提(ti)高(gao)效(xiao)率並縮短測(ce)量(liang)設(she)置(zhi)時間(jian)。

S系列源(yuan)表(biao)還內置(zhi)強大的功能軟(ruan)件(jian)，如LIV、PIV，加(jia)速用(yong)戶完(wan)成(cheng)測(ce)試。

4 線(xian)測(ce)量(liang)功能可實現精(jing)確的(de)低電(dian)阻測(ce)量(liang)

當測(ce)量(liang)小電(dian)阻時，引(yin)線(xian)自(zi)身(shen)的(de)電(dian)阻會造(zao)成(cheng)嚴(yan)重的測(ce)量(liang)誤差(cha)。為解決(jue)這壹(yi)問題，S系(xi)列支(zhi)持(chi) 4 線(xian)（也(ye)稱為開(kai)爾(er)文(wen)法）測(ce)量(liang)功能。在(zai) 4 線(xian)方(fang)案(an)中，兩(liang)個連接器(qi)輸(shu)入(ru)電(dian)流(liu)，另(ling)外兩(liang)個連接器(qi)測(ce)量(liang)電(dian)壓(ya)。在(zai)這種(zhong)配(pei)置(zhi)下(xia)，迫使(shi)測(ce)試電(dian)流(liu)（I）經過壹(yi)套測(ce)試引(yin)線(xian)流(liu)過被測(ce)電(dian)阻（R）；而待(dai)測(ce)器(qi)件(jian)（DUT）兩端(duan)電(dian)壓(ya)則(ze)是(shi)通(tong)過稱(cheng)為檢(jian)測(ce)引(yin)線(xian)的(de)第二(er)套引(yin)線(xian)來(lai)測(ce)量(liang)的。電(dian)壓(ya)檢(jian)測(ce)端(duan)為高(gao)阻輸入(ru)，檢(jian)測(ce)引(yin)線(xian)中電(dian)流(liu)壹(yi)般(ban)為p*，同(tong)時由於導(dao)線(xian)電(dian)阻很小，引(yin)線(xian)上(shang)的壓(ya)降可以(yi)忽(hu)略(lve)不計，因此(ci)采用(yong)四(si)線(xian)模(mo)式(shi)可以(yi)精(jing)確(que)的測(ce)量(liang)被測(ce)器(qi)件(jian)上(shang)的實際電(dian)壓(ya)。

創(chuang)新(xin)的(de) GUI 和(he) 5寸觸(chu)摸顯示屏方(fang)便用(yong)戶使(shi)用(yong)臺式(shi)儀(yi)器(qi)執(zhi)行(xing)測(ce)試、調(tiao)試和(he)表(biao)征

S系列的(de)前(qian)面板具(ju)有(you)多(duo)種(zhong)功能特(te)性，可以(yi)快速簡便地(di)進行(xing)交互式(shi)操作。這些特(te)性包(bao)括5寸800*480觸(chu)摸顯示屏、USB存(cun)儲器(qi)I/O 端(duan)口(kou)、快捷鍵和(he)旋(xuan)鈕(niu)。觸(chu)摸屏支(zhi)持(chi)全圖(tu)形(xing)化操作，使(shi)用(yong)戶可以(yi)快速進行測(ce)試設(she)置(zhi)和(he)檢(jian)查測(ce)試結(jie)果(guo)。USB存(cun)儲器(qi)端(duan)口(kou)使(shi)數據存(cun)儲和(he)轉移變得十分方便。創(chuang)新(xin)的(de)圖(tu)形(xing)用(yong)戶界面極(ji)大改善(shan)了使(shi)用(yong)臺式(shi)儀(yi)器(qi)進(jin)行(xing)測(ce)試、調(tiao)試和(he)表(biao)征的易(yi)用(yong)性和(he)效率。

國產PRECISE S200替(ti)代吉時利(li)KEITHLEY2400源表(biao)使(shi)用(yong)操作說明(ming)書(shu)指南(nan)手(shou)冊(ce)

壹(yi)、S系列源(yuan)表(biao)按鍵操作說明(ming)

POWER:電(dian)源開(kai)關(guan)按鍵；

USB接口(kou)：版(ban)本升級(ji)及數據導(dao)出接口(kou)；

BACK:頁面返(fan)回鍵(jian)；

OUTPUT:信號(hao)輸出開/關(guan)，當OUTPUT為綠(lv)色是表(biao)示正在(zai)輸出(chu)，否則(ze)停(ting)止輸出(chu)；

2/4線(xian)輸(shu)入輸出口(kou)：2線(xian)時(shi)輸入輸出(chu)口(kou)為（FORCE HI、FORCE LO）,四(si)線(xian)時(shi)輸入輸出(chu)口(kou)為（FORCE HI、SENSEHI、SENSELO、FORCE LO）；註意(yi)：四(si)線(xian)模(mo)式(shi)時(shi)需(xu)確保(bao)對應的連(lian)接線(xian)已接好，否則(ze)會(hui)有(you)安全風險；

旋(xuan)轉(zhuan)按鈕：量(liang)程(cheng)、數值設(she)定(ding)；

二(er)、主界面功(gong)能介(jie)紹(shao)

如圖(tu)1.2所示，源表(biao)按下(xia)電(dian)源開(kai)關(guan)後(hou)顯示為當前(qian)主界面。源(yuan)表(biao)主界面為可觸(chu)屏操作，點擊(ji)對應功(gong)能模(mo)塊(kuai)進(jin)入(ru)操作頁面，各(ge)模塊(kuai)功(gong)能簡介(jie)如(ru)下(xia)：

測(ce)量(liang)：設(she)置(zhi)源表(biao)模式(shi)為源(yuan)模(mo)式(shi)（電(dian)壓(ya)源、電(dian)流(liu)源）或測(ce)量(liang)模式(shi)（測(ce)量(liang)電(dian)壓(ya)、電(dian)流(liu)）；

設(she)置(zhi)：包(bao)括網絡(luo)IP和(he)系統(tong)升級(ji)以及(ji)輸出模式(shi)等各項設(she)置(zhi)；

版(ban)本信息(xi)：顯(xian)示當前(qian)Qt、模擬(ni)板、前(qian)面板版(ban)本信息(xi)；

掃描(miao)：測(ce)量(liang)待測(ce)器(qi)件(jian)的V/I變化曲線(xian)；

快速模式(shi)：選(xuan)擇了電(dian)壓(ya)源或(huo)電(dian)流(liu)源模式(shi)後(hou)的源量(liang)程(cheng)值和(he)*程(cheng)值默(mo)認範(fan)圍(wei)更適合(he)；

校準(zhun)：對(dui)機(ji)器(qi)精(jing)度(du)進(jin)行(xing)校準（暫未對用(yong)戶開放）；

註意(yi)：

1.插拔線(xian)時(shi)務必(bi)確保(bao)機(ji)器(qi)處(chu)於輸出關(guan)閉態(tai).高(gao)於36V輸出時(shi),即使(shi)設(she)備處於輸出關(guan)閉態(tai),也(ye)請(qing)不要(yao)用(yong)手(shou)觸(chu)摸輸出(chu)接口(kou).

2.設(she)置(zhi)四(si)線(xian)測(ce)試前(qian),請(qing)先將(jiang)四(si)線(xian)電(dian)纜連(lian)接好並插入機(ji)器(qi)相(xiang)對應(ying)的(de)測(ce)試孔,然(ran)後在(zai)觸(chu)摸面板選(xuan)擇(ze)四(si)線(xian),再(zai)啟(qi)動輸(shu)出(chu).

3.四(si)線(xian)測(ce)試使(shi)用(yong)完(wan)畢(bi)後(hou)請先將(jiang)四(si)線(xian)測(ce)試設(she)置(zhi)為二(er)線(xian)測(ce)試,然(ran)後關(guan)閉輸出(chu),再(zai)拔出測(ce)試線(xian).

三(san)、源(yuan)表(biao)掃描(miao)設(she)置(zhi)

掃描(miao)設(she)置(zhi)界面

該(gai)界面主(zhu)要(yao)分為3個區(qu)域，具(ju)體區(qu)域說(shuo)明(ming)如(ru)下(xia)：

區(qu)域1：選(xuan)擇(ze)源(yuan)類(lei)型(xing)、切換(huan)2/4線(xian)、前(qian)後面板和(he)是否保(bao)存(cun)結果；

區(qu)域2：設(she)置(zhi)開始(shi)值和(he)結束(shu)值，可以(yi)選(xuan)擇(ze)掃描(miao)點(dian)或(huo)者(zhe)步(bu)進值來(lai)設(she)定(ding)掃描(miao)點(dian)數和(he)步進(jin)值大小以(yi)及(ji)限(xian)值大小。

區(qu)域3：開(kai)始(shi)掃描(miao)和(he)查看結果(guo)；

掃描(miao)狀(zhuang)態(tai)界面

開始(shi)值、結(jie)束(shu)值、掃描(miao)點(dian)數、限(xian)值和(he)延時(shi)大小都(dou)通(tong)過點(dian)擊選項框後(hou)出(chu)現的(de)軟(ruan)鍵盤(pan)設(she)置(zhi)對應(ying)大小，如(ru)圖(tu)所示：

操作步驟(zhou)

第1步：源(yuan)類(lei)型(xing)選擇、2線(xian)/4線(xian)、前(qian)後面板切(qie)換(huan)、是否保(bao)存(cun)結果分別單擊(ji)對應選項框和(he)下(xia)拉框(kuang)內容(rong)，切(qie)換(huan)後界面如(ru)圖(tu)所示：

第2步：開(kai)始值、結(jie)束(shu)值、掃描(miao)點(dian)數、限(xian)值和(he)延時(shi)大小都(dou)通(tong)過點(dian)擊選項框後(hou)出(chu)現的(de)軟(ruan)鍵盤(pan)設(she)置(zhi)對應(ying)大小，如(ru)圖(tu)所示：

第3步：掃描(miao)點(dian)類(lei)型(xing)以及各(ge)值的(de)單位(wei)設(she)置(zhi)，如圖(tu)所示點擊(ji)對應下(xia)拉框(kuang)：

第4步：等待完(wan)成(cheng)後(hou)生成(cheng)對(dui)應的曲線(xian)圖(tu)，這(zhe)裏(li)以掃描(miao)二(er)極管曲線(xian)為例，如圖(tu)所示：