基礎信(xin)息(xi)Product information

產品(pin)名(ming)稱(cheng)：同惠(hui)TONGHUI TH2883-5脈(mai)沖(chong)式(shi)線(xian)圈測(ce)試儀(yi)

產品(pin)型(xing)號：

更(geng)新時(shi)間(jian)：2025-06-11

產品(pin)簡介：

堅(jian)融(rong)實(shi)業——壹家致(zhi)力於為祖(zu)國(guo)用戶提(ti)供同惠(hui)TONGHUI TH2883-5脈(mai)沖(chong)式(shi)線(xian)圈測(ce)試儀(yi)儀(yi)器設(she)備(bei)、測(ce)試方(fang)案(an)、技術(shu)培(pei)訓、維(wei)修計量全面(mian)服(fu)務

產品(pin)特(te)性(xing)Product characteristics

專業儀(yi)器設(she)備(bei)與測試方(fang)案(an)供應(ying)商(shang)——上海堅(jian)融(rong)實(shi)業有(you)限(xian)公司JETYOO INDUSTRIAL & 堅友（上(shang)海）測(ce)量儀(yi)器有(you)限公司JETYOO INSTRUMENTS，為原(yuan)安捷倫Agilent【現(xian)是(shi)德(de)KEYSIGHT】品(pin)牌(pai)技(ji)術經(jing)理-堅JET與吉時利(li)KEITHLEY【現泰(tai)克Tektronix】品(pin)牌(pai)產品(pin)經(jing)理-融(rong)YOO於2011年(nian)共同創辦，專註(zhu)工業測(ce)試(shi)領(ling)域十六年，誌在破(po)舊(jiu)立(li)新！*進(jin)口(kou)儀(yi)器設(she)備(bei)大(da)多(duo)數廠家僅在國(guo)內設(she)銷售(shou)點，但(dan)技(ji)術(shu)支持(chi)薄弱甚至沒(mei)有(you)，而(er)代理經(jing)銷商(shang)也(ye)只(zhi)做商務(wu)，不(bu)做售(shou)前(qian)技術(shu)支持(chi)/測試方(fang)案(an)和(he)售(shou)後使(shi)用培(pei)訓/維(wei)修校(xiao)準(zhun)的(de)空(kong)白(bai)。我(wo)們的(de)技術型銷售(shou)均(jun)為(wei)本(ben)科(ke)以上(shang)學歷(li)，且(qie)均(jun)有(you)10年(nian)以上(shang)測(ce)試行業經(jing)驗，以我(wo)們*進(jin)*的(de)經(jing)營理念，與客戶互惠(hui)互(hu)利(li)合作雙(shuang)贏，重(zhong)在協助(zhu)用戶采購(gou)與技術工程師(shi)的(de)工作，提(ti)供較(jiao)有(you)競爭力(li)的(de)供應鏈(lian)管(guan)理與售(shou)前(qian)售(shou)後技(ji)術(shu)支持(chi)。堅融(rong)實(shi)業——壹家致(zhi)力於為祖(zu)國(guo)用戶提(ti)供儀(yi)器設(she)備(bei)、測(ce)試方(fang)案(an)、技術(shu)培(pei)訓、維(wei)修計量全面(mian)服(fu)務的(de)儀(yi)器設(she)備(bei)綜(zong)合服務(wu)商。

同惠(hui)TONGHUI TH2883-5脈(mai)沖(chong)式(shi)線(xian)圈測(ce)試儀(yi)應用

電(dian)機線(xian)圈匝(za)間絕(jue)緣(yuan)/層間短(duan)路測試

變壓(ya)器線(xian)圈匝(za)間絕(jue)緣(yuan)/層間短(duan)路測試

繞線(xian)電(dian)感(gan)線(xian)圈匝(za)間絕(jue)緣(yuan)/層間短(duan)路測試

脈(mai)沖(chong)電(dian)壓(ya)輸出(chu)：100V-5kV 10V步進(jin) 單(dan)通(tong)道 

電(dian)感(gan)測(ce)試(shi)範(fan)圍(wei)：≥10uH

測試速度：6次(ci)/秒

200Msps的(de)波形采樣(yang)率(lv)

四種波(bo)形比較(jiao)判(pan)定(ding)方(fang)法

高保真(zhen)電(dian)暈提(ti)取(qu)算(suan)法(fa)（專(zhuan)li技(ji)術(shu)）

65k色(se)7"TFT 寬(kuan)屏(ping)顯(xian)示

電(dian)壓(ya)、時間(jian)及(ji)頻率(lv)的(de)測量及(ji)儀(yi)器參(can)數自動保(bao)存

多樣本(ben)平均(jun)，可(ke)進(jin)行32個標(biao)準(zhun)波形的(de)平均(jun)處理

破(po)壞(huai)性(xing)測試(shi)為您選擇(ze)合適(shi)測試(shi)電(dian)壓(ya)

消磁脈(mai)沖(chong)的(de)施(shi)加(jia)，保(bao)證測試波(bo)形(xing)壹致(zhi)

20組(zu)儀(yi)器文件可(ke)供(gong)存(cun)儲並自動加(jia)載

屏幕信(xin)息(xi)快存於(yu)U盤(pan) (COPY鍵)

可通(tong)過U盤(pan)自動升(sheng)級系統(tong)固件(jian)

中英(ying)文可選(xuan)操(cao)作(zuo)界面(mian)及(ji)四種可選(xuan)的(de)顯示界面(mian)效果

Handler、RS232C、USB 和(he)LAN接(jie)口

簡介

TH2883系列(lie)產品(pin)是(shi)同惠(hui)研(yan)發(fa)的(de)脈(mai)沖(chong)式(shi)線(xian)圈測(ce)試儀(yi)產品(pin)線(xian)。可完整(zheng)提(ti)供低壓(ya)30V到(dao)高(gao)壓(ya)10kV，單通(tong)道到(dao)多(duo)通(tong)道（最(zui)大(da)8通(tong)道）系列(lie)線(xian)圈測(ce)試儀(yi)解(jie)決(jue)方(fang)案(an)。

該產品(pin)線(xian)采用當前(qian)主流(liu)32bit CPU和(he)高(gao)密(mi)度 SMD貼(tie)裝(zhuang)工藝，65k色(se)的(de)7寸寬(kuan)屏(ping)TFT顯(xian)示器(qi)。操(cao)作(zuo)功能(neng)簡潔(jie)易(yi)用，顯示界面(mian)清(qing)新亮麗。低30V，高(gao)10kV涵蓋寬(kuan)範(fan)圍(wei)脈(mai)沖(chong)電(dian)壓(ya)，低至1uH電(dian)感(gan)量的(de)線(xian)圈測(ce)試，高(gao)達200Msps的(de)采樣率，6k Bytes的(de)存儲深(shen)度，讓(rang)您(nin)的(de)測試“無微(wei)不至"。

TH2883系列(lie)根(gen)據(ju)輸(shu)出(chu)電(dian)壓(ya)不同分為(wei)TH2883-1、TH2883-5、TH2883-10三(san)種(zhong)單通(tong)道輸出(chu)的(de)型號。TH2883-1是(shi)低電(dian)感(gan)脈(mai)沖(chong)式(shi)線(xian)圈測(ce)試儀(yi)，具(ju)有(you)低30V、高(gao)1200V的(de)脈(mai)沖(chong)電(dian)壓(ya)，可測(ce)試(shi)低至1uH電(dian)感(gan)量的(de)線(xian)圈，是(shi)開關(guan)電(dian)源等所(suo)用電(dian)感(gan)線(xian)圈的(de)理想(xiang)測(ce)試(shi)產品(pin)。TH2883-5具(ju)有(you)100V-5000V的(de)寬(kuan)範(fan)圍(wei)脈(mai)沖(chong)電(dian)壓(ya)，是測(ce)試(shi)各(ge)種(zhong)線(xian)圈的(de)標配產品(pin)。TH2883-10具(ju)有(you)最(zui)高10kV的(de)脈(mai)沖(chong)輸出(chu)電(dian)壓(ya)，可測(ce)試(shi)更(geng)高絕(jue)緣(yuan)耐壓(ya)的(de)匝間測試(shi)。若(ruo)配(pei)備(bei)TH28831匝(za)間絕(jue)緣(yuan)多路掃描(miao)儀(yi)可將上(shang)述三款單(dan)通(tong)道測試儀(yi)擴展為10通(tong)道。

TH2883系列(lie)還提(ti)供了4通(tong)道與8通(tong)道兩(liang)款多(duo)路測試的(de)壹體機，他們所(suo)對(dui)應的(de)型號分別為TH2883S4-5和(he)TH2883S8-5供(gong)用戶靈(ling)活選擇(ze)。

TH2883系列(lie)產品(pin)標(biao)配(pei)USBHost、RS232C、USB Device和(he)LAN接(jie)口，既方(fang)便(bian)您圖(tu)形(xing)的(de)快速保存，又方(fang)便(bian)您進(jin)行遠(yuan)程控制。

功能(neng)特(te)點

A. 線(xian)圈性(xing)能分析(xi)

線(xian)圈類(lei)產品(pin)（如(ru)變(bian)壓(ya)器、電(dian)機等）由於(yu)繞線(xian)材料、磁性(xing)材料、骨架(jia)、加(jia)工工藝等因(yin)素的(de)影響會(hui)產生線(xian)圈層(ceng)間、匝(za)間及(ji)引(yin)腳間等絕(jue)緣(yuan)性(xing)能的(de)降(jiang)低。TH2883系列(lie)脈(mai)沖(chong)式(shi)線(xian)圈測(ce)試儀(yi)通(tong)過比較(jiao)被(bei)測線(xian)圈的(de)衰減(jian)振(zhen)蕩(dang)波型(xing)與標準波形(xing)來(lai)判(pan)定(ding)該繞組(zu)的(de)電(dian)感(gan)、品(pin)質因(yin)素（Q值(zhi)）、繞組(zu)的(de)圈數(shu)差(cha)、匝(za)間層間短(duan)路，在有導(dao)磁材(cai)料的(de)情(qing)況(kuang)下還能(neng)判(pan)斷(duan)其材質的(de)差(cha)別，高壓(ya)脈(mai)沖(chong)下電(dian)暈放電(dian)的(de)發(fa)生還可以對(dui)繞組(zu)層(ceng)間(jian)或(huo)多(duo)個繞組(zu)間(jian)絕(jue)緣(yuan)不良進(jin)行判(pan)定(ding)。

圖A-1中的(de)自激振(zhen)蕩(dang)衰減(jian)波(bo)形(xing)直(zhi)接(jie)和(he)線(xian)圈的(de)電(dian)感(gan)值(zhi) L 及(ji)品(pin)質因(yin)素 Q 值(zhi)有著(zhe)密(mi)切的(de)關系，而(er) L 值及(ji) Q 值又(you)和(he)線(xian)圈的(de)圈數(shu)、制造工藝、是否(fou)空(kong)心(xin)線(xian)圈並且(qie)還與導(dao)磁材(cai)料特(te)性(xing)又有(you)著(zhe)不可(ke)分割的(de)關系。由於(yu)施(shi)加(jia)電(dian)壓(ya)是高(gao)壓(ya)脈(mai)沖(chong)電(dian)壓(ya)，因(yin)此(ci)，線(xian)圈短(duan)路、匝間局部短(duan)路或由於(yu)絕(jue)緣(yuan)損傷引起(qi)的(de)層間或匝(za)間(jian)電(dian)暈放電(dian)現象自然很(hen)容(rong)易(yi)被發(fa)現。

B. 四種波(bo)形判(pan)斷(duan)方(fang)法

a) 面(mian)積比較(jiao)方(fang)法

如圖 B-1 所(suo)示，在任(ren)意(yi)的(de) A～B 區(qu)間(jian)內(nei)對(dui)被測線(xian)圈測(ce)試波(bo)形面(mian)積進(jin)行(積分)計算(suan)，並與標準波形(xing)在此(ci)區(qu)間(jian)內(nei)的(de)面(mian)積進(jin)行比較(jiao)，用這兩(liang)個(ge)波形(xing)面(mian)積的(de)差(cha)異值與標準波形(xing)在此(ci)區(qu)間(jian)的(de)面(mian)積的(de)百分比作(zuo)為(wei)判(pan)定(ding)依(yi)據(ju)，判(pan)定(ding)基(ji)準用百分比來(lai)設(she)定(ding)。

波形面(mian)積近(jin)似(si)的(de)與能量損(sun)失(shi)成(cheng)正比，所(suo)以可(ke)以使(shi)用面(mian)積比較(jiao)方(fang)法來(lai)判(pan)斷(duan)線(xian)圈中(zhong)的(de)能量損(sun)耗，有效的(de)檢測(ce)線(xian)圈層(ceng)間和(he)匝(za)間短(duan)路。

b) 面(mian)積差(cha)比較(jiao)方(fang)法

如圖 B-2 所(suo)示，在任(ren)意(yi) A～B 區(qu)間(jian)內(nei)對(dui)被測線(xian)圈測(ce)試波(bo)形和(he)標(biao)準波形的(de) Y 軸(zhou)方(fang)向的(de)差(cha)異值進(jin)行計算(suan)(積分計算(suan)的(de)結(jie)果為(wei) A～B 區(qu)間(jian)內(nei)的(de)陰影部分)和(he)標(biao)準波形在此(ci)區(qu)間(jian)的(de)面(mian)積比較(jiao)，基(ji)準用百分比來(lai)設(she)定(ding)。

面(mian)積差(cha)比較(jiao)方(fang)法主(zhu)要表現了電(dian)感(gan)量 L 的(de)差(cha)異和(he)能(neng)量的(de)損耗，這個(ge)比較(jiao)方(fang)法可(ke)以有(you)效的(de)檢測(ce)標(biao)準(zhun)線(xian)圈和(he)被(bei)測線(xian)圈的(de)電(dian)感(gan)量 L 的(de)差(cha)異。

c) 電(dian)暈比較(jiao)方(fang)法

如圖 B-3 所(suo)示，與波形的(de)差(cha)異無關，在任(ren)意(yi)的(de) A～B 區(qu)間(jian)內(nei)，僅在被測(ce)線(xian)圈測(ce)試波(bo)形包(bao)含(han)的(de)電(dian)暈放電(dian)尖(jian)峰中(zhong)檢出(chu)高(gao)頻成(cheng)分進(jin)行無損(sun)提(ti)取(qu)，並將計算(suan)結(jie)果與設定(ding)值(zhi)進(jin)行比較(jiao)， 判(pan)定(ding)電(dian)暈放電(dian)量是(shi)否(fou)合格，設(she)定(ding)值(zhi)是壹個整數(shu)。

此(ci)方(fang)法對(dui)線(xian)圈內(nei)部絕(jue)緣(yuan)性(xing)能反(fan)應明顯。對(dui)於線(xian)圈絕(jue)緣(yuan)性(xing)能要(yao)求高的(de)場合需(xu)要使(shi)用電(dian)暈比較(jiao)方(fang)法，因(yin)為絕(jue)緣(yuan)性(xing)能的(de)好(hao)壞(huai)直接(jie)影響(xiang)線(xian)圈產品(pin)的(de)使用壽命到(dao)長(chang)短(duan)。

d) 相位(wei)差(cha)比較(jiao)方(fang)法

如圖 B-4 所(suo)示，用戶可以壹個需(xu)要作(zuo)比較(jiao)的(de)過零點，儀(yi)器判(pan)斷(duan)被測(ce)線(xian)圈測(ce)試波(bo)形和(he)標(biao)準波形在這個(ge)過零點的(de)偏移量，然(ran)後和(he)標(biao)準波形的(de)振蕩(dang)周期作(zuo)比較(jiao)，並用這兩(liang)個(ge)量的(de)百分比作(zuo)為(wei)判(pan)斷(duan)依據(ju)，基(ji)準(zhun)用百分比來(lai)設(she)定(ding)。如(ru)圖中，A～B 間是(shi)偏(pian)移(yi)量，C～D 間(jian)是標(biao)準(zhun)波形(xing)振(zhen)蕩(dang)周期，設(she)定(ding)的(de)是比較(jiao)波(bo)形的(de)第3個過零點。

此(ci)方(fang)法主(zhu)要用來反映(ying)電(dian)感(gan)量差(cha)異。線(xian)圈不(bu)良可(ke)以用相位(wei)差(cha)來(lai)判(pan)別。

面(mian)積比較(jiao)主(zhu)要是(shi)根(gen)據(ju)能(neng)量損(sun)失(shi)，能(neng)夠很(hen)有(you)效地(di)進(jin)行層間(jian)短(duan)路和(he)圈對(dui)圈的(de)檢測(ce)，而(er)電(dian)暈則是(shi)以發(fa)現線(xian)圈內(nei)部絕(jue)緣(yuan)缺(que)陷(xian)為目(mu)的(de)的(de)檢測(ce)方(fang)法。另(ling)外(wai)需(xu)要考(kao)慮電(dian)感(gan)值(zhi)問(wen)題(ti)的(de)話(hua)，可(ke)以增(zeng)加(jia)面(mian)積差(cha)來(lai)比較(jiao)判(pan)定(ding)。

磁芯(xin)材(cai)料差(cha)異可以用面(mian)積、面(mian)積差(cha)和(he)電(dian)暈方(fang)法來(lai)判(pan)別。對(dui)馬(ma)達、螺(luo)線(xian)管、繼電(dian)器等大(da)部分線(xian)圈，采(cai)用面(mian)積比較(jiao)和(he)電(dian)暈測試(shi)方(fang)法。

C. 破(po)壞(huai)測試(shi)功能(neng)

通(tong)過對(dui)線(xian)圈施(shi)加(jia)上(shang)升步進(jin)電(dian)壓(ya)，結(jie)合電(dian)暈放電(dian)的(de)情(qing)況(kuang)來(lai)判(pan)斷(duan)被測(ce)件(jian)的(de)極限耐壓(ya)值。

D. 多通(tong)道測試

TH2883系列(lie)提(ti)供4通(tong)道與8通(tong)道兩(liang)款多(duo)路測試的(de)壹體機，他們所(suo)對(dui)應的(de)型號分別為TH2883S4-5和(he)TH2883S8-5。此(ci)外(wai)還提(ti)供壹款將單(dan)通(tong)道測試儀(yi)擴展為10通(tong)道的(de)掃描(miao)擴(kuo)展器供用戶靈(ling)活選擇(ze)。多(duo)路測試儀(yi)的(de)應用可以提(ti)高對(dui)三相四(si)線(xian)或三項(xiang)三(san)線(xian)繞組(zu)的(de)測試效率，壹次(ci)測試(shi)多個繞組(zu)，解(jie)決(jue)多(duo)次(ci)切換(huan)繞組(zu)的(de)煩惱。

同惠(hui)TONGHUI TH2883-5脈(mai)沖(chong)式(shi)線(xian)圈測(ce)試儀(yi)

標配

配件名(ming)稱(cheng)型號

高壓(ya)測試(shi)線(xian)TH2883-01

腳踏(ta)啟(qi)動開(kai)關TH2881-001

選配

配件名(ming)稱(cheng)型號

測試夾具(ju)TH26052

測試夾具(ju)TH26053