基(ji)礎(chu)信息Product information

產品(pin)名稱：四探針電阻率方(fang)阻(zu)測(ce)試(shi)儀

產(chan)品(pin)型(xing)號：

更(geng)新時(shi)間(jian)：2025-06-11

產(chan)品(pin)簡介(jie)：

四探針電阻率方(fang)阻(zu)測(ce)試(shi)儀應用領(ling)域(yu)：覆(fu)蓋膜、導(dao)電高(gao)分子(zi)膜、高(gao)低溫(wen)電熱膜；隔(ge)熱、導(dao)電窗膜、導(dao)電（屏蔽(bi)）布、裝飾膜、裝飾紙(zhi)、金(jin)屬(shu)化標簽(qian)、合(he)金(jin)類(lei)箔(bo)膜；熔煉、燒結(jie)、濺(jian)射、塗覆、塗布層、電阻式(shi)、電容式(shi)觸屏(ping)薄(bo)膜、電極塗料；其他(ta)半(ban)導(dao)體材(cai)料(liao)、薄膜材(cai)料(liao)、矽(gui)晶塊(kuai)、晶(jing)片(pian)電阻率及(ji)擴(kuo)散(san)層(ceng)、外延(yan)層(ceng)、ITO導(dao)電箔膜、導(dao)電橡膠等(deng)材(cai)料(liao)方塊電阻；半(ban)導(dao)體材(cai)料(liao)/晶圓、太陽(yang)能電池、電子元(yuan)器件(jian)、導(dao)電薄膜（ITO導(dao)電膜玻璃等(deng)

產(chan)品(pin)特(te)性(xing)Product characteristics

專業(ye)儀(yi)器(qi)設(she)備與測(ce)試(shi)方案(an)供(gong)應商(shang)——上海(hai)堅融(rong)實業(ye)有(you)限(xian)公司JETYOO INDUSTRIAL & 堅友(you)（上海(hai)）測(ce)量儀器有(you)限(xian)公司JETYOO INSTRUMENTS，為原安(an)捷倫(lun)Agilent【現(xian)是德(de)KEYSIGHT】品(pin)牌技術經理-堅JET與(yu)吉(ji)時(shi)利(li)KEITHLEY【現(xian)泰(tai)克Tektronix】品(pin)牌產品(pin)經理-融(rong)YOO於(yu)2011年(nian)共同(tong)創辦，專註工(gong)業(ye)測(ce)試(shi)領域(yu)十六年(nian)，誌(zhi)在(zai)破(po)舊(jiu)立(li)新！*進(jin)口(kou)儀(yi)器(qi)設(she)備大(da)多(duo)數(shu)廠(chang)家(jia)僅在(zai)國(guo)內(nei)設(she)銷售點，但技術(shu)支(zhi)持薄弱甚(shen)至(zhi)沒有(you)，而(er)代(dai)理經銷商(shang)也(ye)只(zhi)做(zuo)商(shang)務，不做(zuo)售(shou)前技術支(zhi)持(chi)/測(ce)試(shi)方案(an)和售後(hou)使(shi)用培(pei)訓/維(wei)修(xiu)校(xiao)準(zhun)的空(kong)白(bai)。我(wo)們(men)的(de)技(ji)術型(xing)銷售均為本(ben)科(ke)以(yi)上學(xue)歷(li)，且(qie)均有(you)10年(nian)以(yi)上測試(shi)行業(ye)經(jing)驗(yan)，以(yi)我(wo)們(men)*進(jin)*的(de)經(jing)營(ying)理念，與(yu)客(ke)戶(hu)互惠互利(li)合作(zuo)雙(shuang)贏，重(zhong)在(zai)協(xie)助(zhu)用(yong)戶(hu)采(cai)購(gou)與技術工(gong)程(cheng)師(shi)的工(gong)作，提(ti)供(gong)較(jiao)有(you)競(jing)爭力(li)的供(gong)應鏈管(guan)理與售(shou)前(qian)售(shou)後(hou)技(ji)術支(zhi)持。堅(jian)融(rong)實業(ye)——壹家(jia)致力(li)於(yu)為祖(zu)國(guo)用戶提(ti)供(gong)儀(yi)器(qi)設(she)備、測試(shi)方案(an)、技(ji)術(shu)培訓、維(wei)修(xiu)計(ji)量全面(mian)服務(wu)的儀器設(she)備綜合(he)服務(wu)商(shang)。

壹、四探針電阻率方(fang)阻(zu)測(ce)試(shi)儀應用領(ling)域(yu)

覆(fu)蓋膜、導(dao)電高(gao)分子(zi)膜、高(gao)低溫(wen)電熱膜；隔(ge)熱、導(dao)電窗膜、導(dao)電(屏蔽(bi))布、裝飾膜、裝飾紙(zhi)、金(jin)屬(shu)化標簽(qian)、合(he)金(jin)類(lei)箔(bo)膜；

熔(rong)煉、燒結(jie)、濺(jian)射、塗覆、塗布層、電阻式(shi)、電容式(shi)觸屏(ping)薄(bo)膜、電極塗料；其他(ta)半(ban)導(dao)體材(cai)料(liao)、薄膜材(cai)料(liao)、矽(gui)晶塊(kuai)、晶(jing)片(pian)電阻率及(ji)擴(kuo)散(san)層(ceng)、外延(yan)層(ceng)、ITO導(dao)電箔膜、導(dao)電橡膠等(deng)材(cai)料(liao)方塊電阻；

半(ban)導(dao)體材(cai)料(liao)/晶圓、太陽(yang)能電池、電子元(yuan)器件(jian)、導(dao)電薄膜（ITO導(dao)電膜玻璃等(deng)）、金(jin)屬膜、導(dao)電漆膜、蒸發鋁膜、PCB銅箔膜、EMI塗層等(deng)薄(bo)層電阻與(yu)電阻率；

導(dao)電性油(you)漆、導(dao)電性糊(hu)狀(zhuang)物(wu)、導(dao)電性塑(su)料、導(dao)電性橡(xiang)膠、導(dao)電性薄(bo)膜、金屬薄膜、EMI防護(hu)材(cai)料(liao)、導(dao)電性纖(xian)維、導(dao)電性陶(tao)瓷(ci)等(deng)方(fang)阻測試(shi)。

二(er)、產品(pin)描述

四探針電阻率方(fang)阻(zu)測(ce)試(shi)儀可方便地(di)測(ce)量塑料薄膜、金屬鍍層方(fang)塊電阻（每平方厘米電阻量值）的(de)儀(yi)器。均勻金(jin)屬(shu)薄層的(de)厚度可用單(dan)位(wei)面(mian)積所(suo)體現(xian)的電阻表(biao)征(zheng)，由(you)於(yu)方阻(zu)與鍍層厚度成(cheng)反(fan)比，也(ye)就可以(yi)由(you)方阻(zu)計算(suan)出鍍層(ceng)厚度。儀(yi)器配(pei)有(you)專用結(jie)構設(she)計的(de)四探針探頭和面(mian)測夾(jia)具，使得(de)測試(shi)時壓(ya)力(li)恒(heng)定，接觸可靠，可更(geng)詳(xiang)細地(di)分析(xi)薄(bo)膜金屬化的質(zhi)量。

三(san)、性能(neng)特(te)點(dian)

超(chao)大(da)液晶人性化操作(zuo)界(jie)面(mian)

點(dian)測(ce)和面(mian)測雙(shuang)模式(shi)兼(jian)容(rong)

測(ce)量數據自(zi)動(dong)保持(chi)功(gong)能

超(chao)快(kuai)測量並(bing)顯(xian)示讀(du)數(shu)

10檔量程，手動和自動(dong)模式(shi)

檔號(hao)顯(xian)示及(ji)檔計(ji)數功(gong)能

兼(jian)容(rong)各(ge)種(zhong)不同材(cai)料(liao)，系數(shu)任意(yi)設(she)定

豐(feng)富(fu)的通(tong)訊(xun)接口(kou)可以(yi)與PC進(jin)行(xing)數(shu)據通(tong)訊(xun)及對儀器的遠程控(kong)制(zhi)

四、技術(shu)參(can)數(shu)