基(ji)礎(chu)信息(xi)Product information

產(chan)品名稱(cheng)：同惠TONGHUI TH2883S4-5脈沖式(shi)線圈(quan)測試儀(yi)

產品型號(hao)：

更(geng)新時(shi)間：2025-06-11

產(chan)品簡介(jie)：

堅融實業(ye)——壹(yi)家致力(li)於為祖(zu)國用戶(hu)提供同惠TONGHUI TH2883S4-5脈沖式(shi)線圈(quan)測試儀(yi)儀器設備、測試方(fang)案、技(ji)術培(pei)訓(xun)、維(wei)修(xiu)計(ji)量(liang)全面(mian)服務

產品特性(xing)Product characteristics

專業(ye)儀(yi)器設備與測試方(fang)案供(gong)應商(shang)——上(shang)海堅融實業(ye)有限公(gong)司(si)JETYOO INDUSTRIAL & 堅友(you)（上(shang)海）測量(liang)儀器有限公(gong)司(si)JETYOO INSTRUMENTS，為原(yuan)安捷(jie)倫(lun)Agilent【現是德(de)KEYSIGHT】品牌技術經(jing)理-堅JET與吉(ji)時(shi)利KEITHLEY【現泰克(ke)Tektronix】品牌產品經理(li)-融YOO於2011年(nian)共(gong)同創辦(ban)，專註工業(ye)測試領(ling)域十(shi)六(liu)年，誌(zhi)在破舊立(li)新！*進口儀器設備大多(duo)數廠家僅(jin)在國內設銷售(shou)點，但(dan)技術支(zhi)持薄弱(ruo)甚至(zhi)沒有，而(er)代(dai)理經(jing)銷商也只(zhi)做(zuo)商務，不(bu)做(zuo)售(shou)前技(ji)術支(zhi)持/測試方(fang)案和(he)售(shou)後使(shi)用培(pei)訓(xun)/維(wei)修(xiu)校準(zhun)的空白(bai)。我們的技術型(xing)銷售(shou)均(jun)為本科以上(shang)學(xue)歷，且均(jun)有10年以(yi)上(shang)測試行(xing)業經驗，以我們*進*的經營(ying)理(li)念，與客(ke)戶互(hu)惠(hui)互(hu)利合(he)作(zuo)雙贏，重(zhong)在協(xie)助(zhu)用戶(hu)采購與技術工(gong)程(cheng)師(shi)的工作(zuo)，提供較(jiao)有競爭(zheng)力(li)的供應鏈(lian)管理(li)與售(shou)前售(shou)後技(ji)術支(zhi)持。堅融實業(ye)——壹(yi)家致力(li)於為祖(zu)國用戶(hu)提供同惠TONGHUI TH2883S4-5脈沖式(shi)線圈(quan)測試儀(yi)儀器設備、測試方(fang)案、技(ji)術培(pei)訓(xun)、維(wei)修(xiu)計(ji)量(liang)全面(mian)服務的儀器設備綜(zong)合(he)服(fu)務商。

同惠TONGHUI TH2883S4-5脈沖式(shi)線圈(quan)測試儀(yi)應用

電機線圈(quan)匝(za)間絕(jue)緣(yuan)/層(ceng)間短(duan)路測試

變(bian)壓(ya)器線圈(quan)匝(za)間絕(jue)緣(yuan)/層(ceng)間短(duan)路測試

繞線電感線圈(quan)匝(za)間絕(jue)緣(yuan)/層(ceng)間短(duan)路測試

脈沖電壓(ya)輸(shu)出：100V-5kV 10V步進 單(dan)通道

電感測試範(fan)圍(wei)：≥10uH

測試速(su)度(du)：6次/秒

200Msps的波(bo)形(xing)采樣(yang)率

四(si)種波(bo)形(xing)比(bi)較(jiao)判定(ding)方(fang)法

高(gao)保真電暈(yun)提取算(suan)法（專li技(ji)術）

65k色7"TFT 寬屏(ping)顯(xian)示

電壓(ya)、時(shi)間及(ji)頻(pin)率(lv)的測量(liang)及(ji)儀(yi)器參(can)數自動(dong)保存

多(duo)樣(yang)本平(ping)均(jun)，可(ke)進行32個(ge)標準(zhun)波(bo)形(xing)的平(ping)均(jun)處理(li)

破(po)壞(huai)性(xing)測試為您選(xuan)擇(ze)合(he)適(shi)測試電壓(ya)

消(xiao)磁脈沖的施(shi)加，保證測試波(bo)形(xing)壹(yi)致(zhi)

20組(zu)儀器文件可(ke)供存(cun)儲並(bing)自動(dong)加載(zai)

屏(ping)幕信息(xi)快(kuai)存於(yu)U盤 (COPY鍵)

可(ke)通過U盤自動(dong)升級系統(tong)固(gu)件

中英(ying)文可(ke)選操(cao)作界面(mian)及(ji)四(si)種(zhong)可(ke)選的顯(xian)示界(jie)面(mian)效果

Handler、RS232C、USB 和(he)LAN接(jie)口

功(gong)能特(te)點(dian)

A. 線圈(quan)性能(neng)分析

線圈(quan)類(lei)產品（如變(bian)壓(ya)器、電機等(deng)）由(you)於(yu)繞線材(cai)料(liao)、磁性材(cai)料(liao)、骨架(jia)、加工(gong)工藝等(deng)因素(su)的影(ying)響會產(chan)生線圈(quan)層(ceng)間、匝(za)間及(ji)引(yin)腳間等(deng)絕(jue)緣(yuan)性(xing)能(neng)的降低。TH2883系列(lie)脈沖式(shi)線圈(quan)測試儀(yi)通過比(bi)較(jiao)被(bei)測線圈(quan)的衰減(jian)振(zhen)蕩(dang)波(bo)型與標準(zhun)波(bo)形(xing)來(lai)判定(ding)該(gai)繞組的電感、品質因(yin)素(su)（Q值(zhi)）、繞組的圈(quan)數差、匝(za)間層(ceng)間短(duan)路，在有導(dao)磁材(cai)料(liao)的情況(kuang)下(xia)還(hai)能(neng)判斷其材(cai)質(zhi)的差別(bie)，高(gao)壓(ya)脈沖下(xia)電暈(yun)放電的發(fa)生還(hai)可(ke)以對(dui)繞組層(ceng)間或多(duo)個繞組間絕(jue)緣(yuan)不(bu)良進行判定(ding)。

圖(tu)A-1中的自激振(zhen)蕩(dang)衰(shuai)減(jian)波(bo)形(xing)直(zhi)接(jie)和線圈(quan)的電感值(zhi) L 及(ji)品質因(yin)素(su) Q 值(zhi)有著密切(qie)的關系(xi)，而(er) L 值(zhi)及(ji) Q 值(zhi)又和(he)線圈(quan)的圈(quan)數、制(zhi)造工(gong)藝(yi)、是(shi)否空心(xin)線圈(quan)並(bing)且還(hai)與導(dao)磁材(cai)料(liao)特(te)性(xing)又有著不(bu)可(ke)分割(ge)的關系(xi)。由(you)於(yu)施(shi)加電壓(ya)是(shi)高(gao)壓(ya)脈沖電壓(ya)，因(yin)此(ci)，線圈(quan)短路、匝(za)間局(ju)部(bu)短路或由(you)於(yu)絕(jue)緣(yuan)損(sun)傷(shang)引(yin)起的層(ceng)間或匝(za)間電暈(yun)放電現象自然(ran)很容易被(bei)發(fa)現。

B. 四(si)種波(bo)形(xing)判斷方(fang)法

a) 面(mian)積(ji)比(bi)較(jiao)方(fang)法

如圖(tu) B-1 所示(shi)，在任(ren)意(yi)的 A～B 區間內對(dui)被(bei)測線圈(quan)測試波(bo)形(xing)面(mian)積(ji)進行(積(ji)分)計(ji)算(suan)，並(bing)與標準(zhun)波(bo)形(xing)在此區間內的面(mian)積(ji)進行比(bi)較(jiao)，用這(zhe)兩(liang)個(ge)波(bo)形(xing)面(mian)積(ji)的差異(yi)值(zhi)與標準(zhun)波(bo)形(xing)在此區間的面(mian)積(ji)的百分比(bi)作(zuo)為判定(ding)依(yi)據(ju)，判定(ding)基(ji)準(zhun)用百(bai)分比(bi)來(lai)設定(ding)。

波(bo)形(xing)面(mian)積(ji)近似的與能量(liang)損失成正比(bi)，所(suo)以(yi)可(ke)以使(shi)用面(mian)積(ji)比(bi)較(jiao)方(fang)法來判斷線圈(quan)中的能量(liang)損耗(hao)，有效的檢測線圈(quan)層(ceng)間和(he)匝(za)間短(duan)路。

b) 面(mian)積(ji)差(cha)比(bi)較(jiao)方(fang)法

如圖(tu) B-2 所示(shi)，在任(ren)意(yi) A～B 區間內對(dui)被(bei)測線圈(quan)測試波(bo)形(xing)和(he)標準(zhun)波(bo)形(xing)的 Y 軸(zhou)方(fang)向的差異(yi)值(zhi)進行計(ji)算(suan)(積(ji)分計(ji)算(suan)的結果為 A～B 區間內的陰(yin)影(ying)部(bu)分)和(he)標準(zhun)波(bo)形(xing)在此區間的面(mian)積(ji)比(bi)較(jiao)，基(ji)準(zhun)用百(bai)分比(bi)來(lai)設定(ding)。

面(mian)積(ji)差(cha)比(bi)較(jiao)方(fang)法主(zhu)要(yao)表現了電感量(liang) L 的差異(yi)和(he)能量(liang)的損耗(hao)，這個(ge)比(bi)較(jiao)方(fang)法可(ke)以有效的檢測標準(zhun)線圈(quan)和被(bei)測線圈(quan)的電感量(liang) L 的差異(yi)。

c) 電暈(yun)比(bi)較(jiao)方(fang)法

如圖(tu) B-3 所示(shi)，與波(bo)形(xing)的差異(yi)無關，在任(ren)意(yi)的 A～B 區間內，僅(jin)在被測線圈(quan)測試波(bo)形(xing)包(bao)含的電暈(yun)放電尖峰中檢出高(gao)頻(pin)成分進行無損(sun)提取，並(bing)將(jiang)計(ji)算(suan)結(jie)果與設定(ding)值(zhi)進行比(bi)較(jiao)， 判定(ding)電暈(yun)放電量(liang)是否(fou)合(he)格(ge)，設定(ding)值(zhi)是壹個整(zheng)數。

此(ci)方(fang)法對(dui)線圈(quan)內部(bu)絕緣(yuan)性(xing)能(neng)反(fan)應明顯(xian)。對(dui)於(yu)線圈(quan)絕緣(yuan)性(xing)能(neng)要(yao)求高(gao)的場合(he)需(xu)要使(shi)用電暈(yun)比(bi)較(jiao)方(fang)法，因為絕緣(yuan)性(xing)能(neng)的好壞(huai)直(zhi)接(jie)影(ying)響線圈(quan)產品的使(shi)用壽命到長(chang)短。

d) 相(xiang)位差比(bi)較(jiao)方(fang)法

如圖(tu) B-4 所示(shi)，用戶(hu)可(ke)以壹(yi)個(ge)需(xu)要作(zuo)比(bi)較(jiao)的過零點，儀器判斷被(bei)測線圈(quan)測試波(bo)形(xing)和(he)標準(zhun)波(bo)形(xing)在這個(ge)過零點的偏(pian)移量(liang)，然(ran)後和標準(zhun)波(bo)形(xing)的振(zhen)蕩(dang)周期(qi)作(zuo)比(bi)較(jiao)，並(bing)用這(zhe)兩(liang)個(ge)量(liang)的百分比(bi)作(zuo)為判斷依(yi)據(ju)，基(ji)準(zhun)用百(bai)分比(bi)來(lai)設定(ding)。如圖(tu)中，A～B 間是(shi)偏(pian)移量(liang)，C～D 間是(shi)標準(zhun)波(bo)形(xing)振(zhen)蕩(dang)周期(qi)，設定(ding)的是比(bi)較(jiao)波(bo)形(xing)的第3個(ge)過零點。

此(ci)方(fang)法主(zhu)要(yao)用來(lai)反(fan)映電感量(liang)差異(yi)。線圈(quan)不(bu)良可(ke)以用相(xiang)位差來判別。

面(mian)積(ji)比(bi)較(jiao)主(zhu)要(yao)是(shi)根(gen)據(ju)能量(liang)損失，能夠(gou)很有效地進行層(ceng)間短(duan)路和(he)圈(quan)對(dui)圈(quan)的檢測，而(er)電暈(yun)則(ze)是以(yi)發(fa)現線圈(quan)內部(bu)絕緣(yuan)缺陷為目的的檢測方(fang)法。另外需(xu)要考慮電感值(zhi)問(wen)題(ti)的話(hua)，可(ke)以增(zeng)加面(mian)積(ji)差(cha)來比(bi)較(jiao)判定(ding)。

磁芯材(cai)料(liao)差(cha)異(yi)可(ke)以用面(mian)積(ji)、面(mian)積(ji)差(cha)和電暈(yun)方(fang)法來判別。對(dui)馬(ma)達(da)、螺(luo)線管、繼電器等(deng)大部(bu)分線圈(quan)，采用面(mian)積(ji)比(bi)較(jiao)和(he)電暈(yun)測試方(fang)法。

C. 破(po)壞(huai)測試功(gong)能

通過對(dui)線圈(quan)施(shi)加上(shang)升步進電壓(ya)，結(jie)合(he)電暈(yun)放電的情況(kuang)來(lai)判斷被(bei)測件(jian)的極限(xian)耐(nai)壓(ya)值(zhi)。

D. 多(duo)通道測試

TH2883系(xi)列(lie)提供4通道與8通道兩(liang)款(kuan)多(duo)路測試的壹體(ti)機，他(ta)們(men)所(suo)對(dui)應的型號(hao)分別(bie)為TH2883S4-5和TH2883S8-5。此(ci)外還(hai)提供壹(yi)款(kuan)將(jiang)單(dan)通道測試儀(yi)擴展為10通道的掃(sao)描(miao)擴展器供(gong)用戶(hu)靈(ling)活選(xuan)擇(ze)。多(duo)路測試儀(yi)的應用可(ke)以提高(gao)對(dui)三相(xiang)四線或三項(xiang)三線繞組的測試效率，壹次測試多(duo)個繞組，解決多(duo)次切(qie)換繞組的煩惱。

同惠TONGHUI TH2883系(xi)列(lie)脈沖式(shi)線圈(quan)測試儀(yi)

標配

配件(jian)名稱(cheng)型(xing)號(hao)

高(gao)壓(ya)測試線TH2883-01

腳(jiao)踏啟(qi)動(dong)開(kai)關TH2881-001

選(xuan)配

配件(jian)名稱(cheng)型(xing)號(hao)

測試夾(jia)具(ju)TH26052

測試夾(jia)具(ju)TH26053