基(ji)礎信(xin)息(xi)Product information

產(chan)品(pin)名(ming)稱(cheng)：上海(hai)蘇(su)州(zhou)無錫嘉興寧(ning)波(bo)方阻(zu)儀(yi)、電阻(zu)率(lv)測(ce)試儀(yi)

產(chan)品(pin)型(xing)號(hao)：

更(geng)新(xin)時(shi)間(jian)：2025-06-11

產(chan)品(pin)簡(jian)介(jie)：

堅(jian)融實(shi)業——壹家(jia)致力於為(wei)祖國用(yong)戶(hu)提(ti)供上海(hai)蘇(su)州(zhou)無錫嘉興寧(ning)波(bo)方阻(zu)儀(yi)、電阻(zu)率(lv)測(ce)試儀(yi)儀(yi)器設備、測(ce)試方案(an)、技(ji)術培訓、維修(xiu)計量全(quan)面服(fu)務的(de)儀(yi)器設備綜(zong)合(he)服(fu)務商(shang)。

產(chan)品(pin)特(te)性Product characteristics

專業(ye)儀(yi)器設備與(yu)測(ce)試方案(an)供應(ying)商——上海(hai)堅(jian)融實(shi)業有限公司(si)JETYOO INDUSTRIAL & 堅(jian)友（上海(hai)）測(ce)量儀(yi)器有限公司(si)JETYOO INSTRUMENTS，為(wei)原安捷倫Agilent【現是(shi)德(de)KEYSIGHT】品牌技(ji)術經(jing)理(li)-堅(jian)JET與(yu)吉時利(li)KEITHLEY【現(xian)泰克(ke)Tektronix】品牌產(chan)品(pin)經(jing)理(li)-融YOO於2011年(nian)共同創(chuang)辦，專(zhuan)註(zhu)工(gong)業(ye)測(ce)試領(ling)域(yu)十(shi)六年(nian)，誌在破(po)舊立新！*進口(kou)儀(yi)器設備大(da)多數廠(chang)家(jia)僅(jin)在國內(nei)設(she)銷售(shou)點，但技(ji)術支(zhi)持(chi)薄(bo)弱(ruo)甚(shen)至沒(mei)有，而代(dai)理(li)經銷商也只(zhi)做商務，不(bu)做售(shou)前技(ji)術支(zhi)持(chi)/測(ce)試方案(an)和售(shou)後使(shi)用(yong)培訓/維修(xiu)校準(zhun)的(de)空白。我們的技(ji)術型(xing)銷售(shou)均(jun)為(wei)本科(ke)以上學歷(li)，且(qie)均(jun)有10年(nian)以上測(ce)試行(xing)業經(jing)驗，以我們*進*的經營(ying)理念(nian)，與(yu)客(ke)戶(hu)互(hu)惠互(hu)利(li)合(he)作(zuo)雙贏(ying)，重在協(xie)助用(yong)戶(hu)采(cai)購(gou)與(yu)技(ji)術工(gong)程(cheng)師(shi)的(de)工作(zuo)，提供較有競爭(zheng)力的(de)供應(ying)鏈管理與(yu)售(shou)前售(shou)後技(ji)術支(zhi)持(chi)。堅(jian)融實(shi)業——壹家(jia)致力於為(wei)祖國用(yong)戶(hu)提(ti)供儀器設備、測(ce)試方案(an)、技(ji)術培訓、維修(xiu)計量全(quan)面服(fu)務的(de)儀(yi)器設備綜(zong)合(he)服(fu)務商(shang)。

上海(hai)蘇(su)州(zhou)無錫嘉興寧(ning)波(bo)方阻(zu)儀(yi)、電阻(zu)率(lv)測(ce)試儀(yi)、電導(dao)率(lv)測(ce)試儀(yi)

應(ying)用(yong)領域(yu)

覆蓋膜(mo)、導(dao)電高分子膜(mo)、高低(di)溫(wen)電熱膜(mo);隔熱(re)、導(dao)電窗(chuang)膜(mo)、導(dao)電(屏蔽(bi))布(bu)、裝飾(shi)膜(mo)、裝飾(shi)紙、金(jin)屬(shu)化標簽、合金(jin)類(lei)箔膜(mo)；

熔(rong)煉(lian)、燒(shao)結(jie)、濺(jian)射、塗(tu)覆、塗(tu)布(bu)層、電阻(zu)式、電容式觸(chu)屏薄膜(mo)、電極塗(tu)料；其(qi)他半(ban)導(dao)體(ti)材(cai)料、薄(bo)膜(mo)材料、矽晶(jing)塊、晶(jing)片(pian)電阻(zu)率(lv)及(ji)擴散層、外延(yan)層、ITO導(dao)電箔膜(mo)、導(dao)電橡(xiang)膠(jiao)等材(cai)料方塊(kuai)電阻(zu)；

半導(dao)體(ti)材(cai)料/晶(jing)圓、太陽能電池(chi)、電子元器件、導(dao)電薄膜(mo)（ITO導(dao)電膜(mo)玻璃(li)等）、金(jin)屬(shu)膜(mo)、導(dao)電漆膜(mo)、蒸(zheng)發鋁(lv)膜(mo)、PCB銅箔膜(mo)、EMI塗(tu)層等薄(bo)層(ceng)電阻(zu)與(yu)電阻(zu)率(lv)；

導(dao)電性油漆、導(dao)電性糊(hu)狀(zhuang)物(wu)、導(dao)電性塑料、導(dao)電性橡(xiang)膠(jiao)、導(dao)電性薄膜(mo)、金(jin)屬(shu)薄膜(mo)、EMI防(fang)護(hu)材(cai)料、導(dao)電性纖(xian)維(wei)、導(dao)電性陶瓷等方阻(zu)測(ce)試。

概述：

本儀器本儀器采用(yong)四探(tan)針(zhen)雙電測(ce)量方法(fa)，適(shi)用(yong)於生產(chan)企(qi)業(ye)、高(gao)等院(yuan)校、科(ke)研(yan)部(bu)門(men)，是(shi)檢(jian)驗和分析導(dao)體(ti)材(cai)料和半導(dao)體(ti)材(cai)料質量的(de)壹種(zhong)重要的工(gong)具。本儀器配置各類(lei)測(ce)量裝(zhuang)置可(ke)以測(ce)試不(bu)同材(cai)料。液(ye)晶(jing)顯(xian)示，無需人(ren)工(gong)計算(suan)，並(bing)帶有溫度補償功(gong)能，電阻(zu)率(lv)單(dan)位自(zi)動選(xuan)擇，儀(yi)器自(zi)動測(ce)量並(bing)根據(ju)測(ce)試結(jie)果(guo)自(zi)動轉(zhuan)換量程(cheng)，無需人(ren)工(gong)多次(ci)和重復(fu)設置(zhi)。采(cai)用(yong)高精度AD芯(xin)片(pian)控制(zhi)，恒(heng)流輸出(chu)，結構(gou)合理(li)、質量輕(qing)便(bian)，運輸安全(quan)、使用(yong)方便(bian)；選(xuan)配：配(pei)備軟件可(ke)以由電腦操控，並(bing)保存和打(da)印數據(ju)，自(zi)動生成(cheng)報(bao)表(biao)；本儀器采用(yong)4.3吋(cun)大(da)液(ye)晶(jing)屏幕顯(xian)示，同時(shi)顯(xian)示液晶(jing)顯(xian)示：電阻(zu)、電阻(zu)率(lv)、方阻(zu)、溫(wen)度、單(dan)位換算(suan)、溫(wen)度系數、電流、電壓、探(tan)針(zhen)形狀(zhuang)、探(tan)針(zhen)間(jian)距、厚度 、電導(dao)率(lv)，壓(ya)強(qiang) 配置(zhi)不同的(de)測(ce)試治(zhi)具可(ke)以滿足不同材(cai)料的(de)測(ce)試要求(qiu)。測(ce)試治(zhi)具可(ke)以根據(ju)產(chan)品(pin)及(ji)測(ce)試項(xiang)目要求(qiu)選(xuan)購(gou).

雙(shuang)電測(ce)數字式四探(tan)針(zhen)測(ce)試儀(yi)是(shi)運用(yong)直線或方形四探(tan)針(zhen)雙位測(ce)量。

標準(zhun)要求(qiu)：

該儀器設計符(fu)合(he)單(dan)晶(jing)矽物(wu)理測(ce)試方法(fa)國家(jia)標準(zhun)並(bing)參(can)考(kao)美(mei)國 A.S.T.M 標準(zhun)。利(li)用(yong)電流探(tan)針(zhen)、電壓探(tan)針(zhen)的變(bian)換，進行(xing)兩次(ci)電測(ce)量，對(dui)數據(ju)進行(xing)雙電測(ce)分析，自(zi)動消除樣品幾(ji)何尺(chi)寸、邊(bian)界(jie)效應(ying)以及(ji)探針(zhen)不等距和機械遊(you)移等因(yin)素(su)對測(ce)量結(jie)果的(de)影響(xiang)，它(ta)與(yu)單(dan)電測(ce)直線或方形四探(tan)針(zhen)相(xiang)比(bi)，大(da)大(da)提(ti)高(gao)精確(que)度，特別(bie)是(shi)適(shi)用(yong)於斜置(zhi)式四探(tan)針(zhen)對於微區的(de)測(ce)試。

二(er)、上海(hai)蘇(su)州(zhou)無錫嘉興寧(ning)波(bo)方阻(zu)儀(yi)、電阻(zu)率(lv)測(ce)試儀(yi)技(ji)術參(can)數

3、儀器與(yu)治(zhi)具連(lian)接示意圖(tu)

以下(xia)系(xi)列(lie)型(xing)號(hao)：FT-641、T-642、FT-643、FT-646物(wu)圖(tu)如下(xia)：

特別(bie)提(ti)示：本圖(tu)片(pian)包(bao)含本機所(suo)有配置(zhi)，如購(gou)買(mai)中(zhong)未(wei)選(xuan)購(gou)其(qi)中(zhong)部(bu)分，則圖(tu)片(pian)有所(suo)差異.

以下(xia)系(xi)列(lie)型(xing)號(hao)：FT-645、FT-647物(wu)圖(tu)如下(xia)：

特別(bie)提(ti)示：本圖(tu)片(pian)包(bao)含本機所(suo)有配置(zhi)，如購(gou)買(mai)中(zhong)未(wei)選(xuan)購(gou)其(qi)中(zhong)部(bu)分，則圖(tu)片(pian)有所(suo)差異.

四、工(gong)作(zuo)原理和計算(suan)公式

1.雙電測(ce)四探(tan)針(zhen)法測(ce)試薄(bo)層(ceng)樣品方阻(zu)計算(suan)和測(ce)試原理如(ru)下(xia)：

直線四探(tan)針(zhen)測(ce)試布(bu)局(ju)如(ru)圖(tu)，相(xiang)鄰針(zhen)距分別(bie)為(wei)S1、S2、S3,根據(ju)物(wu)理基(ji)礎和電學原理：

當電流通過(guo)1、4探針(zhen)，2、3探(tan)針(zhen)測(ce)試電壓時(shi)計算(suan)如(ru)下(xia)：

四探(tan)針(zhen)測(ce)試結(jie)構(gou)圖(tu)

當電流通過(guo)1、2探針(zhen)，4、3探(tan)針(zhen)測(ce)試電壓時(shi)計算(suan)如(ru)下(xia)：

從以上計算(suan)公式可以看出(chu)：方阻(zu)RS只取決(jue)於R1和R2，與(yu)探(tan)針(zhen)間(jian)距無關(guan)．針(zhen)距相(xiang)等與(yu)否(fou)對RS的(de)結(jie)果(guo)無任何影響(xiang)，本公司(si)所(suo)生產(chan)之(zhi)探針(zhen)頭(tou)全(quan)部采用(yong)等距，偏差(cha)微(wei)小，對(dui)測(ce)試結(jie)果(guo)更(geng)加(jia)精準(zhun)。

五(wu)、操作(zuo)流程(cheng)和測(ce)試步驟

1.使(shi)用(yong)前期(qi)準(zhun)備(bei)--測(ce)試前(qian)準(zhun)備(bei)工作(zuo)：

1.1.開機預熱(re)：將(jiang)220V電源插頭(tou)插入電源插座，打(da)開電源開(kai)關(guan)，讓(rang)儀(yi)器預熱15分鐘，保(bao)證測(ce)試數據(ju)穩(wen)定(ding)。若(ruo)測(ce)試儀(yi)無法(fa)正(zheng)常(chang)啟動，請(qing)按(an)以下(xia)步驟檢查：

①檢查電源線(xian)是(shi)否(fou)接觸(chu)良好；

②檢(jian)查後面板上的電源開(kai)關(guan)是(shi)否(fou)已(yi)經(jing)打(da)開

③檢查保險絲是(shi)否(fou)熔(rong)斷(duan)，如(ru)有必(bi)要，請(qing)更(geng)換保(bao)險(xian)絲

④ 如經上述檢查無誤後(hou)，測(ce)試儀(yi)仍(reng)未(wei)正(zheng)常(chang)啟動，請(qing)聯(lian)系(xi)本公司(si)進行(xing)解決(jue)。

1.2.準(zhun)備(bei)好被測(ce)物(wu)，鏈接好測(ce)試探(tan)頭(tou)，把(ba)測(ce)試探(tan)頭(tou)接口(kou)與(yu)主(zhu)機(ji)接口(kou)相(xiang)連(lian)接，並(bing)鎖定，防(fang)止松(song)動或接觸(chu)不良而對測(ce)試結(jie)果(guo)造成(cheng)影(ying)響.

1.3.接通電源，開(kai)啟(qi)電源開(kai)關(guan)，待(dai)儀(yi)器液晶(jing)顯(xian)示屏上顯(xian)示出(chu)廠(chang)家(jia)和產(chan)品(pin)信(xin)息(xi)後(hou)，如(ru)圖(tu)3，按“顯(xian)示"鍵進入，

1.4.進入測(ce)試功(gong)能界(jie)面如圖(tu)4、圖(tu)5；如測(ce)試方阻(zu)時(shi)，請(qing)選(xuan)擇液(ye)晶(jing)顯(xian)示屏又(you)側對應(ying) 的功(gong)能按(an)鍵“方阻(zu)"，則(ze)進入方阻(zu)測(ce)試界(jie)面；如測(ce)試其(qi)他(ta)材料時(shi)，請(qing)選(xuan)擇“材(cai)料"則(ze)進入材料電阻(zu)，電阻(zu)率(lv)，電導(dao)率(lv)測(ce)試儀(yi)界(jie)面。

1.5.設置(zhi)好(hao)被(bei)測(ce)物(wu)所(suo)需之(zhi)參(can)數，把(ba)被(bei)測(ce)物(wu)放於測(ce)試治(zhi)具平臺上操作(zuo)，測(ce)試完畢(bi)直接顯(xian)示測(ce)試數據(ju)。如(ru)配(pei)置(zhi)軟件，軟件操作(zuo)說明(ming)書同安裝軟件在壹起，請(qing)註(zhu)意(yi)查看操作(zuo)步驟.

以下(xia)分別(bie)講(jiang)解(jie)方阻(zu)和材料測(ce)試的(de)設(she)置

2.四探(tan)針(zhen)雙電方阻(zu)測(ce)試步驟

2.1.上述步驟中1項(xiang)，使(shi)用(yong)前期(qi)準(zhun)備(bei)

2.2 把(ba)被(bei)測(ce)物(wu)測(ce)試所(suo)需要之(zhi)參(can)數數據(ju)設(she)定(ding)：

2.2.1依據(ju)不(bu)同之(zhi)測(ce)試樣品，選(xuan)擇被(bei)測(ce)試電流，電流設(she)置(zhi)：按方向鍵移動光標至(zhi)“電流"功(gong)能，按(an)“設(she)置"鍵進入；再按(an)“左(zuo)右(you)"方向鍵選(xuan)擇電流數據(ju)，選(xuan)擇完畢(bi)後按(an)“確定(ding)"鍵進行(xing)確認(ren)。按照(zhao)以上步驟和方法(fa)選(xuan)擇電壓、長(chang)度單(dan)位、探(tan)針(zhen)形狀(zhuang)設(she)定、溫度.

2.2.2.探(tan)針(zhen)間(jian)距數據(ju)的(de)輸入，探針(zhen)間(jian)距出(chu)廠(chang)時已(yi)經(jing)標定(ding)，無需再(zai)次測(ce)量，探(tan)針(zhen)頭(tou)上有詳細(xi)的探(tan)針(zhen)數據(ju)資(zi)料，探(tan)針(zhen)間(jian)距的設置：將(jiang)光標移(yi)動至“探(tan)針(zhen)間(jian)距"按“設置"鍵進入，通過(guo)面板上面的“數字"按鍵輸入數據(ju)按(an)“確(que)定(ding)"鍵進行(xing)確認(ren)；按照(zhao)以上方法(fa)和步驟設定(ding)"厚(hou)度“，註(zhu)意(yi)厚(hou)度和探針(zhen)間(jian)距修(xiu)正(zheng)系(xi)數表已(yi)經(jing)設(she)置(zhi)在儀(yi)器程(cheng)序中，自(zi)動修(xiu)正(zheng)，無需再(zai)次輸入和查詢表格。

2.3.測(ce)試探(tan)頭(tou)和測(ce)試平臺操作(zuo)

選(xuan)配測(ce)試平臺的將被(bei)測(ce)物(wu)放在測(ce)試平臺上，調節探頭(tou)探(tan)針(zhen)與(yu)樣品良好接觸(chu)，探頭(tou)有二種(zhong)，壹種(zhong)是(shi)探(tan)針(zhen)是(shi)彈簧針(zhen)型(xing)，壹種(zhong)是(shi)硬(ying)針(zhen)而探頭(tou)內(nei)腔有彈簧；探頭(tou)有方型(xing)和直線型(xing)兩(liang)種(zhong)結構(gou)；調節測(ce)試平臺上的水平定位角(jiao)，保證水平儀水準(zhun)在中(zhong)心(xin)位置(zhi)；放置(zhi)好被測(ce)物(wu)品，後壓(ya)下(xia)探(tan)頭(tou)至(zhi)被測(ce)物(wu)，帶數據(ju)穩(wen)定(ding)後讀取.

方阻(zu)測(ce)試時(shi)，在測(ce)試時(shi)電流的(de)選(xuan)擇也不(bu)同

根據(ju)國標GB/T1552-1995和根據(ju)ASTM F374-84標準(zhun)方法(fa)測(ce)量方塊(kuai)電阻(zu)所(suo)需要的電流值(zhi)如(ru)下(xia)表(biao)所(suo)示

方塊(kuai)電阻(zu)測(ce)試時(shi)電流量程(cheng)選(xuan)擇表(biao)

方阻(zu)測(ce)試時(shi)根(gen)據(ju)用(yong)戶(hu)所(suo)選(xuan)擇的(de)電壓測(ce)量低(di)壓6V，中(zhong)壓(ya)15V，高(gao)壓(ya)32V；材(cai)料測(ce)試的(de)時(shi)候(hou)壹直是(shi)6V

3.材(cai)料電阻(zu)測(ce)試步驟：

操作(zuo)步驟及(ji)流程(cheng)

3.1.本機可(ke)以依據(ju)不(bu)同測(ce)試產(chan)品(pin)選(xuan)擇配(pei)置不同的(de)測(ce)試治(zhi)具，以下(xia)舉(ju)例操作(zuo)說明(ming)

3.1.1.在開(kai)機界(jie)面按下(xia)按(an)鍵板上的“顯(xian)示"鍵，進入測(ce)量界(jie)面。如圖(tu)1

3.1.2 如(ru)圖(tu)2，在液(ye)晶(jing)顯(xian)示屏右(you)側有4個藍(lan)色(se)功(gong)能按(an)鍵，當測(ce)材料電阻(zu)率(lv)時，請(qing)選(xuan)擇 “材(cai)料"按(an)鍵 ，進入材料測(ce)試主(zhu)界(jie)面.  

3.1.3.在該界(jie)面下(xia)通過(guo)按(an)下(xia)按(an)鍵板上的上下(xia)左(zuo)右(you)鍵，可以移動藍色(se)光標選(xuan)擇相(xiang)應(ying)的參(can)數。如圖(tu)2，將移(yi)動到(dao)某壹參(can)數的位置(zhi)，按下(xia)“設(she)置"鍵，光標將(jiang)變(bian)為(wei)深藍色(se)。此時通過(guo)上下(xia)左(zuo)右(you)鍵和數字鍵可以對相(xiang)應(ying)的參(can)數進行(xing)設置(zhi)，設置(zhi)完畢(bi)後按(an)“確定(ding)"鍵返回(hui)。

3.1.4.如(ru)圖(tu)3接線方式，把(ba)主(zhu)機(ji)與(yu)夾具連(lian)接線，連(lian)接好並(bing)固(gu)定住(zhu)，

3.1.5.取試樣，試樣試驗前的處理依據(ju)標準(zhun)進行(xing)，

3.1.6.把(ba)樣品放於固(gu)定治(zhi)具夾口(kou)內(nei)，把(ba)HD和LD接口(kou)分別(bie)與(yu)治(zhi)具接口(kou)連(lian)接（不分順序）如圖(tu)3；另(ling)外兩個(ge)接口(kou)與(yu)探(tan)頭(tou)接線位置(zhi)連(lian)接，後，放入被測(ce)樣品，輸入高度數據(ju)（為(wei)探(tan)針(zhen)之(zhi)間(jian)的間(jian)距），其他數據(ju)為(wei)樣品本身(shen)尺(chi)寸。

3.1.7.試樣固(gu)定住(zhu)後(hou)，加(jia)壓探頭(tou)探(tan)針(zhen)至被(bei)測(ce)樣品表面，帶數據(ju)穩(wen)定(ding)後讀數.

3.1.8. 按下(xia)“放大(da)"鍵對應(ying)的按鍵可以對當前(qian)界(jie)面的測(ce)量數據(ju)進行(xing)放大(da)

3.1.9. 待(dai)參(can)數設置完畢(bi)，開始(shi)測(ce)量，把(ba)測(ce)試獲(huo)得(de)的(de)數據(ju)寫(xie)入試驗報(bao)告(gao)中(zhong)

3.1.10.以下(xia)設(she)置和功(gong)能屬(shu)於配置操作(zuo)軟件機(ji)型(xing)使(shi)用(yong)，如您(nin)購(gou)買(mai)的(de)無電腦操作(zuo)軟件的(de)話，請(qing)勿設(she)置(zhi).

3.1.11.接口(kou)：可(ke)選(xuan)擇“USB"和“232"兩(liang)種(zhong)模(mo)式。根據(ju)用(yong)戶(hu)使(shi)用(yong)的接口(kou)類(lei)型(xing)進行(xing)選(xuan)擇。

測(ce)試功(gong)能：可(ke)選(xuan)擇：“RρK"（顯(xian)示電阻(zu)，電阻(zu)率(lv)，電導(dao)率(lv)），“R"（只(zhi)顯(xian)示電阻(zu)），“ρ"（只顯(xian)示電阻(zu)率(lv)，“K"（只(zhi)顯(xian)示電導(dao)率(lv)）3種(zhong)顯(xian)示模(mo)式。