基(ji)礎信(xin)息(xi)Product information

產(chan)品(pin)名(ming)稱(cheng)：日(ri)本巖崎IWATSU CS-5400半(ban)導(dao)體(ti)曲(qu)線(xian)圖(tu)示儀

產(chan)品(pin)型號(hao)：

更(geng)新時間：2025-06-11

產(chan)品(pin)簡(jian)介(jie)：

堅融(rong)實(shi)業(ye)——壹(yi)家(jia)致力(li)於為(wei)祖國(guo)用(yong)戶(hu)提供(gong)日(ri)本巖崎IWATSU CS-5400半(ban)導(dao)體(ti)曲(qu)線(xian)圖(tu)示儀儀(yi)器(qi)設(she)備、測(ce)試(shi)方(fang)案、技(ji)術培(pei)訓、維修計量全面(mian)服(fu)務的儀器(qi)設(she)備綜合服(fu)務商(shang)。

產(chan)品(pin)特(te)性(xing)Product characteristics

專業(ye)儀(yi)器(qi)設(she)備與(yu)測試(shi)方(fang)案供(gong)應(ying)商——上海(hai)堅融(rong)實(shi)業(ye)有(you)限公(gong)司JETYOO INDUSTRIAL & 堅友（上海(hai)）測量儀器(qi)有限公(gong)司JETYOO INSTRUMENTS，為(wei)原(yuan)安(an)捷(jie)倫Agilent【現(xian)是(shi)德KEYSIGHT】品(pin)牌技術經理(li)-堅JET與(yu)吉(ji)時(shi)利KEITHLEY【現(xian)泰(tai)克(ke)Tektronix】品(pin)牌產(chan)品(pin)經理(li)-融(rong)YOO共同創辦(ban)，專註工(gong)業(ye)測(ce)試(shi)領(ling)域(yu)十六年(nian)，誌在(zai)破(po)舊(jiu)立新！*進(jin)口儀器(qi)設(she)備大(da)多(duo)數廠(chang)家(jia)僅(jin)在(zai)國(guo)內(nei)設(she)銷售點，但技術支(zhi)持(chi)薄(bo)弱甚至(zhi)沒有(you)，而(er)代理經(jing)銷商也只(zhi)做(zuo)商務(wu)，不做(zuo)售前技術支(zhi)持(chi)/測試方(fang)案和(he)售後使(shi)用(yong)培(pei)訓/維修校準(zhun)的空白(bai)。我們的技(ji)術型銷售均為(wei)本科以(yi)上學(xue)歷，且(qie)均有(you)10年(nian)以(yi)上測(ce)試行業(ye)經(jing)驗(yan)，與(yu)客戶(hu)互(hu)惠互(hu)利合作雙贏(ying)，重(zhong)在(zai)協助(zhu)用(yong)戶(hu)采購與(yu)技術工程師(shi)的工作，提供(gong)較(jiao)有(you)競(jing)爭(zheng)力(li)的供(gong)應(ying)鏈(lian)管(guan)理與(yu)售前售後技術支(zhi)持(chi)。堅融(rong)實(shi)業(ye)——壹(yi)家(jia)致力(li)於為(wei)祖國(guo)用(yong)戶(hu)提供(gong)儀(yi)器(qi)設(she)備、測(ce)試(shi)方(fang)案、技(ji)術培(pei)訓、維修計量全面(mian)服(fu)務的儀器(qi)設(she)備綜合服(fu)務商(shang)。

日(ri)本巖崎IWATSU CS-5400半(ban)導(dao)體(ti)曲(qu)線(xian)圖(tu)示儀是(shi)新穎的曲(qu)線(xian)圖(tu)示儀, 可以(yi)支(zhi)持(chi)大峰值從3,000V/400A至(zhi)15,000V/8,000A. CS系列不僅適(shi)用(yong)於(yu)高(gao)電壓或(huo)高電流功率器(qi)件(jian) (IGBT 和(he)功率 MOSFET) 的特(te)性(xing)測(ce)試(shi), 還可用(yong)於(yu)各(ge)種(zhong)半(ban)導(dao)體(ti)器(qi)件(jian) (如晶(jing)體(ti)管(guan), 二極(ji)管(guan)和 LED) 的特(te)性(xing)測(ce)試(shi), 及(ji)電力(li)電子器(qi)件(jian) (如 SiC 和(he) GaN) 的電容測(ce)試(shi) (選件(jian) CS-603A/CS-605A).  測(ce)試(shi)結果可以(yi)存(cun)儲(chu)在(zai)內(nei)存(cun)中, 或通過(guo)標配的USB 端口(kou)和(he) LAN 接口被(bei)發(fa)送到(dao) PC.

日(ri)本巖崎IWATSU CS-5400半(ban)導(dao)體(ti)曲(qu)線(xian)圖(tu)示儀產(chan)品(pin)應(ying)用(yong)

適(shi)用(yong)於(yu)高(gao)電壓或(huo)高電流功率器(qi)件(jian) (如IGBT和(he)功率MOSFET) 及(ji)半導體(ti)器(qi)件(jian) (如晶(jing)體(ti)管(guan), 二極(ji)管(guan)和 LED) 的特(te)性(xing)測(ce)試(shi)

電力(li)電子器(qi)件(jian) (如 SiC和(he)GaN) 的電容測(ce)量 (選件(jian)CS-603A/CS-605A)

可實(shi)行晶圓(yuan)和芯片(pian)上的電容測(ce)試(shi) (探針臺(tai)和選(xuan)件(jian)CS-603A/CS-605A)

靜(jing)態特(te)性(xing)測(ce)試(shi)包括漏(lou)電流, 飽和(he)電壓, VF和(he)Vth (附圖(tu))

傳輸(shu)特(te)性(xing) (Vge-Ic/Vge-Vce) 和(he)電路模(mo)塊(kuai)的測試(shi)功能

器(qi)件(jian)測(ce)試(shi)

可以(yi)在(zai)短(duan)時間內(nei)執行多個器(qi)件(jian)的測試(shi)和記錄(lu). 操(cao)作員只需根(gen)據器(qi)件(jian)替換和連接更改(gai)來輸(shu)入樣本名(ming)稱(cheng), 以(yi)重(zhong)復相(xiang)同的測試(shi).  在(zai)既(ji)定條件(jian)下(xia)判(pan)斷 (通過(guo)/失敗(bai)) 將(jiang)顯(xian)示每個測(ce)試(shi)與(yu)圖(tu)像(xiang)和波形(xing)數(shu)據也(ye)將(jiang)自(zi)動(dong)存(cun)儲(chu)(附圖(tu))

半(ban)導(dao)體(ti)溫度特(te)性(xing)測(ce)試(shi)評(ping)估(gu)

CS-810控(kong)制加(jia)熱(re)板. 儘(儘)管(guan)測試(shi)需(xu)要(yao)很(hen)長的時間(jian) (如溫度測(ce)試(shi)), 仍可自動(dong)執行 (附圖(tu))

痠(痠)勞(lao)測(ce)試

在(zai)痠(痠)勞測試中可以(yi)包含各(ge)種(zhong)各(ge)樣的參數(shu). CS-810 軟件(jian)支(zhi)持(chi)長時間(jian)可靠(kao)性(xing)測試.  通過(guo)曲(qu)線(xian)圖(tu)示CS-810監察電壓和(he)電流, 那些(xie)曲(qu)線(xian)的區別能(neng)被記錄(lu)下(xia)來.  痠勞(lao)測試(shi)可以(yi)實(shi)現(xian)多(duo)種(zhong)參(can)數(shu)的自動(dong)測量.  偏(pian)置會(hui)停(ting)止超(chao)越(yue)電流或(huo)電壓的限制值並(bing)以(yi)此設(she)定為下(xia)限和(he)上限的極(ji)限值.  CS-810 軟(ruan)件(jian)測(ce)量 Ic 或 Vce (區(qu)間(jian): 10s 至(zhi) 2h) 和保持(chi)壹定的電壓或(huo)電流 (10s 至(zhi) 1,000h) (附圖(tu))

與(yu)探針臺(tai)共用(yong)時(shi), 可實(shi)現(xian)晶(jing)圓(yuan)測試(shi) (附圖(tu))

產(chan)品(pin)功能

電子電力(li)元(yuan)件(jian)或(huo)器(qi)件(jian)測(ce)試(shi)波(bo)形(xing)特(te)性(xing)的功能顯(xian)示 (附圖(tu))

配備(bei)選(xuan)件(jian) CS-603A (3kV) 或(huo) CS-605A (5kV), 可實(shi)現(xian)電子電力(li)器(qi)件(jian)如SiC和(he)GaN等(deng)的電容測(ce)試(shi)

在(zai)3kV (CS-603A)/5 kV (CS-605A) 作自動(dong)與(yu)掃描(miao)電容測(ce)試(shi)

曲(qu)線(xian)圖(tu)示儀的測試(shi)適(shi)配器(qi)可用(yong)於(yu)各(ge)種(zhong)器(qi)件(jian)封(feng)裝類型(xing)

測(ce)試(shi)參(can)數包括:

Cies, Ciss (輸(shu)入(ru)電容)

Coss (輸(shu)出電容)

Cres, Crss (反(fan)向(xiang)傳輸(shu)電容)

Ct (端子(zi)間(jian)的電容)

Cgs, Cge/Cgd, Ccg/Cds, Cce (已(yi)計(ji)算(suan))

Rg (柵(zha)極(ji)電阻)

可實(shi)行晶圓(yuan)和芯片(pian)上的電容測(ce)試(shi) (探針臺(tai)和選(xuan)件(jian)CS-603A/CS-605A)

具(ju)有(you)外部聯(lian)鎖功能的恒(heng)溫箱高(gao)低(di)溫試驗(yan)

與(yu)電腦全(quan)自動(dong)化結合

CS-810半(ban)導(dao)體(ti)參(can)數(shu)測(ce)試軟件(jian) (選(xuan)件(jian))

通過(guo)對(dui)主機(ji)的遠(yuan)程控(kong)制, 可實(shi)現(xian)各(ge)種(zhong)自(zi)動(dong)測試(shi)的軟件(jian). 傳統上通過(guo)曲(qu)線(xian)圖(tu)示儀難以(yi)進(jin)行的疲(pi)勞測(ce)試(shi). 加熱(re)實(shi)驗(yan)或同時控制恒(heng)溫箱進(jin)行多溫度點(dian)實(shi)驗(yan)都可使(shi)用(yong)本軟件(jian)來(lai)實(shi)現(xian) (附(fu)圖(tu))

USB 存(cun)儲(chu)器(qi)

圖(tu)像(xiang): 數據和(he)設(she)置條(tiao)件(jian)

格式: TIFF, BMP, PNG保存(cun)格式 (背景(jing)可選擇為黑(hei)色或(huo)白色(se), 彩色或(huo)單色)

波(bo)形(xing)數(shu)據: 文(wen)本文件(jian)和(he)二(er)進(jin)制文(wen)件(jian)

遠(yuan)程控(kong)制工(gong)具(ju)

如因(yin)保密需(xu)要(yao)而(er)冇(mao)法(fa)使(shi)用(yong)USB存(cun)儲(chu)器(qi)時, 可以(yi)通過(guo)安(an)裝在(zai)PC的遠(yuan)程控(kong)制工(gong)具(ju)進(jin)行數據存(cun)取

以(yi)太(tai)網(wang)

標準配置 (主(zhu)機(ji)背面(mian))

測(ce)試(shi)點(dian)數可調整(zheng).可根(gen)據需(xu)要(yao)的掃描(miao)速度(du)及(ji)分(fen)辨率來(lai)設(she)置. 根(gen)據不同用(yong)途(tu)可改(gai)變(bian)掃(sao)描(miao)方(fang)向(xiang).  同時具有客戶功能, 可以(yi)僅(jin)對(dui)某壹(yi)段(duan)進(jin)行掃描(miao), 特(te)別是(shi)在(zai)自(zi)動(dong)測試(shi)時(shi)可以(yi)實(shi)現(xian)高(gao)速(su)且(qie)高(gao)分(fen)辨率的測試(shi)(附圖(tu))

限制掃(sao)描(miao)功能 (選(xuan)件(jian)CS-800)

在(zai)壹(yi)般(ban)的掃描(miao)測試(shi)中加入(ru)電流, 電壓的限制功能. 限制在(zai)被(bei)測模(mo)塊(kuai)上印加的電流值, 電壓值以(yi)起(qi)到(dao)保護(hu)作用(yong). 也(ye)可在(zai)達(da)到目(mu)標值時(shi)停(ting)止掃(sao)描(miao)(附圖(tu))

Vth-hFE自(zi)動(dong)檢(jian)測(ce)功能(選(xuan)件(jian)CS-800)

可在(zai)條(tiao)件(jian)設(she)㝊(㝊)後(hou)進(jin)行自動(dong)測試(shi), 避免(mian)了(le)之前(qian)的繁(fan)雜(za)操(cao)作

Constant 功能 (選(xuan)件(jian)CS-800)

可印加規定電壓或(huo)規定電流. 與(yu)CS-810半導(dao)體(ti)參(can)數(shu)測(ce)試軟件(jian)配合使(shi)用(yong)時(shi), 可使(shi)用(yong)半(ban)導(dao)體(ti)曲(qu)線(xian)圖(tu)示儀進(jin)行自動(dong)疲(pi)勞測(ce)試(shi)

溫度特(te)性(xing)測(ce)試(shi) (選件(jian)CS-810)

通過(guo)CS-810半(ban)導體(ti)測(ce)試(shi)軟(ruan)件(jian)對(dui)曲(qu)線(xian)圖(tu)示儀, 掃(sao)描(miao)系統, 加(jia)熱(re)板的自動(dong)控制, 實(shi)現(xian)溫度特(te)性(xing)評(ping)估(gu)試驗(yan)的全自(zi)動(dong)測試(shi) (附(fu)圖(tu))

CS-810是(shi)壹(yi)個(ge)可安裝(zhuang)於(yu)電腦中的選件(jian)應(ying)用(yong)軟(ruan)件(jian). 通過(guo)以(yi)太(tai)網(wang)控制圖(tu)示儀, 掃(sao)描(miao)系統, 加(jia)熱(re)板等(deng)設(she)備, 經(jing)簡(jian)單(dan)的設(she)置後(hou)就(jiu)可將(jiang)壹(yi)直(zhi)以(yi)來(lai)只(zhi)能手動(dong)測試(shi)的曲(qu)線(xian)圖(tu)示儀實(shi)現(xian)全(quan)自(zi)動(dong)化測(ce)試(shi), 大幅地(di)提升(sheng)工作效率(lv)

全(quan)自(zi)動(dong)化測(ce)試(shi):測試→記錄(lu)→判(pan)斷.  提高(gao)品(pin)管(guan)和品(pin)檢(jian)的工作效率(lv) (附圖(tu))

模(mo)塊(kuai)或(huo)數個芯片(pian), 器(qi)件(jian)自(zi)動(dong)切(qie)換測試

可自動(dong)控制加(jia)熱(re)板, 全自(zi)動(dong)進行六合壹模(mo)塊(kuai)的溫度特(te)性(xing)測(ce)量

測(ce)試(shi)結果窗(chuang)口 (附(fu)圖(tu))

波(bo)形(xing)比(bi)較功能:  可將(jiang)產(chan)品(pin)開(kai)發(fa)時的不穩(wen)定狀態或(huo)不良分(fen)析時測(ce)得的多個(ge)波形(xing)進(jin)行同屏比較, 或通過(guo)波(bo)形(xing)比(bi)較來判(pan)斷是否(fou)合格 (附圖(tu))

產(chan)品(pin)特(te)點(dian)

顯(xian)示屏: 8.4″ 彩色TFT液(ye)晶顯(xian)示屏

正(zheng)確(que)測(ce)試半導(dao)體(ti)如IGBTs, MOSFETs, 晶(jing)體(ti)管(guan)和二(er)極(ji)管(guan)解決方(fang)案

采用(yong)電路圖(tu)模(mo)式(shi)顯(xian)示內(nei)部的配線(xian)狀(zhuang)態 (CONFIGURATION), 更(geng)好地(di)避免(mian)模(mo)塊(kuai)測(ce)試時的誤操(cao)作(附圖(tu))

WAVE模(mo)式(shi): 能(neng)確認實(shi)際印加電流和(he)電壓波(bo)形(xing)的監察模(mo)式(shi) (附(fu)圖(tu))

可以(yi)像(xiang)示波器(qi)壹樣通過(guo)觀(guan)察模(mo)塊(kuai)上實(shi)際印加電流和(he)電壓的波形(xing)來(lai)確定脈(mai)寬(kuan)和實(shi)際測試(shi)點 (Timing)

可通關(guan)確(que)認實(shi)際波形(xing), 適(shi)時調整(zheng)脈(mai)寬(kuan)和測(ce)試(shi)點(dian)

避免(mian)示波器(qi)的探棒影(ying)響, 可確認(ren)實(shi)時的異常信(xin)號(hao)

可非常容易(yi)地(di)確認模(mo)塊(塊)發(發)熱(熱)等(deng)引起(qi)的振蕩(蕩)等(deng)熱(熱)異常情況(況)

可實(shi)現(xian)SiC和(he)GaN等(deng)器(qi)件(jian)的電容測(ce)試(shi) (選件(jian)CS-603A/CS-605A)

可實(shi)現(xian)晶(jing)圓(yuan)和芯片(pian)上的電容測(ce)試(shi) (探針臺(tai)和選(xuan)件(jian)CS-603A/CS-605A)

標配LAN和(he)USB接口

標準配件(jian)

CS-301: CS-3100標配測(ce)試(shi)臺S

CS-302: CS-3200和(he)CS-3300標配測(ce)試(shi)臺M

CS-303: CS-5100, CS-5200和(he)CS-5300標配測(ce)試(shi)臺M

CS-304: CS-5400標配測(ce)試(shi)臺M

測(ce)試(shi)臺(tai)M專用(yong)快(kuai)裝(zhuang)面(mian)板(ban): CS系列標配快(kuai)裝(zhuang)面(mian)板(ban) (除CS-3100外)

CS-500: CS-3100, CS-3200, CS-3300, CS-5100, CS-5200, CS-5300, CS-5400標配測(ce)試(shi)端口(kou)轉(zhuan)接夾具(ju)

CS-005: CS系列標配標準線套(tao)裝(除CS-3100外)

CS-006: CS-5400標配20cm高(gao)電流電纜 (2條(tiao))

CS-007: CS-10400, CS-10800, CS-12800, CS-15800標配30cm 高(gao)電流電纜 (2條(tiao))

LAN接口

USB接口

操(cao)作手冊(ce)

電源(yuan)線(xian)

產(chan)品(pin)選項(xiang)

CS-305: 測(ce)試(shi)臺(tai)L, 尺寸(cun):  630mm (寬(kuan)) x 520mm (高) x 530mm (深)

CS-307: 測(ce)試(shi)臺(tai)L, 尺寸(cun):  500mm (寬(kuan)) x 520mm (高) x 520mm (深)

CS-307H: CS-5400測(ce)試(shi)臺(tai)L

CS-306: CS-3xxx和(he)CS-5xxx探針臺(tai)連接線 ((除(chu)CS-5400外)

CS-308: CS-5400探針臺(tai)連接線

CS-501A: TO 類(lei)測(ce)試(shi)夾具

CS-502: Axial 類(lei)測(ce)試(shi)夾具

CS-503: TO-263-3 (D2PAK) 類(lei)測(ce)試(shi)夾具

CS-504: TO-252-3 類(lei)測(ce)試(shi)夾具

CS-505: TO-263-7 類(lei)測(ce)試(shi)夾具

CS-506: TO-252-5 類(lei)測(ce)試(shi)夾具

CS-507: SC-70-3/SOT-323-3 類(lei)測(ce)試(shi)夾具

CS-508: SMD 芯片(pian)類測試(shi)夾具

CS-509: SC-59A/SOT-23-3 類(lei)測(ce)試(shi)夾具

CS-510: SC-62/SOT-89 類(lei)測(ce)試(shi)夾具