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        1. 產(chan)品(pin)中(zhong)心(xin)您(nin)當(dang)前的位置:首頁(ye) > 產(chan)品(pin)中(zhong)心(xin) > > 體(ti)積電阻(zu)率(lv)/表(biao)面(mian)電(dian)阻(zu)測(ce)試(shi) > 上海(hai)江蘇浙江四探(tan)針方阻儀(yi)、電(dian)阻率(lv)測(ce)試(shi)儀(yi)

          基礎信息Product information

          產(chan)品(pin)名(ming)稱(cheng):上海(hai)江蘇浙江四探(tan)針方阻儀(yi)、電(dian)阻率(lv)測(ce)試(shi)儀(yi)

          產(chan)品(pin)型號:

          更(geng)新(xin)時間(jian):2025-06-11

          產(chan)品(pin)簡(jian)介:

          堅(jian)融(rong)實(shi)業(ye)——壹家致力於為(wei)祖國(guo)用(yong)戶提(ti)供(gong)上海(hai)江蘇浙江四探(tan)針方阻儀(yi)、電(dian)阻率(lv)測(ce)試(shi)儀(yi)儀器設(she)備、測(ce)試(shi)方案、技術培訓(xun)、維(wei)修計量全(quan)面(mian)服(fu)務(wu)的(de)儀(yi)器設(she)備綜(zong)合服(fu)務(wu)商(shang)。

          產(chan)品(pin)特(te)性(xing)Product characteristics

          專(zhuan)業(ye)儀器設(she)備與(yu)測(ce)試(shi)方案供(gong)應商(shang)——上海(hai)堅(jian)融(rong)實(shi)業(ye)有限公司(si)JETYOO INDUSTRIAL & 堅(jian)友(上海(hai))測(ce)量(liang)儀(yi)器有限公司(si)JETYOO INSTRUMENTS,為(wei)原(yuan)安(an)捷倫Agilent【現是德(de)KEYSIGHT】品(pin)牌技術經理(li)-堅(jian)JET與(yu)吉(ji)時(shi)利(li)KEITHLEY【現泰(tai)克Tektronix】品(pin)牌產(chan)品(pin)經(jing)理(li)-融(rong)YOO於2011年共同創辦(ban),專(zhuan)註(zhu)工(gong)業(ye)測(ce)試(shi)領(ling)域十六(liu)年,誌(zhi)在破(po)舊(jiu)立新(xin)!*進(jin)口儀(yi)器設(she)備大(da)多數廠家僅在國內(nei)設(she)銷(xiao)售點,但(dan)技術支持(chi)薄弱甚至沒有,而代(dai)理(li)經銷(xiao)商也只(zhi)做商(shang)務(wu),不(bu)做售(shou)前技術支持(chi)/測(ce)試(shi)方案和(he)售(shou)後使用培訓(xun)/維(wei)修校(xiao)準的(de)空(kong)白。我(wo)們(men)的(de)技術型銷(xiao)售均為(wei)本(ben)科以上學歷,且均(jun)有10年以上測(ce)試(shi)行業經(jing)驗,以我(wo)們(men)*進*的(de)經營(ying)理(li)念,與(yu)客戶(hu)互惠(hui)互利(li)合作(zuo)雙(shuang)贏,重(zhong)在協助(zhu)用(yong)戶(hu)采(cai)購與(yu)技術工(gong)程(cheng)師(shi)的工(gong)作(zuo),提(ti)供(gong)較有競(jing)爭力(li)的供(gong)應鏈(lian)管(guan)理(li)與(yu)售(shou)前售後技術支持(chi)。堅(jian)融(rong)實(shi)業(ye)——壹家致力於為(wei)祖國(guo)用(yong)戶提(ti)供(gong)儀器設(she)備、測(ce)試(shi)方案、技術培訓(xun)、維(wei)修計量全(quan)面(mian)服(fu)務(wu)的(de)儀(yi)器設(she)備綜(zong)合服(fu)務(wu)商(shang)。


          上海(hai)江蘇浙江四探(tan)針方阻儀(yi)、電(dian)阻(zu)率(lv)測(ce)試(shi)儀(yi)、電(dian)導(dao)率(lv)測(ce)試(shi)儀(yi)JR3545

          上海(hai)蘇州南京(jing)方阻儀(yi).png

          壹、應(ying)用(yong)領(ling)域

          覆蓋(gai)膜(mo)、導(dao)電高(gao)分子(zi)膜(mo)、高(gao)低溫(wen)電(dian)熱膜(mo);隔(ge)熱、導(dao)電窗膜(mo)、導(dao)電(屏蔽)布(bu)、裝飾膜(mo)、裝飾紙、金(jin)屬(shu)化(hua)標(biao)簽(qian)、合金(jin)類箔膜(mo);

          熔(rong)煉、燒結(jie)、濺(jian)射、塗(tu)覆、塗(tu)布(bu)層、電(dian)阻(zu)式(shi)、電(dian)容式觸屏薄膜(mo)、電(dian)極塗(tu)料(liao);其他半(ban)導(dao)體材(cai)料(liao)、薄膜(mo)材(cai)料(liao)、矽晶(jing)塊(kuai)、晶(jing)片(pian)電(dian)阻(zu)率(lv)及擴散層、外(wai)延層、ITO導(dao)電箔膜(mo)、導(dao)電橡膠等(deng)材(cai)料(liao)方塊(kuai)電阻(zu)

          半(ban)導(dao)體材(cai)料(liao)/晶(jing)圓(yuan)、太陽(yang)能(neng)電池(chi)、電子(zi)元器件(jian)、導(dao)電薄膜(mo)(ITO導(dao)電膜(mo)玻(bo)璃(li)等)、金(jin)屬(shu)膜(mo)、導(dao)電漆(qi)膜(mo)、蒸(zheng)發鋁膜(mo)、PCB銅(tong)箔膜(mo)、EMI塗(tu)層等(deng)薄層電(dian)阻(zu)與(yu)電(dian)阻(zu)率(lv);

          導(dao)電性(xing)油(you)漆(qi)、導(dao)電性(xing)糊(hu)狀(zhuang)物(wu)、導(dao)電性(xing)塑料(liao)、導(dao)電性(xing)橡膠、導(dao)電性(xing)薄膜(mo)、金(jin)屬薄膜(mo)、EMI防護材(cai)料(liao)、導(dao)電性(xing)纖(xian)維(wei)、導(dao)電性(xing)陶(tao)瓷(ci)等方阻測(ce)試(shi)。

          638193341085762557626.jpg


          二(er)產(chan)品(pin)描(miao)述(shu)

          采(cai)用四探(tan)針組(zu)合雙(shuang)電測(ce)量(liang)方法(fa),液(ye)晶(jing)顯示,自(zi)動測(ce)量(liang),自(zi)動量程,自(zi)動系(xi)數補(bu)償(chang)。高(gao)集成(cheng)電(dian)路系(xi)統(tong)、恒(heng)流輸(shu)出;選配(pei):PC軟(ruan)件(jian)進(jin)行數據(ju)管理(li)和處(chu)理(li)

          雙(shuang)電測(ce)數(shu)字(zi)式(shi)四探(tan)針測(ce)試(shi)儀(yi)是運(yun)用直(zhi)線或方型四探(tan)針雙(shuang)位測(ce)量(liang)。儀(yi)器設(she)計參(can)考國(guo)標(biao)單(dan)晶(jing)矽(gui)物(wu)理(li)測(ce)試(shi)方法(fa)及ASTM標(biao)準。利(li)用(yong)電(dian)流探(tan)針、電壓(ya)探(tan)針的變(bian)換(huan),進(jin)行兩次(ci)電測(ce)量(liang),對(dui)數據(ju)進行雙(shuang)電測(ce)分(fen)析(xi),解(jie)決樣品(pin)幾(ji)何尺寸、邊(bian)界效(xiao)應以(yi)及探(tan)針不(bu)等距(ju)和(he)機(ji)械(xie)遊(you)移(yi)等因素對測(ce)量(liang)結(jie)果的影響。提供(gong)中(zhong)文或英(ying)文兩(liang)種語言操(cao)作界面(mian)。

          方阻儀(yi)軟(ruan)件(jian)測(ce)電(dian)阻(zu)率(lv),電(dian)導(dao)率(lv).png



          方阻儀(yi)軟(ruan)件(jian)測(ce)方阻.png



          三、參(can)數指(zhi)標(biao)

          規(gui)格(ge)型號

          上海(hai)江蘇浙江四探(tan)針方阻儀(yi)、電(dian)阻(zu)率(lv)測(ce)試(shi)儀(yi)JR3545

          1.方塊(kuai)電阻(zu)

          10^-5~2×10^5Ω/□

          2.電(dian)阻(zu)率(lv)

          10^-6~2×10^6Ω·cm

          3.測(ce)試(shi)電(dian)流

          0.1μA,1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100mA

          4.電(dian)流精度(du)

          ±0.1%

          5.電(dian)阻(zu)精度(du)

          ≤0.3%

          6.顯示讀數(shu)

          屏液(ye)晶(jing)顯示:電阻(zu)、電(dian)阻率(lv)、方阻、溫(wen)度(du)、單位換(huan)算、溫度(du)系(xi)數、電(dian)流、電壓(ya)、探(tan)針形狀(zhuang)、探(tan)針間(jian)距(ju)、厚度(du) 、電導(dao)率(lv)

          7.測(ce)試(shi)方式

          雙(shuang)電測(ce)量(liang)

          8.電(dian)源(yuan)

          輸(shu)入: AC 220V±10%.50Hz  功(gong) 耗:<30W

          9.誤(wu)差(cha)

          ≤3%(標(biao)準樣片(pian)結(jie)果)

          10.選購(gou)件(jian)

          1.PC軟(ruan)件(jian);2.方型探(tan)頭;3.直(zhi)線型探(tan)頭;4.測(ce)試(shi)平臺;5.標(biao)準電(dian)阻(zu)

          11.測(ce)試(shi)探(tan)頭

          探(tan)針間(jian)距(ju)選購(gou):1mm、2mm、3mm三種規格(ge)

          12.標(biao)準電(dian)阻(zu)

          常(chang)規有100mΩ、100Ω、1KΩ阻(zu)值(zhi)可選購(gou)


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